2023年12月19日发(作者：却清心)
手机的静电测试 李雪 （武汉职业技术学院电子信息工程学院，武汉４３００７４） 摘要：手机的静电测试目的是测试样机的抗静电干扰能力，为评估手机在实际使用中抗静电能力提供数据支持。文章介绍了 手机静电测试台和手机静电测试仪的使用方法，并介绍了手机静电测试的步骤。通过静电测试仪在静电测试台上对手机的静 电进行测试从而对手机的抗静电能力进行评估。 关键词：静电；静电测试 中图分类号：ＴＪ６１０．６ 文献标识码：Ａ Ｓｔａｔｉｃ Ｔｅｓｔｉｎｇ ｏｆ Ｍｏｂｉｌｅ Ｐｈｏｎｅ Ｌｉ Ｘｕｅ （Ｃｏｌｌｅｇｅ ｏｆ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｗｕｈａｎ Ｐｏｌｙｔｅｃｈｎｉｃ，Ｗｕｈａｎ ４３００７４，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｉｎｇ ｏｆ ｍｏｂｉｌｅ ｐｈｏｎｅ ｗａｓ ｄｅｓｉｇｎｅｄ ｔｏ ｔｅｓｔ ｔｈｅ ｐｒｏｔｏｔｙｐｅ ｓｔａｔｉｃ ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ，ｔｏ ａｓｓｅｓｓ ｔｈｅ ａｃｔｕａｌ ｕｓｅ ｏｆ ｔｈｅ ｐｈｏｎｅ’Ｓ ａｂｉｌｉｔｙ ｔｏ ｐｒｏｖｉｄｅ ｄａｔａ ｔｏ ｓｕｐｐｏｒｔ ａｎｔｉ—ｓｔａｔｉｃ．Ｔｈｉｓ ｐａｐｅｒ ｉｎｔｒｏｄｕｃｅｓ ｔｈｅ ｍｏｂｉｌｅ—ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔ ｂｅｎｃｈ，ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｅｒ ｐｈｏｎｅ ａｎｄ ｃｅｌ１ ｐｈｏｎｅ ｔｏ ｕｓｅ ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔ ｐｒｏｃｅｄｕｒｅ．Ｂｙ ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｅｒ ｏｎ ｔｈｅ ｐｈｏｎｅ ｔｏ ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｉｎｇ，ｉｎ ｏｒｄｅｒ ｔｏ ａｓｓｅｓｓ ｔｈｅ ｐｈｏｎｅ ａｎｔｉｓｔａｔｉｃ ａｂｉ１ｉｔｙ． Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：Ｓｔａｔｉｃ ｅｌｅｃｔｒｉｃｉｔｙ Ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔ ０ 引言 静电就是物体表面过剩或不足的相对静止的电荷，它是正 负电荷在局部范围内失去平衡的结果，是电能的一种表现形式， 是通过电子转移而形成的。这些不平衡的电荷就产生了一个可以 衡量其大小的电场，称为静电场，它能影响一定距离内的其他物 体，使之感应带电，影响距离之远近与其电量的多少有关。静电会 给人们的生活带来种种不便，随着家用电器的增多以及冬天人们 进行静电测试的目的是测试样机抗静电干扰能力，为评估手机 在实际使用中抗静电能力提供数据支持。