2024年5月15日发(作者:冉白玉)
了模块内部各层单元的热阻分布,使得模块结构更加
有利于散热。同时,通过有限元方法建立了功率模块
3D有限元模型,得到了模块封装内部各结构的温度场
分布形式,并得出模块内部各热阻分布以及模块的动
态热阻抗响应。通过比较理论计算结果可知,仿真分析
对提高功率模块的热学管理,优化模块各层单元结构
的热阻,改善模块散热结构,具有一定的指导意义。
1 热学分析
1.1 模块结构
本文研究对象为南车研发中心研制出的牵引级
1 500 A/3 300 V IGBT模块,每个模块包含6个衬板单元,
每个衬板单元又包含4个IGBT和2个反并联二极管。模
块结构主要由7层不同的材料成分组成,包括6个不同
接触界面,如图1(a)所示。
从功率模块内部结构可以看出,在模块T作过程
中IGBT芯片是产生热量的热源,热流从芯片开始,逐
一
竖直地流经焊层、DBC衬板、焊层、基板,最终通过散
热器与外界发生热交换,如 1(b)所示。因此,在模块
工作过程中,为了避免产生局部过热现象,需要研究模
块内部各相邻单元之间的热量传递情况,以及模块稳
态热阻抗的分布,如果热阻分布不均,将会导致模块内
部产生较大的温度梯度,从而影响最终的可靠性、
热源 芯片
焊层1
DBCl
衬板
DBC2
焊层2
基板
(a)结构,J 意图 (b)内部散热模式
冈1 1 500 A/3 300 V IGBT模块的结构示意图
及内部散热模式
1.2热阻模型
对于功率电子模块来说,模块的结一壳热阻最能
反映出模块的热学特性,是一个评价器件性能及进行
应用计算方面的一个重要参数。根据稳态时的结一壳
热阻可以对模块1二作稳定后芯片的结温进行预测,确
保芯片温度不超过额定温度。一般来说,热阻尺 是导
热介质两端的温度差与通过热流功率的比值,单位为
 ̄C/W或K/W¨引。热阻越小,表示芯片中的热量向外界
传导得越快,模块的热性能越好。热阻的大小一般与
材料的物理属性、芯片厚度、散热面积等参数有关,与
电路中电阻的表达形式类似,表示为
p一
1 d
一
式中:y为材料的热导率;d为芯片的厚度;A为热流流
过的面积,且A=l×W,z、W分别为芯片的长度和宽度。
另外,在模块封装中最关心的是IGBT芯片的结温
。
IGBT芯片的结温主要由器件的环境温度、器件PN
结到周围环境的热阻所决定。若在模块热阻已知的情
况下,功率半导体模块的结温则可表示为¨
.
h
P+ ;或R h=—上 (2)
厂
式中: 为模块外壳所处的环境温度;P为芯片所消耗
的功率。
式(2)表明热阻越小,在同样大小的耗散功率P
情况下,芯片结温升温越小;或者说在达到同样/一Z4 ̄ e/[ t
的条件下,能够消耗的功率更大,功率模块性能也就
越好¨ 。为了从根本 解决热量耗散的问题,关键在
于得到器件内部温度场的分布,以指导器件的热设计。
以1 500 A/3 300 V大功率模块为例,分别存在7层热阻,
从最上层的 芑:片开始:芯片热阻、J二层焊接层1热阻、
}:层DBCI热阻、衬板热阻、下层DBC2热阻、下 焊接
层2热阻、基板热阻,其表达武分别为
。
l
“【h.si— y
s. s。Ⅵ
(3)
札s
 ̄/SA ISAWSA (4)
R Bc= L f 5)
YDB(:/DBC WDB
Rf h lN= (6)
yAN/ANWAN
D
1 (、
“th
.
