2023年12月2日发(作者：苍星菱)
Doc No.:
适用范围：
Revision :
Date :
公司外购整机项目，需要供应商满足的标准；同时产品量产前需要供应商提供相关的报告；
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Departmental Approval□硬件部：
□ID/MD：
□采购部：
□销售部：
□售后部：
□软件部：
□测试部：
□质量部：
□生产部：
□总经理：
AMENDMENT HISTORY
S/N Rev
1 V1
Date
2012/5/2
Description of Change
新建
1.修改外购整机可靠性测试标准
2.增加IPX7防尘,IP6X防水标准
3.删除温度冲击、汗液测试后进行百格/摩擦测试
4.增加电容屏表面硬度测试要求：6H 500gf
5.修改I/O插头拉出强度测试
2
V2
2013/1/16
Originat
Check
Approval
3
V3
2013/3/6
4
5
6
V4
V5
V6
2013/8/15
2014/1/3
2015/6/19
1.增加高温/低温参数测试时间和样品数量（6小时，
10台）
2.跌落测试增加备注：对于使用已通过天宇朗通耳机插
座器件认证的产品，不进行整机带耳机跌落
3.摩擦测试增加备注：不同表面处理工艺有不同的测试
方法
4.硬度测试增加备注：不同表面处理工艺有不同的测试
方法
5.增加耳机座压力测试
6.增加耳机座不正确插入测试
7.增加耳机座拉出强度测试
8.增加I/O接口强力插入测试
9
增加I/O接口压力测试方法
加TP拉力测试样品数量为4台机器
翻盖机增加主按键测试、翻盖测试标准，样机数量增加5
台
结构耐久性测试增加13：水波纹按压测试
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PR1
计划 备注
√
PR2
计划 备注 测试项目 数量
备注
2
低温运行测试：-30℃,6hrs
3
高温运行测试：+60℃, 6hrs
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，放入温
（2台）
度实验箱内的架子上。分别持续6个小时之后
☆ 检验标准：手机电性能指标满足要求，功
（与环境温度平衡），然后在此环境下进行电
能正常，內存无丢失，外壳无变形。
性能检查，检查项目见附表（1）。
（2台）
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，放入温
度实验箱内的架子上。持续48个小时之后，然
☆ 检验标准：手机电性能指标满足要求，功
后在此环境下进行电性能检查，检查项目见附
能正常，內存无丢失，外壳无变形。
表（1）。
☆ 测试方法：将手机处于关机状态，放入温
度实验箱内的架子上。在高温持续24个小时后
☆ 检验标准：手机功能正常，內存无丢失，
转至低温持续24个小时后取出，并放置2小时 外壳无变形。
恢复至常温，然后进行功能检查。
√
√
√
高温高湿测试：+50℃/
4
95%RH,48hrs
（2台）
√
5
高低温存储测试：+70℃/-
30℃,24hrs
（2台）
√
跌落测试：
6.5''及6.5'' 以上LCM跌落0.5m;
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，插入SIM
4.3''及4.3''~6.5''LCM跌落0.6m;
卡，存入电话本、短信记录各5条，一半数量
3.8''及3.8''~4.3''LCM或数码手机
的机器需要插入耳机；进行6个面的自由跌落
实验，每个面的跌落次数为1次，跌落两个循
跌落0.8m;
☆ 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢
环，跌落之后进行外观、机械和电性能检查。
3.0''及3.0''~3.8''LCM跌落1.0m;
失，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破
1
对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位
2.8''及2.4''~2.8''LCM跌落1.2m;
碎，内部元件无脱落；跌落完成后的机器全部
置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限
拆机，检查是否有掉件，干涉等情况。
2.4''及2.4'' 以下LCM 跌落1.3m;
位置。
大理石地面, 6 个面,每面跌落1
手机跌落顺序如下：正面-背面-左侧-右侧-顶
次,共2个循环;一半数量插入耳机
部-底部。
测试
1M
2
√
√
√
6台（复
用静电机
器）
振动测试：：振幅：0.38mm/振
☆ 测试方法：将手机开机放入振动箱。X、Y ☆ 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢
2
频：10~30Hz；振幅：0.19mm/
、Z三个轴向分别振动1个小时之后取出然后进 失，尤其是显示屏和SPL，外壳无严重损伤
振频：1H/x，y，z轴
行外观、机械和电性能检查。 （如掉漆），内部元件无脱落。
（6台）
√
☆ 测试方法： 将样机放置静电测试台的绝缘
垫上，（样机与绝缘垫边缘距离至少2 英寸；
静电测试：
充电状态：+/-6KV接触放电；
两个样机之间的距离也是至少2 英寸）将手机
设置为开机插卡状态。 (充电测试状态：需要
+/-10KV空气放电
用充电器加电使手机处于充电状态；不充电状
☆ 检验标准：
不充电状态：+/-4KV接触放电；
态：手机不插充电器，加电池手机开机)打开
手机要求功能正常工作，不允许有屏闪，屏
+/-8KV空气放电
静电枪，空气放电是先按住开关再让圆形枪头
抖，黑线，横纹，竖纹，屏无 显示，变暗，
靠近测试位置（经常被直接接触到的有缝隙的
变黑，重新启动，关机，通讯链路断等以及其
3
充电状态：+/-6KV，+/-8KV接
地方,如底壳/面壳、大小LCD 四周、受话器、
它未描述到的现象，如出现以上现象在不重新
触放电；+/-10KV，+/-12KV，
主机按键、侧键、主机底壳、耳机口&尾插口
开机的情况下可很快自我恢复则判定为通过，
+/-15KV空气放电
、转轴处等去除充电器耳机塞子等距离小于
否则视为不通过；
不充电状态：+/-4KV，+/-6KV
3mm，但不能碰触到。），松开放电；接触放
接触放电；+/-10KV，+/-12KV
电是先让尖形枪头接触放电位置(金属部件、
空气放电 （注：12KV不许有软
金属装饰件、金属材料或有金属性能的涂层，
失效）
Lens 等)，再按开关放电。对手机指定部位放
电10 次，每测试一次，同时手机对地放电一