静电测试需要在温度 １５＂Ｃ～３５￣Ｃ，湿度３０％～６０％的环境下进行，测试需要用到的工 具有静电枪和Ｋｅｉｔｈｌｅｙ２３０２电源。 １ 手机静电测试台 手机静电测试除了静电发生器以外还有专用的静电测试台， 台上有水平耦合板，垂直耦合板对手机的静电测试有很大影响， 穿着化纤衣服，家用电器所产生的静电荷会被人体吸收并积存起 来，加之居室内墙壁和地板多属绝缘体，空气干燥，因此更容易受 到静电干扰，有时甚至会对人们的生命财产安全造成巨大的危 尺寸摆放都有固定的要求，静电测试台与静电测试仪一起才构成 完整的手机测试系统。静电测试台示意图如图１所示，实物图如 图２所示。静电测试台下面是一块大的钢片，必须可靠接地，钢片 上放有一个木台，人操作时必须站在木台上，保证与地绝缘，桌上 两边是垂直耦合板，用来手机立放时进行静电测试时使用，桌面 害。消除静电的产生几乎是不可能的事情，可通过在实验室检测 物体抗静电的能力，以此来判断静电抗扰度。 ＣＴＡ是中国检测联盟，一款手机要想拿到入网标贴，就必须 通过ＣＴＡ的测试，即泰尔实验室的相关测试，其中静电抗扰ＥＳＤ 是ＣＴＡ的一个必测项目，也是厂家最为关注的问题之一。对手机 下方是一块水平耦合板，水平耦合板的上方是一层绝缘垫，所有 的钢片都必须可靠接地。 基金项目：中央财政支持高等职业学校专业建设项目：提高专业服务产业能力建设
２ｏｌ３．ｔ７ 设计与研发 测试对象： 蛳 硬件配置： Ｋ§０ ６５ｌ７十埘∞重 测试环境： ２５。４５％ 金属面 摄像头 壳外框 缝隙 电镀件 充电接口 倒键 听筒 矗Ｂ 按键 Ｓ Ｋ 豇Ｃ ＣＤ 输出电压＼ （母） ， ／ ， ｜ ， ， 接触放电 （一） ｉ ／ ， ｜ ， 瓣（÷） ｜ ． ， ， ｛ ， （一） ｜ ， ， ｛ ｜ ｜ ｌ （年） ， Ｅ盏ｎ 盏ＳＳ 蛋 矗ＳＳ 翌ＩＡｓ１Ｓ 墨 ｕｓＳ 薹 ＳＳ Ｓ 耐（一） ｜ Ｅ ｎ 重 嚣Ｓ Ｂ Ｅ盏】臣 Ｓ Ｓ 至 ｌｓＳ 文ＳＳ ｌ仍ｃ、 （啼） ｛ Ｓ 至 ｌｓＳ Ｓ 堇ｌ＝ｌＩＩ Ｓ Ｓ ＳＳ 空气放电 重。ｌ （一） ， ， Ｓ 乳 ， ｐ ｌ ＳＳ ＳＳ ｐ ＳＳ ｌ２Ｋ （．２．） ， ， ｛ ｌ ／ ｌ２ＫＶ（．） ， ｜ ， ｛ 薹４ｌ（Ｖ（÷） ， ， ｜ ， ， ｌ （ ） ｜ ｜ ／ ｌ ｉ ， ， （七） ｛ ｛ ／ ｜ ｌ 接触放电 删（一） ｜ ｜ ｜ ／ ｜ （接充电器） 删（母） ｛ ｜ ｌ ｌ （一） ｜ ｜ ｜ ｛ ｜ ｜ ｛ 羽 （母） Ｅ ｌ ＳＳ Ｅ 臣 ｓＳ Ｓ 姒ＳＳ ｐ ＳＳ ｌ Ｓｌｓ （一） ｜ 盘】臣 薹 嚣Ｓ 矗蓦鬈 Ｅ 匪 ＰＡｓＳ Ｓ 量 ＳＳ ＡｓＳ Ｓ ｌ懈 （牛） ｜ ｜ 蛋 ＳＳ ｓｓ ｓＳ 薹 ＳＳ ｌ Ｓ ＳＳ Ｐ盏ＳＳ 空气放电 ｌ０ａ｝（、『（．） ｛ ， 重 Ｓ Ｓ ／ ＳＳ Ｐ矗ＳＳ ＰＡｓＳ 至 ＳＳ （接充电器） ｌ２Ｋ （每） ｜ ， ｜ ｌ Ｊｌ２ＫＶ（一） ｛ ｜ ， ｉ ／ ， ， １４：ＫＶ（÷） ， ｜ ， ｉ ， ｜ ｌ （ ） ｜ ｜ ｛ ｜ 表ｉ手机静电测试报告 缘垫边缘距离至少２英寸），再将手机开机；然后打开静电枪，根 电枪接近被测手机的方式不同而导致试验结果上的差异，空气放 据不同机型调节放电方式，接触放电＋／一６ＫＶ，２枪／点；空气放 电则用作不能使用接触放电的场合。 