SC一一7 _ 一
ls(、 (
(7)
so
~
式中: 为材料的热导牢;z、W、d为各单元结构的长度、
宽度和厚度。下引脚Si、SA、DBC、AN、SC分别代表r
芯片(Si)、焊层(SnAg合金)、DBC(Direct bond copper)、
陶瓷衬板(A1N)、散热基板(A1SiC),下同
以上对模块热阻的分析是基f传统的热阻计算 ‘
法,仅仅考虑了模块内部各单 的热阻值,忽略了各
单元之间的热耦合效应¨引。为了考虑模块内部各热阻
之间的相互关联性,并简化各单元的几何尺寸非线性
效应,采用了一种热节点模型,如 2所示。该模型采
用等效方法把模块内部各层结构分别等效成一个节
点,这样可以简化整个模块的结构,以减少模块『大J部
热场分布的几何非线性效应。
Rm s
l
尺th sA1
mDB(=:l
R AN
mDBc2
Rth sA2
Rth sc
口『w
同2 IGBT功牢模块的热节点模,
假设热源来自芯片内部,根据节点网络模 ,埘功
第1期 刘国友,吴义伯,徐凝华,窦泽春:牵引级l 500 A/3 300 V IGBT功率模块的热学设计与仿真
率模块内部各单元的热阻进行二阶热网络模型处理¨ ,
1
一
dsA2
+
l 4 c (13)
可得到优化后的热阻分布,如图3所示,且可以得到模
块内部各单元之问的等效热阻表达式:
Rs sAl RsAl,DBc1 RDBcl,^N ^N,DBc2 RDBc2,sA2 RsA2mP RBP
去焘+ 1 dsA I
R s…ct: 1 dSAI
+
(8)
P
1 d DBC I
(9)
图3 IGBT模块的热阻等效电路模型
1 d AN R。 w 1 d DBC I
+
(1。)
d DBC 2
1.3热阻分布
1
巾 =
d AN
+
l
对于图1所示的1 500 A/3 300 V IGBT功率模块而言,
(11) y
AN z AN1 N DBc2 Z DBc2Ⅵ Bc
其内部各单元的几何尺寸及相应的材料属性如表1所
示I 。然后把式(8)~式(1 3)中一系列公式导人到
EXCEL,利用SOLVER_T.具可以计算出基于热节点等效
电路模型的模块内部各热阻分布,如表2所示。
[
…s ‘
d DBC 2
+瓦1 dSA2
sA2 sA21 A2
(12)
DBc2 z DBc2 ¨ DBc2
表1 1 500 A/3 300 V I GBT模块的典型几何尺寸及其材料属性
46_3%,焊层1与DBC铜之间的热阻次之,约占33.1%,其
参数I芯片l焊层1『DBC1 I衬板I DBC2 l焊层2 I 基板
余各层热阻分别在3%~7%之间,其各单元热阻分布如
图4所示。这主要是因为在散热通道中,芯片的有效散
I! :!J : I : l : l : l : J .:!:
e
lJ 23.5 I l6.82 芈Cl 1.47 l1-38 I 1-33 1 3.69 I 2.59
热面积约为衬板面积的1/15,导致芯片热阻在总热阻
中所占比重较大。
2仿真分析
2.1 仿真模型
本节主要利用有限元分析方法对IGBT功率模块的
内部传热进行仿真分析。为了突出重点并节约计算机
资源,减少计算时问,将实际模块的1/4作为热分析对
象,建立了稳态传热模型,如图5所示。
在仿真分析过程中,对所建IGBT的有限元模型做
出如下假设:①稳态开通工作过程中,由于二极管的
发热量相对于IGBT而言很小,因此忽略不计。②由于
铝丝的直径很小,只有0.3 mm左右,因此认为IGBT产生
的热量不沿铝丝传导,而完全由其下方的焊层导出,
罔4 IGBT模块中各单儿热阻的分布
因此将铝丝省略。③认为焊层中不存在任何空洞、缺
陷,所有的焊层都是均匀的 。一般认为,由于IGBT产
生的热量主要集中在芯片表面(发射极、栅极所在的
表面)68%的区域,认为该加热面上热流密度均匀分
图4给出了IGBT模块内部不同单元之间的热阻分
布情况。可以看出,模块的热阻优化前分散性较大,容
易导致模块各层结构散热不均。而经过热节点等效电
路模型处理后,模块内部各层热阻分布较为均匀,热
阻落差相对较小,而且在整个模块热阻的组成中,芯
片到焊层1之间的热阻所占比重最大,大约为总热阻的
布,每个IGBT芯片功耗约为250 W。因此,在该加热面
上施加均匀的热流密度3.6 W/mm。,在基板下表面加载