次,做完一个部位的测试，检查手机功能
3台
√
√
√
3台
☆ 测试方法：将手机关机在能通过筛孔为
☆ 检验标准：手机各项功能正常，所有活动
灰尘测试：35℃,8hrs,参考国标
75um、金属丝直径为50um的方孔筛的干燥滑
元器件运转自如，显示区域没有明显灰尘。
1
石粉、试验箱内（工作室和管通道）灰尘量为
防尘IP6X产品检验标准：手机各项功能正常，
GB 4208-2008
2kg/m3的粉尘中放置8h，然后将手机从实验
所有活动元器件运转自如，显示区不允许粉尘
进入，手机内部没有明显灰尘。
箱中取出，进行检查。
☆ 测试方法：
军 溶液含量：5%的氯化钠溶液。水流量：600
立方厘米/小时。 喷雾水压：80Kpa
军 将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于关
机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬挂起
来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表面喷不
到。一台天线朝下，一台天线朝上。
☆ 检验标准：手机各项功能正常，手机外壳
2
盐雾测试：35℃,5%NaCl,48hrs
军 样机需立即被放入测试箱。实验周期是48个
表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象。
小时。实验过程中样机不得被中途取出，如果
急需取出测试，要严格记录测试时间，该实验
需向后延迟相同时间。
军 取出样机，将手机和电池分开放置48小时进
行常温干燥，对其进行外观及功能检查。
2台
√
√
2台
（2台）
√
参考项
☆测试方法：应使测试样机开机状态放进浸水
☆检验标准：测试结束后，手机状态正常，外
防水测试：手机底边在水面下
箱，样机底部到水面的距离至少不低于1m 。
壳打开后（拆机前需用棉布对其进行表面清
3
1m位置,浸泡30分钟,达到国标防
样机顶部到水面距离至少不低于0.15m水温与
洁），机器內部无水进入，各功能均可以使用
水IPX7级
。
样机温差不大于5℃试验时间30 min。
2台
√
√
√
2台
适用于有防
水IPX7要求
的产品
☆ 测试方法：将手机设置成关机状态固定在
测试夹具上，用4-10N的力对导航键、功能键
以及其他数字键进行10万次按压测试，其中，
主按键／单独开机键测试：10万
必须测试的按键有：左功能键、OK键、开机
1
键、CPU上部一个按键、数字键最中间的按键
☆ 检验标准：手机按键弹性及功能正常。
次
、单独的开关机键按照10万次进行测试；测试
过程中分别在3万次，5万次，8万次，10万次
检查手机按键弹性及功能。
2台
√
√
2台
适用于翻盖
结构的产品
3
翻盖/滑盖测试：5万次
4
充电器插拔测试：2000次
☆ 试验方法：将手机设置成开机状态，固定
在测试夹具上，进行5万次开合翻盖测试。进
☆ 检验标准：5万次后，手机翻盖弹性及功能
行到2万次、3万次、4万次和5万次时各检查手
5台
正常。
机一次，完成5万次时检查手机翻盖弹性及功
能。
☆ 测试方法：将手机设置成开机状态，将充
电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机
☆ 检验标准：手机及充电器的功能使用正常
（2台）
至充电界面显示正常后，插拔充电插头2000次
。
。
√
√
√
5台
适用于翻盖
结构的产品
√
☆ 测试方法：将电池/电池盖反复拆装
电池/电池盖插拔测试：2000次
2000次，分别在500次、1000次、1500次以及
☆ 检验标准：手机及电池/电池盖各项功能正
5
电池盖插拔后进行桌面跌落测
2000次后检查电池盖的松紧度；电池盖插拔后
常，电池触片和电池连接器应无下陷、变形及
（2台）
进行桌面跌落测试，高度30cm，6个面1循
试：高度30cm，6个面1循环
磨损的现象，外观无异常。
环，电池盖掉落不超过3次。
√
6
耳机插拔测试：2000次
☆ 检验标准：实验前，用手握住耳机并拉起
手机，耳机能承受手机机身重量；实验后检查
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，耳机插
在手机耳机插孔内，然后拔出，反复2000次；
耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用
（2台）
每100次，对样机及耳机进行结构、功能、外
耳机通话接收与送话无断续、杂音（通话过程
中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时
观检查。
不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。
√
☆ 测试方法：将手机处于关机状态，SD卡
/SIM卡插在手机SD/SIM卡座内，然后拔出，
☆ 检验标准：卡座应无变形、无破损阻塞并
（2台）
SD卡/SIM卡插拔测试：2000次7
能通过功能测试。
反复2000次
☆ 测试方法：将手机设置成开机状态，固定
在测试夹具上，使用随机附带手写笔进行点击
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、显示
屏显示正常以及无其它与测试前状态不一致的
触摸屏的中心位置250,000次，点击力度为
触摸屏点击测试：250g力，点击
功能问题；触摸屏、显示屏无损伤、破裂；触
250g+/-10%，点击速度:1次/秒；150,000次
9
中心位置25万次
摸屏表面无异常痕迹以及无其它与测试前状态
（2台）
之内每30,000次检查一次并对触摸屏表面进行
不一致的外观问题；手写笔头部无变形、扭曲
（仅适用于电阻式触摸屏）
清洁，150,000至250,000次每20,000次检查一
、损伤以及无其它与测试前状态不一致的结构
次并对触摸屏表面进行清洁。
问题。
√
适用于电阻
式触摸屏
√
触摸屏划线测试：250g力，
10
60mm/s，10万次
（仅适用于电阻式触摸屏）
☆ 测试方法：将手机设置成关机状态，固定
在测试夹具上，使用随机附带手写笔沿触摸屏
的对角线进行划线测试，划线压力为250g+/-
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、显示
10%，划线速度为60mm/秒，测试距离为不
屏显示正常；触摸屏、显示屏无损伤、破裂；
（2台）
小于触摸屏对角线距离的2/3，测试次数为
手写笔头部无变形、扭曲、损伤；触摸屏表面
100,000次（反复一个来回记为两次）；每
无划痕。
10,000次对触摸屏进行功能、结构与外观检
查，并对触摸屏表面进行清洁。
√
适用于电阻
式触摸屏
☆ 测试方法：将手机设置成关机状态，固定