电＋／一１４ＫＶ，２枪／点，打一枪放一次电，并观察手机在测试过程 手机的静电测是按照是否接充电器、是否通话共分为四种模 中有无死机、通信链路中断、ＬＣＤ显示异常、自动关机及其他异 式，如表ｉ所示。不同的模式下有两种测试方式，屏朝上和朝下， 常现象；最后测试完成，记录数据并对手机功能做全面检查。以 因为静电测试台的台面是一块大的０．５ｃｍ厚的钢板，与地连接电 奥克斯９６０Ｔ（ＴＤ版本）手机为例，手机静电测试结果如表ｉ所示。 势为零，当在打静电的时候，主板的电势会被瞬间拉低或者拉高， 接触放电是优先选择的试验方法，因为可以避免由于静电放 主板和钢板中间会形成电容效应，这样处在主板和钢板中间的器
设 与研发 件（触摸板和屏，主要是驱动ＩＣ）就会处在一个电容效应的环境 摸失效的现象。 ２０，３．１７ 手机的抗静电能力，很大程度上取决于前期的设计，包括主 管的使用，前期ＩＤ与ＭＤ评估的时候一定要严格，后续加贴导电 下，就很容易干扰触摸板和屏的控制信号，造成死机，定屏或者触 板的布线、板层数和结构设计，以及抗静电器件的选取，例如ＴＶＳ 根据此款手机的静电测试情况发现在摄像头和充电接口处 布都是临时的处理措施，接地点的不稳定会带来更大的问题一一 进行静电测试，当屏幕朝下时会出现定屏现象。解决此故障现象 影响天线性能。手机的静电是主板和结构设计决定的，很大程度 的方法就是尽量对驱动Ｉｃ做好屏蔽，对屏的外框钢片做好接地， 上取决于前期评估。静电放电对手机造成的危害主要有硬件损 在触摸板和屏的ＦＰＣ走线上，对重要的控制线尽量加粗以及ＦＰＣ 坏，自动关机，程序混乱，死机，要通过人为干预才能复位；死机， 表面的屏蔽效果。这种静电的解决方式和由于结构引起的静电处 程序混乱，无法进行复位。 理方式完全不一样，传统的由于结构引起的静电问题，只要依据 导和堵两种思路基本都能解决，现在智能手机的静电问题基本上 参考文献 Ｊ］．中国 都出现在屏和触摸板上，解决问题的关键在于找到被干扰的信 ［１］朱文立．手机电磁兼容问题分析及其改进对策［号。 电子商情（基础电子），２０１２（７） ［２］白宇皎．手机测试部分要点分析［Ｊ］．科技传播，２０１１（８）： ２２７ ［３］康艳，杨爱军．手机类通信终端市场分析及手机性能测试 ［Ｊ］．信息通信，２０１１（８）：１２５ ［４］王益芝，吴言润，李艳，李特．浅析智能手机的自动化测试 ［Ｊ］．现代电信科技，２０１２（１２）：２３—２５ 作者简介 （ａ）空气放电测试 （ｂ）接触放电测试 李雪（１９８１一），女，湖北武汉，讲师，硕士，主要研究方向：移 动通信技术 图５手机静电测试 ４结语 （上接第９６页） 图３ ＥＭＭＩ检测结果 Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｚｈｅｎｇｚｈｏｕ ４结论 根据本文失效分析案例，样品Ｂ在进行高温试验时，可能有 水汽进入芯片气泡中，导致芯片出现损伤而漏电，从而对芯片的 安全以及计量的准确性造成隐患。计量芯片的工艺决定了芯片的 ２０１２，３３（１），１１３—１１６ ［２］（俄）姆基扎诺夫等，飞行事故调查教程，谢燕生等译北京： 空军事故和失效分析中心，１９９３ ［３］（日）小栗富士雄，小栗男连，机械设计禁忌手册。