9 000 W/m ・K的等效对流换热系数。
机 车 电 传 动 201 3年
信网络的研究和优化非常重要。MVB总线通信网络动
态性能的研究将为如何设计高可靠性、强实时性的
MVB网络打下基础。本文以协议效率、网络效率、网络
有效利用率、吞吐量为指标,研究了MVB总线网络动
态性能的评估方法,并通过改变通信介质和网络负载,
分析了各动态性能指标的变化特点,最后提出了优化
动态性能的方法,以期为1二程技术人员提供参考和理
论依据。
同时,该研究T作还有许多值得扩展和完善的地
5 设备数与刚络利用军、吞吐量的关系
方。比如,在设计上如何合理安排过程数据轮询次序,
如何分配过程数据和消息数据的带宽,以提高MVB总
线网络的网络动态性能。这些都是有待研究和探讨的
内容。
参考文献:
[I]张冗林.列车控制网络技术的现状 发展趋势[J 1.电力机
车0城轨车辆,2006,29(4):卜4.
从图5可见,MVB总线网络的网络利用率和吞吐量
随着设备数的增加而增大,当总线上的设备数增加到
一
定的程度,网络利用率和吞吐量的增加明显变慢。
这是由于网络周期相带宽有限,当过程数据负载增加
到一定程度,周期相会饱和直至数据溢出。
MVB数据通信是一个复杂的过程,对MVB总线通
信网络的优化,可以根据网络负载的大小,适当地调
整周期相在基本周期所占的比例
…
【2]现场总线网络性能指标与评f^方法|J].低 电器:2009
f3):35—38.
,或改变宏周期
的大小,来使过程数据带宽更适应过程数据负载
1 3 J IEC 6 1 375—1,Electric railway equipment—Train bus—Part 1:Train
communication network【S 1 Geneva,Switzerland:IEC,2007
l 4]Pierre Dersin.Comparison of high—availability automation
的大小,从而提高数据的网络利用率和吞吐量,以达
到优化网络性能的目的。
networks,Alstom Transport Information Solutions[J l Software
Engineering Journal,2011(3):121—127.
4结语
随着列车通信网络技术的日益普及,MVB总线通
[5]阳宪惠.现场总线技术及其应用[M].北京:清华大学出
版社.1999.
(上接第4页)
[1 0]陈 明,胡 安,唐 勇,汪 波.绝缘栅双极型晶体管传
note,2008.
1 l 5 j U Drofenik,D Cottet,A Miising,J Meyer,et a1.Modelling the
Thermal Coupling between Internal Power Semiconductor Dies
热模型建模分析[J].高电 技术,201 1,37(2):453—459.
[1 1]张
[1 2]疗
健,吕长忠,张小玲,谢雪松,黄月强.基于ANSYS的
杰,常桂钦,彭劳殿,李继鲁,唐龙谷. 基于ANSYS的
IGBT热模拟Lj分析[J].微电子学,201l,41(1):1 39一l42.
大功率IGBT模块传热性能分析[J j.大功率变流技术,20 1 2
f21:20—24.
of a Water.Cooled 3300V/l200A HiPak IGBT Module C l
PCIM.2007.
I16【C Zweben.Thermal Materials Solve Power Electronics Chal—
lengesI J l Power Electronics Technology,2006(2):40—47.
[17]B Du,J L Hudgins,E Santi,et a1.Transient Electrothermal
Simulation of Power Semiconductor Devices【J l IEEE Transactions
on Power Electronics.20lO,25f1):237—248.
【13 j Freescale.Thermal Analysis for Semiconductor l M l Tech—
nology note,2007.