在测试夹具上，使用随机附带手写笔，在触摸
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、显示
触摸屏周边划线测试：250g力，
屏的周圈，划线压力为250g +/-10%，划线速
屏显示正常；触摸屏、显示屏无损伤、破裂；
11
100次
（2台）
度为60mm/秒，测试次数为100次（划一圈记
手写笔头部无变形、扭曲、损伤；触摸屏表面
（仅适用于电阻式触摸屏）
录一次）；对触摸屏进行功能、结构与外观检
无划痕
查，并对触摸屏表面进行清洁。
√
适用于电阻
式触摸屏
☆ 测试方法：用6H铅笔，在45度角下，以
屏表面硬度测试：6H铅笔,500gf
500g的力在镜盖表面划出5条3~5cm长的线条
☆ 检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，5
12
（2台）
条线中3条(包括3条)以上没有明显留下划痕
（仅适用于电容式触摸屏）
。
√
13
水波纹按压测试：1kgf， 3S
☆测试方法：将手机放在平面上（水泥或者钢
板），用平头 φ10mm施加1kgf的压力，在开
机白色界面下测试屏的四边中间以及中心点共
☆ 检验标准：不允许出现明显水紴纹，或
9个点，持续3S ☆测试环境：周围温度：
LCD/TP破
15°C～35°C，相对湿度：30％～60％，大气
压：86K ～ 106KPa
（2台）
√
√
2台
☆ 测试方法：采用背胶框贴方式，湿热、温
度冲击测试后机器各2台。用直径为52mm的
触屏拉拔力测试：2KGF 上 中
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、无损
14
下三位置分别5、1、5分钟 （冲
真空吸盘、2kgf的力，对屏上部（5min ）、中
部（1min ）、下部（5min ）进行测试，放置
伤破裂、无变形起翘
击后测2台，湿热后测试2台）
10分钟后查看屏翘起状况。
☆ 试验方法：对于金属表面，用百格刀刻出
25个2平方毫米的方格；对于塑料表面，用百
格刀刻出25个1平方毫米的方格；划格的深度
☆ 检验标准：有涂层脱落的方格数应不大于
附着力测试：百格刀,3M610号胶
1
以露出底材为止，再用3M610号胶带纸用力粘 总方格数的3%；单个方格涂层脱落面积不大
带纸
贴在方格面，1分钟后迅速以90度的角度撕
于单个方格总面积的15%
脱，重复用胶带黏贴拉起三次，检查方格表面
油漆。
2
√
√
2
√
√
2
3
摩擦测试：175gf,200次
☆ 试验方法：用2H铅笔，在45度角下，以
500g的力度在机壳表面划出5条3~5cm长的线
☆ 检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，5
硬度测试：2H铅笔,500gf,3-5cm
条。
条线中3条（包括3条）以上没有明显留下划痕
备注：素材/PU漆/金属漆1H，500gf; IMD/IML
。
2H,500gf，橡胶漆表面不测
☆ 测试方法：把滤纸放于酸性溶液（Acid2
PH=4.7）（酸性溶液可以按如下方式配制，
NACL：11.3％ ，磷酸二氢钠：2.8％ ，乳酸：
1.1％ ，水：84.8％；或者按照其他方式进行
配制）充分浸透，用胶带将浸有酸性溶液的滤
☆ 检验标准：表面无变色、褪色等异常。
纸粘在外壳喷漆表面，并且确保试纸与外壳喷
漆表面充分接触，然后放在测试环境中，48小
时后将外壳从测试环境中取出，并且放置2小
时后，检查外壳表面。
☆ 试验方法：将手机外壳固定在RCA试验机
上，用175g力摩擦200次。
备注：UV漆/电镀表面及其表面印刷200圈，
☆ 检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不可露
PU漆/金属烤漆表面及其表面印刷150圈，橡
出底材质地。
胶漆表面/素材表面印刷50圈，IMD/IML表面
不测
√
√
√
5套
√
√
√
汗液测试：
4
60℃,95%RH,PH=4.7
酒精测试：98%酒精,1000gf,50
☆ 试验方法：用98％的酒精，负荷1000g，来
☆ 检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不能变
5
次
回摩擦50次（往返算一次）。
色，褪色，不可露出底材质地。
√
√
镜片表面硬度测试：2H，1kgf
☆ 测试方法：用2H铅笔，在45度角下，以
☆ 检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，5
1Kg的力在镜盖表面划出5条3~5cm长的线条
6
备注：电容触摸屏表面硬度：6H
条线中3条（包括3条）以上没有明显留下划痕
。
500gf
。
备注：电容触摸屏表面硬度：6H 500gf
循环跌落测试：7cm高,正反面各
☆ 测试方法：手机处于开机状态，插入SIM卡
2500次（插SIM卡、T卡）
☆ 检验标准：手机各项功能正常，內存无丢
和T卡，播放T卡中的歌曲，播放过程中做手机
失，每台掉电、掉SIM卡、T卡不能超过
：
1
正面及背面的重复跌落实验，每个面的跌落次
开机，10cm高,六个面依次进行
10次；外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破
数为2500次（即1台手机测试1万次）。每
微跌落测试，正面和反面各1000
碎，内部元件无脱落。
1000次进行外观、机械和功能检查。
次，其他每个面跌落200次；
√ √
5台
√
√
√
5台
2
扭曲测试:1Nm/2Nm，1000次
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，固定在
扭曲试验机上，两端各夹15mm；
对于厚度小于11mm以及半截板的项目，使用 ☆ 检验标准：手机没有明显变形，內存无丢
1Nm力矩反复扭曲手机1000次；
失，外观无异常，且各项功能正常。
对于其他项目，使用2Nm力矩反复扭曲手机
1000次；500次之后每100次进行检查。
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，固定在
坐压试验机上，用25KG的力反复挤压手机
☆ 检验标准：手机没有变形，內存无丢失，
2000次。其中1000次作用于电池面， 1000次
外观无异常，且各项功能正常。
作用于键盘面；500次之后100次进行检查一
次。
2台
3
坐压测试：25kgf，正反面各
1000次
2台
√
4
滚筒测试：0.5m高,100次
将样品设置成开机、插卡状态, 在手机中预存
入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为
电性能及各项功能测试；结构检查无部件脱落
当前日期时间，将样品放入滚筒跌落试验机，
