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Z值、CP、PP、CPK、PPK、CR、PR

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2024年5月25日发(作者:布安露)

序号 符号 代表的意思

公差范围

T

2

标准差 的个

数,反映了质量控制 水平,

水平

的不合格率达到

公式

z =

T

2cr

备注

Z口控制方式中提到

⑵标准正态分布表中有时也指随机 变

1

Z

一般认为

T

CT

3.4DPMO

2

3

技术公差范围(幅度)

T =Tu

-T

L

R

CJ =

T

u

规格上限;

T

L

规格下限

T

u

USL

T

L

LSL

常加下标表示各种标准差 标准差

d

2

DPO

是缺陷数占缺陷机会的比 率,

4 DPMO

百万个机会中缺陷数

/

ppm或PPM

指百万分率或百 万分之

几,属于我国的术语,目前 少用了。

5

6

7

8

9

10

11

R

d

2

样本极差

系数

无偏稳态过程能力指数

有偏稳态过程能力指数

R = d

2

CT

在样本子组内

R = Max - Min

随样本数

n

而变化的系数,有表可 查

/

T

C

P

=

Q

C

PK

= (1 — k

)C

P

C

P

C

PK

K

z

过程能力指数越高,合格率越高

过程能力指数越高,合格率越高

偏移系数

T 2

z

k =,

反映偏移规格中心的程度

偏移量

规格中心

z =

M -x

反映偏移规格中心的大小

过程有偏时

M

x

有的资料

P

p

=

Tu

T

L

, s为样

M

M

2

_ T

u

—T

L

P

P

-

6cf

s

12 P

P

无偏过程性能指数

6s

本标准差,S=J 瓦

X

i

— X

Y n _ 1

iT

/ = =

13

P

pk

有偏过程性能指数

P

pk

Min

T

u

- X X -T

L

.旳

s

'旳

S /

一般很少用

14 C

R

无偏过程能力比值

亠 6。 1

C

R

- -

T

u

-T

L

C

P

6貯

s

S

P

R

T

u

-T

L

15

P

R

无偏过程性能比值 一般很少用

说明如下:

⑴.Z表示半公差范围内

6

的个数,及半公差范围内有几个(Z)

6

反映了过程能力和质量水平的高

6

6

这里 低,在六西格玛中 Z被称为六西格玛水平值,我们经常说我们的质量水平已经达到了

的6就是通常的Z值,我们可以通过 Z值计算出此时的能力指数及合格率,计算如下:

C

P

K

T

6

12c =2 ,

一般假设波动造成的偏移

6

=1

5-

,所以此时有:

2

3

1

4

丿

T 2 T 12-

无偏时合格率

P

合格率=6 Lu -

I J I

▽丿

H

=1 一 K C

P

= 1 -0.25 2 二 1.5

P

合格率

」Z [①〔Z =2

::

」Z

=2

6 -1 =0.999999999013412 2

P

合格率

=0.999999998026824 =99.9999998026824%

P

不合格率

=1 一 2

::

」Z 2处[Z 1=1 - P

合格率

-0.176

P

不合格率

=0.001973176DPMO

有偏时合格率

F

合格率

=

L

L

-

1

L

5 一停

i

!

丿 丿 丿

P

合格率

'Z -1.5[亠尬2 1.5 一1 4.5]亠①〔7.5 -1 = 99.99966%

P

不合格率

=1 一 P

合格率

=1 一 99.99966% = 0.0000034 = 3.4DPMO

此还时

C

P

T T Z

,所以

Z

=

3C

P

(这个公式有点用)

6^ 3

2

3

这就是我们经常说的 6匚水平下,百万个中仅有 3.4个缺陷(不良)的原由。

⑵.CP(P为下标)即

C

p

,即过程无偏稳态受控下(处于统计控制状态)的过程能力指数,可以反

映过程的能力的高低,一般有如下准则:

C

p

1.67

此时

T 10=不合格率p 0.00006%,能力过剩;

1.33 C

P

1.67

此时

8-

T 10二,不合格率 0.00006% p 0.006%,能力充分;

1 C

P

1.33,此时

6-

T 8;「,不合格率0.006% p 0.27%,能力尚可;

0.67 C

P

1,此时4匚T

6-

,不合格率0.27% p 4.55%,能力不足;

C

P

0.67,此时T

4-

,不合格率p 4.55%,能力严重不足。

⑶.PC,指过程能力,是指过程处于统计控制状态下的实际加工能力,

一般用标准偏差 二的6倍表示过程能力的大小。

过程能力是过程的固有特性,

二通常由

R d

2

计算得来,所以记为-。

⑷.PP,过程性能,是指过程长期运行中的实际加工能力,此时不考虑过程是否受控,因此过程 性能也被称为

“长期过程能力”。过程性能是过程总变差

C

的6倍,即

PP=6

二,匚通常用长期时间范围内的样本计算出来的样本标准差 s来估计,记为

s

之所以在研究过程能力的同时,还要研究过程性能,是因为很多波动原因在短期观察中可能不 会出现,而长

期观察中收集的数据可能含有各种波动源,找到这些波动源对提高产品质量大有

好处。如果过程长期稳定,可以不进行过程性能研究。过程能力对应于过程能力指数

C

P

,过程

性能对应过程性能指数

Pp

,下标加k时表示有偏时的计算公式。

P

合格率

P

合格率

P

合格率

P

- 3C

P

3KC

P

合格率

31 -K Cp 1-31 • K Cp

p

不合格率

=1

J

>31—KC

CT

P

P

不合格率二

I-3 1

K C

P

I r

' I- 3 V K C

P

]

以上公式中此还时

C

P

二工

T Z

,所以

Z = 3C

P

3^2^ 3

31 K C

P

I

z

K

T 2 T

KT 6KC』

一,所以;二—

2

—=3KC

P

2

2024年5月25日发(作者:布安露)

序号 符号 代表的意思

公差范围

T

2

标准差 的个

数,反映了质量控制 水平,

水平

的不合格率达到

公式

z =

T

2cr

备注

Z口控制方式中提到

⑵标准正态分布表中有时也指随机 变

1

Z

一般认为

T

CT

3.4DPMO

2

3

技术公差范围(幅度)

T =Tu

-T

L

R

CJ =

T

u

规格上限;

T

L

规格下限

T

u

USL

T

L

LSL

常加下标表示各种标准差 标准差

d

2

DPO

是缺陷数占缺陷机会的比 率,

4 DPMO

百万个机会中缺陷数

/

ppm或PPM

指百万分率或百 万分之

几,属于我国的术语,目前 少用了。

5

6

7

8

9

10

11

R

d

2

样本极差

系数

无偏稳态过程能力指数

有偏稳态过程能力指数

R = d

2

CT

在样本子组内

R = Max - Min

随样本数

n

而变化的系数,有表可 查

/

T

C

P

=

Q

C

PK

= (1 — k

)C

P

C

P

C

PK

K

z

过程能力指数越高,合格率越高

过程能力指数越高,合格率越高

偏移系数

T 2

z

k =,

反映偏移规格中心的程度

偏移量

规格中心

z =

M -x

反映偏移规格中心的大小

过程有偏时

M

x

有的资料

P

p

=

Tu

T

L

, s为样

M

M

2

_ T

u

—T

L

P

P

-

6cf

s

12 P

P

无偏过程性能指数

6s

本标准差,S=J 瓦

X

i

— X

Y n _ 1

iT

/ = =

13

P

pk

有偏过程性能指数

P

pk

Min

T

u

- X X -T

L

.旳

s

'旳

S /

一般很少用

14 C

R

无偏过程能力比值

亠 6。 1

C

R

- -

T

u

-T

L

C

P

6貯

s

S

P

R

T

u

-T

L

15

P

R

无偏过程性能比值 一般很少用

说明如下:

⑴.Z表示半公差范围内

6

的个数,及半公差范围内有几个(Z)

6

反映了过程能力和质量水平的高

6

6

这里 低,在六西格玛中 Z被称为六西格玛水平值,我们经常说我们的质量水平已经达到了

的6就是通常的Z值,我们可以通过 Z值计算出此时的能力指数及合格率,计算如下:

C

P

K

T

6

12c =2 ,

一般假设波动造成的偏移

6

=1

5-

,所以此时有:

2

3

1

4

丿

T 2 T 12-

无偏时合格率

P

合格率=6 Lu -

I J I

▽丿

H

=1 一 K C

P

= 1 -0.25 2 二 1.5

P

合格率

」Z [①〔Z =2

::

」Z

=2

6 -1 =0.999999999013412 2

P

合格率

=0.999999998026824 =99.9999998026824%

P

不合格率

=1 一 2

::

」Z 2处[Z 1=1 - P

合格率

-0.176

P

不合格率

=0.001973176DPMO

有偏时合格率

F

合格率

=

L

L

-

1

L

5 一停

i

!

丿 丿 丿

P

合格率

'Z -1.5[亠尬2 1.5 一1 4.5]亠①〔7.5 -1 = 99.99966%

P

不合格率

=1 一 P

合格率

=1 一 99.99966% = 0.0000034 = 3.4DPMO

此还时

C

P

T T Z

,所以

Z

=

3C

P

(这个公式有点用)

6^ 3

2

3

这就是我们经常说的 6匚水平下,百万个中仅有 3.4个缺陷(不良)的原由。

⑵.CP(P为下标)即

C

p

,即过程无偏稳态受控下(处于统计控制状态)的过程能力指数,可以反

映过程的能力的高低,一般有如下准则:

C

p

1.67

此时

T 10=不合格率p 0.00006%,能力过剩;

1.33 C

P

1.67

此时

8-

T 10二,不合格率 0.00006% p 0.006%,能力充分;

1 C

P

1.33,此时

6-

T 8;「,不合格率0.006% p 0.27%,能力尚可;

0.67 C

P

1,此时4匚T

6-

,不合格率0.27% p 4.55%,能力不足;

C

P

0.67,此时T

4-

,不合格率p 4.55%,能力严重不足。

⑶.PC,指过程能力,是指过程处于统计控制状态下的实际加工能力,

一般用标准偏差 二的6倍表示过程能力的大小。

过程能力是过程的固有特性,

二通常由

R d

2

计算得来,所以记为-。

⑷.PP,过程性能,是指过程长期运行中的实际加工能力,此时不考虑过程是否受控,因此过程 性能也被称为

“长期过程能力”。过程性能是过程总变差

C

的6倍,即

PP=6

二,匚通常用长期时间范围内的样本计算出来的样本标准差 s来估计,记为

s

之所以在研究过程能力的同时,还要研究过程性能,是因为很多波动原因在短期观察中可能不 会出现,而长

期观察中收集的数据可能含有各种波动源,找到这些波动源对提高产品质量大有

好处。如果过程长期稳定,可以不进行过程性能研究。过程能力对应于过程能力指数

C

P

,过程

性能对应过程性能指数

Pp

,下标加k时表示有偏时的计算公式。

P

合格率

P

合格率

P

合格率

P

- 3C

P

3KC

P

合格率

31 -K Cp 1-31 • K Cp

p

不合格率

=1

J

>31—KC

CT

P

P

不合格率二

I-3 1

K C

P

I r

' I- 3 V K C

P

]

以上公式中此还时

C

P

二工

T Z

,所以

Z = 3C

P

3^2^ 3

31 K C

P

I

z

K

T 2 T

KT 6KC』

一,所以;二—

2

—=3KC

P

2

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