[14]Infineon.Thermal equivalent circuit models l M Technology
38—
2024年5月15日发(作者:冉白玉)
了模块内部各层单元的热阻分布,使得模块结构更加
有利于散热。同时,通过有限元方法建立了功率模块
3D有限元模型,得到了模块封装内部各结构的温度场
分布形式,并得出模块内部各热阻分布以及模块的动
态热阻抗响应。通过比较理论计算结果可知,仿真分析
对提高功率模块的热学管理,优化模块各层单元结构
的热阻,改善模块散热结构,具有一定的指导意义。
1 热学分析
1.1 模块结构
本文研究对象为南车研发中心研制出的牵引级
1 500 A/3 300 V IGBT模块,每个模块包含6个衬板单元,
每个衬板单元又包含4个IGBT和2个反并联二极管。模
块结构主要由7层不同的材料成分组成,包括6个不同
接触界面,如图1(a)所示。
从功率模块内部结构可以看出,在模块T作过程
中IGBT芯片是产生热量的热源,热流从芯片开始,逐
一
竖直地流经焊层、DBC衬板、焊层、基板,最终通过散
热器与外界发生热交换,如 1(b)所示。因此,在模块
工作过程中,为了避免产生局部过热现象,需要研究模
块内部各相邻单元之间的热量传递情况,以及模块稳
态热阻抗的分布,如果热阻分布不均,将会导致模块内
部产生较大的温度梯度,从而影响最终的可靠性、
热源 芯片
焊层1
DBCl
衬板
DBC2
焊层2
基板
(a)结构,J 意图 (b)内部散热模式
冈1 1 500 A/3 300 V IGBT模块的结构示意图
及内部散热模式
1.2热阻模型
对于功率电子模块来说,模块的结一壳热阻最能
反映出模块的热学特性,是一个评价器件性能及进行
应用计算方面的一个重要参数。根据稳态时的结一壳
热阻可以对模块1二作稳定后芯片的结温进行预测,确
保芯片温度不超过额定温度。一般来说,热阻尺 是导
热介质两端的温度差与通过热流功率的比值,单位为
 ̄C/W或K/W¨引。热阻越小,表示芯片中的热量向外界
传导得越快,模块的热性能越好。热阻的大小一般与
材料的物理属性、芯片厚度、散热面积等参数有关,与
电路中电阻的表达形式类似,表示为
p一
1 d
一
式中:y为材料的热导率;d为芯片的厚度;A为热流流
过的面积,且A=l×W,z、W分别为芯片的长度和宽度。
另外,在模块封装中最关心的是IGBT芯片的结温
。
IGBT芯片的结温主要由器件的环境温度、器件PN
结到周围环境的热阻所决定。若在模块热阻已知的情
况下,功率半导体模块的结温则可表示为¨
.
h
P+ ;或R h=—上 (2)
厂
式中: 为模块外壳所处的环境温度;P为芯片所消耗
的功率。
式(2)表明热阻越小,在同样大小的耗散功率P
情况下,芯片结温升温越小;或者说在达到同样/一Z4 ̄ e/[ t
的条件下,能够消耗的功率更大,功率模块性能也就
越好¨ 。为了从根本 解决热量耗散的问题,关键在
于得到器件内部温度场的分布,以指导器件的热设计。
以1 500 A/3 300 V大功率模块为例,分别存在7层热阻,
从最上层的 芑:片开始:芯片热阻、J二层焊接层1热阻、
}:层DBCI热阻、衬板热阻、下层DBC2热阻、下 焊接
层2热阻、基板热阻,其表达武分别为
。
l
“【h.si— y
s. s。Ⅵ
(3)
札s
 ̄/SA ISAWSA (4)
R Bc= L f 5)
YDB(:/DBC WDB
Rf h lN= (6)
yAN/ANWAN
D
1 (、
“th
.