、壳体、卡钩断裂，显示屏、镜片破裂等影响
滚筒转速为10次/分钟，进行高度为0.5m，
样品使用功能的问题；无对样品使用功能造成
影响的外观问题及无其他对人体可能造成伤害
100次的随机跌落测试；每50次对样品进行电
性能与结构检查。对于翻盖手机，应将一半样
的安全性问题；表面磨损不计为问题；样品进
品闭合为原始状态，一半样品打开到使用位
行测试后，需要进行拆机检查，壳体内部结构
置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限
件和电子元器件不能有断裂，脱落等现象。
位置
2台
√
√
2台
适用于移动
定制产品
1
螺钉测试：10次
☆ 测试方法：将样品平放在试验台上，用生
☆ 检验标准：螺钉头无变形、损伤、划丝
产装配时使用的打螺钉扭矩，对同一螺钉在同
等；螺钉柱无变形、损伤、裂纹、划丝等；壳
一位置打进打出10次，每打进打出一次，对螺
体无变形，损伤，裂纹等；测试完成后，需要
钉，螺钉孔及壳体进行检查；测试仪的转速设 （3台）
拆机进行检查，壳体内部相关部分不能出现裂
置为“快速”状态，被测样品上可拆装螺钉均需
纹、损伤等异常。
要进行测试（螺钉扭矩由设计工程 师和生产
备注：此标准适用于机械型螺钉和自攻型螺钉
工程师提供）。
☆ 测试方法：在所有可能的方向，以7kgf的力
☆ 检验标准：I/O接口无机械损伤、短路等现
（2台）
象；I/O接口具有防呆设计。
插入插头。
√
2
I/O接口不正确插入测试：7kgf
√
☆ 测试方法：（有防脱设计）用5kgf的力拉出
☆ 检验标准：（有防脱设计）：插头不能被
I/O插头拉出强度测试：5kgf(有
插头；（没有防脱设计）：用1kgf-2.5kgf的力
拉出。（没有防脱设计）：插头可以正常插入
（2台）
3
防脱); 1kgf-2.5kgf(无防脱）
拉/拔插头
和拔出。
4
耳机插口强力插入测试：5kgf
5
USB插口测试：5000次
耳机、IO塞保护盖插拔测试：
6
500次
双料注塑保护盖拉力测试：
7
1.5Kgf
☆ 检验标准：耳机插口的电气、结构性能正
☆ 测试方法：用5kgf的力瞬时插入耳机插口。
常；无插头断裂、耳机插口断裂、耳机线损坏
（2台）
等现象发生
☆ 检验标准：试验后检查USB插座无焊接故
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，USB卡插
障，USB插头无损伤，插入USB后使用功能正
（2台）
在手机USB插口内，然后拔出，反复5000次。
常。
☆ 检验标准：对耳机塞、I/O接口塞，插拔时
☆ 测试方法：耳机塞、I/O接口塞，进行插拔
手感良好，不容易拔出；耳机塞、I/O接口塞
（2台）
试验500次；RF塞、螺丝塞不做插拔要求。
以及相应位置的壳体无外观不良（掉漆，翘起
等
☆ 测试方法：用1.5kg拉力，拉拔双料注塑的
☆ 检验标准：两种材质不能够分开以及出现
（2台）
保护盖。
断裂等异常。
（2台）
√
√
√
√
√
I/O口插入连接线插头（数据线、充电器），
IO接口压力测试：10kgf，2个方
试验后检查I/O接口无焊接故障，I/O 接口无
在距离机壳5mm处用10kgf力垂直按压，两个
8
损伤，插入连接线插头后使用功能正常。
向
方向。
10
IO接口强力插入测试：5kgf
11
耳机不正确插入测试:7kgf
用5kgf的力瞬时插入I/O插口
√
√
√
√
√
I/O插口的电气、结构性能正常；无插头断裂
（2台）
、I/O插口断裂、线损坏等现象发生。
在所有可能的方向，以7kgf的力插入耳机插头
耳机插座无机械损伤、短路等现象；耳机插座
（2台）
具有防呆设计。
耳机插头可以拉出
（2台）
12
耳机拉出强度测试：0.4kgf-1kgf
用0.4kgf-1kgf的力拉耳机插头
13
耳机插座压力测试：3kgf-5kgf力 在距离机壳5mm处用3kgf-5kgf力垂直按压，
试验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插座无
（2台）
垂直按压，上下两个方向 上下两个方向； 损伤，插入耳机后使用功能正常
2
翻盖机或者滑盖机数量
1
直板机手机数量
40
（移动定
制42）
45
（移动定
制42）
40
18
19
45 23
24
有防水IPX7
要求的产品
手机数量21
有防水IPX7
要求的产品
手机数量26
电性能参数测试表：
输出功率
测试条件
测试标准dBm
Chanel
PCL
5
12
19
5
GSM900
12
19
128
190
251
1
62
124
512
698
885
512
661
810
1013
384
777
1013
384
777
10054
10087
10121
31~33
17~21
3~7
31~33
17~21
3~7
28~30
14~18
-2~2
28~30
14~18
-2~2
23~27
23~27
23~27
23~30
23~30
23~30
21~25
21~25
21~25
接收灵敏度
测试条件
测试标准dBm
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-104
-104
-104
-105.5
-105.5
-105.5
-107.3
-107.3
-107.3
频段
GSM850
功率级别选最大LEVEL5，RX
Amplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
5M大）LEVL，残R余X误比特率
功（SAmplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
（GSM900MHz），观察残余误比特率
（RBER）当RBER<2％时，RF 输入电
平的最小值
功率级别选最大LEVEL5，RX
Amplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
（DCS1800MHz），观察残余误比特
率（RBER）当RBER<2％时，RF 输入
电平的最小值
功率级别选最大LEVEL5，RX
Amplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
（GSM900MHz），观察残余误比特率
（RBER）当RBER<2％时，RF 输入电
平的最小值
DCS1800
0
7
15
PCS1900
0
7
15
CDMA2000
EVDO
TD-SCDMA
手机功能测试：
手机测试前后必须保手机证基本功能正常：
CIT功能测试包括但不限于音频回路测试、键盘、马达、扬声器、铃音、CAMERA、FM、充电器、耳机、
LCD、背光、闪光灯、触摸屏、电量计、方向传感器、近距离传感器、光传感器、GPS、T卡、拨号通话等
