2024年4月1日发(作者：呼延冷雪)
PT、PD、IR、ITR系列機種電性測試規格
TO：郭副理
FM：周宏
目前恆光廠PT、PD、IR、ITR系列機種電性項目如下：
一、PT電性測試規格：
1.光電流Ic (以此光電流分Bin)
2.暗電流Id
3.正向耐壓Bvceo
4.反向耐壓Bveco
5.飽和電壓Vce(sat)
例如：PT204-6B測試規格：
1.性測試規格：
項目
暗電流Id
Ee=0mW/cm2
CC：莊處長
Date：2006/11/28
BvceBvec
飽和電壓
Vce(sat)
測試條件
Vce=5V
產線規格
Max:95nA
PQC規格
Max:98nA
Ic=2mA
Ic=100μAIe=100μA
Ee=0mW/cm2Ee=0mW/cm2
Ee=1mW/cm2
Min:32V
Min:31V
Min:30V
PQC
mA
Min:5.1V
Min:5.05V
Min:5.0V
OQA
Max:0.3V
Max:0.35V
Max:0.4V
OQA規格
Max:100nA
2.光電流規格：
項目
單位
G
H
J
1.57~2.15
2.15~3.00
3.00~4.20
產線規格
測試條件
Ee=1mW/cm2 λp=940nm Vce=5V
1.50~2.20
2.10~3.10
2.94~4.30
4.08~6.27
1.40~2.30
2.00~3.20
2.80~4.50
4.00~6.40K4.20~6.00
二、PD電性測試規格：
1.光電流Ic
2.暗電流Id
3.反向崩潰電壓BVR
4.順向電壓VF
例如：PD204-6B測試規格：
項目光電流Ic暗電流Id
反向崩潰電
順向電壓VF
壓BVR
Ee=1mW/cm2
測試條件
λp=940nm
VR=5V
Ee=0mW/cm2Ic=100μA
IF=20mA
VR=5VEe=0mW/cm2
產線規格
Min:1.5uA
PQC規格
Min:1.3uA
OQA規格
Min:1.0uA
Max:8nA
Max:9nA
Max:10nA
Min:33.0V
Min:32.5V
Min:32.0V
0.70~1.35V
0.68~1.40V
0.63~1.50V
三、IR電性測試規格：
1.成品Power值 (以此Power值做分光)
3.順向電壓VF
4.閘流體*（目前以三點電壓式測試）
例如：IR204-A測試規格：
1.電性規格：
PQCOQA
項目測試條件產線規格
VF1IF=100mA1.25~1.65V1.23~1.70V1.20~1.80V
VF2IF=20mA1.16~1.35V1.14~1.40V1.10~1.50V
VF3IF=10uA0.60~1.10V0.55~1.15V0.45~1.25V
IrVR=5VMax:1uAMax:1uAMax:1uA
值規格：
PQCOQA
項目產線規格
mW/sr
單位
IF=20mA
測試條件
K4.20~6.004.08~6.274.00~6.40
L6.00~8.355.71~8.725.60~8.90
M8.35~11.757.96~12.257.80~12.50
N11.75~16.30
11.22~17.2
11.00~17.60
5
3.目前閘流體測試規格：
V
F
=1.1VV
F
=1.2VV
F
=1.3V
測試條件
測試規格I
F
≧0.82mAI
F
≧5.38mAI
F
≧25mA
3-1.目前恆光可用電流掃描方式測試閘流體機台有3台長裕T650，5台敏捷機台，
Lamp型IR可導入此方式測試閘流體。
3-2.針對side look型IR需開發專用的機台才能以電流掃描方式測試閘流體，由於此
測試機是測試光電流的，廠商需從新設計開發，預計需6個有可完成。
四、ITR系列機種測試規格：
1.成品光電流Ic (部分機種有以Ic做分光)
2.暗電流Id
例如：ITR9606-A測試規格：
項目光電流Ic暗電流Id
測試條件
產線規格
PQC
OQA
Vce=5V
IF=20mA
Vce=5V
IF=0mA
Min:1.0mA
Min:0.8mA
Min:0.5mA
Max:15uA
Max:18uA
Max:20uA