北京：机械 工业出版社，１９８９ 性能，因此建议厂家对工艺条件和参数提高要求，掌握工艺参数 ［４］ 郑福元等编著，厚薄膜混合集成电路，科学出版社，１９８４ 偏差对产品性能参数稳定性的影响程度，明确每一工艺最佳控制 点和允许的偏差范围。当正常运行的电能表计量芯片出现性能偏 差时，根据本文提及的失效分析方法，逐步找到失效模式，并反馈 至生产线，以提高产品质量，提高电能表质量。 ［５］（日）盐见弘等，陈祝同译，失效分析及其应用，北京：机械工 业出版社，１９８８ ［６］ （美）Ｊａｍｅｓ Ｊ．Ｌｉｃａｒｉ，ｌｅｏｎａｒｄ Ｒ．Ｅｎｌｏｗ，朱瑞廉译，混 合微电路技术手册，北京：电子工业出版社，２００４ ［７］ 庄奕琪，微电子应用可靠性技术，北京：电子工业出版社， １９９４ 参考文献 ［１］ 李永军，徐晓蓉，靳永强，王海龙，陈立家．基于ＸＣＳＩＯ的 高精度多功能时间校验仪系统［Ｊ］．郑州大学学报：工学 版，２０１２，３３（１），１１３—１１６ Ｌｉ Ｙｏｎｇｊｕｎ，Ｘｕ Ｘｉａｏｒｏｎｇ，Ｊｉｎ Ｙｏｎｇｑｉａｎｇ，Ｗａｎｇ ｔ｛ａｉｌｏｎｇ，Ｃｈｅｎ ＬｉＪｉａ．Ｓｙｓｔｅｍ ｏｆ Ｈｉｇｈ—ｐｒｅｃｉＳｉｏｎ ［８］ 中国军用电子元器件管理中心编，军用电子元器件应用可 靠性，１９９４ ［９］ 王锡吉，可靠性工程～设计、试验、分析、管理。北京：宇航 出版社，１９８９ ［１Ｏ］ 肖德辉编著，可靠性工程，北京：宇航出版社，１９８５ Ｍｕｌｔｉ－ｆｕｎｃｔｉｏｎ Ｔｉｍｅ Ｃａｌｉｂｒａｔｏｒ Ｂａｓｅｄ Ｏｎ ＸＣＳＩＯ［Ｊ］．
2023年12月19日发(作者：却清心)
手机的静电测试 李雪 （武汉职业技术学院电子信息工程学院，武汉４３００７４） 摘要：手机的静电测试目的是测试样机的抗静电干扰能力，为评估手机在实际使用中抗静电能力提供数据支持。文章介绍了 手机静电测试台和手机静电测试仪的使用方法，并介绍了手机静电测试的步骤。通过静电测试仪在静电测试台上对手机的静 电进行测试从而对手机的抗静电能力进行评估。 关键词：静电；静电测试 中图分类号：ＴＪ６１０．６ 文献标识码：Ａ Ｓｔａｔｉｃ Ｔｅｓｔｉｎｇ ｏｆ Ｍｏｂｉｌｅ Ｐｈｏｎｅ Ｌｉ Ｘｕｅ （Ｃｏｌｌｅｇｅ ｏｆ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｗｕｈａｎ Ｐｏｌｙｔｅｃｈｎｉｃ，Ｗｕｈａｎ ４３００７４，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｉｎｇ ｏｆ ｍｏｂｉｌｅ ｐｈｏｎｅ ｗａｓ ｄｅｓｉｇｎｅｄ ｔｏ ｔｅｓｔ ｔｈｅ ｐｒｏｔｏｔｙｐｅ ｓｔａｔｉｃ ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ，ｔｏ ａｓｓｅｓｓ ｔｈｅ ａｃｔｕａｌ ｕｓｅ ｏｆ ｔｈｅ ｐｈｏｎｅ’Ｓ ａｂｉｌｉｔｙ ｔｏ ｐｒｏｖｉｄｅ ｄａｔａ ｔｏ ｓｕｐｐｏｒｔ ａｎｔｉ—ｓｔａｔｉｃ．