测试；
触摸屏功能测试内容：
使用虚拟键盘输入法输入文字，连续操作2分钟/台，无触屏反应不灵敏及漂移现象
2023年12月2日发(作者：苍星菱)
Doc No.:
适用范围：
Revision :
Date :
公司外购整机项目，需要供应商满足的标准；同时产品量产前需要供应商提供相关的报告；
Originator
Check By
Approval By
Signature
Signature
Signature
Departmental Approval□硬件部：
□ID/MD：
□采购部：
□销售部：
□售后部：
□软件部：
□测试部：
□质量部：
□生产部：
□总经理：
AMENDMENT HISTORY
S/N Rev
1 V1
Date
2012/5/2
Description of Change
新建
1.修改外购整机可靠性测试标准
2.增加IPX7防尘,IP6X防水标准
3.删除温度冲击、汗液测试后进行百格/摩擦测试
4.增加电容屏表面硬度测试要求：6H 500gf
5.修改I/O插头拉出强度测试
2
V2
2013/1/16
Originat
Check
Approval
3
V3
2013/3/6
4
5
6
V4
V5
V6
2013/8/15
2014/1/3
2015/6/19
1.增加高温/低温参数测试时间和样品数量（6小时，
10台）
2.跌落测试增加备注：对于使用已通过天宇朗通耳机插
座器件认证的产品，不进行整机带耳机跌落
3.摩擦测试增加备注：不同表面处理工艺有不同的测试
方法
4.硬度测试增加备注：不同表面处理工艺有不同的测试
方法
5.增加耳机座压力测试
6.增加耳机座不正确插入测试
7.增加耳机座拉出强度测试
8.增加I/O接口强力插入测试
9
增加I/O接口压力测试方法
加TP拉力测试样品数量为4台机器
翻盖机增加主按键测试、翻盖测试标准，样机数量增加5
台
结构耐久性测试增加13：水波纹按压测试
File receive
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PR1
计划 备注
√
PR2
计划 备注 测试项目 数量
备注
2
低温运行测试：-30℃,6hrs
3
高温运行测试：+60℃, 6hrs
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，放入温
（2台）
度实验箱内的架子上。分别持续6个小时之后
☆ 检验标准：手机电性能指标满足要求，功
（与环境温度平衡），然后在此环境下进行电
能正常，內存无丢失，外壳无变形。
性能检查，检查项目见附表（1）。
（2台）
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，放入温
度实验箱内的架子上。持续48个小时之后，然
☆ 检验标准：手机电性能指标满足要求，功
后在此环境下进行电性能检查，检查项目见附
能正常，內存无丢失，外壳无变形。
表（1）。
☆ 测试方法：将手机处于关机状态，放入温
度实验箱内的架子上。在高温持续24个小时后
☆ 检验标准：手机功能正常，內存无丢失，
转至低温持续24个小时后取出，并放置2小时 外壳无变形。
恢复至常温，然后进行功能检查。
√
√
√
高温高湿测试：+50℃/
4
95%RH,48hrs
（2台）
√
5
高低温存储测试：+70℃/-
30℃,24hrs
（2台）
√
跌落测试：
6.5''及6.5'' 以上LCM跌落0.5m;
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，插入SIM
4.3''及4.3''~6.5''LCM跌落0.6m;
卡，存入电话本、短信记录各5条，一半数量
3.8''及3.8''~4.3''LCM或数码手机
的机器需要插入耳机；进行6个面的自由跌落
实验，每个面的跌落次数为1次，跌落两个循
跌落0.8m;
☆ 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢
环，跌落之后进行外观、机械和电性能检查。
3.0''及3.0''~3.8''LCM跌落1.0m;
失，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破
1
对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位
2.8''及2.4''~2.8''LCM跌落1.2m;
碎，内部元件无脱落；跌落完成后的机器全部
置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限
拆机，检查是否有掉件，干涉等情况。
2.4''及2.4'' 以下LCM 跌落1.3m;
位置。
大理石地面, 6 个面,每面跌落1
手机跌落顺序如下：正面-背面-左侧-右侧-顶
次,共2个循环;一半数量插入耳机
部-底部。
测试
1M
2
√
√
√
6台（复
用静电机
器）
振动测试：：振幅：0.38mm/振
☆ 测试方法：将手机开机放入振动箱。X、Y ☆ 检验标准：手机各项功能正常，内存无丢
2
频：10~30Hz；振幅：0.19mm/
、Z三个轴向分别振动1个小时之后取出然后进 失，尤其是显示屏和SPL，外壳无严重损伤
振频：1H/x，y，z轴
行外观、机械和电性能检查。 （如掉漆），内部元件无脱落。
（6台）
√
☆ 测试方法： 将样机放置静电测试台的绝缘
垫上，（样机与绝缘垫边缘距离至少2 英寸；
静电测试：
充电状态：+/-6KV接触放电；
两个样机之间的距离也是至少2 英寸）将手机
设置为开机插卡状态。 (充电测试状态：需要
+/-10KV空气放电
用充电器加电使手机处于充电状态；不充电状
☆ 检验标准：
不充电状态：+/-4KV接触放电；
态：手机不插充电器，加电池手机开机)打开
手机要求功能正常工作，不允许有屏闪，屏
+/-8KV空气放电
静电枪，空气放电是先按住开关再让圆形枪头
抖，黑线，横纹，竖纹，屏无 显示，变暗，
靠近测试位置（经常被直接接触到的有缝隙的
变黑，重新启动，关机，通讯链路断等以及其
3
充电状态：+/-6KV，+/-8KV接
地方,如底壳/面壳、大小LCD 四周、受话器、
它未描述到的现象，如出现以上现象在不重新
触放电；+/-10KV，+/-12KV，
主机按键、侧键、主机底壳、耳机口&尾插口
开机的情况下可很快自我恢复则判定为通过，
+/-15KV空气放电
、转轴处等去除充电器耳机塞子等距离小于
否则视为不通过；
不充电状态：+/-4KV，+/-6KV
3mm，但不能碰触到。），松开放电；接触放
接触放电；+/-10KV，+/-12KV
电是先让尖形枪头接触放电位置(金属部件、
空气放电 （注：12KV不许有软
金属装饰件、金属材料或有金属性能的涂层，
失效）
