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2024年2月16日发(作者：让艾)

正气进取专业

文件名称

文件编号

发布日期

意见

同意

可靠性测试标准

QZ/LCT-ZC09-2007

2011-05-05

版本

主控部门

V6.3

综合测试部

签名/日期

李强斌 2011.05.03

姚凤贤 2011.05.03

沈平 2011.05.03

黄承梁 2011.05.03

常玉柱 2011.05.03

李志虎 2011.05.03

朱明里 2011.05.03

王一昌 2011.05.03

拟制：综合测试部

审核：质量管理部

审核：质量策划部

审核：第一产品事业部

审核：第二产品事业部

审核：三旗通信

审核：国际业务事业部

批准：产品质量总监

文件说明

质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。

版本号

V1.0

V2.0

修改时间修改人修改原因修改主要内容

新建

更新

软压由50kg改为40kg；

2006.01.17 刘利

滑盖测试后拆机测试FPC电阻

增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶V3.0 2006.04.04 刘利更新

塞拉力、和存储卡拆装等测试

触摸屏划线次数由100000次（反复一个来回记为一次）改为V4.0 2006.05.30 吴小弟更新

100000次（反复一个来回记为2次）

1.需测RF参数的测试项取消，综测仪设备不要

2.中试阶段测试，由工程部提出申请改为由中试部提出申请V4.1 2006.06.26 吴小弟更新

3.增加包装振动测试和包装跌落测试项目

2005.09.05 刘利

增加触感键寿命测试项目

V4.2 2006.08.30 吴小弟更新

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1. 增加高低温运行中、恒温恒湿，跌落、高频振动、温度冲击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行RF参数测试；

2. 增加扭曲和冲击测试项目，增加5.2.4微动开关的寿命测V5.0 2006.09.10 吴小弟更新

试；

3. 5.3.2.6中增加橡胶漆塑胶件和钢片材料的摩擦条件；

4. 环境测试（与温度及湿度相关的测试）后，手机在常温下

统一放置1~2小时后进行外观、结构、功能的检验；

5.增加7不良等级分类细则；

1．低温储存：5.1.1.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；温度由-30℃改为-40℃；2. 高温储存：5.1.5.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；3. 冲击：5.1.3.2 测试条件：脉冲持续时间6ms改为18ms ；5. 砂尘试验：5.1.14.2V6.0 2007.03.29 吴小弟更新

测试条件中的持续时间3hrs改为8hrs；6. 充电器插拔：5.2.7.2测试条件：充电器、耳机和数据线插拔各为2000次；7. 耳机插拔：5.2.5.2测试条件：5000次改为2000次；

卡插拔： 5.2.9.2测试条件：2500次改为1000次；9.储存卡拆装：5.2.10.2测试条件：3000次改为2000次；

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高低温储存：时间由24h，改为16h

冲击：条件改为加速度25g，脉冲6ms，每个轴的冲击次数改为1000次

冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试样机数目：改为8pcs

自由跌落：高度统一为1.2m，跌落面为混凝土板面

盐雾的试验条件变更为：共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h的湿热储存周期。储存条件为(40±2)℃,相对湿度为90％～95％

翻盖标准：由5W次更新为8W次

滑盖标准：由5W次更新为8W次

按键寿命：由10W次改为20W次

微动开关（hold键）寿命：由1W次改为2W次

充电器插拔测试条件改为：3合一的充电器，充电器插拔2000次，数据线和耳机各1500次，共5000次

电池盖拆装：由1000次改为500次

V6.1 2008.11.18 陈贯中更新

存储卡拆装：由2000次改为500次

SIM 卡拆装：由1000次改为500次

触摸屏点击测试：测试速率由2次/S，改为1次/S

五向键寿命：由3W次改为5W次

重复跌落：跌落高度统一为8cm，跌落次数由20000次改为10000次

摩擦测试：棱摩擦标准由150圈改为100圈；橡胶漆测试标准由140圈改为70圈

百格：胶带的粘贴次数由2次改为3次

铅笔硬度：载荷由1Kg改为0.5Kg

滚筒：测试次数由1000次改为500次

软压：测试标准由3000次改为2000次

扭曲：测试标准由1000次改为500次

增加人工汗液测试项

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1. 增加包装重量和跌落高度的对应关系表

2. 增加包装跌落测试手法,包括跌落棱/角/面的规定

盐雾实验的样机测试后干燥条件改为:用吹风机吹干表面残留液体后放置与通风干燥处干燥48H

修正笔误：

4.1温度冲击测试（P10）: 一处写12cycles，一处写循环4次，前后不一致

4.2滑盖寿命测试（P15）：以40～45次/分的速率滑盖5万次＝> 应该是8万次

V6.2 2010.06.07 程雷更新

4.3五向键寿命测试（P23）: 40000万次、50000万次两处笔误

4.4 冲击测试（P7）：脉冲持续时间18ms＝> 应该是6ms

X,Y,Z六个轴向＝> 应该是X,Y,Z三个轴向

4.5 人工汗测试（P14）：PH值=8.5＝> 应该是PH值=10.8电池/电池盖拆装：由500次改为2000次

增加低频振动测试：位移参数量：5mm

取消5.4其它测试（电池充放电测试和电池内阻测试）

8.壳体可靠性项目(5.3.2 5.3.3和5.3.7)取消测试条件及方法，增添指向壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）第 4 页共 58 页

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1.自由跌落测试增加四个角的定向跌落

2.挂绳孔拉力测试中增加对拉断挂绳孔的要求

3.增加USB推力测试

4.增加USB外部逆插要求

5.增加按键拉拔力测试

6.增加高低温充电测试

卡寿命测试由500增加到2000

8.存储卡寿命测试由500增加到2000

9.重复跌落测试中增加侧面和顶部、底部的测试

V6.3 2011.04.14 陈贯中更新

10.人工汗液测试中增加酸性汗液的配方和测试（PH=4.7）

11.手写笔插拔测试增加对伸缩性手写笔的要求

12.增加Mic和Receiver的寿命测试

13.增加天线插拔测试

14.增加天线弯折测试

15.增加手写笔（天线）的拉力测试

16.增加加严测试项序列（可选测试项）

17.增加整机智能机测试项序列

18.增加完整可靠性测试项目归类

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1、目的..................................................................................9

2、适用范围..............................................................................9

3、定义..................................................................................9

4、职责..................................................................................9

5、可靠性试验测试方法和判定标准.........................................................9

5.1 环境试验.............................................................................9

5.1.1 低温储存测试.......................................................................9

5.1.2 低温运行测试......................................................................10

5.1.3冲击测试..........................................................................11

5.1.4低频振动测试......................................................................11

5.1.5高温储存测试......................................................................12

5.1.6高温运行测试......................................................................12

5.1.7恒温恒湿测试......................................................................13

5.1.8 温度冲击测试......................................................................14

5.1.9跌落测试..........................................................................14

5.1.10 ESD测试.........................................................................15

5.1.11盐雾测试.........................................................................16

5.1.12 metal dome手感测试..............................................................17

5.1.13高频振动测试.....................................................................17

5.1.14砂尘试验.........................................................................18

5.1.15人工汗液测试.....................................................................18

5.2寿命试验............................................................................19

5.2.1翻盖寿命测试......................................................................19

5.2.2滑盖寿命测试......................................................................19

5.2.3按键/侧键测试.....................................................................20

5.2.4微动开关（hold键等）寿命测试......................................................21

5.2.5耳机（单功能）插拔测试............................................................21

5.2.6笔插拔测试........................................................................22

5.2.7充电器插拔测试....................................................................22

5.2.8电池/电池盖拆装测试...............................................................23

5.2.9 SIM Card 拆装测试................................................................23

5.2.10存储卡拆装测试...................................................................24

5.2.11 speaker寿命测试.................................................................24

5.2.12振动器寿命测试...................................................................24

5.2.13摄像头翻转测试...................................................................25

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5.2.14待机时间测试.....................................................................25

5.2.15开关机键寿命测试.................................................................25

5.2.16触摸屏点击测试...................................................................26

5.2.17触摸屏划线测试...................................................................26

5.2.18 EL背光寿命测试..................................................................27

5.2.19 LED指示灯寿命测试...............................................................27

5.2.20五向键寿命测试...................................................................27

5.3机械测试............................................................................28

5.3.1重复跌落测试......................................................................28

5.3.2 纸带磨擦（RCA）...................................................................29

5.3.3附着力（百格）测试................................................................29

5.3.4胶塞拉力测试......................................................................29

5.3.5堵头按压测试......................................................................29

5.3.6酒精摩擦..........................................................................29

5.3.7铅笔硬度测试......................................................................30

5.3.8手机抗压测试......................................................................30

5.3.9挂绳孔拉力测试....................................................................30

5.3.10螺钉测试（ScrewTest）............................................................31

5.3.11滚筒跌落测试.....................................................................31

5.3.12软压测试.........................................................................32

5.3.13扭曲测试.........................................................................33

5.3.14钢球跌落测试.....................................................................33

5.3.15包装振动测试.....................................................................34

5.3.16包装跌落测试.....................................................................34

5.3.17触感键寿命测试...................................................................35

5.3.18 USB推力测试.....................................................................36

5.3.19 USB外部逆插.....................................................................36

5.3.20 按键拉拔.........................................................................36

5.3.21 高低温充电.......................................................................37

5.3.22 Mic和Receiver的寿命测试........................................................37

5.3.23 天线插拔测试.....................................................................37

5.3.24 天线弯折测试.....................................................................38

5.3.25手写笔（天线）拉力测试...........................................................38

6、特殊加严测试序列（可选测试项，建议亚热带区域产品必做）..............................39

6.1 长周期湿热存储......................................................................39

6.2翻/滑盖（湿热环境）.................................................................40

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6.3 软压（湿热环境）....................................................................40

6.4 Speaker寿命（高温环境）............................................................41

7.整机智能机测试序列....................................................................41

7.1 振动摩擦............................................................................41

7.2 硬压................................................................................41

7.3 LCM挤压............................................................................42

7.4 结露测试............................................................................42

7.5 触摸屏点击（电容屏）................................................................43

7.6 触摸屏划线（电容屏）................................................................43

7.7 盐雾测试（电容屏）..................................................................44

7.8 高温高湿（电容屏）..................................................................44

7.9铅笔硬度（电容屏）..................................................................44

7.10 Lens耐摩（电容屏）................................................................45

7.11 水雾干扰测试(电容屏)...............................................................45

7.12 低温运行（电容屏）.................................................................45

8、可靠性测试实施计划...................................................................46

9、不良等级分类细则：...................................................................54

10、相关/支持性文件.....................................................................58

11、质量记录............................................................................58

