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RAID卡测试-LSI9260VSLSI-9270-8I对比分析

IT圈 admin 32浏览 0评论

2024年3月24日发(作者:柏云韶)

密级:机密

LSI9260-8I VS LSI 9271-8I

RAID卡

硬件测试报告

RAID卡测试

<对不不同RAID性能差异>

仅供内部使用

修订记录

日期

2021.7

修订版本

1.0

修改者

邵张益

修改描述

新建

密级:机密

项目名称硬件测试报告(专业试验)

福建国脉圣桥技术

目录

目录 ............................................................................................................................................ 2

1.

测试目的 ............................................................................................................................. 3

2.

测试性质 ............................................................................................................................. 3

3.

测试结果 ............................................................................................................................. 3

4.

测试环境和条件 ................................................................................................................. 3

4.1.

试样〔DUT〕 ....................................................................................................... 3

4.2.

仪器和辅助设备辅助软件 ................................................................................... 3

4.3.

测试人员、时间和地点 ....................................................................................... 4

5.

测试模型及配置 ................................................................................................................. 4

5.1.

实验仪器设备配置 ............................................................................................... 4

6.

比照 ..................................................................................................................................... 4

6.1.

参数比照 ............................................................................................................... 4

6.2.

性能比照 ............................................................................................................... 5

6.2.1.

DD测试 ......................................................................................................... 5

6.2.2.

FIO测试 ........................................................................................................ 6

6.2.3.

Iometer测试 ................................................................................................ 14

福建国脉圣桥技术

第 2 页 共 19 页

未经本公司同意,严禁以任何形式拷贝

2024年3月24日发(作者:柏云韶)

密级:机密

LSI9260-8I VS LSI 9271-8I

RAID卡

硬件测试报告

RAID卡测试

<对不不同RAID性能差异>

仅供内部使用

修订记录

日期

2021.7

修订版本

1.0

修改者

邵张益

修改描述

新建

密级:机密

项目名称硬件测试报告(专业试验)

福建国脉圣桥技术

目录

目录 ............................................................................................................................................ 2

1.

测试目的 ............................................................................................................................. 3

2.

测试性质 ............................................................................................................................. 3

3.

测试结果 ............................................................................................................................. 3

4.

测试环境和条件 ................................................................................................................. 3

4.1.

试样〔DUT〕 ....................................................................................................... 3

4.2.

仪器和辅助设备辅助软件 ................................................................................... 3

4.3.

测试人员、时间和地点 ....................................................................................... 4

5.

测试模型及配置 ................................................................................................................. 4

5.1.

实验仪器设备配置 ............................................................................................... 4

6.

比照 ..................................................................................................................................... 4

6.1.

参数比照 ............................................................................................................... 4

6.2.

性能比照 ............................................................................................................... 5

6.2.1.

DD测试 ......................................................................................................... 5

6.2.2.

FIO测试 ........................................................................................................ 6

6.2.3.

Iometer测试 ................................................................................................ 14

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