Lens 等)，再按开关放电。对手机指定部位放
电10 次，每测试一次，同时手机对地放电一
次,做完一个部位的测试，检查手机功能
3台
√
√
√
3台
☆ 测试方法：将手机关机在能通过筛孔为
☆ 检验标准：手机各项功能正常，所有活动
灰尘测试：35℃,8hrs,参考国标
75um、金属丝直径为50um的方孔筛的干燥滑
元器件运转自如，显示区域没有明显灰尘。
1
石粉、试验箱内（工作室和管通道）灰尘量为
防尘IP6X产品检验标准：手机各项功能正常，
GB 4208-2008
2kg/m3的粉尘中放置8h，然后将手机从实验
所有活动元器件运转自如，显示区不允许粉尘
进入，手机内部没有明显灰尘。
箱中取出，进行检查。
☆ 测试方法：
军 溶液含量：5%的氯化钠溶液。水流量：600
立方厘米/小时。 喷雾水压：80Kpa
军 将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于关
机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬挂起
来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表面喷不
到。一台天线朝下，一台天线朝上。
☆ 检验标准：手机各项功能正常，手机外壳
2
盐雾测试：35℃,5%NaCl,48hrs
军 样机需立即被放入测试箱。实验周期是48个
表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象。
小时。实验过程中样机不得被中途取出，如果
急需取出测试，要严格记录测试时间，该实验
需向后延迟相同时间。
军 取出样机，将手机和电池分开放置48小时进
行常温干燥，对其进行外观及功能检查。
2台
√
√
2台
（2台）
√
参考项
☆测试方法：应使测试样机开机状态放进浸水
☆检验标准：测试结束后，手机状态正常，外
防水测试：手机底边在水面下
箱，样机底部到水面的距离至少不低于1m 。
壳打开后（拆机前需用棉布对其进行表面清
3
1m位置,浸泡30分钟,达到国标防
样机顶部到水面距离至少不低于0.15m水温与
洁），机器內部无水进入，各功能均可以使用
水IPX7级
。
样机温差不大于5℃试验时间30 min。
2台
√
√
√
2台
适用于有防
水IPX7要求
的产品
☆ 测试方法：将手机设置成关机状态固定在
测试夹具上，用4-10N的力对导航键、功能键
以及其他数字键进行10万次按压测试，其中，
主按键／单独开机键测试：10万
必须测试的按键有：左功能键、OK键、开机
1
键、CPU上部一个按键、数字键最中间的按键
☆ 检验标准：手机按键弹性及功能正常。
次
、单独的开关机键按照10万次进行测试；测试
过程中分别在3万次，5万次，8万次，10万次
检查手机按键弹性及功能。
2台
√
√
2台
适用于翻盖
结构的产品
3
翻盖/滑盖测试：5万次
4
充电器插拔测试：2000次
☆ 试验方法：将手机设置成开机状态，固定
在测试夹具上，进行5万次开合翻盖测试。进
☆ 检验标准：5万次后，手机翻盖弹性及功能
行到2万次、3万次、4万次和5万次时各检查手
5台
正常。
机一次，完成5万次时检查手机翻盖弹性及功
能。
☆ 测试方法：将手机设置成开机状态，将充
电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机
☆ 检验标准：手机及充电器的功能使用正常
（2台）
至充电界面显示正常后，插拔充电插头2000次
。
。
√
√
√
5台
适用于翻盖
结构的产品
√
☆ 测试方法：将电池/电池盖反复拆装
电池/电池盖插拔测试：2000次
2000次，分别在500次、1000次、1500次以及
☆ 检验标准：手机及电池/电池盖各项功能正
5
电池盖插拔后进行桌面跌落测
2000次后检查电池盖的松紧度；电池盖插拔后
常，电池触片和电池连接器应无下陷、变形及
（2台）
进行桌面跌落测试，高度30cm，6个面1循
试：高度30cm，6个面1循环
磨损的现象，外观无异常。
环，电池盖掉落不超过3次。
√
6
耳机插拔测试：2000次
☆ 检验标准：实验前，用手握住耳机并拉起
手机，耳机能承受手机机身重量；实验后检查
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，耳机插
在手机耳机插孔内，然后拔出，反复2000次；
耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用
（2台）
每100次，对样机及耳机进行结构、功能、外
耳机通话接收与送话无断续、杂音（通话过程
中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时
观检查。
不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。
√
☆ 测试方法：将手机处于关机状态，SD卡
/SIM卡插在手机SD/SIM卡座内，然后拔出，
☆ 检验标准：卡座应无变形、无破损阻塞并
（2台）
SD卡/SIM卡插拔测试：2000次7
能通过功能测试。
反复2000次
☆ 测试方法：将手机设置成开机状态，固定
在测试夹具上，使用随机附带手写笔进行点击
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、显示
屏显示正常以及无其它与测试前状态不一致的
触摸屏的中心位置250,000次，点击力度为
触摸屏点击测试：250g力，点击
功能问题；触摸屏、显示屏无损伤、破裂；触
250g+/-10%，点击速度:1次/秒；150,000次
9
中心位置25万次
摸屏表面无异常痕迹以及无其它与测试前状态
（2台）
之内每30,000次检查一次并对触摸屏表面进行
不一致的外观问题；手写笔头部无变形、扭曲
（仅适用于电阻式触摸屏）
清洁，150,000至250,000次每20,000次检查一
、损伤以及无其它与测试前状态不一致的结构
次并对触摸屏表面进行清洁。
问题。
√
适用于电阻
式触摸屏
√
触摸屏划线测试：250g力，
10
60mm/s，10万次
（仅适用于电阻式触摸屏）
☆ 测试方法：将手机设置成关机状态，固定
在测试夹具上，使用随机附带手写笔沿触摸屏
的对角线进行划线测试，划线压力为250g+/-
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、显示
10%，划线速度为60mm/秒，测试距离为不
屏显示正常；触摸屏、显示屏无损伤、破裂；
（2台）
小于触摸屏对角线距离的2/3，测试次数为
手写笔头部无变形、扭曲、损伤；触摸屏表面
100,000次（反复一个来回记为两次）；每
无划痕。
10,000次对触摸屏进行功能、结构与外观检
