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光学仪器标准精选(最新)

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2024年6月14日发(作者:司沛白)

光学仪器标准精选(最新)

G1146《GB/T1146-2009水准泡》

G1185《GB/T1185-2006光学零件表面疵病》

G1224《GB/T1224-1999几何光学术语符号》

G2609《GB/T2609-2006显微镜物镜》

G2831《GB/T2831-2009光学零件的面形偏差》

G2985《GB/T2985-2008生物显微镜》

G3161《GB/T3161-2003光学经纬仪》

G4315.1《GB/T4315.1-2009光学传递函数第1部分:术语、符号》

G4315.2《GB/T4315.2-2009光学传递函数第2部分:测量导则》

G5702《GB/T5702-2003光源显色性评价方法》

G7242《GB/T7242-2010透镜中心偏差》

G7661《GB/T7661-2009光学零件气泡度》

G7895《GB/T7895-2008人造光学石英晶体》

G7896《GB/T7896-2008人造光学石英晶体试验方法》

G9246《GB/T9246-2008显微镜目镜》

G9247《GB/T9247-2008显微镜聚光镜》

G9917.1《GB/T9917.1-2002照相镜头第1部分:变焦距镜头》

G10050《GB/T10050-2009光学和光学仪器参考波长》

G10156《GB/T10156-2009水准仪》

G10810.1《GB10810.1-2005眼镜片第一部分:单光和多焦点镜片》

G10810.2《GB10810.2-2006眼镜镜片第2部分:渐变焦镜片》

G10810.3《GB10810.3-2006眼镜镜片及相关眼镜产品透射比规范及测量方法》

G10987《GB/T10987-2009光学系统参数的测定》

G10988《GB/T10988-2009光学系统杂(散)光测量方法》

G11162《GB/T11162-2009光学分划零件通用技术条件》

G11168《GB/T11168-2009光学系统像质测试方法》

G11239.1《GBl1239.1-2005手术显微镜第1部分:要求和试验方法》

G12085.1《GB/T12085.1-2010光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、

试验范围》

G12085.2《GB/T12085.2-2010光学和光学仪器环境试验方法第2部分:低温、

高温、湿热》

G12085.3《GB/T12085.3-2010光学和光学仪器环境试验方法第3部分:机械

作用力》

G12085.4《GB/T12085.4-2010光学和光学仪器环境试验方法第4部分:盐雾》

G12085.5《GB/T12085.5-2010光学和光学仪器环境试验方法第5部分:低温、

低气压综合试验》

G12085.6《GB/T12085.6-2010光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘》

G12085.7《GB/T12085.7-2010光学和光学仪器环境试验方法第7部分:滴水、

淋雨》

G12085.8《GB/T12085.8-2010光学和光学仪器环境试验方法第8部分:高压、

低压、浸没》

G12085.9《GB/T12085.9-2010光学和光学仪器环境试验方法第9部分:太阳

辐射》

G12085.10《GB/T12085.10-2010光学和光学仪器环境试验方法第10部分:

振动(正弦)与高温、低温综合试验》

G12085.11《GB/T12085.11-2010光学和光学仪器环境试验方法第11部分:

长霉》

G12085.12《GB/T12085.12-2010光学和光学仪器环境试验方法第12部分:

污染》

G12085.13《GB/T12085.13-2010光学和光学仪器环境试验方法第13部分:

冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》

G12085.14《GB/T12085.14-2010光学和光学仪器环境试验方法第14部分:

露、霜、冰》

G12085.15《GB/T12085.15-2010光学和光学仪器环境试验方法第15部分:

宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验》

G12085.16《GB/T12085.16-2010光学和光学仪器环境试验方法第16部分:

弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验》

G13323《GB/T13323-2009光学制图》

G13742《GB/T13742-2009光学传递函数测量准确度》

G13962《GB/T13962-2009光学仪器术语》

G15488《GB/T15488-2010滤光玻璃》

G15489.6《GB/T15489.6-2010滤光玻璃测试方法第6部分:荧光特性》

G16492《GB/T16492-1996光学和光学仪器环境要求》

G16863《GB/T16863-1997晶体折射率的试验方法》

G16864《GB/T16864-1997低温下晶体透射率的试验方法》

G17117《GB/T17117-1997棱镜式双目望远镜》

G17118《GB/T17118-1997伽利略式双目望远镜》

G17341《GB17341-1998光学和光学仪器:焦度计》

G18312《G18312-2001双目望远镜检验规则》

G19863《GB/T19863-2005体视显微镜试验方法》

G19864.1《GB/T19864.1-2005体视显微镜第1部分普及型体视显微镜》

G19864.2《GB/T19864.2-2005体视显微镜第2部分高性能体视显微镜》

G20732《GB/T20732-2006纤维直径光学分析仪》

G22055.1《GB/T22055.1-2008显微镜物镜螺纹:RMS型物镜螺纹

(4/5in×1/36in)》

G22055.2《GB/T22055.2-2008显微镜物镜螺纹:M25×0.75mm型物镜螺纹》

G22056《GB/T22056-2008显微镜物镜和目镜的标志》

G22057.1《GB/T22057.1-2008显微镜相对机械参考平面的成像距离:筒长

160mm》

G22057.2《GB/T22057.2-2008显微镜相对机械参考平面的成像距离:无限远校

正光学系统》

G22058《GB/T22058-2008显微镜体视显微镜的标志》

G22059《GB/T22059-2008显微镜放大率》

G22060《GB/T22060-2008显微镜镜筒滑块和镜筒槽的连接尺寸》

G22061《GB/T22061-2008显微镜偏光显微术的参考系统》

G22062《GB/T22062-2008显微镜目镜分划板》

G22063《GB/T22063-2008显微镜C型接口》

G22064《GB/T22064-2008显微镜35mm单反照相机镜头的接口》

G22132《GB/T22132-2008显微镜可换目镜的直径》

G24665《GB/T24665-2009偏光显微镜》

G26331《GB/T26331-2010光学薄膜元件环境适应性试验方法》

G26332.1《GB/T26332.1-2010光学和光学仪器光学薄膜第1部分:定义》

G26596《GB/T26596-2011光学和光学仪器大地测量仪器术语》

G26598《GB/T26598-2011光学仪器用透明导电薄膜规范》

G26600《GB/T26600-2011显微镜光学显微术用浸液》

G26601《GB/T26601-2011显微镜光谱滤光片》

G27581《GB/T27581-2011电磁屏蔽膜化学镀铜溶液镍离子和铜离子含量测定

方法》

G27582《GB/T27582-2011光学功能薄膜等离子电视用电磁波屏蔽膜屏蔽效能

测定方法》

G27583《GB/T27583-2011光学功能薄膜反射眩光性能测试方法》

G27584《GB/T27584-2011光学功能薄膜聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜受