2024年4月1日发(作者：呼延冷雪)
PT、PD、IR、ITR系列機種電性測試規格
TO：郭副理
FM：周宏
目前恆光廠PT、PD、IR、ITR系列機種電性項目如下：
一、PT電性測試規格：
1.光電流Ic (以此光電流分Bin)
2.暗電流Id
3.正向耐壓Bvceo
4.反向耐壓Bveco
5.飽和電壓Vce(sat)
例如：PT204-6B測試規格：
1.性測試規格：
項目
暗電流Id
Ee=0mW/cm2
CC：莊處長
Date：2006/11/28
BvceBvec
飽和電壓
Vce(sat)
測試條件
Vce=5V
產線規格
Max:95nA
PQC規格
Max:98nA
Ic=2mA
Ic=100μAIe=100μA
Ee=0mW/cm2Ee=0mW/cm2
Ee=1mW/cm2
Min:32V
Min:31V
Min:30V
PQC
mA
Min:5.1V
Min:5.05V
Min:5.0V
OQA
Max:0.3V
Max:0.35V
Max:0.4V
OQA規格
Max:100nA
2.光電流規格：
項目
單位
G
H
J
1.57~2.15
2.15~3.00
3.00~4.20
產線規格
測試條件
Ee=1mW/cm2 λp=940nm Vce=5V
1.50~2.20
2.10~3.10
2.94~4.30
4.08~6.27
1.40~2.30
2.00~3.20
2.80~4.50
4.00~6.40K4.20~6.00
二、PD電性測試規格：
1.光電流Ic
2.暗電流Id
3.反向崩潰電壓BVR
4.順向電壓VF
例如：PD204-6B測試規格：
項目光電流Ic暗電流Id
反向崩潰電
順向電壓VF
壓BVR
Ee=1mW/cm2
測試條件
λp=940nm
VR=5V
Ee=0mW/cm2Ic=100μA
IF=20mA
VR=5VEe=0mW/cm2
產線規格
Min:1.5uA
PQC規格
Min:1.3uA
OQA規格
Min:1.0uA
Max:8nA
Max:9nA
Max:10nA
Min:33.0V
Min:32.5V
Min:32.0V
0.70~1.35V
0.68~1.40V
0.63~1.50V
三、IR電性測試規格：
1.成品Power值 (以此Power值做分光)
3.順向電壓VF
4.閘流體*（目前以三點電壓式測試）
例如：IR204-A測試規格：
1.電性規格：
PQCOQA
項目測試條件產線規格
VF1IF=100mA1.25~1.65V1.23~1.70V1.20~1.80V
VF2IF=20mA1.16~1.35V1.14~1.40V1.10~1.50V
VF3IF=10uA0.60~1.10V0.55~1.15V0.45~1.25V
IrVR=5VMax:1uAMax:1uAMax:1uA
值規格：
PQCOQA
項目產線規格
mW/sr
單位
IF=20mA
測試條件
K4.20~6.004.08~6.274.00~6.40
L6.00~8.355.71~8.725.60~8.90
M8.35~11.757.96~12.257.80~12.50
N11.75~16.30
11.22~17.2
11.00~17.60
5
3.目前閘流體測試規格：
V
F
=1.1VV
F
=1.2VV
F
=1.3V
測試條件
測試規格I
F
≧0.82mAI
F
≧5.38mAI
F
≧25mA
3-1.目前恆光可用電流掃描方式測試閘流體機台有3台長裕T650，5台敏捷機台，
Lamp型IR可導入此方式測試閘流體。
3-2.針對side look型IR需開發專用的機台才能以電流掃描方式測試閘流體，由於此
測試機是測試光電流的，廠商需從新設計開發，預計需6個有可完成。
四、ITR系列機種測試規格：
1.成品光電流Ic (部分機種有以Ic做分光)
2.暗電流Id
例如：ITR9606-A測試規格：
項目光電流Ic暗電流Id
測試條件
產線規格
PQC
OQA
Vce=5V
IF=20mA
Vce=5V
IF=0mA
Min:1.0mA
Min:0.8mA
Min:0.5mA
Max:15uA
Max:18uA
Max:20uA