Ｔｈｉｓ ｐａｐｅｒ ｉｎｔｒｏｄｕｃｅｓ ｔｈｅ ｍｏｂｉｌｅ—ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔ ｂｅｎｃｈ，ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｅｒ ｐｈｏｎｅ ａｎｄ ｃｅｌ１ ｐｈｏｎｅ ｔｏ ｕｓｅ ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔ ｐｒｏｃｅｄｕｒｅ．Ｂｙ ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｅｒ ｏｎ ｔｈｅ ｐｈｏｎｅ ｔｏ ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔｉｎｇ，ｉｎ ｏｒｄｅｒ ｔｏ ａｓｓｅｓｓ ｔｈｅ ｐｈｏｎｅ ａｎｔｉｓｔａｔｉｃ ａｂｉ１ｉｔｙ． Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：Ｓｔａｔｉｃ ｅｌｅｃｔｒｉｃｉｔｙ Ｓｔａｔｉｃ ｔｅｓｔ ０ 引言 静电就是物体表面过剩或不足的相对静止的电荷，它是正 负电荷在局部范围内失去平衡的结果，是电能的一种表现形式， 是通过电子转移而形成的。这些不平衡的电荷就产生了一个可以 衡量其大小的电场，称为静电场，它能影响一定距离内的其他物 体，使之感应带电，影响距离之远近与其电量的多少有关。静电会 给人们的生活带来种种不便，随着家用电器的增多以及冬天人们 进行静电测试的目的是测试样机抗静电干扰能力，为评估手机 在实际使用中抗静电能力提供数据支持。静电测试需要在温度 １５＂Ｃ～３５￣Ｃ，湿度３０％～６０％的环境下进行，测试需要用到的工 具有静电枪和Ｋｅｉｔｈｌｅｙ２３０２电源。 １ 手机静电测试台 手机静电测试除了静电发生器以外还有专用的静电测试台， 台上有水平耦合板，垂直耦合板对手机的静电测试有很大影响， 穿着化纤衣服，家用电器所产生的静电荷会被人体吸收并积存起 来，加之居室内墙壁和地板多属绝缘体，空气干燥，因此更容易受 到静电干扰，有时甚至会对人们的生命财产安全造成巨大的危 尺寸摆放都有固定的要求，静电测试台与静电测试仪一起才构成 完整的手机测试系统。静电测试台示意图如图１所示，实物图如 图２所示。静电测试台下面是一块大的钢片，必须可靠接地，钢片 上放有一个木台，人操作时必须站在木台上，保证与地绝缘，桌上 两边是垂直耦合板，用来手机立放时进行静电测试时使用，桌面 害。消除静电的产生几乎是不可能的事情，可通过在实验室检测 物体抗静电的能力，以此来判断静电抗扰度。 ＣＴＡ是中国检测联盟，一款手机要想拿到入网标贴，就必须 通过ＣＴＡ的测试，即泰尔实验室的相关测试，其中静电抗扰ＥＳＤ 是ＣＴＡ的一个必测项目，也是厂家最为关注的问题之一。对手机 下方是一块水平耦合板，水平耦合板的上方是一层绝缘垫，所有 的钢片都必须可靠接地。 基金项目：中央财政支持高等职业学校专业建设项目：提高专业服务产业能力建设
