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设备技术性能指标及参数目的用途环境要求等

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2024年5月13日发(作者:况和宜)

(设备技术性能指标及参数、目的、用途、环境要求等)

1. 设备用途

1.1.

可实现氧化硅、氮化硅、非晶硅(n+ a-Si: H和in tri

nsic a-Si:H)等介质薄

膜的化学气相沉积。

1.2.

投标厂家提供多种工艺调试和开发的服务。

2. 设备规格

2.1. 反应腔体:

2.1.1.

2.1.2.

腔体由整块铝锭加工制成、无焊缝、低漏率。

真空窗口,可观察腔体内部状况。

2.2.

上电极:

2.2.1.

2.2.2.

铝制电极。

配备气体喷淋环。

2.3. 下电极:

2.3.1.

2.3.2.

铝制电极。

直径不小于 200mm。

233.可承载6英寸晶圆或4x4 cm玻璃片。

2.34 采用电阻式加热温控装置,晶圆最高温可达

350C。

2.4.

射频电源:

2.4.1.

等)

采用进口射频电源,功率不低于 300W,频率为

13.56MHz,可自动 进行匹配。(国际知名品牌例如:AE、ADTEC

2.5.

反应气体模块:

2.5.1.

2.5.2.

*工艺气体:至少配置 6路。

采用进口质量流量控制器(MFC),精准度<1%。

(国际知名品牌 例如:MKS、Brooks 等)

2.5.3.

2.5.4.

采用美国Swagelok气动截止阀。

采用1/4" SUS316电抛光EP管及VCR接头。

2.6. 真空测量控制系统:

2.6.1.

采用进口真空计,可进行等离子体工艺压力读取与

控制。 (国际知名 品牌例如:Edwards Inficon、MKS等)

2.7. 反应腔体抽真空系统:

2.7.1.

*采用进口干泵。(国际知名品牌例如:Alcatel、

HanBel、Edwards等)

2.72 6min内,反应腔体可从大气抽真空至 5E-2 Tor。

2.7.3.

配备自动压力控制装置 (APC)。

2.8. 自动控制系统:

2.8.1.

全自动智能化控制软件,并可切换为手动控制,可

一键控制真空泵 抽气及排气以及所有挡板及阀门。

3. 工艺要求

2沉积工艺:

3.1.1.

3.1.2.

* 沉积速率:》40 nm/min

*片内厚度均匀性:w

± 3% (6英寸)

3.1.3.

± 3%

*片间厚度重复性:w

3.1.4.

3.1.5.

3.1.6.

折射率: 1.45±0.05

薄膜应力:w 300 MPa

BHF刻蚀速率:w 300 nm/min (+25oC, 10:1)

3N4沉积工艺:

3.2.1.

3.2.2.

* 沉积速率:》30 nm/min

*片内厚度均匀性:w

± 5% (6英寸)

3.2.3.

3.2.4.

3.2.5.

3.2.6.

*片间厚度重复性: w ± 3%

折射率: 1.95±0.05

薄膜应力:w 300 MPa

BHF刻蚀速率:w 100 nm/min (+25oC, 10:1)

3.3.

intrinsic a-Si:HK积工艺:

3.3.1.

± 5% (6英寸)

*片内厚度均匀性:w

4. 用户培训

4.1.

交机安装完成后将免费提供设备操作的训练课程,训

练课程包含介绍

系统特色、系统架构与说明、系统联机与保养及实际操作训

练。

42提供中文和英文标准作业流程(SOP纸本各两份与电子

文件

4.3.

提供简易工具箱,以方便未来设备维修使用。

5. 交货日期

合同签订后 4 个月可以完成交货 。

2024年5月13日发(作者:况和宜)

(设备技术性能指标及参数、目的、用途、环境要求等)

1. 设备用途

1.1.

可实现氧化硅、氮化硅、非晶硅(n+ a-Si: H和in tri

nsic a-Si:H)等介质薄

膜的化学气相沉积。

1.2.

投标厂家提供多种工艺调试和开发的服务。

2. 设备规格

2.1. 反应腔体:

2.1.1.

2.1.2.

腔体由整块铝锭加工制成、无焊缝、低漏率。

真空窗口,可观察腔体内部状况。

2.2.

上电极:

2.2.1.

2.2.2.

铝制电极。

配备气体喷淋环。

2.3. 下电极:

2.3.1.

2.3.2.

铝制电极。

直径不小于 200mm。

233.可承载6英寸晶圆或4x4 cm玻璃片。

2.34 采用电阻式加热温控装置,晶圆最高温可达

350C。

2.4.

射频电源:

2.4.1.

等)

采用进口射频电源,功率不低于 300W,频率为

13.56MHz,可自动 进行匹配。(国际知名品牌例如:AE、ADTEC

2.5.

反应气体模块:

2.5.1.

2.5.2.

*工艺气体:至少配置 6路。

采用进口质量流量控制器(MFC),精准度<1%。

(国际知名品牌 例如:MKS、Brooks 等)

2.5.3.

2.5.4.

采用美国Swagelok气动截止阀。

采用1/4" SUS316电抛光EP管及VCR接头。

2.6. 真空测量控制系统:

2.6.1.

采用进口真空计,可进行等离子体工艺压力读取与

控制。 (国际知名 品牌例如:Edwards Inficon、MKS等)

2.7. 反应腔体抽真空系统:

2.7.1.

*采用进口干泵。(国际知名品牌例如:Alcatel、

HanBel、Edwards等)

2.72 6min内,反应腔体可从大气抽真空至 5E-2 Tor。

2.7.3.

配备自动压力控制装置 (APC)。

2.8. 自动控制系统:

2.8.1.

全自动智能化控制软件,并可切换为手动控制,可

一键控制真空泵 抽气及排气以及所有挡板及阀门。

3. 工艺要求

2沉积工艺:

3.1.1.

3.1.2.

* 沉积速率:》40 nm/min

*片内厚度均匀性:w

± 3% (6英寸)

3.1.3.

± 3%

*片间厚度重复性:w

3.1.4.

3.1.5.

3.1.6.

折射率: 1.45±0.05

薄膜应力:w 300 MPa

BHF刻蚀速率:w 300 nm/min (+25oC, 10:1)

3N4沉积工艺:

3.2.1.

3.2.2.

* 沉积速率:》30 nm/min

*片内厚度均匀性:w

± 5% (6英寸)

3.2.3.

3.2.4.

3.2.5.

3.2.6.

*片间厚度重复性: w ± 3%

折射率: 1.95±0.05

薄膜应力:w 300 MPa

BHF刻蚀速率:w 100 nm/min (+25oC, 10:1)

3.3.

intrinsic a-Si:HK积工艺:

3.3.1.

± 5% (6英寸)

*片内厚度均匀性:w

4. 用户培训

4.1.

交机安装完成后将免费提供设备操作的训练课程,训

练课程包含介绍

系统特色、系统架构与说明、系统联机与保养及实际操作训

练。

42提供中文和英文标准作业流程(SOP纸本各两份与电子

文件

4.3.

提供简易工具箱,以方便未来设备维修使用。

5. 交货日期

合同签订后 4 个月可以完成交货 。

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