查，并对触摸屏表面进行清洁。
√
适用于电阻
式触摸屏
☆ 测试方法：将手机设置成关机状态，固定
在测试夹具上，使用随机附带手写笔，在触摸
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、显示
触摸屏周边划线测试：250g力，
屏的周圈，划线压力为250g +/-10%，划线速
屏显示正常；触摸屏、显示屏无损伤、破裂；
11
100次
（2台）
度为60mm/秒，测试次数为100次（划一圈记
手写笔头部无变形、扭曲、损伤；触摸屏表面
（仅适用于电阻式触摸屏）
录一次）；对触摸屏进行功能、结构与外观检
无划痕
查，并对触摸屏表面进行清洁。
√
适用于电阻
式触摸屏
☆ 测试方法：用6H铅笔，在45度角下，以
屏表面硬度测试：6H铅笔,500gf
500g的力在镜盖表面划出5条3~5cm长的线条
☆ 检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，5
12
（2台）
条线中3条(包括3条)以上没有明显留下划痕
（仅适用于电容式触摸屏）
。
√
13
水波纹按压测试：1kgf， 3S
☆测试方法：将手机放在平面上（水泥或者钢
板），用平头 φ10mm施加1kgf的压力，在开
机白色界面下测试屏的四边中间以及中心点共
☆ 检验标准：不允许出现明显水紴纹，或
9个点，持续3S ☆测试环境：周围温度：
LCD/TP破
15°C～35°C，相对湿度：30％～60％，大气
压：86K ～ 106KPa
（2台）
√
√
2台
☆ 测试方法：采用背胶框贴方式，湿热、温
度冲击测试后机器各2台。用直径为52mm的
触屏拉拔力测试：2KGF 上 中
☆ 检验标准：触摸屏使用功能无异常、无损
14
下三位置分别5、1、5分钟 （冲
真空吸盘、2kgf的力，对屏上部（5min ）、中
部（1min ）、下部（5min ）进行测试，放置
伤破裂、无变形起翘
击后测2台，湿热后测试2台）
10分钟后查看屏翘起状况。
☆ 试验方法：对于金属表面，用百格刀刻出
25个2平方毫米的方格；对于塑料表面，用百
格刀刻出25个1平方毫米的方格；划格的深度
☆ 检验标准：有涂层脱落的方格数应不大于
附着力测试：百格刀,3M610号胶
1
以露出底材为止，再用3M610号胶带纸用力粘 总方格数的3%；单个方格涂层脱落面积不大
带纸
贴在方格面，1分钟后迅速以90度的角度撕
于单个方格总面积的15%
脱，重复用胶带黏贴拉起三次，检查方格表面
油漆。
2
√
√
2
√
√
2
3
摩擦测试：175gf,200次
☆ 试验方法：用2H铅笔，在45度角下，以
500g的力度在机壳表面划出5条3~5cm长的线
☆ 检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，5
硬度测试：2H铅笔,500gf,3-5cm
条。
条线中3条（包括3条）以上没有明显留下划痕
备注：素材/PU漆/金属漆1H，500gf; IMD/IML
。
2H,500gf，橡胶漆表面不测
☆ 测试方法：把滤纸放于酸性溶液（Acid2
PH=4.7）（酸性溶液可以按如下方式配制，
NACL：11.3％ ，磷酸二氢钠：2.8％ ，乳酸：
1.1％ ，水：84.8％；或者按照其他方式进行
配制）充分浸透，用胶带将浸有酸性溶液的滤
☆ 检验标准：表面无变色、褪色等异常。
纸粘在外壳喷漆表面，并且确保试纸与外壳喷
漆表面充分接触，然后放在测试环境中，48小
时后将外壳从测试环境中取出，并且放置2小
时后，检查外壳表面。
☆ 试验方法：将手机外壳固定在RCA试验机
上，用175g力摩擦200次。
备注：UV漆/电镀表面及其表面印刷200圈，
☆ 检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不可露
PU漆/金属烤漆表面及其表面印刷150圈，橡
出底材质地。
胶漆表面/素材表面印刷50圈，IMD/IML表面
不测
√
√
√
5套
√
√
√
汗液测试：
4
60℃,95%RH,PH=4.7
酒精测试：98%酒精,1000gf,50
☆ 试验方法：用98％的酒精，负荷1000g，来
☆ 检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不能变
5
次
回摩擦50次（往返算一次）。
色，褪色，不可露出底材质地。
√
√
镜片表面硬度测试：2H，1kgf
☆ 测试方法：用2H铅笔，在45度角下，以
☆ 检验标准：划痕用橡皮擦去铅笔痕迹后，5
1Kg的力在镜盖表面划出5条3~5cm长的线条
6
备注：电容触摸屏表面硬度：6H
条线中3条（包括3条）以上没有明显留下划痕
。
500gf
。
备注：电容触摸屏表面硬度：6H 500gf
循环跌落测试：7cm高,正反面各
☆ 测试方法：手机处于开机状态，插入SIM卡
2500次（插SIM卡、T卡）
☆ 检验标准：手机各项功能正常，內存无丢
和T卡，播放T卡中的歌曲，播放过程中做手机
失，每台掉电、掉SIM卡、T卡不能超过
：
1
正面及背面的重复跌落实验，每个面的跌落次
开机，10cm高,六个面依次进行
10次；外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破
数为2500次（即1台手机测试1万次）。每
微跌落测试，正面和反面各1000
碎，内部元件无脱落。
1000次进行外观、机械和功能检查。
次，其他每个面跌落200次；
√ √
5台
√
√
√
5台
2
扭曲测试:1Nm/2Nm，1000次
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，固定在
扭曲试验机上，两端各夹15mm；
对于厚度小于11mm以及半截板的项目，使用 ☆ 检验标准：手机没有明显变形，內存无丢
1Nm力矩反复扭曲手机1000次；
失，外观无异常，且各项功能正常。
对于其他项目，使用2Nm力矩反复扭曲手机
1000次；500次之后每100次进行检查。
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，固定在
坐压试验机上，用25KG的力反复挤压手机
☆ 检验标准：手机没有变形，內存无丢失，
2000次。其中1000次作用于电池面， 1000次
外观无异常，且各项功能正常。
作用于键盘面；500次之后100次进行检查一
次。
2台
3
坐压测试：25kgf，正反面各
1000次
2台
√
4
滚筒测试：0.5m高,100次
将样品设置成开机、插卡状态, 在手机中预存
入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为
电性能及各项功能测试；结构检查无部件脱落
当前日期时间，将样品放入滚筒跌落试验机，
、壳体、卡钩断裂，显示屏、镜片破裂等影响