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1、目的

为保证龙旗控股份设计、委托制造的手机及相关产品品质符合国家、行业、企业可靠性标准要求，特制定此文件；

2、适用范围

本文件适用于龙旗控股设计、委托制造、采购的手机及相关产品（零部件）在研发、中试、量产阶段的可靠性试验，由综合测试部负责实施；

3、定义

无

4、职责

4.1 可靠性测试工程师

4.1.1研发阶段可靠性测试；

4.1.2中试阶段可靠性测试；

4.1.3参加可靠性分析会；

4.1.4可靠性测试报告；

4.1.5维护可靠性试验室；

4.2可靠性测试技术员

4.2.1拟定可靠性测试计划；

4.2.2研发可靠性测试；

4.2.3中试可靠性测试；

5、可靠性试验测试方法和判定标准

5.1 环境试验

在做温度冲击、跌落、恒温恒湿、低温运行、高温运行、高频振动、软压、滚筒跌落、重复跌落、冲击和扭曲测试前的手机先进行常温下的RF参数测试；

5.1.1 低温储存测试

5.1.1.1测试目的：手机低温环境下的适应性；

5.1.1.2测试条件：温度：-40℃±2℃、持续时间：16hrs；

5.1.1.3测试数量：4pcs；

5.1.1.4测试设备：高低温箱；

5.1.1.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能检测；

5.1.1.6 测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入高低温箱内，手机间的间距大于等于10cm，调节温度控制器到-40℃；

c. 持续16个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；

d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将第 9 页共 58 页

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一半样品滑开到上限位置；

5.1.1.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

5.1.2 低温运行测试

5.1.2.1测试目的：验证样机低温环境下的工作性能及传导的射频性能；

5.1.2.2测试条件：温度：-20℃±2℃；持续时间：4hrs；

5.1.2.3测试数量：4pcs （试验中RF测试2pcs）；

5.1.2.4测试设备：高低温箱，CMU200/CMD55，延长射频线，稳压电源等；

5.1.2.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能、RF参数检测；

a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；

c. 外观检测：喷漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；

5.1.2.6测试方法

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 手机带满电电池并插卡（测试RF参数时取下SIM Card），设置为开机状态后，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到-20℃，并将所测样机同CMU200/CMD55和电源连接好；

c. 持续1小时后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.6V和4.2V的情况下进行RF参数测试；并保存测试数据（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

d. 持续4个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；

e. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

f. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

5.1.2.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数指标符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式）；

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5.1.3冲击测试

5.1.3.1 测试目的：用于验证手机的抗冲击性能及射频参数指标；

5.1.3.2 测试条件：加速度25g，脉冲持续时间6 ms ；波形: ½ 正弦波；X、Y、Z三个轴向各冲击1000次；

5.1.3.3 测试数量：8pcs（试验后RF测试2pcs）；

5.1.3.4测试设备：电动振动系统；

5.1.3.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能和及不同功率等级、不同信道的射频参数；

5.1.3.6测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧；参数设置：加速度25 g，脉冲持续时间 6 ms ；波形: ½ 正弦波；启动振动系统，X、Y、Z六个轴向各冲击1000次，每个轴向冲击后都要对手机进行外观、结构、功能检查；

c. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

5.1.3.7检验标准：外观、功能、结构正常；RF参数指标符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：外观无异常；

d. 内存检查：样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.1.4低频振动测试

5.1.4.1测试目的：用于验证手机的抗振性能；

5.1.4.2测试条件：5~20Hz，位移：5mm，X、Y、Z三个轴各1h；

5.1.4.3测试数量：8pcs；

5.1.4.4测试设备：电动振动系统；

5.1.4.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能检测；

5.1.4.6测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧。将振动参数设置为5~20Hz；

c. 启动振动系统，X、Y、Z三个轴向分别进行1小时测试，每个轴向振动后都要对手机进行外观、结构、功能检查；

5.1.4.7检验标准：外观、结构、功能无异常；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，第 11 页共 58 页

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蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：外观无异常；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

5.1.5高温储存测试

5.1.5.1测试目的：手机高温环境下的适应性；

5.1.5.2测试条件：温度：+70℃±2℃；持续时间：16hrs；

5.1.5.3测试数量：4pcs；

5.1.5.4测试设备：高低温箱；

5.1.5.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构和功能检测；

5.1.5.6测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+70℃；

c. 持续16个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构和功能检查；

d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

5.1.5.7 检验标准：手机外观，结构，功能无异常；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

5.1.6高温运行测试

5.1.6.1测试目的：验证样机高温环境下的工作性能及传导的射频性能；

5.1.6.2测试条件：温度：+55℃±2℃；持续时间：4hrs；

5.1.6.3测试数量：4pcs（试验中RF测试2pcs）；

5.1.6.4测试设备：高低温箱，CMU200/CMD55,延长射频线，稳压电源等；

5.1.6.5测试前检查项目：

b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；

c. 外观检测：喷漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；

5.1.6.6测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

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正气、进取、专业质量体系文件

b. 手机带满电电池并插卡，设置为开机状态后，放入高低温箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+55℃，持续1 小时后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU连接并进行通话，在电压设置为3.6V和4.2V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

c. 持续4个小时之后，在常温下放置1~2小时，然后进行功能、结构、外观检查；

d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

5.1.6.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.1.7恒温恒湿测试

5.1.7.1测试目的：验证手机高温高湿环境下的适应性及传导的射频性能；

5.1.7.2测试条件：+40℃±2℃，95%RH（+2%~-3%RH）；持续时间：48hrs；

5.1.7.3测试数量：8pcs（试验后RF测试2pcs）；

5.1.7.4测试设备：恒温恒湿箱，CMU200/CMD55、延长射频线，稳压电源等；

5.1.7.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构、功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

5.1.7.6测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 一半手机装上带满电电池，不插测试卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入恒温恒湿箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+40℃，湿度控制为95%RH；

c. 持续48个小时之后，取出手机，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查，并使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

5.1.7.7检验标准：手机外观，结构和功能无异常；RF参数符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

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b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体、lens表面无明显掉漆，无裂纹，破损，冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.1.8 温度冲击测试

5.1.8.1测试目的：验证样机高低温冲击下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性及传导的射频性能;

5.1.8.2测试条件：低温-40℃±2℃/1h，高温+80℃±2℃/1h；转换时间<=5min;12cycles ;

5.1.8.3测试数量：8pcs（试验后RF测试2pcs）;

5.1.8.4测试设备：温度冲击箱,CMU200/CMD55，射频参数，稳压电源等;

5.1.8.5测试前检查项目: 手机进行全面外观和功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数测试;

5.1.8.6测试方法:

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4;

b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入低温箱内；手机间的距离大于等于10cm;

c. 样机置于-40℃低温箱内持续1小时后，在5min内迅速移入+80℃高温箱并持续1小时后，再在5min内迅速回到低温箱。此为一个循环（一个循环用时2小时），共循环12次；

d. 试验结束后将样机从高温箱中取出，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；

e. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

f. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

5.1.8.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：结构无异常。转轴无异响，弹性正常，开合角度无变化，无松动或变紧；壳体无变形，配合缝隙无变大；壳体无裂纹、断裂；按键无翘起、脱出、脱落；lens无翘起、脱落；装饰件无翘起、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：样机外观无异常。表面喷涂、丝印、电镀无气泡、褶皱、裂纹、起皮、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.1.9跌落测试

5.1.9.1测试目的：暴露手机跌落出现的缺陷及传导射频参数的变化；

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5.1.9.2测试条件：跌落高度：1.2m，对于显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或者25cm2的手持式MS跌落的高度为0.5m；每面1次；跌落面为混凝土板；

5.1.9.3测试数量：8pcs（试验后RF测试2pcs）；

5.1.9.4测试设备：2米跌落机,CMU200/CMD55,射频线，稳压电源等；

5.1.9.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数测试；

5.1.9.6测试方法：

a. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，进行背面、正面、左侧面、右侧面、底面、顶面（天线面）6个面以及4个角相应跌落高度的自由跌落试验（对于翻盖和滑盖手机还需加跌打开正面、打开反面，共进行8个面的自由跌落试；对于翻盖和滑盖手机不需要打开翻滑盖进行4个角的跌落时），每个面的跌落次数为1次；

b. 每个面跌落后都要对手机进行外观、结构、功能检查；

c. 跌落地面为20mm混凝土板；

d. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

5.1.9.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；RF性能指标合格；

b. 结构检查：装饰件，logo及cover等无脱落；壳体无卡钩脱出，断裂；LCD无破裂；天线无脱出，脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂；晃动无异响，LENS无破裂，脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体、lens表面无明显掉漆，无裂纹，破损，冲击后以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 备注：电池/电池盖脱落、关机及掉卡等，如重启无异常，不记录为问题；当跌落过程中出现的问题点超过跌落总次数的50%以上时，才判为问题点；对于显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或者25cm　的手持式MS跌落时，允许液晶屏裂，但通话功能应正常）；

e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.1.10 ESD测试

5.1.10.1测试目的：测试样机抗静电干扰性能；

5.1.10.2测试环境：温度：20℃±3℃，湿度：40%±5%，气压：常压；

5.1.10.3测试数量：8pcs；

5.1.10.4测试设备：静电枪；

5.1.10.5测试前检查项目：手机进行全面外观和功能检测；

5.1.10.6测试方法：

a. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，放置在静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机于绝缘垫边缘距离至少5cm；两个样机之间的距离也是至少5cm）；

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b. 打开静电枪，拨打112，调节放电方式，选择+/-5kv（接触放电），对手机外露金属部分进行接触放电；选择+/-10kv（空气放电），对手机各缝隙处进行空气放电（如系统接口插口处,

Receiver/Speaker/Microphone处,键盘处, 大小LCD屏四周,天线处,前后盖缝隙处，电池板与后盖缝隙处，内外转轴处，侧键处，耳机孔处等缝隙处进行放电，每一个测试点放电15次，放电时间间隔为1s，15次放电后对地进行放电操作，并记录结果；

d. 观察手机在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD显示异常，自动关机及其它异常现象；

5.1.10.7检验标准：测试过程中，不应出现任何异常；

a. 性能要求：放电过程中，不允许有屏闪，屏抖，黑线，横纹，竖纹，屏无显示，变暗，变黑，手机重启，关机，通信链路断等任何异常现象发生；

b. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

c. 外观检查：外观无与测试前不一致；

5.1.11盐雾测试

5.1.11.1测试目的：验证样机抗盐雾腐蚀性能；

5.1.11.2测试条件：试验室温度：35℃±2℃；盐水浓度：5%（PH值：6.5~7.2），持续时间：72hrs；

5.1.11.3测试数量：2pcs；

5.1.11.4测试设备：盐雾试验箱；

5.1.11.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构、功能检测；

5.1.11.6测试方法：

a. 打开电源和气阀，盐水喷雾机温度设定为：35 ℃，压力桶温度：47℃，压力控制在1kg/cm2，盐水浓度：5% （PH值：6.5-7.2）, 共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h的湿热储存周期。储存条件为(40±2)℃,相对湿度为90％～95％试验时间：72 小时；

b. 将手机以用绳悬挂入盐水喷雾机中，手机带电池，并且处于关机状态（手机零件测试:应将零件放入不锈钢篮子中或放在纱布上）；

c. 样机摆放应一台样机天线侧朝上，一台样机天线侧朝下；

d. 依次打开电源、操作、喷雾、计时；

e. 试验时间结束后关闭电源和气阀，取出手机；

f.用吹风机将手机内外表面残留液体吹干，并在常温下放置48小时以上（手机零件测试：现将零件在自来水中清洗后吹干）；48小时后对手机进行全面外观和功能检测；

5.1.11.7检验标准：金属部件无氧化发黑现象，手机外观、结构、功能正常；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：lens，天线，装饰件，标牌，电池，Connector，螺钉等无腐蚀以及与测试前不一致的现象；

c. 外观检查：表面喷涂，丝印，电镀无脱落，起泡，腐蚀以及与测试前不一致的外观；

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5.1.12 metal dome手感测试

5.1.12.1测试目的：验证盐雾和打击后metal dome的手感；

5.1.12.2测试环境：室温（20~25℃）；

5.1.12.3测试数量：2pcs；

5.1.12.4测试设备：手动荷动计；

5.1.12.5测试前检查项目：手机metal dome手感检测；

5.1.12.6测试方法：

a. 将手机设置为关机状态；

b. 手机放在测试仪支撑件上，选取不同位置的按键，对准metal dome测试仪按压头，右手逆时针转动旋钮压被测键；

c. 读取测试仪上显示数据；

5.1.12.7检验标准：

a. 正常弹性：180+/-20 g；手感：〉40%；行程：〉=0.20mm；

b. 打击寿命：〉100万次，打击后衰减率〈20%；

c. 盐雾后衰减率〈20%；

5.1.13高频振动测试

5.1.13.1测试目的：模拟运输时对手机的振动，验证手机受振动后的性能及传导的射频性能；

5.1.13.2测试条件：频率范围5-20Hz ，功率频谱密度0.96m2/s；频率范围20-500Hz，功率频谱密度-3dB/oct；

5.1.13.3测试数量：4pcs（试验后RF测试2pcs）；

5.1.13.4测试设备：高频振动测试仪，CMU200/CMD55，射频线，稳压电源等；

5.1.13.5测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 将手机装上带满电电池，插上测试卡，设置为开机状态后，固定在振动台上夹紧；

c. 设备参数按以下调整：频率范围5-20Hz ，功率频谱密度0.96m2/s3 ；频率范围20-500Hz，功率频谱密度-3dB/oct；

d. 启动振动系统，X、Y、Z三个轴向分别进行1小时测试，每个轴向振动后都要对手机进行外观、结构、功能检查；

e. 检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

5.1.13.6检验标准：手机刚开始5min内不应掉电；振动完成后无不识卡现象；外观、结构、功能无异常；RF参数符合规格要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：无零件松动、脱落，晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：外观无异常；