SC一一7 _ 一
ls(、 (
(7)
so
~
式中: 为材料的热导牢;z、W、d为各单元结构的长度、
宽度和厚度。下引脚Si、SA、DBC、AN、SC分别代表r
芯片(Si)、焊层(SnAg合金)、DBC(Direct bond copper)、
陶瓷衬板(A1N)、散热基板(A1SiC),下同
以上对模块热阻的分析是基f传统的热阻计算 ‘
法,仅仅考虑了模块内部各单 的热阻值,忽略了各
单元之间的热耦合效应¨引。为了考虑模块内部各热阻
之间的相互关联性,并简化各单元的几何尺寸非线性
效应,采用了一种热节点模型,如 2所示。该模型采
用等效方法把模块内部各层结构分别等效成一个节
点,这样可以简化整个模块的结构,以减少模块『大J部
热场分布的几何非线性效应。
Rm s
l
尺th sA1
mDB(=:l
R AN
mDBc2
Rth sA2
Rth sc
口『w
同2 IGBT功牢模块的热节点模,
假设热源来自芯片内部,根据节点网络模 ,埘功
第1期 刘国友,吴义伯,徐凝华,窦泽春:牵引级l 500 A/3 300 V IGBT功率模块的热学设计与仿真
率模块内部各单元的热阻进行二阶热网络模型处理¨ ,
1
一
dsA2
+
l 4 c (13)
可得到优化后的热阻分布,如图3所示,且可以得到模
块内部各单元之问的等效热阻表达式:
Rs sAl RsAl,DBc1 RDBcl,^N ^N,DBc2 RDBc2,sA2 RsA2mP RBP
去焘+ 1 dsA I
R s…ct: 1 dSAI
+
(8)
P
1 d DBC I
(9)
图3 IGBT模块的热阻等效电路模型
1 d AN R。 w 1 d DBC I
+
(1。)
d DBC 2
1.3热阻分布
1
巾 =
d AN
+
l
对于图1所示的1 500 A/3 300 V IGBT功率模块而言,
(11) y
AN z AN1 N DBc2 Z DBc2Ⅵ Bc
其内部各单元的几何尺寸及相应的材料属性如表1所
示I 。然后把式(8)~式(1 3)中一系列公式导人到
EXCEL,利用SOLVER_T.具可以计算出基于热节点等效
电路模型的模块内部各热阻分布,如表2所示。
[
…s ‘
d DBC 2
+瓦1 dSA2
sA2 sA21 A2
(12)
DBc2 z DBc2 ¨ DBc2
表1 1 500 A/3 300 V I GBT模块的典型几何尺寸及其材料属性
46_3%,焊层1与DBC铜之间的热阻次之,约占33.1%,其
参数I芯片l焊层1『DBC1 I衬板I DBC2 l焊层2 I 基板
余各层热阻分别在3%~7%之间,其各单元热阻分布如
图4所示。这主要是因为在散热通道中,芯片的有效散
I! :!J : I : l : l : l : J .:!:
e
lJ 23.5 I l6.82 芈Cl 1.47 l1-38 I 1-33 1 3.69 I 2.59
热面积约为衬板面积的1/15,导致芯片热阻在总热阻
中所占比重较大。
2仿真分析
2.1 仿真模型
本节主要利用有限元分析方法对IGBT功率模块的
内部传热进行仿真分析。为了突出重点并节约计算机
资源,减少计算时问,将实际模块的1/4作为热分析对
象,建立了稳态传热模型,如图5所示。
在仿真分析过程中,对所建IGBT的有限元模型做
出如下假设:①稳态开通工作过程中,由于二极管的
发热量相对于IGBT而言很小,因此忽略不计。②由于
铝丝的直径很小,只有0.3 mm左右,因此认为IGBT产生
的热量不沿铝丝传导,而完全由其下方的焊层导出,
罔4 IGBT模块中各单儿热阻的分布
因此将铝丝省略。③认为焊层中不存在任何空洞、缺
陷,所有的焊层都是均匀的 。一般认为,由于IGBT产
生的热量主要集中在芯片表面(发射极、栅极所在的
表面)68%的区域,认为该加热面上热流密度均匀分
图4给出了IGBT模块内部不同单元之间的热阻分
布情况。可以看出,模块的热阻优化前分散性较大,容
易导致模块各层结构散热不均。而经过热节点等效电
路模型处理后,模块内部各层热阻分布较为均匀,热
阻落差相对较小,而且在整个模块热阻的组成中,芯
片到焊层1之间的热阻所占比重最大,大约为总热阻的
布,每个IGBT芯片功耗约为250 W。因此,在该加热面
上施加均匀的热流密度3.6 W/mm。,在基板下表面加载
9 000 W/m ・K的等效对流换热系数。
机 车 电 传 动 201 3年