２ｏｌ３．ｔ７ 设计与研发 测试对象： 蛳 硬件配置： Ｋ§０ ６５ｌ７十埘∞重 测试环境： ２５。４５％ 金属面 摄像头 壳外框 缝隙 电镀件 充电接口 倒键 听筒 矗Ｂ 按键 Ｓ Ｋ 豇Ｃ ＣＤ 输出电压＼ （母） ， ／ ， ｜ ， ， 接触放电 （一） ｉ ／ ， ｜ ， 瓣（÷） ｜ ． ， ， ｛ ， （一） ｜ ， ， ｛ ｜ ｜ ｌ （年） ， Ｅ盏ｎ 盏ＳＳ 蛋 矗ＳＳ 翌ＩＡｓ１Ｓ 墨 ｕｓＳ 薹 ＳＳ Ｓ 耐（一） ｜ Ｅ ｎ 重 嚣Ｓ Ｂ Ｅ盏】臣 Ｓ Ｓ 至 ｌｓＳ 文ＳＳ ｌ仍ｃ、 （啼） ｛ Ｓ 至 ｌｓＳ Ｓ 堇ｌ＝ｌＩＩ Ｓ Ｓ ＳＳ 空气放电 重。ｌ （一） ， ， Ｓ 乳 ， ｐ ｌ ＳＳ ＳＳ ｐ ＳＳ ｌ２Ｋ （．２．） ， ， ｛ ｌ ／ ｌ２ＫＶ（．） ， ｜ ， ｛ 薹４ｌ（Ｖ（÷） ， ， ｜ ， ， ｌ （ ） ｜ ｜ ／ ｌ ｉ ， ， （七） ｛ ｛ ／ ｜ ｌ 接触放电 删（一） ｜ ｜ ｜ ／ ｜ （接充电器） 删（母） ｛ ｜ ｌ ｌ （一） ｜ ｜ ｜ ｛ ｜ ｜ ｛ 羽 （母） Ｅ ｌ ＳＳ Ｅ 臣 ｓＳ Ｓ 姒ＳＳ ｐ ＳＳ ｌ Ｓｌｓ （一） ｜ 盘】臣 薹 嚣Ｓ 矗蓦鬈 Ｅ 匪 ＰＡｓＳ Ｓ 量 ＳＳ ＡｓＳ Ｓ ｌ懈 （牛） ｜ ｜ 蛋 ＳＳ ｓｓ ｓＳ 薹 ＳＳ ｌ Ｓ ＳＳ Ｐ盏ＳＳ 空气放电 ｌ０ａ｝（、『（．） ｛ ， 重 Ｓ Ｓ ／ ＳＳ Ｐ矗ＳＳ ＰＡｓＳ 至 ＳＳ （接充电器） ｌ２Ｋ （每） ｜ ， ｜ ｌ Ｊｌ２ＫＶ（一） ｛ ｜ ， ｉ ／ ， ， １４：ＫＶ（÷） ， ｜ ， ｉ ， ｜ ｌ （ ） ｜ ｜ ｛ ｜ 表ｉ手机静电测试报告 缘垫边缘距离至少２英寸），再将手机开机；然后打开静电枪，根 电枪接近被测手机的方式不同而导致试验结果上的差异，空气放 据不同机型调节放电方式，接触放电＋／一６ＫＶ，２枪／点；空气放 电则用作不能使用接触放电的场合。 电＋／一１４ＫＶ，２枪／点，打一枪放一次电，并观察手机在测试过程 手机的静电测是按照是否接充电器、是否通话共分为四种模 中有无死机、通信链路中断、ＬＣＤ显示异常、自动关机及其他异 式，如表ｉ所示。不同的模式下有两种测试方式，屏朝上和朝下， 常现象；最后测试完成，记录数据并对手机功能做全面检查。以 因为静电测试台的台面是一块大的０．５ｃｍ厚的钢板，与地连接电 奥克斯９６０Ｔ（ＴＤ版本）手机为例，手机静电测试结果如表ｉ所示。 势为零，当在打静电的时候，主板的电势会被瞬间拉低或者拉高， 接触放电是优先选择的试验方法，因为可以避免由于静电放 主板和钢板中间会形成电容效应，这样处在主板和钢板中间的器
设 与研发 件（触摸板和屏，主要是驱动ＩＣ）就会处在一个电容效应的环境 摸失效的现象。 ２０，３．１７ 手机的抗静电能力，很大程度上取决于前期的设计，包括主 管的使用，前期ＩＤ与ＭＤ评估的时候一定要严格，后续加贴导电 下，就很容易干扰触摸板和屏的控制信号，造成死机，定屏或者触 板的布线、板层数和结构设计，以及抗静电器件的选取，例如ＴＶＳ 根据此款手机的静电测试情况发现在摄像头和充电接口处 布都是临时的处理措施，接地点的不稳定会带来更大的问题一一 进行静电测试，当屏幕朝下时会出现定屏现象。解决此故障现象 影响天线性能。手机的静电是主板和结构设计决定的，很大程度 的方法就是尽量对驱动Ｉｃ做好屏蔽，对屏的外框钢片做好接地， 上取决于前期评估。