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d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；RF性能指标合格；

e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.1.14砂尘试验

5.1.14.1测试目的：验证样机结构密封性；

5.1.14.2测试条件：砂尘密度：2kg/m3；砂尘流量：2m/s；砂尘材料：滑石粉250目（46μm）；湿度≤30%；持续时间：8hrs；

5.1.14.3测试数量：2pcs；

5.1.14.4测试设备：砂尘试验箱；

5.1.14.5测试前检查项目：

a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能；

b. 结构测试：按键弹性；转轴灵活性；其它可活动部件灵活性；

c. 外观检测：显示区域；壳体表面喷涂；

5.1.14.6测试方法：

a. 将手机装上带满电电池，不插卡，设置为关机状态后，放置到沙尘试验箱里支架上；

b. 一个正面摆放，一个反面摆放；不靠近试验箱内壁；

c. 测试时间持续8h；

d. 将样品从试验箱中取出，用无尘布和刷子对其清洁后，进行检查；

e. 砂尘流量：2m/s；砂尘材料：滑石粉250目（46μm）；湿度≤30%；

f. 对于翻盖手机，打开到使用状态；对于滑盖手机，滑开到上限位置；

5.1.14.7检验标准：

a. 功能检查：无异常；

b. 结构检查：按键弹性正常；转轴转动正常，无异音；所有可活动部件活动正常；

c. 外观检查：显示区域无明显砂尘；壳体表面喷涂无退化现象；

5.1.15人工汗液测试

5.1.15.1测试目的：验证样机对人体汗液的耐腐蚀性能；

5.1.15.2测试条件：人工汗液（碱性配方：氨水 1.07% ，氯化钠0.48%，水98.45%）PH=10.8，（酸性配方：氯化钠（Nacl）20g/L；氯化氨（NH4Cl）17.5g/L；尿素（CH4N20）5g/L；醋酸(CH3COOH)2.5g/L；乳酸(C3H603)15g/L；氢氧化钠 NaOH 适量（调节溶液 PH 值达到4.7））；用浸有人工汗液的纱布裹住测试样机，（确保纱布和样机紧密接触），在40℃/95%R.H的恒温恒湿箱中放置24小时，

5.1.15.3测试数量：2pcs；

5.1.15.4测试设备：人工汗液、恒温恒湿箱；

5.1.15.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构、功能检测；

5.1.15.6测试方法：

a. 打开恒温恒湿机的电源，温度设定为：40 ℃，湿度设置为：95%R.H，试验时间：24 小时；

b. 用纱布浸占人工汗液，纱布湿透即可，然后用纱布裹紧测试样机（确保纱布和样机紧密接触）；每第 18 页共 58 页

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台测试样机分为上下两个区域，分别用浸有酸性和碱性汗液的纱布包裹；

c. 样机摆放应一台样机A面朝上，一台样机A面朝下，间隔5cm以上；

d. 运行恒温恒湿箱；

e. 试验时间结束后关闭电源，取出手机；

f. 解开纱布，室温条件下放置2小时后对样机进行全面的外观和功能检查；

5.1.15.7检验标准：金属部件无氧化发黑现象，手机外观、结构、功能正常；

a. 外观检查：表面喷涂，丝印，电镀无脱落，起泡，腐蚀；喷漆表面无变色、起皮、脱落、褪色等异常以及与测试前不一致的外观；

5.2寿命试验

5.2.1翻盖寿命测试

5.2.1.1测试目的：适用于翻盖手机，验证手机翻盖寿命的可靠性；

5.2.1.2测试条件：8万次；40~45次/min；

5.2.1.3测试数量：2pcs；

5.2.1.4测试设备：翻盖试验机；

5.2.1.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测；

5.2.1.6测试方法：

a. 将手机不包装，开机固定在测试设备上；

b. 调节好气压、前杆和后杆的翻转角度，以40~45次/分的速率翻盖8万次，在2万次、3万次、4万次和5万次、6万次、7万次、8万次时检查LCD能否正常显示，手机外观、结构和功能是否正常；

c. 关闭电源，取下手机；

5.2.1.7检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：翻盖可以平稳的开合，无异响；翻盖转轴功能无松动，变紧等以及其它与测试前状态不一致的结构问题；

c. 外观检查：按键，镜片等无明显磨损痕迹，壳体配合缝隙无变大，轴连接区域无裂纹或断裂等异常；表面喷漆无破裂及显示磨损等以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；

5.2.2滑盖寿命测试

5.2.2.1测试目的：适用于滑盖手机，验证手机滑盖寿命的可靠性；

5.2.2.2测试条件：8万次；40~45次/min；

5.2.2.3测试数量：2pcs；

5.2.2.4测试设备：滑盖试验机；

5.2.2.5测试前检查项目：手机进行全面外观和功能检测；

5.2.2.6测试方法：

a. 打开电源和气阀；

b. 将手机不包装，开机固定在测试设备上；

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c. 以40~45次/分的速率滑盖8万次，在2万次、3万次、4万次和5万次、6万次、7万次、8万次时检查LCD能否正常显示，手机外观、结构和功能是否正常；

d. 关闭电源，取下手机；

e. 将FPC拆下,每个PIN在将FPC拱起做3个方向挤压的情况下做电阻量测,(如付图),每PIN的电阻值和测试前一样；

5.2.2.7检验标准：

a. 当拿住上滑盖和下滑盖，样品不能因为自身的重量而打开。（如果样品初始设计便容许因自身重量使样品打开，则不进行此项判断）；

b. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

c. 结构检查：滑盖可以平稳的开合，滑轨无明显松动、变紧，滑动时无异音等以及其它与测试前状态不一致的结构问题；

d. 外观检查：按键，镜片等无明显磨损痕迹，壳体配合缝隙无变大，轴连接区域无裂纹或断裂等异常；表面喷漆无破裂及显示磨损等以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；

5.2.3按键/侧键测试

5.2.3.1测试目的：验证样机按键寿命的可靠性；

5.2.3.1测试条件：20万次；侧键5万次；200g±20g；60次/min；

5.2.3.2测试数量：2pcs；

5.2.3.3测试设备：按键测试仪；

5.2.3.4测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测；

5.2.3.5测试方法：

a. 将手机不包装不开机固定在测试设备上；

b. 以200g力按任意选定键盘上的按键，按压的速度为60次/分，按压20万次，在3万次，6万次，

8万次，9万次和10万次、13万次、16万次、19万次、20万次时分别检查手机外观和功能是否正常；侧键每隔1万次，进行手机外观和功能检查；

c. 人造手指与样机按键的距离为2mm；

d. 每台样机按键选择尽量不重复，尽可能多；

5.2.3.6检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：按键弹性，壳体配合，结构件配合，以及与测试前不一致的现象；

c. 备注：实验中被测试样机的按键选择应根据不同机型进行确定，并参考工程师的建议；

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d. 外观无异常；

5.2.4微动开关（hold键等）寿命测试

5.2.4.1测试目的：验证样机微动开关的可靠性；

5.2.4.2测试条件：2万次；

5.2.4.3测试设备：手工测试（有设备用设备测试）；

5.2.4.4测试前检查项目：手机进行全面外观、机构和功能检测；

5.2.4.5测试方法：

手机为开机状态，用手来回拨动微动开关，来回一个回合算一次，共做20000次，速度为60次/分，检查手机外观和功能是否正常；

5.2.4.6检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：微动开关滑动正常，壳体配合，结构件配合，以及与测试前不一致的现象；

5.2.5耳机（单功能）插拔测试

5.2.5.1测试目的：验证耳机插拔寿命的可靠性；

5.2.5.2测试条件：2000次；20次/min；

5.2.5.3测试数量：2pcs；

5.2.5.4测试设备：手工测试；

5.2.5.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测，耳机插入拔出配合，耳机功能以及Jack外观检查；

5.2.5.6测试方法：

a. 手机为开机状态；

b. 耳机插入样机的耳机孔时不会松动（耳机可以承受得住样机本身的重量）；

c. 插入耳机手机显示耳机图标到拔出耳机手机显示耳机图标消失为一个循环，重复2000个循环；

d. 手工插拔2000次，每一次都要观察手机显示状况，插拔完成后对样机及耳机进行结构、功能、外观检查；

e. 插拔速率：20次/分钟；

5.2.5.7检验标准：样机及耳机外观，结构和功能无异常；

a. 功能检查：拨打电话，使用耳机通话时，耳机的受话器及MIC功能正常，无断音、杂音（通话过程中转动耳机插头，确保耳机在不同角度下使用功能正常）；拔下耳机后通话，样机的受话器及MIC功能正常，无断音、杂音；显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：样机结构无异常；耳机插头无焊接故障、裂纹；耳机卡钩无破损、断裂；耳机孔无破裂、变形、焊盘无脱落；耳机压头无脱落。耳机接头卡钩无失效，耳机插入手机耳机孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）；耳机插孔及耳机插头无异常手感以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：样机外观无异常，耳机孔无磨损以及其它与测试前状态不一致的外观问题；

