2024年3月24日发(作者:揭爵)
.
密级:
LSI9260-8I VS LSI 9271-8I
RAID卡
硬件测试报告
RAID卡测试
<对不不同RAID性能差异>
仅供内部使用
修订记录
日期
2014.7
修订版本
1.0
修改者
邵张益
修改描述
新建
.
.
目录
目录 .................................................................................................................................................. 2
1.
测试目的 .................................................................................................................................. 3
2.
测试性质 .................................................................................................................................. 3
3.
测试结果 .................................................................................................................................. 3
4.
测试环境和条件 ..................................................................................................................... 3
4.1.
4.2.
4.3.
试样(DUT) ...................................................................................................................... 3
仪器和辅助设备辅助软件 ............................................................................................... 3
测试人员、时间和地点 ................................................................................................... 4
5.
测试模型及配置 ..................................................................................................................... 4
5.1.
实验仪器设备配置 ............................................................................................................ 4
6.
对比 .......................................................................................................................................... 4
6.1.
6.2.
参数对比 ............................................................................................................................... 4
性能对比 ............................................................................................................................... 5
6.2.1.
6.2.2.
6.2.3.
DD测试 ........................................................................................................................ 5
FIO测试 ........................................................................................................................ 6
Iometer测试 ............................................................................................................ 15
.
2024年3月24日发(作者:揭爵)
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密级:
LSI9260-8I VS LSI 9271-8I
RAID卡
硬件测试报告
RAID卡测试
<对不不同RAID性能差异>
仅供内部使用
修订记录
日期
2014.7
修订版本
1.0
修改者
邵张益
修改描述
新建
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目录
目录 .................................................................................................................................................. 2
1.
测试目的 .................................................................................................................................. 3
2.
测试性质 .................................................................................................................................. 3
3.
测试结果 .................................................................................................................................. 3
4.
测试环境和条件 ..................................................................................................................... 3
4.1.
4.2.
4.3.
试样(DUT) ...................................................................................................................... 3
仪器和辅助设备辅助软件 ............................................................................................... 3
测试人员、时间和地点 ................................................................................................... 4
5.
测试模型及配置 ..................................................................................................................... 4
5.1.
实验仪器设备配置 ............................................................................................................ 4
6.
对比 .......................................................................................................................................... 4
6.1.
6.2.
参数对比 ............................................................................................................................... 4
性能对比 ............................................................................................................................... 5
6.2.1.
6.2.2.
6.2.3.
DD测试 ........................................................................................................................ 5
FIO测试 ........................................................................................................................ 6
Iometer测试 ............................................................................................................ 15
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