信网络的研究和优化非常重要。MVB总线通信网络动
态性能的研究将为如何设计高可靠性、强实时性的
MVB网络打下基础。本文以协议效率、网络效率、网络
有效利用率、吞吐量为指标,研究了MVB总线网络动
态性能的评估方法,并通过改变通信介质和网络负载,
分析了各动态性能指标的变化特点,最后提出了优化
动态性能的方法,以期为1二程技术人员提供参考和理
论依据。
同时,该研究T作还有许多值得扩展和完善的地
5 设备数与刚络利用军、吞吐量的关系
方。比如,在设计上如何合理安排过程数据轮询次序,
如何分配过程数据和消息数据的带宽,以提高MVB总
线网络的网络动态性能。这些都是有待研究和探讨的
内容。
参考文献:
[I]张冗林.列车控制网络技术的现状 发展趋势[J 1.电力机
车0城轨车辆,2006,29(4):卜4.
从图5可见,MVB总线网络的网络利用率和吞吐量
随着设备数的增加而增大,当总线上的设备数增加到
一
定的程度,网络利用率和吞吐量的增加明显变慢。
这是由于网络周期相带宽有限,当过程数据负载增加
到一定程度,周期相会饱和直至数据溢出。
MVB数据通信是一个复杂的过程,对MVB总线通
信网络的优化,可以根据网络负载的大小,适当地调
整周期相在基本周期所占的比例
…
【2]现场总线网络性能指标与评f^方法|J].低 电器:2009
f3):35—38.
,或改变宏周期
的大小,来使过程数据带宽更适应过程数据负载
1 3 J IEC 6 1 375—1,Electric railway equipment—Train bus—Part 1:Train
communication network【S 1 Geneva,Switzerland:IEC,2007
l 4]Pierre Dersin.Comparison of high—availability automation
的大小,从而提高数据的网络利用率和吞吐量,以达
到优化网络性能的目的。
networks,Alstom Transport Information Solutions[J l Software
Engineering Journal,2011(3):121—127.
4结语
随着列车通信网络技术的日益普及,MVB总线通
[5]阳宪惠.现场总线技术及其应用[M].北京:清华大学出
版社.1999.
(上接第4页)
[1 0]陈 明,胡 安,唐 勇,汪 波.绝缘栅双极型晶体管传
note,2008.
1 l 5 j U Drofenik,D Cottet,A Miising,J Meyer,et a1.Modelling the
Thermal Coupling between Internal Power Semiconductor Dies
热模型建模分析[J].高电 技术,201 1,37(2):453—459.
[1 1]张
[1 2]疗
健,吕长忠,张小玲,谢雪松,黄月强.基于ANSYS的
杰,常桂钦,彭劳殿,李继鲁,唐龙谷. 基于ANSYS的
IGBT热模拟Lj分析[J].微电子学,201l,41(1):1 39一l42.
大功率IGBT模块传热性能分析[J j.大功率变流技术,20 1 2
f21:20—24.
of a Water.Cooled 3300V/l200A HiPak IGBT Module C l
PCIM.2007.
I16【C Zweben.Thermal Materials Solve Power Electronics Chal—
lengesI J l Power Electronics Technology,2006(2):40—47.
[17]B Du,J L Hudgins,E Santi,et a1.Transient Electrothermal
Simulation of Power Semiconductor Devices【J l IEEE Transactions
on Power Electronics.20lO,25f1):237—248.
【13 j Freescale.Thermal Analysis for Semiconductor l M l Tech—
nology note,2007.
[14]Infineon.Thermal equivalent circuit models l M Technology
38—