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5.2.6笔插拔测试

5.2.6.1测试目的：验证手写笔使用寿命（插拔测试）的可靠性；

5.2.6.2测试条件：普通手写笔3万次，伸缩性手写笔1万次，速率：≤50 次/min；

5.2.6.3测试数量：2pcs；

5.2.6.4测试设备：手动；

5.2.6.5测试前检查项目：

a. 手写笔外观；b. 样机笔插孔；c. 手写笔与手机之间的配合（松动，插拔不顺畅等）；

5.2.6.6测试方法：

a. 手机为关机状态；

b. 手写笔完全插入手机笔插孔内，然后完全拔出，计为1次，共重复30000次；伸缩性手写笔伸出缩进为1次，共重复10000次；

c. 分别在10000次，20000，30000次，（伸缩笔在2000次、5000次、10000次）进行检查，测试中应及时对样机和笔进行清洁；

d. 插拔速率：≤50 次/min；

5.2.6.7检验标准：

a. 手机笔插孔无明显磨损及掉漆；

b. 手写笔无变形，断裂，表面无异常；

c. 手机与手写笔配合无松动（手机笔插孔内卡钩或rubber功能无异常），手写笔能顺畅的插入、拔出（用手握住手写笔，手写笔应能承受手机自身重量）；

d. 笔头与笔尾不能出现松动、脱落

5.2.7充电器插拔测试

5.2.7.1测试目的：验证充电器的使用寿命（插拔测试）的可靠性；

5.2.7.2测试条件：充电器；2000次；耳机：1500次；数据线：1500次；20±10次/min；

5.2.7.3测试设备：手工插拔；

5.2.7.4测试前检查项目：手机进行全面外观、结构、功能检测，充电器I/O口外观，功能检测；

5.2.7.5测试方法：

a. 将样机设置为为开机状态；

b. 插上手机显示有“插入功能”到拔出手机显示 “插入功能”消失为一个循环，重复2000/1500个循环；

c. 单功能充电器连接器：进行2000次的手工插拔，每一次都要观察手机显示状况；插拔完成后对样机进行结构、功能、显示、外观检查；

d. 2合1充电器连接器：进行充电器2000次的手工插拔，耳机（或数据线）各1500次；每一次都要观察手机显示状况；插拔完成后对样机进行结构、功能、显示、外观检查；

e. 3合1充电器连接器：进行充电器2000次、耳机和数据线各1500次的手工插拔，每一次都要观察手机显示状况；插拔完成后对样机进行结构、功能、显示、外观检查；

f. 插拔速率：20±10次/分钟；

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5.2.7.6检验标准：

a. 功能检查：充电功能正常；拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：样机结构无异常。充电器插头无磨损、焊接故障、裂纹；I/O接口无磨损、破裂、变形；焊盘无脱落；充电器插头弹性正常、无脱落。充电器接头卡钩无失效、破损、断裂，充电器插入样机插孔时不会松动（可以承受得住样机本身的重量）；I/O接口及充电器插头无异常手感以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：样机外观无异常，无与测试前状态不一致的现象；

5.2.8电池/电池盖拆装测试

5.2.8.1测试目的：验证电池/电池盖使用寿命（拆装测试）的可靠性；

5.2.8.2测试条件：2000次；20±10次/min；

5.2.8.3测试数量：2pcs；

5.2.8.4测试设备：人工测试；

5.2.8.5测试前检查项目：

a. 功能测试：开关机是否正常；

b. 结构测试：拆装是否顺畅（电池卡扣，电池触片、连接器等）；

5.2.8.6测试方法：

a. 将电池/电池盖拆下，再装上为1 次，反复拆装2000次；

b. 进行到1000次，查样品各功能及结构是否正常；

c. 如果样品是内置电池的形式，对于电池和电池盖都要做测试；

d. 拆装速率：20±10次/分；

5.2.8.7检验标准：

a. 可正常开关机；

b. 电池拆装顺畅。电池卡扣功能正常，无变形，无磨损，有弹力。电池触片、电池连接器应无下陷、变形、磨损以及其它与测试前状态不一致的现象；

5.2.9 SIM Card 拆装测试

5.2.9.1测试目的：验证SIM卡拆装测试结构的可靠性；

5.2.9.2测试条件：2000次；20±10次/min；

5.2.9.3测试数量：2pcs；

5.2.9.4测试设备：手工测试；

5.2.9.5测试前检查项目：

a. 功能测试：样机正常开机，正常读取SIM卡信息；

b. 结构测试：SIM卡锁，卡座，SIM卡弹片等正常；

5.2.9.6测试方法：

a. 样机关机状态，进行SIM卡拆装测试，反复拆装2000次（插上SIM卡，取下SIM卡，记录为1次）；

b. 测试前SIM卡必须是标准的测试用SIM卡。SIM卡在不借助任何工具情况下是否容易拆装；

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c. 插拔进行到500、1000、1500、2000次对样机进行功能、结构检查；

d. 拆装速率：20±10次/分；

5.2.9.7检验标准：

a. 功能检查：样机开机正常，读取SIM卡信息无异常；可以拨打112；

b. 结构检查：SIM卡锁无破损、磨损、变形，SIM卡弹片无破损、凹陷、变形等；

5.2.10存储卡拆装测试

5.2.10.1测试目的：验证存储卡（T-FLASH卡、mini SD卡、SD卡等）拆装测试结构的可靠性；

5.2.10.2测试条件：2000次；20~60次/min；

5.2.10.3测试数量：2pcs；

5.2.10.4测试设备：手工测试（双头笔插拔试验机）；

5.2.10.5测试前检查项目：

a. 功能测试：样机正常开机，正常读取存储卡信息；

b. 结构测试：存储卡锁，卡座，存储卡弹片等正常；

5.2.10.6测试方法：

a. 样机不能用设备自动测试时，手工插拔2000次对样机功能、结构进行检查；手机能开机，能用设备进行存储卡拆装测试时，用设备插拔2000次（插上存储卡，取下存储卡，记录为1次）；

b. 测试前存储卡必须是标准的测试用存储卡。存储卡在不借助任何工具情况下是否容易拆装；

c. 插拔进行到500、1000、1500、2000次时对样机功能、结构进行检查；

d. 拆装速率：20~60次/分；

5.2.10.7检验标准：

a. 功能检查：样机开机正常，读取存储卡信息无异常；

b. 结构检查：存储卡锁无破损、磨损、变形，存储卡弹片无破损、凹陷、变形等；

5.2.11 speaker寿命测试

5.2.11.1测试目的：验证speaker使用寿命的可靠性；

5.2.11.2测试条件：96hrs/常温；

5.2.11.3测试数量：3pcs；

5.2.11.4测试设备：稳压电源；

5.2.11.5测试前检查项目：手机进行全面功能检测；

5.2.11.6测试方法：

a. 用直流电源给手机供电，直流电源电压设定为3.9V（3.6V－4.2V均可以）；

b. 播放铃声和mp3时音量设置到最大；

c. 让手机一直处于响铃和播放mp3状态，保持96小时，中间不能有停顿现象；

5.2.11.7检验标准：试验结束后手机仍然能够正常响铃，并且其它功能正常，能够正常拨打112；

5.2.12振动器寿命测试

5.2.12.1测试目的：验证振动器使用寿命的可靠性；

5.2.12.2测试条件：96hrs/常温；

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5.2.12.3测试数量：2pcs；

5.2.12.4测试设备：充电器（电池）；

5.2.12.5测试前检查项目：手机进行全面功能检测；

5.2.12.6测试方法：

a. 手机装上电池，并插上充电器充电；

b. 让手机一直处于振动状态，保持96小时，中间不能有停顿现象；

5.2.12.7检验标准：试验结束后手机仍然能够正常振动，并且其它功能正常；

5.2.13摄像头翻转测试

5.2.13.1测试目的：验证翻转摄像头的可靠性；

5.2.13.2测试条件：3万次；

5.2.13.3测试数量：2pcs；

5.2.13.4测试设备：人工测试；

5.2.13.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测；

5.2.13.6测试方法：

a. 将手机设置为开机状态；

b. 旋转摄像头（最小可旋转角度－>最大可旋转角度），反复进行30000次，分别在10000次、20000次、25000次和30000次检查手机摄像功能是否正常；