热后尺寸变化测定方法》

G27663《GB/T27663-2011全站仪》

GJ369A《GJB369A-1998军用光学仪器通用规范》

GJ587A《GJB587A-2005光学仪器用非硫化硅橡胶密封腻子规范》

GJ3288《GJB3288-1998军用光学仪器试验方法》

GJ5250《GJB5250-2004动态目标光学特性测量通用要求》

GJ5251《GJB5251-2004静态目标光学特性测量通用要求》

GJ5463《GJB/J5463-2005K光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程》

GJ5477《GJB5477-2005K微光夜视眼镜通用规范》

GJ5490《GJB5490-2005K军用光纤瞄准镜通用规范》

GJ5695《GJB5695-2006Z微光夜视观察镜通用规范》

GJ5892K《GJB5892-2006K红外辐射率测量方法》

WJ648《WJ648-1995

WJ649《WJ649-1995

WJ650《WJ650-1995

WJ651《WJ651-1995

光学仪器用有色合金压铸件规范》

光学仪器用熔摩铸件规范》

光学仪器用有色合金砂型铸件规范》

光学仪器用有色合金金属型铸件规范》

WJ741(合)《WJ741~751-1994光学仪器用胶试验方法》

WJ741-1994光学仪器用胶清洁度试验方法

WJ742-1994光学仪器用胶透过率试验方法

WJ743-1994光学仪器用胶应力试验方法

WJ744-1994光学仪器用胶拉伸强度试验方法

WJ745-1994光学仪器用胶压缩剪切强度试验方法

WJ746-1994光学仪器用胶冲击试验方法

WJ747-1994光学仪器用胶高温试验方法

WJ748-1994光学仪器用胶低温试验方法

WJ749-1994光学仪器用胶浸水、低温、高温高湿试验方法

WJ750-1994光学仪器用胶收缩率试验方法

WJ751-1994光学仪器用胶耐溶剂试验方法

WJ1065《WJ1065-2007光学测试仪器物镜系列》

WJ1066《WJ1066-2007光学测试仪器目镜系列》

WJ1068《WJ1068-2004平行光管系列》

WJ1069《WJ1069-2004前置镜系列》

WJ2694《WJ2694-2008光学仪器浸透处理铸件规范》

J5450《JB/T5450-2007光学仪器用短牙螺纹》

J5479《JB/T5479-1999荧光生物显微镜》

J6178《JB/T6178-1992焦距仪》

J6179《JB/T6179-1992光学零件镀膜分类符号及标注》

J8226《JB/T8226.1~8-1999光学零件镀膜》

J8231《JB/T8231-1999平面光栅摄谱仪基本参数系列》

J8238《JB/T8238-1999光学仪器用齿纹》

J8240《JB/T8240-1999光学仪器用目镜螺纹》

J9311《JB/T9311-1999光学仪器产品型号命名方法》

J9312《JB/T9312-1999光学零件包装》

J9314《JB/T9314-1999大地测量仪器的包装》

J9315《JB/T9315-1999大地测量仪器水准标尺》

J9316《JB/T9316-1999大地测量仪器强制中心机构配合尺寸》

J9318《JB/T9318-1999大地测量仪器目视读数的度盘分划》

J9325《JB/T9325-1999分光光度计系列及其基本参数》

J9333《JB/T9333-1999显微镜光学显微术通用浸油》

J9334《JB/T9334-1999显微镜光谱滤光片基本规格》

J9336《JB/T9336-1999大地测量仪器分划板》

J9339《JB/T9339-1999测量显微镜》

J9343《JB/T9346-1999测角仪(分光计)基本参数》》

J9348.1《JB/T9348.1-1999光学仪器防霉、防雾、防锈试验方法》

J9348.2《JB/T9348.2-1999光学仪器防霉、防雾、防锈技术要求》

J9485《JB/T9485-2010光学加工机床型号编制方法》

J9495.1《JB/T9495.1-1999光学晶体》

J9495.4《JB/T9495.4-1999光学晶体应力双折射测量方法》

J9495.6《JB/T9495.6-1999光学晶体光吸收系数测量方法》

J9495.7《JB/T9495.7-1999光学晶体光学均匀性测量方法》

J10077《JB/T10077-1999金相显微镜》

J10556《JB/T10556-2006纤维直径光学分析仪》

J10677《JB/T10677-2006投影机光源》

SJ20830《SJ20830-2002铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件通用规范》

SJ20831《SJ20831-20024N红外焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法》

SJ20873《SJ20873-2003倾斜仪、水平仪通用规范》

SJ20873/1《SJ20873/1-2003CW-14型高精度水平仪详细规范》

Q2506《QB/T2506-2001光学树脂眼镜片》

Y0065《YY0065-2007眼科仪器裂隙灯显微镜》

Y0067《YY0067-2007微循环显微镜》

JJG56《JJG56-2000工具显微镜》

JJG77《JJG77-2006干涉显微镜》

JJG191《JJG191-2002水平仪检定器》

JJG211《JJG211-2005亮度计》

JJG212《JJG212-2003色温表》

JJG213《JJG213-2003分布(颜色)温度标准灯》

JJG245《JJG245-2005光照度计》

JJG246《JJG246-2005发光强度标准灯》

JJG383《JJG383-2002光谱辐射亮度标准灯》

JJG384《JJG384-2002光谱辐射照度标准灯》

JJG414《JJG414-2003光学经纬仪》

JJG425《JJG425-2003水准仪》

JJG452《JJG452-2006黑白密度片》

JJG453《JJG453-2002标准色板》

JJG512《JJG512-2002白度计》

JJG536《JJG536-1998旋光仪及旋光糖量计》

JJG571《JJG571-2004读数、测量显微镜》

