2024年2月3日发(作者：海隽美)
龙源期刊网
手机大屏背光驱动芯片烧毁原因浅析
作者：嵇丽丽
来源：《中国科技博览》2016年第23期
[摘 ;要]LCD背光电路损坏会导致手机开机黑屏的问题。对于客户反馈的问题样机，通过和正常样机进行对比测试，根据测试数据及理论依据进行分析，推论出驱动电路中驱动芯片、二极管和电容烧毁的原因及烧毁的顺序，根据这一分析结果，更改量产后电容的耐压值，通过一段时间的使用和跟踪，发现提高电容的耐压值从根本上解决了手机黑屏的问题。
[关键词]背光驱动 电容耐压 二极管
中图分类号：TN78 文献标识码：A 文章编号：1009-914X（2016）23-0295-01
1.引言
目前手机和消费类电子产品都朝着大屏、便携、越来越智能化的方向发展，显示屏作为一种非常重要的输出端或人机交互界面，在我们的工作和学习生活中得到了广泛应用。我们曾给客户设计的一款智能手机，在研发第一阶段，提供样机给客户试用，经过一段时间的试用，客户退回了七台问题样机，我们在实验室对问题样机进行多次试验，发现问题现象相同，开机黑屏，经过反复交叉测试，发现显示屏驱动电路板有问题。经排查，其中四台样机出现LCD背光芯片烧毁的问题，另外三台是LCD连接器问题。本文重点分析背光芯片的问题，找出根本原因，以绝后患。由于客户无法反馈在哪一步操作的时候烧毁芯片，所以我们也无法模拟实际情况进行验证。为了尽快找出问题原因，我们在实验室专门展开了问题样机和正常样机背光驱动电路部分的测试并进行了分析。
2.背光芯片烧毁过程分析
2.1 背光驱动电路测试及分析
对客户返回的问题样机进行拆机发现，四片LCD小板中有两片背光芯片可以明显看到有烧焦迹象。同时，截流二极管也有烧毁痕迹。
大屏背光驱动部分原理图见图1，四片问题电路板中，电容C2摘下来后测试，发现阻抗偏低，有三片小于30欧姆，一片为1K欧姆，正常电容阻抗应该超过1M欧姆。将二极管D1取下来测量，有二片反向阻抗为30K欧姆左右，正常应该超过1M欧姆。另外二片，静态测试阻值正常，但从外观上看有烧毁迹象。U1背光芯片有两片背部有鼓包，VOUT及VIN管脚对地阻抗都是10几欧姆，另外二片各管脚阻抗正常，但是加电后LX不工作。
根据以上的测试结果发现，背光芯片烧坏的电路板，二极管和电容也均被烧坏。
2024年2月3日发(作者：海隽美)
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手机大屏背光驱动芯片烧毁原因浅析
作者：嵇丽丽
来源：《中国科技博览》2016年第23期
[摘 ;要]LCD背光电路损坏会导致手机开机黑屏的问题。对于客户反馈的问题样机，通过和正常样机进行对比测试，根据测试数据及理论依据进行分析，推论出驱动电路中驱动芯片、二极管和电容烧毁的原因及烧毁的顺序，根据这一分析结果，更改量产后电容的耐压值，通过一段时间的使用和跟踪，发现提高电容的耐压值从根本上解决了手机黑屏的问题。
[关键词]背光驱动 电容耐压 二极管
中图分类号：TN78 文献标识码：A 文章编号：1009-914X（2016）23-0295-01
1.引言
目前手机和消费类电子产品都朝着大屏、便携、越来越智能化的方向发展，显示屏作为一种非常重要的输出端或人机交互界面，在我们的工作和学习生活中得到了广泛应用。我们曾给客户设计的一款智能手机，在研发第一阶段，提供样机给客户试用，经过一段时间的试用，客户退回了七台问题样机，我们在实验室对问题样机进行多次试验，发现问题现象相同，开机黑屏，经过反复交叉测试，发现显示屏驱动电路板有问题。经排查，其中四台样机出现LCD背光芯片烧毁的问题，另外三台是LCD连接器问题。本文重点分析背光芯片的问题，找出根本原因，以绝后患。由于客户无法反馈在哪一步操作的时候烧毁芯片，所以我们也无法模拟实际情况进行验证。为了尽快找出问题原因，我们在实验室专门展开了问题样机和正常样机背光驱动电路部分的测试并进行了分析。
2.背光芯片烧毁过程分析
2.1 背光驱动电路测试及分析
对客户返回的问题样机进行拆机发现，四片LCD小板中有两片背光芯片可以明显看到有烧焦迹象。同时，截流二极管也有烧毁痕迹。
大屏背光驱动部分原理图见图1，四片问题电路板中，电容C2摘下来后测试，发现阻抗偏低，有三片小于30欧姆，一片为1K欧姆，正常电容阻抗应该超过1M欧姆。将二极管D1取下来测量，有二片反向阻抗为30K欧姆左右，正常应该超过1M欧姆。另外二片，静态测试阻值正常，但从外观上看有烧毁迹象。U1背光芯片有两片背部有鼓包，VOUT及VIN管脚对地阻抗都是10几欧姆，另外二片各管脚阻抗正常，但是加电后LX不工作。
根据以上的测试结果发现，背光芯片烧坏的电路板，二极管和电容也均被烧坏。