5.2.13.7检验标准：手机摄像头翻转正常，摄像功能良好，摄像头外观不可有可见之机械损伤；

5.2.14待机时间测试

5.2.14.1测试目的：验证手机的待机时间是否符合设计要求；

5.2.14.2测试环境：室温（20~25℃）；

5.2.14.3测试数量：2pcs；

5.2.14.4测试设备：无；

5.2.14.5测试前检查项目：手机进行功能检测；

5.2.14.6测试方法：

a. 确认LCD未被设置成常开状态；

b. 手机插入网卡（如移动或联通卡），将手机充电至手机充电完成时拔下充电器；

c. 将手机处于开机待机状态，同时记录起始时间；

d. 直到手机自动关机，此时记录关机时间；

5.2.14.7检验标准：手机的待机时间不小于规格下限；

5.2.15开关机键寿命测试

5.2.15.1测试目的：验证开关机手机的耐久性；

5.2.15.2测试条件：2000次；

5.2.15.3 测试数量：2pcs；

5.2.15.4 测试设备：手工测试/按键试验机；

5.2.15.5 测试前检查项目：手机进行全面功能及外观检测，尤其开关机键的功能正常；

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5.2.15.6 测试方法：

a. 在被测样机处于关机状态下，长按开关机键，使手机开机进入待机画面；在待机画面长安开关机键，使手机关机为开关机1次；

b. 先进行200次的手工开关机测试，再进行设备开关机测试，连续重复开关机动作2000次；

c. 在连续开关机到500次、1000次、1500次和2000次检查一下手机功能、显示、开关机键是否正常；

5.2.15.7 检验标准：手机的各项功能均和测试前一样，尤其是开关机键的功能和外观均正常；

5.2.16触摸屏点击测试

5.2.16.1测试目的：验证触摸屏耐点击性能的可靠性；

5.2.16.2测试条件：250g±10%；25万次；1次/s；

5.2.16.3测试数量：2pcs；

5.2.16.4测试设备：按键试验机；

5.2.16.5测试前检查项目：

a. 功能测试：触摸屏功能，显示功能；

b. 结构测试：触摸屏，显示屏损伤，破裂；手写笔笔头变形，损伤等；

c. 外观检测：触摸屏表面异常痕迹；

5.2.16.6测试方法：

a. 将样品设置成关机状态，固定在测试夹具上；

b. 点击触摸屏250000次；

c. 点击力度：250g；点击速度：1次/s；使用标准的手写笔（R0.8）进行点击；

5.2.16.7检验标准：

a. 功能检查：触摸屏使用功能无异常，显示屏显示正常以及无其它与测试前状态不一致的功能问题；

b. 结构检查：触摸屏，显示屏无损伤，破裂；手写笔头部无变形，扭曲，损伤以及无其它与测试前状态不一致的结构问题；

c. 外观检查：触摸屏表面无异常痕迹以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；

5.2.17触摸屏划线测试

5.2.17.1测试目的：验证触摸屏划线疲劳性能的可靠性；

5.2.17.2测试条件：250g±10%；划线次数：10万次；划线速度：（60mm±10mm）/s；R0.8的标准手写笔；

5.2.17.3测试数量：2pcs；

5.2.17.4测试设备：万能磨擦试验机；

5.2.17.5测试前检查项目：

a. 功能测试：触摸屏功能；

b. 结构测试：触摸屏，显示屏损伤，破裂；手写笔头部变形，损伤等；

c. 外观检测：触摸屏表面无异常；

5.2.17.6测试方法：

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a. 将样品设置成关机状态，固定在测试夹具上；

b. 使标准手写笔（R0.8）沿触摸屏的对角线进行划线测试（手写笔与触摸屏垂直）；

c. 划线压力：250g；

d. 测试次数：100000次（反复一个来回记为2次）；

e. 测试完成后，对触摸屏进行功能，结构与外观检查，并对触摸屏表面进行清洁；

f. 测试距离：不小于触摸屏对角线距离的2/3；

g. 划线速度：60mm/s；

5.2.17.7检验标准：

a. 功能检查：触摸屏使用功能无异常，显示屏显示无异常；

b. 结构检查：触摸屏，显示屏无损伤，破裂；手写笔头部无变形，扭曲，损伤；

c. 外观检查：触摸屏表面无划痕；

5.2.18 EL背光寿命测试

5.2.18.1测试目的：验证EL背光疲劳性能的可靠性；

5.2.18.2测试条件：EL背光持续点亮48hrs；

5.2.18.3测试数量：2pcs；

5.2.18.4测试设备：稳压电源，需软件支持；

5.2.18.5测试前检查项目：所有功能正常，尤其是EL背光正常；

5.2.18.6测试方法：

a. 样品插上充电器充电；

b. 在软件支持下使EL背光持续点亮48小时；

c. 每隔12小时检查EL背光是否正常；

5.2.18.7检验标准：所有功能正常，尤其是EL背光正常；

5.2.19 LED指示灯寿命测试

5.2.19.1测试目的：验证LED指示灯疲劳性能的可靠性；

5.2.19.2测试条件：LED指示灯持续点亮120hrs；

5.2.19.3测试数量：2pcs；

5.2.19.4测试设备：稳压电源，需软件支持；

5.2.19.5测试前检查项目：所有功能尤其是LED指示灯正常；

5.2.19.6测试方法：

a. 样品插上充电器充电；

b. 在软件支持下使LED指示灯持续点亮120小时；

c.在30、60、90、120小时检查LED指示灯是否正常；

5.2.19.7检验标准：所有功能尤其是LED指示灯正常；

5.2.20五向键寿命测试

5.2.20.1测试目的：验证五向键的寿命；

5.2.20.2测试条件：五向键的五个方向各5万次；压力：200±10g；

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5.2.20.3测试数量：2pcs；

5.2.20.4测试设备：按键试验机；

5.2.20.5测试前检查项目：所有外观、结构、功能尤其是五向键正常；

5.2.20.6测试方法：

a. 左、右、前、后、中间拨五向键各50000次；

b. 15000次，20000次、25000次和30000次、40000次、50000次时检查一下五向键外观、结构和功能是否正常；

5.2.20.7检验标准：

a. 功能检查：无失去左右前后中间功能或接触不良等与测试前不一致的现象；

b. 结构检查：无失去弹性或弹性不良等与测试前不一致的现象；

c. 外观检查：无划伤、掉漆或按键破损等与测试前不一致的现象；

5.3机械测试

5.3.1重复跌落测试

5.3.1.1测试目的：验证样品重复跌落的可靠性及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

5.3.1.2测试条件：跌落高度：8cm（±0.5cm）；跌落次数：1.14万次；跌落频率：30±2次/min；跌落面：20mm厚铝板/PVC板；

5.3.1.3测试数量：2pcs；

5.3.1.4测试设备：手机桌面跌落机；

5.3.1.5测试前检查项目：手机进行参数、全面外观和功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

5.3.1.6测试方法：

a. 将样机设置为开机状态，插入测试卡，进行8cm重复跌落11400次，5000次跌正面，5000次跌背面，500次左侧面，500次右侧，200次顶部，200次底部，每跌完一面对样品进行功能、结构和外观的检查；

b. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

c. 跌落频率：30次/min；跌落高度：8cm；跌落面：20mm厚的PVC板；

5.3.1.7检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：装饰件，logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱出，断裂；LCD无破裂；天线无脱出，脱落；转轴无松动，错位，脱出或断裂；滑盖无松动，脱出，断裂；晃动无异响，Lens无破裂，脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；正反面跌落2000次中不允许出现电池盖脱落；

c. 外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹，破损以及无其它与测试前状态不一致的；

d. 所有样机内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

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5.3.2 纸带磨擦（RCA）

5.3.2.1测试目的：喷涂/印刷等抗磨擦性能的可靠性；

5.3.2.2测试环境：室温（20~25℃）；

5.3.2.3 测试数量：2pcs；

5.3.2.4测试设备：纸带耐磨机/万能磨擦机；

5.3.2.5测试前检查项目：壳体表面/刚片表面喷涂、印刷、电镀以及其它未描述到的表面处理；

5.3.2.6测试方法及判定标准：参见现行壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）相关测试项。

5.3.3附着力（百格）测试

5.3.3.1测试目的：喷漆附着力的可靠性；

5.3.3.2测试条件：百格刀，3M600胶带；90°（拉3次）；

5.3.3.3测试数量：2pcs；

5.3.3.4测试设备：百格刀；

5.3.3.5测试前检查项目：表面喷涂、印刷、电镀以及其它未描述到的外观；

5.3.3.6测试方法：

测试方法及判定标准：参见现行壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）相关测试项。

5.3.4胶塞拉力测试

5.3.4.1测试目的：验证胶塞（耳机塞、存储卡塞、I/O口塞）抗拉的强度；

5.3.4.2测试条件：1.5kgf/10s，3次；

5.3.4.3测试数量：2pcs；

5.3.4.4测试设备：推拉力计；

5.3.4.5测试前检查项目：胶塞外观良好，无破损或裂纹；

5.3.4.6测试方法：

a. 将需测试的胶塞固定在推拉力计挂钩上；

b. 用垂直胶塞平面的力瞬时拉胶塞，拉力≥1.5kgf/10s，3次；

5.3.4.7 检验标准：胶塞外观良好，无破损、裂纹、断裂；

5.3.5堵头按压测试

5.3.5.1测试目的：验证堵头（RF堵头、螺丝堵头）抗压的强度；

5.3.5.2测试条件：压力：2kgf；

5.3.5.3测试数量：2pcs；

5.3.5.4测试设备：推拉力计；

5.3.5.5测试前检查项目：堵头外观良好，无破损，无凹陷；

5.3.5.6测试方法：用推拉力计平的一面垂直按压堵头，压力：2kgf；

5.3.5.7检验标准：堵头外观良好，无破损，无凹陷；

5.3.6酒精摩擦

5.3.6.1测试目的：验证手机外表面涂层的耐酒精磨擦性能；

5.3.6.2测试条件：酒精度≥99%；500g±5%；200cycles；

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5.3.6.3测试数量：2pcs；

5.3.6.4测试设备：万能摩擦机；

5.3.6.5测试前检查项目：表面喷涂、印刷、电镀以及其它未描述到的外观；

5.3.6.6测试方法：

测试方法及判定标准：参见现行壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）相关测试项。

5.3.7铅笔硬度测试

5.3.7.1测试目的：验证喷涂硬度的可靠性;

5.3.7.2测试环境：室温（20~25℃）;

5.3.7.3测试数量：2pcs；

5.3.7.4测试设备：万能摩擦仪；

5.3.7.5测试前检查项目：表面喷涂，印刷，电镀，Lens以及未描述到的外观；

5.3.7.6测试方法：

测试方法及判定标准：参见现行壳体壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）相关测试项。

5.3.8手机抗压测试

5.3.8.1测试目的：验证手机承受短时间压力的可靠性；

5.3.8.2测试条件：10kg±5%/3s；3次；

5.3.8.3测试数量：2pcs；

5.3.8.4测试设备：推拉力测试仪；

5.3.8.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测；

5.3.8.6测试方法：

将手机以水平方向固定住（正面朝上），手摇把柄匀速下降，压力计逐渐施加到10Kg的力从垂直方向压手机正面（达到10Kg后停顿5s后释放），重复做3次试验；

5.3.8.7检验标准：

a. 功能检查：正常；

b. 结构检查：外壳无裂缝，镜片、LCD等无碎裂；

c. 外观检查：允许有压伤痕迹；

5.3.9挂绳孔拉力测试

5.3.9.1测试目的：验证样机挂绳空结构强度的可靠性以及安全性

5.3.9.2测试条件：50N±5%；3次；挂绳孔拉断的力度应不大于100N±5%；

5.3.9.3测试数量：2pcs；

5.3.9.4测试设备：推拉力测试仪；

5.3.9.5测试前检查项目：

a. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；

b. 外观检测：喷涂，印刷，电镀等以及未描述到的外观；

5.3.9.6测试方法：

a. 选用最新的手机外壳；

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b. 将手机以垂直方向固定住（固定住机身的下半部），用拉力计逐渐施加到50N的力从垂直方向拉吊绳穿孔（当拉力达到50N时立即释放），重复3次试验；

c. 用拉力计逐渐施加力从垂直方向拉吊绳穿孔直至挂绳孔断裂，力度应不大于100N±5%

5.3.9.7检验标准：

外壳有无裂缝，当拉力小于25N时，不允许前后壳张嘴；当拉力在25N-50N范围内时，允许前后壳张嘴，但当拉力释放后前后壳之间要能自动合拢。工作性能，满足产品基本性能规定的各项要求；

5.3.10螺钉测试（ScrewTest）

5.3.10.1测试目的：反复拆装螺钉后螺钉及壳体的可靠性；

5.3.10.2测试数量：2pcs；

5.3.10.3测试设备：电动螺丝起子；

5.3.10.4测试前检查项目：

a. 螺钉：螺钉头变形、损伤、划丝等；螺钉柱变形、损伤、划丝等；

b. 螺钉孔：变形，损伤，裂纹，划丝等；

c. 壳体：变形，损伤，裂纹、划丝等；

5.3.10.5测试方法：

a. 将样品平放在试验台上，用生产装配时使用的打螺钉扭矩()，对同一螺钉在同一位置打进打出10次；

b. 每打进打出一次，对螺钉、螺钉孔及壳体进行检查；

c. 测试仪的转速设置为“快速”状态；

d. 被测样品上可拆装螺钉均需要进行测试；

e. 螺钉扭矩由设计工程师和生产工程师提供；

f. 螺钉破坏扭矩测试：将螺钉扭矩起子设定为，对同一螺钉在同一位置打进打出1次；如果螺钉生产装配扭矩间于2.5~，则根据厂家提供的螺钉最大能承受扭矩进行测试；大于的无法测试；

5.3.10.6检验标准：

a. 螺钉：螺钉头无变形、损伤、划丝等；螺钉柱无变形、损伤、划丝等；

b. 螺钉孔：无变形，损伤，裂纹，划丝等；

c. 壳体：无变形，损伤，裂纹等；

d. 测试完成后，需要拆机进行检查，壳体内部相关部分不能出现裂纹、损伤等异常；

e. 备注：测试标准适用于机械型螺钉和自攻型螺钉；

5.3.11滚筒跌落测试

5.3.11.1测试目的：验证手机疲劳跌落的可靠性及传导射频性能；

5.3.11.2测试条件：滚筒：0.5m（跌落高度）；500次；10次/min；

5.3.11.3测试数量：2pcs；

5.3.11.4测试设备：滚筒跌落试验机，CMU200/CMD55,射频线，稳压电源等；

5.3.11.5测试前检查项目：

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a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能；

b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；

c. 连接CMU/CMD，读出样机不同信道、不同功率等级下的射频参数；

5.3.11.6测试方法：

a. 样品设置成开机不插卡状态，在手机中预存入5个电话和5条短信息，并将手机时钟设置为当前时间；

b. 将样品放入滚筒跌落试验机，进行高度为0.5m的500次随机跌落测试；

c. 每100次对样品进行外观、结构检查和功能检查；

d. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

e. 滚筒转速：5转/min；

f. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为原始状态，一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

5.3.11.7检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它与测试前状态不一致的功能问题；

b. 结构测试：无部件脱落；壳体，卡钩断裂；显示屏、镜片破裂等影响样品使用功能的问题；

c. 无对样品使用功能造成影响的外观问题；

d. 无其它对人体可能造成伤害的安全性问题；

e. 表面磨损不计为问题；

f. 样品内存时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前、滞后等）；

g. RF参数符合规格要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.3.12软压测试

5.3.12.1测试目的：验证手机抗坐压的可靠性及传导射频性能;

5.3.12.2测试条件：40kg±5%；2000次;

5.3.12.3测试数量：2pcs;

5.3.12.4测试设备：软压测试仪，CMU200/CMD55，射频线，稳压电源等;

5.3.12.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测；用射频线与CMU连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试;