JJG580《JJG580-2005焦度计》

JJG595《JJG595-2002测色色差计》

JJG625《JJG625-2001阿贝折射仪》

JJG696《JJG696-2002镜向光泽度计和光择度板》

JJG703《JJG703-2003光电测距仪》

JJG754《JJG754-2005光学传递函数测量装置》

JJG827《JJG827-1993分辨力板》

JJG863《JJG863-2005V棱镜折射仪》

JJG864《JJG864-1994旋光标准石英管》

JJG866《JJG866-1994顶焦度标准镜片》

JJG867《JJG867-1994光谱测色仪》

JJG879《JJG879-2002紫外辐射照度计》

JJG892《JJG892-2005验光机》

JJG904《JJG904-1996读数显微镜》

JJG920《JJG920-1996漫透射视觉密度计》

JJG949《JJG949-2011经纬仪检定装置》

JJG955《JJG955-2000光谱分析用测微密度计》

JJG960《JJG960-2001水准仪检定装置》

JJG976《JJG976-2010透射式烟度计检定规程》

JJG981《JJG981-2003阿贝折射仪标准块》

JJG1034《JJG1034-2008光谱光度计标准滤光器》

JJG1064《JJG1064-2000坐标测量机校准规范》

JJG2029《JJG2029-2006色度计量器具检定系统表》

JJG2090《JJG2090-1994顶焦度计量器具》

JJF1032《JJF1032-2005光学辐射计量名词及其定义》

JJF1077《JJF1077-2002测微准直望远镜校准规范》

JJF1078《JJF1078-2002光学测角比较仪》

JJF1081《JJF1081-2002垂准仪校准规范》

JJF1082《JJF1082-2002平板仪校准规范》

JJF1092《JJF1092-2002光切显微镜校准规范》

JJF1093《JJF1093-2002投影仪校准规范》

JJF1150《JJF1150-2006光电探测器相对光谱响应度校准规范》

JJF1302《JJF1302-2011光学经纬仪型式评价大纲》

JJF1313《JJF1313-2011手持式测距仪型式评价大纲》

JJF1322《JJF1322-2011水准仪型式评价大纲》

JJF1323《JJF1323-2011电子经纬仪型式评价大纲》

JJF1324《JJF1324-2011脉冲激光测距仪校准规范》

JJF1402《JJF1402-2013生物显微镜校准规范》

JJF2032《JJF2032-2005光照度计量器具》

JJF2034《JJF2034-2005发光强度计量器具》

JJF2069《JJF2069-2005镜向光泽度计量器具》

JJF2083《JJF2083-2005光谱辐射亮度、光谱辐射照度计量器具》

2024年6月14日发(作者:司沛白)

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G1185《GB/T1185-2006光学零件表面疵病》

G1224《GB/T1224-1999几何光学术语符号》

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G4315.1《GB/T4315.1-2009光学传递函数第1部分:术语、符号》

G4315.2《GB/T4315.2-2009光学传递函数第2部分:测量导则》

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G7896《GB/T7896-2008人造光学石英晶体试验方法》

G9246《GB/T9246-2008显微镜目镜》

G9247《GB/T9247-2008显微镜聚光镜》

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G10810.2《GB10810.2-2006眼镜镜片第2部分:渐变焦镜片》

G10810.3《GB10810.3-2006眼镜镜片及相关眼镜产品透射比规范及测量方法》

G10987《GB/T10987-2009光学系统参数的测定》

G10988《GB/T10988-2009光学系统杂(散)光测量方法》

G11162《GB/T11162-2009光学分划零件通用技术条件》

G11168《GB/T11168-2009光学系统像质测试方法》

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试验范围》

G12085.2《GB/T12085.2-2010光学和光学仪器环境试验方法第2部分:低温、

高温、湿热》

G12085.3《GB/T12085.3-2010光学和光学仪器环境试验方法第3部分:机械

作用力》

G12085.4《GB/T12085.4-2010光学和光学仪器环境试验方法第4部分:盐雾》

G12085.5《GB/T12085.5-2010光学和光学仪器环境试验方法第5部分:低温、

低气压综合试验》

G12085.6《GB/T12085.6-2010光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘》

G12085.7《GB/T12085.7-2010光学和光学仪器环境试验方法第7部分:滴水、

淋雨》

G12085.8《GB/T12085.8-2010光学和光学仪器环境试验方法第8部分:高压、

低压、浸没》

G12085.9《GB/T12085.9-2010光学和光学仪器环境试验方法第9部分:太阳

辐射》

G12085.10《GB/T12085.10-2010光学和光学仪器环境试验方法第10部分:

振动(正弦)与高温、低温综合试验》

G12085.11《GB/T12085.11-2010光学和光学仪器环境试验方法第11部分:

长霉》

G12085.12《GB/T12085.12-2010光学和光学仪器环境试验方法第12部分:

污染》

G12085.13《GB/T12085.13-2010光学和光学仪器环境试验方法第13部分:

冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》

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