滚筒转速为10次/分钟，进行高度为0.5m，
样品使用功能的问题；无对样品使用功能造成
影响的外观问题及无其他对人体可能造成伤害
100次的随机跌落测试；每50次对样品进行电
性能与结构检查。对于翻盖手机，应将一半样
的安全性问题；表面磨损不计为问题；样品进
品闭合为原始状态，一半样品打开到使用位
行测试后，需要进行拆机检查，壳体内部结构
置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限
件和电子元器件不能有断裂，脱落等现象。
位置
2台
√
√
2台
适用于移动
定制产品
1
螺钉测试：10次
☆ 测试方法：将样品平放在试验台上，用生
☆ 检验标准：螺钉头无变形、损伤、划丝
产装配时使用的打螺钉扭矩，对同一螺钉在同
等；螺钉柱无变形、损伤、裂纹、划丝等；壳
一位置打进打出10次，每打进打出一次，对螺
体无变形，损伤，裂纹等；测试完成后，需要
钉，螺钉孔及壳体进行检查；测试仪的转速设 （3台）
拆机进行检查，壳体内部相关部分不能出现裂
置为“快速”状态，被测样品上可拆装螺钉均需
纹、损伤等异常。
要进行测试（螺钉扭矩由设计工程 师和生产
备注：此标准适用于机械型螺钉和自攻型螺钉
工程师提供）。
☆ 测试方法：在所有可能的方向，以7kgf的力
☆ 检验标准：I/O接口无机械损伤、短路等现
（2台）
象；I/O接口具有防呆设计。
插入插头。
√
2
I/O接口不正确插入测试：7kgf
√
☆ 测试方法：（有防脱设计）用5kgf的力拉出
☆ 检验标准：（有防脱设计）：插头不能被
I/O插头拉出强度测试：5kgf(有
插头；（没有防脱设计）：用1kgf-2.5kgf的力
拉出。（没有防脱设计）：插头可以正常插入
（2台）
3
防脱); 1kgf-2.5kgf(无防脱）
拉/拔插头
和拔出。
4
耳机插口强力插入测试：5kgf
5
USB插口测试：5000次
耳机、IO塞保护盖插拔测试：
6
500次
双料注塑保护盖拉力测试：
7
1.5Kgf
☆ 检验标准：耳机插口的电气、结构性能正
☆ 测试方法：用5kgf的力瞬时插入耳机插口。
常；无插头断裂、耳机插口断裂、耳机线损坏
（2台）
等现象发生
☆ 检验标准：试验后检查USB插座无焊接故
☆ 测试方法：将手机处于开机状态，USB卡插
障，USB插头无损伤，插入USB后使用功能正
（2台）
在手机USB插口内，然后拔出，反复5000次。
常。
☆ 检验标准：对耳机塞、I/O接口塞，插拔时
☆ 测试方法：耳机塞、I/O接口塞，进行插拔
手感良好，不容易拔出；耳机塞、I/O接口塞
（2台）
试验500次；RF塞、螺丝塞不做插拔要求。
以及相应位置的壳体无外观不良（掉漆，翘起
等
☆ 测试方法：用1.5kg拉力，拉拔双料注塑的
☆ 检验标准：两种材质不能够分开以及出现
（2台）
保护盖。
断裂等异常。
（2台）
√
√
√
√
√
I/O口插入连接线插头（数据线、充电器），
IO接口压力测试：10kgf，2个方
试验后检查I/O接口无焊接故障，I/O 接口无
在距离机壳5mm处用10kgf力垂直按压，两个
8
损伤，插入连接线插头后使用功能正常。
向
方向。
10
IO接口强力插入测试：5kgf
11
耳机不正确插入测试:7kgf
用5kgf的力瞬时插入I/O插口
√
√
√
√
√
I/O插口的电气、结构性能正常；无插头断裂
（2台）
、I/O插口断裂、线损坏等现象发生。
在所有可能的方向，以7kgf的力插入耳机插头
耳机插座无机械损伤、短路等现象；耳机插座
（2台）
具有防呆设计。
耳机插头可以拉出
（2台）
12
耳机拉出强度测试：0.4kgf-1kgf
用0.4kgf-1kgf的力拉耳机插头
13
耳机插座压力测试：3kgf-5kgf力 在距离机壳5mm处用3kgf-5kgf力垂直按压，
试验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插座无
（2台）
垂直按压，上下两个方向 上下两个方向； 损伤，插入耳机后使用功能正常
2
翻盖机或者滑盖机数量
1
直板机手机数量
40
（移动定
制42）
45
（移动定
制42）
40
18
19
45 23
24
有防水IPX7
要求的产品
手机数量21
有防水IPX7
要求的产品
手机数量26
电性能参数测试表：
输出功率
测试条件
测试标准dBm
Chanel
PCL
5
12
19
5
GSM900
12
19
128
190
251
1
62
124
512
698
885
512
661
810
1013
384
777
1013
384
777
10054
10087
10121
31~33
17~21
3~7
31~33
17~21
3~7
28~30
14~18
-2~2
28~30
14~18
-2~2
23~27
23~27
23~27
23~30
23~30
23~30
21~25
21~25
21~25
接收灵敏度
测试条件
测试标准dBm
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-102
-104
-104
-104
-105.5
-105.5
-105.5
-107.3
-107.3
-107.3
频段
GSM850
功率级别选最大LEVEL5，RX
Amplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
5M大）LEVL，残R余X误比特率
功（SAmplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
（GSM900MHz），观察残余误比特率
（RBER）当RBER<2％时，RF 输入电
平的最小值
功率级别选最大LEVEL5，RX
Amplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
（DCS1800MHz），观察残余误比特
率（RBER）当RBER<2％时，RF 输入
电平的最小值
功率级别选最大LEVEL5，RX
Amplitude 设置为－102dBm；将RF 输
入电平从－102dBm 调节到－110 dBm
（GSM900MHz），观察残余误比特率
（RBER）当RBER<2％时，RF 输入电
平的最小值
DCS1800
0
7
15
PCS1900
0
7
15
CDMA2000
EVDO
TD-SCDMA
手机功能测试：
手机测试前后必须保手机证基本功能正常：
CIT功能测试包括但不限于音频回路测试、键盘、马达、扬声器、铃音、CAMERA、FM、充电器、耳机、
LCD、背光、闪光灯、触摸屏、电量计、方向传感器、近距离传感器、光传感器、GPS、T卡、拨号通话等
测试；
触摸屏功能测试内容：
使用虚拟键盘输入法输入文字，连续操作2分钟/台，无触屏反应不灵敏及漂移现象