5.3.12.6测试方法:

a. 按压头材质为硅树脂，支撑部分材质为棉布；

b. 将手机设置为开机状态；

c. 将手机放在支撑部件中心位置上，用40kg的力反复按压样品的中间部位2000次（1000次压正面，1000次压背面），分别在手机正反面按压到500次和1000次时对手机的功能、外观和结构进行检查；

d. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在第 32 页共 58 页

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电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

e. PDA和超薄手机不做该项测试；

5.3.12.7检验标准：到设定次数后，对样品进行如下检查：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能无异常；

b. 结构检查：装饰件，logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱出，断裂；LCD无破裂；天线无脱出，脱落；转轴无松动，错位，脱出或断裂；滑盖无松动，脱出，断裂；晃动无异响，Lens无破裂，脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体无变形，壳体表面无裂纹，破损，装饰件无脱落以及与测试前状态不一致的现象；

d. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.3.13扭曲测试

5.3.13.1测试目的：验证手机外壳抗扭曲的强度及传导射频性能；

5.3.13.2测试条件：扭矩：0.08*整机壳体厚度（mm）Nm，0.5N.m＜扭矩≤2N.m,扭曲次数：500次，扭曲频率：12次±2次/min；

5.3.13.3测试数量：2pcs；

5.3.13.4测试设备：扭曲试验机；

5.3.13.5测试前检查项目：手机进行全面的外观、结构和功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

5.3.13.6测试方法：

a. 将手机处于开机状态，固定在扭曲试验机上,计算好扭矩；

b. 设定力矩反复扭曲手机500次；

c. 扭曲每100次对样机进行外观、结构和功能检查；

d. 测试完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试（测试方法：参照第一事业部整机射频指标测试规范）；

e. 备注：超薄手机不做扭曲试验；

5.3.13.7 检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

c. 外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹，破损以及无其它与测试前状态不一致的；

d. 性能检查：所有样机内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

5.3.14钢球跌落测试

5.3.14.1测试目的：验证镜片和塑胶的抗冲击强度；

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5.3.14.2测试条件：0.2J（钢球重130g±10g，落下高度155±5mm）；

5.3.14.3测试数量：2pcs；

5.3.14.4测试设备：钢球跌落测试仪；

5.3.14.5测试前检查项目：手机lens（镜片）和塑胶壳结构检测；

5.3.14.6测试方法：

a. 将样品开机，不插卡平放在工作台上；

b. 调整弹簧锤能量级别到0.2J（等同于钢球重130g，落下高度155mm）；

c. 将弹簧手柄拉起，双手握住轻轻保持锤心与LENS镜面中心或塑胶面垂直，至球心打出；

d. PDA手机不做该项测试；

5.3.14.7检验标准：

镜片和塑胶壳无变形、裂缝、破损（允许镜片表面有白点），LCD无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象；

5.3.15包装振动测试

5.3.15.1测试目的：验证包装盒、礼盒、手机托架、配件和手机在运输中的抗振性能；

5.3.15.2测试设备：振动控制仪；

5.3.15.3测试条件：高频振动（5-20Hz ，0.96m2/s3；20-500Hz，-3dB/octX，Y，Z三个轴向各1小时）；

5.3.15.4测试方法：

a. 将手机和相应的配件装入礼盒中，礼盒包装好以后放入相应的包装箱内；

b. 包装箱包装好后，将包装箱固定在振动台上；

c. 根据测试条件设置相应的振动参数后，开启振动议开始振动测试；

5.3.15.5检验标准：

a. 包装箱、礼盒及配件无明显的破损、开裂等异常；

b. 电池无变形、拱起、发烫和爆炸现象；

c. 手机外观和功能正常；

5.3.16包装跌落测试

5.3.16.1测试目的：验证包装盒礼盒、手机托架、配件和手机在搬运期间粗率装卸遭到跌落的适应性；

5.3.16.2测试环境：室温（20~25℃）；

5.3.16.3测试设备：手工测试；

5.3.16.4测试条件：跌落地面：混凝土地面；跌落次数：6面、3棱、1角各一次；

5.3.16.5 试件说明

样品应用符号及方法加以标示,如常用之开缝箱.观察者对箱之一端,使接合处在右侧,不同之面标示方法为: 上面用1. 右侧面用 2. 下面用 3. 左则面用 4. 近端用 5. 远程用 6.

棱缘用构成该棱缘两个面的数字标示,如1-2或2-1. 则是由上面与右侧面构成的棱缘角部用构成该角三个面之数字标示.(例如:1-2-5.为上面右侧面与近端构成三角). 纸箱之各面棱及角之标示法(见图一)。

跌落顺序见图二

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图一图二

5.3.16.6 测试高度的选择：

测试重量（kg）测试高度（mm）

0-15 1000

15-30 800

>30 600

5.3.16.7 测试方法

a. 将手机和相应的配件装入礼盒中，礼盒包装好以后放入相应的包装箱内，并将包装箱包装好；

b. 人工将包装箱举止规定高度，然后按测试条件将包装箱自由落至混凝土地面；

5.3.16.6检验标准：

a. 包装箱、礼盒及配件无明显的破损、开裂等异常（允许一个彩盒的边开裂<1/3），如是塑胶盒则不允许开裂

b. 电池无变形、拱起、发烫和爆炸现象；

c. 手机外观和功能正常；

5.3.17触感键寿命测试

5.3.17.1测试目的：验证触感键的可靠性；

5.3.17.2测试条件：压力≤100g；10万次；20次/min；

5.3.17.3测试数量：2pcs；

5.3.17.4测试设备：按键试验机（铝质按键头）；

5.3.17.5测试前检查项目：手机进行全面外观和功能检测；

5.3.17.6测试方法：

a. 手机开机固定在测试设备上；

b. 以<=100g力（以触感键能感应到的最低压力为准）按任意选定键盘上的触感键，按压的速度为20次/分，按压10万次，每2万次分别检查手机外观和功能是否正常；

c. 按键头与样机触感键的距离为2mm；

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d. 每台为2个键；

5.3.17.7检验标准：

a. 功能检查：触感键功能正常；拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

5.3.18 USB推力测试

5.3.18.1测试目的：验证USB焊接可靠性；

5.3.18.2测试条件：50N压力，上下左右四个方向，每个方向按压1次，每次持续10S；

5.3.18.3测试数量：2pcs；

5.3.18.4测试设备：推拉力计（按压头直径5mm）；

5.3.18.5测试前检查项目：手机进行全面外观和功能检测；

5.3.18.6测试方法：

a. 将手机的USB接口与USB公头连接；

b. 按压位置选取在USB公头外露部分距样机边缘1CM处；

c. 逐步将推力增加到50N，持续10S

d. 针对USB公头上、下、左、右，四个方向各按压1次

5.3.18.7检验标准：

a. 功能检查：USB的数据传输功能或耳机、充电功能应正常；

b. 外观检查：USB接口外观应正常，USB公头外观应正常，不允许出现任何的破裂或损坏，允许出现可回复的位置偏移；

5.3.19 USB外部逆插

5.3.19.1测试目的：验证USB接口抵抗误操作能力；

5.3.19.2测试条件：Min USB：80N以上；Micro USB：50N以上

5.3.19.3测试数量：2pcs；

5.3.19.4测试设备：推拉力计；

5.3.19.5测试前检查项目：手机进行USB功能检测；

5.3.19.6测试方法：

a. 将手机侧面抵住推拉力计按压头；

b. 将USB公头以正确插入USB相反的方向水平抵住USB；

c. 对于Min USB逐步将推力增加到80N，持续3S；对于Micro USB逐步将推力增加到50N，持续3S；

5.3.19.7检验标准：

a. 功能检查：USB的数据传输功能或耳机、充电功能应正常；

b. 外观检查：不允许在要求力度范围内，USB公头反插入USB接口；

5.3.20 按键拉拔

5.3.20.1测试目的：验证键盘键帽的可靠性；

5.3.20.2测试条件：10N以上（只针对刷胶/点胶粘合按键）

5.3.20.3测试数量：2pcs；

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5.3.20.4测试设备：推拉力计；

5.3.20.5测试前检查项目：手机进行外观检测；

5.3.20.6测试方法：

a. 分别选取按键的功能区，数字区，侧按键区的按键；

b.用502 胶水将棉线均匀覆盖粘贴在待测试按键上，静止一段时间待胶水充分粘合后，将棉线的一头固定在拉力计上，拉力达到10N并保持5秒钟.；

5.3.20.7检验标准：

a. 外观检查：要求按键帽与硅胶之间无平整脱落；

5.3.21 高低温充电

5.3.21.1测试目的：验证手机高低温条件下的充电功能；

5.3.21.2测试条件：高温45℃，低温-5℃，关机状态；

5.3.21.3测试数量：2pcs；

5.3.21.4测试设备：高低温箱；

5.3.21.5测试前检查项目：手机进行功能检测；

5.3.21.6测试方法：

a.测量电池的电压；

b.将测试样机（带电池）放入高低温箱中，1h后进行充电，保持充电状态1h

5.3.21.7检验标准：

a. 功能检查：能正常充电，充电指示正常且电池电压上升（分别在测试中和恢复常温后进行检测）

5.3.22 Mic和Receiver的寿命测试

5.3.22.1测试目的：验证Mic和Receiver使用寿命的可靠性；

5.3.22.2测试条件：96hrs/常温；

5.3.22.3测试数量：2pcs；

5.3.22.4测试设备：稳压电源；

5.3.22.5测试前检查项目：手机进行全面功能检测；

5.3.22.6测试方法：

a. 用直流电源或充电器给手机供电，直流电源电压设定为3.9V（3.6V－4.2V均可以）；

b. 进入工程模式选择Mic录音和Receiver回响；

c. 让手机一直处于Mic录音或Receiver回响状态，保持96小时，中间不能有停顿现象；

d. Mic录音时候需要装配存储卡，存储卡大小为8G以上

5.3.22.7检验标准：试验结束后手机仍然能够正常接听和说话，并且其它功能正常，能够正常拨打112；

5.3.23 天线插拔测试

5.3.23.1测试目的：验证天线使用寿命（插拔测试）的可靠性；

5.3.23.2测试条件：5000次，速率：≤50 次/min；

5.3.23.3测试数量：2pcs；

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5.3.23.4测试设备：手动；

5.3.23.5测试前检查项目：

a. 天线外观；b. 天线插孔；c. 天线与手机之间的配合（松动，插拔不顺畅等）；

5.3.23.6测试方法：

a. 手机为关机状态；

b. 天线完全插入手机天线孔内，然后完全拔出，计为1次，共重复5000次；

c. 分别在2000次，30000，5000次，进行检查，测试中应及时对样机和天线进行清洁；

d. 插拔速率：≤50 次/min；

5.3.23.7检验标准：

a. 天线插孔无明显磨损及掉漆；

b. 天线无变形，断裂，表面无异常；

c. 手机与天线配合无松动（天线插孔内卡钩或rubber功能无异常），天线能顺畅的插入、拔出；

d. 天线插入手机后，将天线顶端与地面垂直，轻轻晃动手机，不允许天线滑出；

5.3.24 天线弯折测试

5.3.24.1测试目的：验证天线使用寿命（插拔测试）的可靠性；

5.3.24.2测试条件：5000次，速率：≤50 次/min；

5.3.24.3测试数量：2pcs；

5.3.24.4测试设备：手动；

5.3.24.5测试前检查项目：

a. 天线外观；b.天线完全伸出后的方向稳定性；

5.3.24.6测试方法：

a. 手机为关机状态；

b. 天线完全拔出，任意方向弯折90度，再回到拔出状态为1次，共重复5000次；

c. 分别在2000次，30000，5000次，进行检查，测试中应及时对样机和天线进行清洁；

d. 插拔速率：≤50 次/min；

5.3.24.7检验标准：

a. 天线能任意方向任意角度弯折且能保持当前弯折状态；

b. 天线无变形，断裂；

c. 天线能顺畅的插入、拔出；

d. 天线插入手机后，将天线顶端与地面垂直，轻轻晃动手机，不允许天线滑出；

5.3.25手写笔（天线）拉力测试

5.3.25.1测试目的：验证手写笔（天线）的可靠性；

5.3.25.2测试条件：5Kg拉力，持续1分钟；

5.3.25.3测试数量：2pcs；

5.3.25.4测试设备：推拉力计，线绳；

5.3.25.5测试前检查项目：

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a.手写笔（天线）外观；

5.3.25.6测试方法：

a. 手机为关机状态；

b. 手写笔（天线）完全拔出，将线绳两端分别固定在推拉力计和手写笔（天线）待测一端；

c. 逐步增加拉力至5Kg，并保持1分钟；

d.手写笔需要测试笔头和笔尾两个部位，天线需要测试天线头一个部位；

5.3.25.7检验标准：

a. 笔头和笔尾无松动，脱落；

b. 天线头无松动，脱落；

6、特殊加严测试序列（可选测试项，建议亚热带区域产品必做）

6.1 长周期湿热存储

6.1.1测试目的：验证手机高温高湿环境下的适应性及传导的射频性能；

6.1.2测试条件：+60℃±2℃，95%RH（+2%~-3%RH）；持续时间：96hrs；

6.1.3测试数量：8pcs（试验后RF测试2pcs）；

6.1.4测试设备：恒温恒湿箱，CMU200/CMD55、延长射频线，稳压电源等；

6.1.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构、功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