静电放电对手机造成的危害主要有硬件损 在触摸板和屏的ＦＰＣ走线上，对重要的控制线尽量加粗以及ＦＰＣ 坏，自动关机，程序混乱，死机，要通过人为干预才能复位；死机， 表面的屏蔽效果。这种静电的解决方式和由于结构引起的静电处 程序混乱，无法进行复位。 理方式完全不一样，传统的由于结构引起的静电问题，只要依据 导和堵两种思路基本都能解决，现在智能手机的静电问题基本上 参考文献 Ｊ］．中国 都出现在屏和触摸板上，解决问题的关键在于找到被干扰的信 ［１］朱文立．手机电磁兼容问题分析及其改进对策［号。 电子商情（基础电子），２０１２（７） ［２］白宇皎．手机测试部分要点分析［Ｊ］．科技传播，２０１１（８）： ２２７ ［３］康艳，杨爱军．手机类通信终端市场分析及手机性能测试 ［Ｊ］．信息通信，２０１１（８）：１２５ ［４］王益芝，吴言润，李艳，李特．浅析智能手机的自动化测试 ［Ｊ］．现代电信科技，２０１２（１２）：２３—２５ 作者简介 （ａ）空气放电测试 （ｂ）接触放电测试 李雪（１９８１一），女，湖北武汉，讲师，硕士，主要研究方向：移 动通信技术 图５手机静电测试 ４结语 （上接第９６页） 图３ ＥＭＭＩ检测结果 Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ Ｚｈｅｎｇｚｈｏｕ ４结论 根据本文失效分析案例，样品Ｂ在进行高温试验时，可能有 水汽进入芯片气泡中，导致芯片出现损伤而漏电，从而对芯片的 安全以及计量的准确性造成隐患。计量芯片的工艺决定了芯片的 ２０１２，３３（１），１１３—１１６ ［２］（俄）姆基扎诺夫等，飞行事故调查教程，谢燕生等译北京： 空军事故和失效分析中心，１９９３ ［３］（日）小栗富士雄，小栗男连，机械设计禁忌手册。北京：机械 工业出版社，１９８９ 性能，因此建议厂家对工艺条件和参数提高要求，掌握工艺参数 ［４］ 郑福元等编著，厚薄膜混合集成电路，科学出版社，１９８４ 偏差对产品性能参数稳定性的影响程度，明确每一工艺最佳控制 点和允许的偏差范围。当正常运行的电能表计量芯片出现性能偏 差时，根据本文提及的失效分析方法，逐步找到失效模式，并反馈 至生产线，以提高产品质量，提高电能表质量。 ［５］（日）盐见弘等，陈祝同译，失效分析及其应用，北京：机械工 业出版社，１９８８ ［６］ （美）Ｊａｍｅｓ Ｊ．Ｌｉｃａｒｉ，ｌｅｏｎａｒｄ Ｒ．Ｅｎｌｏｗ，朱瑞廉译，混 合微电路技术手册，北京：电子工业出版社，２００４ ［７］ 庄奕琪，微电子应用可靠性技术，北京：电子工业出版社， １９９４ 参考文献 ［１］ 李永军，徐晓蓉，靳永强，王海龙，陈立家．基于ＸＣＳＩＯ的 高精度多功能时间校验仪系统［Ｊ］．郑州大学学报：工学 版，２０１２，３３（１），１１３—１１６ Ｌｉ Ｙｏｎｇｊｕｎ，Ｘｕ Ｘｉａｏｒｏｎｇ，Ｊｉｎ Ｙｏｎｇｑｉａｎｇ，Ｗａｎｇ ｔ｛ａｉｌｏｎｇ，Ｃｈｅｎ ＬｉＪｉａ．Ｓｙｓｔｅｍ ｏｆ Ｈｉｇｈ—ｐｒｅｃｉＳｉｏｎ ［８］ 中国军用电子元器件管理中心编，军用电子元器件应用可 靠性，１９９４ ［９］ 王锡吉，可靠性工程～设计、试验、分析、管理。北京：宇航 出版社，１９８９ ［１Ｏ］ 肖德辉编著，可靠性工程，北京：宇航出版社，１９８５ Ｍｕｌｔｉ－ｆｕｎｃｔｉｏｎ Ｔｉｍｅ Ｃａｌｉｂｒａｔｏｒ Ｂａｓｅｄ Ｏｎ ＸＣＳＩＯ［Ｊ］．