6.1.6测试方法：

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 一半手机装上带满电电池，不插测试卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入恒温恒湿箱内，手机间的距离大于等于10cm，调节温度控制器到+60℃，湿度控制为95%RH；

d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

e. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

6.1.7检验标准：手机外观，结构和功能无异常；RF参数符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：装饰件，logo，LENS等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体、lens表面无明显掉漆，无裂纹，破损，冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

e. RF参数符合要求（参考整机射频指标测试规范（TDMA制式））；

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6.2翻/滑盖（湿热环境）

6.2.1测试目的：适用于翻/滑盖手机，验证手机翻/滑盖寿命的可靠性；

6.2.2测试条件：60°C,95%湿度，24H存储；8万次；40~45次/min；

6.2.3测试数量：2pcs；

6.2.4测试设备：翻盖试验机，恒温恒湿试验机；

6.2.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测；

6.2.6测试方法：

a. 将手机关机状态下放置于60°C, 95%湿度的恒温恒湿箱中24H；

b. 立刻将手机，开机固定在测试设备上；

c. 调节好气压、前杆和后杆的翻转角度，以40~45次/分的速率翻盖8万次，在2万次、3万次、4万次和5万次、6万次、7万次、8万次时检查LCD能否正常显示，手机外观、结构和功能是否正常；

d. 关闭电源，取下手机；

6.2.7检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：翻盖可以平稳的开合，无异响；翻盖转轴功能无松动，变紧等以及其它与测试前状态不一致的结构问题；

6.3 软压（湿热环境）

6.3.1测试目的：验证手机抗坐压的可靠性;

6.3.2测试条件：60°C,95%湿度，24H存储，40kg±5%；2000次;

6.3.3测试数量：2pcs;

6.3.4测试设备：软压测试仪，高温高湿;

6.3.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测;

6.3.6测试方法:

a. 将手机关机状态下放置于60°C, 95%湿度的恒温恒湿箱中24H；

b. 立刻取出，将手机设置为开机状态；

c. 将手机放在支撑部件中心位置上，用40kg的力反复按压样品的中间部位2000次（1000次压正面，1000次压背面），分别在手机正反面按压到500次和1000次时对手机的功能、外观和结构进行检查，重点关注牛顿环等现象；

6.3.7检验标准：到设定次数后，对样品进行如下检查：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能无异常；

b. 结构检查：装饰件，logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱出，断裂；LCD无破裂；天线无脱出，脱落；转轴无松动，错位，脱出或断裂；滑盖无松动，脱出，断裂；晃动无异响，Lens无破裂，脱落第 40 页共 58 页

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以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：壳体无变形，壳体表面无裂纹，破损，装饰件无脱落以及与测试前状态不一致的现象；

6.4 Speaker寿命（高温环境）

6.4.1测试目的：验证speaker使用寿命的可靠性；

6.4.2测试条件：96hrs/55℃±2℃；

6.4.3测试数量：3pcs；

6.4.4测试设备：稳压电源；

6.4.5测试前检查项目：手机进行全面功能检测；

6.4.6测试方法：

a. 将手机放置与55℃±2℃的温箱中，用直流电源给手机供电，直流电源电压设定为3.9V（3.6V－4.2V均可以）；

b. 播放铃声和mp3时音量设置到最大；

c. 让手机一直处于响铃和播放mp3状态，保持96小时，中间不能有停顿现象；

6.4.7检验标准：试验结束后手机仍然能够正常响铃，并且其它功能正常，能够正常拨打112；

7.整机智能机测试序列

7.1 振动摩擦

7.1.1测试目的：验证手机壳体的耐摩能力；

7.1.2测试条件：振动摩擦1h；

7.1.3测试数量：4pcs；

7.1.4测试设备：振动摩擦机；

7.1.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构检查；

7.1.6测试方法：

a.将手机放入测试设备中；

b.开启设备进行测试；

c.分别在0.5h和1h后关闭测试设备，进行外观和结构检查；

7.1.7检验标准：

镀层/喷涂表面工艺：30 分钟后，不允许有任何掉漆、镀层脱落现象；1 小时后,整个壳体不允许有超过4 个点的掉漆、镀层脱落现象（单点脱落点面积≤1mm²）；

7.2 硬压

7.2.1测试目的：验证手机抗坐压的可靠性;

7.2.2测试条件：25kg±5%，1h，正反两面;

7.2.3测试数量：2pcs;

7.2.4测试设备：软压测试仪;

7.2.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测，RF参数测试;

7.2.6测试方法:

a. 按压头更换为金属平板；

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b. 将手机设置为开机状态，平放于另一块金属平板上；

c. 将设备设置为 25kg的压力，持续时间1h，分别对手机正反面进行按压；

d. 测试完成后，对手机进行全面的外观和功能检查；

7.2.7检验标准：

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能无异常；

c. 外观检查：壳体无变形，壳体表面无裂纹，破损，装饰件无脱落以及与测试前状态不一致的现象；

7.3 LCM挤压

7.3.1测试目的：验证LCM抗挤压的能力；

7.3.2测试条件：8Kg压力，3次，10秒/次；（按压头直径为5mm）

7.3.3测试数量：2pcs;

7.3.4测试设备：推拉力计；

7.3.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测;

7.3.6测试方法:

a. 确定LCM显示驱动IC所在区域；

b. 确定好左、中央、右，三个按压位置；

c. 将手机平放在桌面上，调整推拉计将按压头对准按压位置；

d. 增加按压力度直到8Kg，位置10S，每个位置测试3次，测试完3个位置；

e. 测试完成后进行全面的外观和功能测试；

7.3.7检验标准：

LCM不能有任何的问题，手机功能应正常；

7.4 结露测试

7.4.1测试目的：验证手机在温湿度变化条件下的表现；

7.4.2测试条件：30℃,95%湿度，1h, 0℃,1h；开机状态（带SIM卡）

7.4.3测试数量：2pcs;

7.4.4测试设备：恒温恒湿箱，高低温箱；

7.4.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构和功能检测;

7.4.6测试方法:

a. 30℃,95%湿度条件下保持1h；

b. 然后转入0℃的高低温箱，保持1h；

c. 立即进行功能和结构检查；重点检查通话；

d. 恢复常温后再次进行功能和结构全面检查；

7.4.7检验标准：

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不允许出现功能故障和局部发热；

7.5 触摸屏点击（电容屏）

7.5.1测试目的：验证触摸屏耐点击性能的可靠性；

7.5.2测试条件：250g±10%；100万次；1次/s；

7.5.3测试数量：2pcs；

7.5.4测试设备：按键试验机；

7.5.5测试前检查项目：

a. 功能测试：触摸屏功能，显示功能；

b. 结构测试：触摸屏，显示屏损伤，破裂；手写笔笔头变形，损伤等；

c. 外观检测：触摸屏表面异常痕迹；

7.5.6测试方法：

a. 将样品设置成关机状态，固定在测试夹具上；

b. 点击触摸屏1000000次；

c. 点击力度：250g；点击速度：1次/s；使用直径5mm的手写笔进行点击；

7.5.7检验标准：

a. 功能检查：触摸屏使用功能无异常，显示屏显示正常以及无其它与测试前状态不一致的功能问题；

b. 结构检查：触摸屏，显示屏无损伤，破裂；以及无其它与测试前状态不一致的结构问题；

c. 外观检查：触摸屏表面无异常痕迹以及无其它与测试前状态不一致的外观问题；

7.6 触摸屏划线（电容屏）

7.6.1测试目的：验证触摸屏划线疲劳性能的可靠性；

7.6.2测试条件：250g±10%；划线次数：10万次；划线速度：（60mm±10mm）/s；直径5mm的标准手写笔；

7.6.3测试数量：2pcs；

7.6.4测试设备：触摸屏点击试验机；

7.6.5测试前检查项目：

a. 功能测试：触摸屏功能；

b. 结构测试：触摸屏，显示屏损伤，破裂；

c. 外观检测：触摸屏表面无异常；

7.6.6测试方法：

a. 将样品设置成关机状态，固定在测试夹具上；

b. 使标准手写笔直径5mm沿触摸屏的对角线进行划线测试（手写笔与触摸屏垂直）；

c. 划线压力：250g；

d. 测试次数：100000次（反复一个来回记为2次）；

e. 测试完成后，对触摸屏进行功能，结构与外观检查，并对触摸屏表面进行清洁；

f. 测试距离：不小于触摸屏对角线距离的2/3；

g. 划线速度：60mm/s；

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7.6.7检验标准：

a. 功能检查：触摸屏使用功能无异常，显示屏显示无异常；

b. 结构检查：触摸屏，显示屏无损伤，破裂；

c. 外观检查：触摸屏表面无划痕；

7.7 盐雾测试（电容屏）

7.7.1测试目的：验证样机抗盐雾腐蚀性能；

7.7.2测试条件：试验室温度：35℃±2℃；盐水浓度：5%（PH值：6.5~7.2），持续时间：48hrs；

7.7.3测试数量：2pcs；

7.7.4测试设备：盐雾试验箱；

7.7.5测试前检查项目：手机进行全面外观、结构、功能检测；

7.7.6测试方法：

a. 打开电源和气阀，盐水喷雾机温度设定为：35 ℃，压力桶温度：47℃，压力控制在1kg/cm2，盐水浓度：5% （PH值：6.5-7.2）,喷雾48h；

b. 将手机以用绳悬挂入盐水喷雾机中，手机带电池，并且处于关机状态；

c. 样机摆放应一台样机天线侧朝上，一台样机天线侧朝下；

d. 依次打开电源、操作、喷雾、计时；

e. 试验时间结束后关闭电源和气阀，取出手机；

f.用吹风机将手机内外表面残留液体吹干，并在常温下放置48小时以上；48小时后对手机进行全面外观和功能检测；

7.7.7检验标准：金属部件无氧化发黑现象，手机外观、结构、功能正常；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：lens，天线，装饰件，标牌，电池，Connector，螺钉等无腐蚀以及与测试前不一致的现象；

c. 外观检查：表面喷涂，丝印，电镀无脱落，起泡，腐蚀以及与测试前不一致的外观；

7.8 高温高湿（电容屏）

按照6.1测试项规定进行测试

7.9铅笔硬度（电容屏）

7.9.1测试目的：验证电容屏硬度的可靠性;

7.9.2测试条件：室温（20~25℃），500g压力，三菱铅笔6H；3CM行程，划5次；

7.9.3测试数量：2pcs；

7.9.4测试设备：万能摩擦仪；

7.9.5测试前检查项目：电容屏的外观；

7.9.6测试方法：

a. 将手机固定在万能摩擦机上

b. 将6H铅笔固定好，设定好行程，

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c. 打开设备进行测试

7.9.7检验标准：

不能有划痕和划伤，功能应正常

7.10 Lens耐摩（电容屏）

7.10.1测试目的：电容屏表面抗磨擦的可靠性；

7.10.2测试条件：0000#钢丝绒,200g力,20Cycles，行程大于3CM；

7.10.3 测试数量：2pcs；

7.10.4测试设备：纸带耐磨机/万能磨擦机；

7.10.5测试前检查项目：电容屏表面外观；

7.10.6测试方法：

a. 将待测样机固定在测试设备上

b. 为测试设备装配200g砝码，同时将0000#钢丝绒固定在压力杆上

c. 将行程设定为3~5CM

d. 开启设备进行测试，测试20Cycles

7.10.7检验标准：

电容屏表面无划伤，功能应正常

7.11 水雾干扰测试(电容屏)

7.11.1测试目的：验证电容屏的抗水雾干扰能力；

7.11.2测试条件：1Kg压力,非边缘区域测试1h,边缘区域测试0.5h；

7.11.3 测试数量：2pcs；

7.11.4测试设备：触摸屏划线试验机；

7.11.5测试前检查项目：电容屏表面外观，功能检查；

7.11.6测试方法：

a. 将水平均涂抹在电容屏表面，再将电容屏固定在划线试验机上；

b. 为设备配备1Kg的砝码，按照划线测试中对行程的规定选择行程；

c. 非边缘区域测试1h，边缘区域测试0.5h，测试期间保持水雾状态；

d. 测试完成后，手动擦干一半屏幕，另一半自然风干，然后进行检验

7.11.7检验标准：

电容屏表面无划伤，功能应正常

7.12 低温运行（电容屏）

7.12.1测试目的：验证样机低温环境下电容屏的工作性能；

7.12.2测试条件：温度：-20℃±2℃；持续时间：16hrs；

7.12.3测试数量：4pcs；

7.12.4测试设备：高低温箱；

7.12.5测试前检查项目：对手机进行全面外观、结构、功能；

a. 功能测试：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，第 45 页共 58 页

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蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数；

b. 结构测试：壳体配合，结构件配合，天线，Lens，显示屏，装饰件以及其它未描述到的结构；

c. 外观检测：喷漆，印刷，电镀等以及未描述到的外观；

7.12.6测试方法

a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4；

b. 测试过程中重点关注电容屏的显示功能，持续16个小时之后在常温下放置1~2小时，然后再次进行外观、结构、功能检查；

c. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算；

d. 对于翻盖手机，应将一半样品闭合为初始状态，一半样品打开到使用状态；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置；

7.12.7检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数指标符合要求；

a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；

b. 结构检查：结构无异常（壳体无变形、配合缝隙无变大；转轴无松动或变紧，无异常手感等）以及其它与测试前状态不一致的现象；

c. 外观检查：样品外观无异常（表面喷漆、电镀无裂纹等）以及其它与测试前状态不一致的现象；

d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；

8、可靠性测试实施计划

8.1研发阶段正式样机出来，测试1次，由测试部提出测试申请并提供测试样机给综合测试部-可靠性实验室，综合测试部-可靠性实验室编制测试计划并执行测试，出具可靠性测试报告；

8.2中试阶段进入量产前，测试1次，由综合测试部-整机测试部提出测试申请并提供测试样机给综合测试部-可靠性实验室，综合测试部-可靠性实验室编制测试计划并执行测试，出具可靠性测试报告；

8.3量产阶段按照质量策划部的《例行试验规范》进行；

8.4当量产阶段有物料替代或设计变更时，由提出部门提出测试申请，并有策划部项目质量工程师确认后，提供测试单体样品或测试样机给综合测试部-可靠性实验室，综合测试部-可靠性实验室排测试计划并执行测试；

8.5 样机需求与周期

8.5.1研发和中试阶段

8.5.1.1总的样机需求和周期

物品名数量

手机

电池

充电器

数据线

耳机

以下是具体的样机分配情况和周期：

8.5.1.2环境试验

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周期

7天

备注

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a. 加速老化试验：，

扭曲试验不做，用8台样机完成以下有序测试，周期为7天；

序号测试项目测试条件数量编号

1 常温性能测试 25℃ 10 1#~8#

低温-40℃（1小时），2 温度冲击高温+80℃（1小时），（8） 1#~8#

循环12次

+/-5kv（接触放电），3 ESD

（8） 1#~8#

+/-10kv（空气放电）6个面1.2m,20mm混4 自由跌落

（8） 1#~8#

凝土板面，每面一次5~20Hz，X，Y，Z三低频振动or冲个轴向各1小时（8） 1#~8#

击

or30g，6ms，X、Y、Z

3个方向各1000次

+40℃，95%RH,48小6 恒温恒湿

（8） 1#~8#

时，常温放置2小时6个面1.2m,20mm混7 自由跌落

（8） 1#~8#

凝土板面，每面一次8 常温性能测试 25℃ （8） 1#~8#

b. 一般气候适应性试验：

用4台样机完成以下有序测试，出现不可恢复的问题的样机即终止后面的测试，其余进入后面的测试，周期为4天；

序号测试项目

9 常温性能测试

10 低温运行

11 高温运行

12 低温储存

13 高温储存

测试条件数量

25℃ （4）

-20℃，开机，4小时(4)

+55℃，开机,4小时 (4)

-40℃，关机 16小时(4)

+70℃，关机，16小(4)

时

5-20Hz ，0.96m2/s3；20-500Hz，-3dB/oct；(4)

X，Y，Z三个轴向各1小时

25℃ (4)

编号

9#~12#

持续时间

2小时

4小时

16小时

持续时间

5小时

24小时

7.5小时

4小时

50小时

7.5小时

5小时

高频震动测试

常温性能测试

9#~12#

3小时

2小时

c. 恶劣气候适应性测试：

包括沙尘和盐雾，分别用2台样机进行测试；

序号测试项目测试条件数量

盐水浓度：5%；，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h的16 盐雾测试

湿热储存周期，共32

个周期，测试完毕后，常温通风的地方放置48小时

2m/s，300目（46μm），17 砂尘测试

8小时

8.5.1.3寿命测试

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编号持续时间

13#14# 120小时

15#16# 8小时

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a. 翻盖/滑盖、耳机插拔、笔插拔、充电器插拔、电池/电池盖拆装、SIM Card拆装、存储卡拆装、摄像头翻转测试共享2台样机，周期为6天；

b. Speaker寿命测试需3台样机，周期为5天；

c. 按键/侧键、振动器寿命测试共享2台样机，周期为6天；

d. 待机时间用2台样机，周期为7天；

e. 开关键寿命、触摸屏点击、触摸屏划线测试共享2台样机，周期为5天；

序号

测试项目

翻盖/滑盖

耳机插拔

笔插拔

测试条件

40次/分，8万次

20次/分钟，1500次30次/分钟，30000次数量

（2）

(2)

（3）

（2）

(2)

（2）

(2)

（2）

编号

17#18#

19#~21#

22#23#

24#25#

26#27#

28#29#

30#31#

32#33#

34#35#

持续时间

36小时

4小时

36小时

10小时

8小时

6小时

36小时

96小时

30小时

96小时

168小时

2小时

72小时

30小时

48小时

120小时

48小时

充电器插拔 20次/分钟，2000次电池/电池盖拆20次/分钟，2000次装

SIM Card拆装 20次/分钟，500次

存储卡拆装

摄像头翻转

speaker寿命

按键/侧键

振动器寿命

待机时间

开机、关机

2000次

触摸屏点击

触摸屏划线

EL背光寿命

测试

LED 指示灯

寿命试验

五向键按键寿

命测试

8.5.1.4机械强度测试

a. 重复跌落与EL背光寿命测试共享2台样机；

20次/分钟，500次

30次/分钟，30000次持续播放mp3 96小时

60次/分，20/5万次持续振动96小时

充满电到自动关机

开机、关机2000次

1次/s，25万次，

250g+/-10%

60mm/s，10万次，

250g+/-10%

持续点亮，48小时

持续点亮，120小时

60次/分，每个方向

5万次

b. 软压、摩擦、酒精摩擦、铅笔硬度、附着力、胶塞拉力和堵头按压共享2台样机；

c. 钢球跌落、抗压、挂绳孔拉力、螺钉扭矩测试与LED 指示灯寿命试验共享2台样机；

d. 滚筒跌落与五向键按键寿命测试共享2台样机；

e. 扭曲测试用2台样机；

序号测试项目测试条件

36 重复跌落 30次/分钟，10000次37 软压 40kg，2000次

38 磨擦 175克，300循环

39 酒精摩擦 500g，200个循环

数量

（2）

(2)

编号

36#37#

38#39#

持续时间

24小时

4小时

6小时

0.5小时

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(2)

（2）

(2)

（2）

38#39#

40#41#

42#43#

44#45#

0.5小时

1小时

0.5小时

2小时

4小时

铅笔硬度

附着力

胶塞拉力测试

堵头按压实验

钢球跌落

抗压

挂绳孔拉力

螺钉扭矩

滚筒跌落

扭曲测试

8.5.1.5其它测试

0.5kg，2H

3M600，垂直拉3次

1.5kgf

2kgf

0.2J（130g，155mm）10Kg，3次

50N，3次

生产扭矩，10次；破环扭矩

10次/分，1000次

2Nm，500次，12次/min

a. 包装振动和包装跌落测试共享一箱手机（数量根据设计时一箱放多少手机量为测试数量）；

b. 电池充放电测试和电池内阻测试需2块电池，持续时间10小时；

序号

测试项目

包装振动

包装跌落

8.6备注

8.6.1研发阶段测试目的是验证设计方案的可行性，为送入网作摸底准备（设计性能指标是否符合国家可靠性标准和法律法规要求）；

8.6.2中试阶段测试目的是验证手机可量产性，为大批量生产作摸底准备；

8.6.3量产阶段测试目的是验证产品的品质稳定性；

8.6.4当设计发生变更需重新作入网认证时，文件中规定的测试项目要重新完整的测试一遍；

8.6.5当设计变更（如材料变更时）手机一部份组件时，可针对变更部分进行相应测试验证；

8.6.6研发测试阶段仅限对样品随机抽样测试，中试和量产阶段测试为批次中随机抽样测试；

8.6.7 申请阶段性（研发、中试、量产）可靠性测试时，委托部门填写《可靠性阶段测试申请单》；申请对策验证、部品认证和摸底可靠性测试时，委托部门填写《可靠性非阶段测试申请单》；

8.6.8 可靠性试验室只对样机进行试验前后的RF参数测试，不作结果的判定，判定合格不合格由申请部门自行判定；

8.7 完整的可靠性测试项目归类

序号测试项目测试条件

低温-40℃（1小时），高温+80℃（11

温度冲击

小时），循环12次

低温运行 -20℃，开机，4小时

高温运行 +55℃，开机,4小时

低温储存 -40℃，关机 16小时

高温储存 +70℃，关机，16小时

6面4角,1.2m高度,20mm厚混凝土，6

自由跌落

每面1次

+40℃，95%RH,48小时，常温放置27

恒温恒湿

小时

检验标准

功能/结构/外观应正常

属性

必测

备注

测试条件

5-20Hz ，0.96m2/s3；20-500Hz，-3dB/oct；X，Y，Z三个轴向各1小时

1M、6面3棱1角/各1次

数量

1箱

持续时间

4小时

2小时

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