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X’ Pert Pro 粉末X射线衍射仪操作说明

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2024年2月17日发(作者:狄文栋)

X’ Pert Pro 粉末X射线衍射仪操作说明

(培训版)

1D WAXD powder experiments were performed on a Philips X’Pert Pro

diffractometer with a 3 kW ceramic tube as the X-ray source (Cu KR) and an

X’celerator detector. The TTK 450 sample stage was set horizontally. The reflection

peak positions were calibrated with silicon powder (2θ > 15°) and silver behenate

(2θ< 10°). Background scattering was recorded and subtracted from the sample

patterns. A temperature control unit (Paar Physica TCU 100) in conjunction with

the diffractometer was utilized to study the structure evolutions as a function of

temperature. The heating and cooling rates in the WAXD experiments were

1.5 °C/min.

一、开机

1、开启水冷系统,调节水压使流量超过3.8 L/min;如果流量小于3.8 L/min,高压将不能开启。

2、开启主机电源,此时主机控制面板上的“Standby”灯亮,按下“light”按钮可以开启机内照明灯;

3、关好门,将HT钥匙转动90度(水平位置),按下“power on”按钮启动主机。高压显示15KV 5 mA。此时,仪器已经可以正常使用。

二、待机

1、电流降至20mA,电压保持40KV,2θ调整至5o,按下“light”关闭照明灯

2、待机状态下开机只要把电流,电压升至工作值即可。

三、关机

1、将高压降至15KV 5mA(先降电流,后降电压),然后将钥匙转动90度,关闭高压;

2、按下“STANDBY”按钮,关闭主机;

3、关闭水冷系统。

注:一般情况下选择待机,以下情况选择关机:

1、 院里出停电通知,需在停电前,提前停机,以免出现意外

2、 假期,长时间没有人用仪器

3、 仪器出现问题,需要等待工程师维修

4、 其他异常情况

四、X光管老化

对于新的X光管和超过100小时未使用的X光管,需进行正常老化;对于超过24小时但

不超过100小时未使用的X光管,需进行快速老化。其方法如下:在仪器联机的情况下(X’pert Data Collector – Instrument- connect),从左边框里选择“Instrument Setting –

Generator – X-ray – Breeding at normal speed or fast”。

五、样品准备

本机主要用于测试有机聚合物样品的相行为,尤其是样品的变温实验。

样品用量约30 mg,样品量太少会影响到衍射信号的强度。

样品要求:固体粉末或铸膜。

注:测试前需提供样品的热分解温度,测试温度必须低于热分解温度,否则易造成样品腔污染。如果不按要求操作,将按规定停止使用该仪器。

固体粉末样品制备:

将样品台用铝箔包覆,铝箔需紧贴在样品台上,尽量平整。将固体样品硏磨后,放入样品台凹槽内,压实至与样品台边缘高度齐平。确保样品台底部与样品架表面涂有导热胶,并且导热胶没有变质,然后小心地将样品台放置到样品架上,接通控温线。关闭样品架,关闭仪器门,通氮气保护,即可开始测试。

铸膜样品制备:

按样品台的大小,裁出一定形状的铜片或铁片作为基底,厚度在0.5 mm左右,洗净,烘干,先预扫一遍,确定在测试角度范围内没有衍射峰出现,即为合格的基底材料。

将聚合物样品用溶剂溶解后,滴加到基底上,溶剂缓慢挥发,最后聚合物在基底上形成一层均匀的薄膜,厚度在1mm左右即可。待溶剂彻底挥发完后,即可放入样品架,进行测试。后续操作同上。

其他样品及制备:

根据研究要求,如果需要测试其他样品,或是更换样品架,请与陈小芳老师联系,不要擅自行动。

样品制备要求厚度均匀,没有气泡。样品的厚度与样品池边缘齐平,不能高于或低于样品池的边缘,否则因样品制备问题造成的实验数据异常,请自行负责。

五、用户管理

1、双击X’Pert Data Collector 图标

2、输入以下信息:User:eqchen(课题组老师姓名简称)

Password: 123456(初始密码)

3、进入操作界面

a) 选择“customize-users”

b) 选择自己组的用户名

c)点击“modify”, 更改密码

六、使用X’pert Data Collector进行测试

1、双击X’pert Data Collector 图标

2、仪器联机

从“Instrument-connect”选择适当的配置进行联机。联机以后,可以从左边框里选择相应的项目进行以下操作:

a) Instrument Setting 可设定测角仪角度、测角仪分辨率、样品台、高压发生器(电压、电流及老化光管)等;

b) Incident Beam Optics 按照配置,设定发射光路;

c) Diffraction Beam Optics 按照配置,设定衍射光路。

一般情况下,在Instrument Setting里设置电压,电流以及光管老化,测角仪的角度等。仪器的狭缝更换后,要在Incident Beam Optics做相应改动,这些仪器信息会保存到测试数据中。

2、编制测量程序

a)选择“File---New Program”

选择需要编制的程序类型,如absolute scan等;

定义测量程序参数,如配置、扫描轴、扫描方式等;定义扫描程序的硬件配置;

将扫描程序存盘

测量样品

a) 设定电压、电流至需要值。

b) 选择Measure Program 开始执行测量程序。设文件名以及保存路经,测量数据将自动存储。

六、使用X’pert Data Viewer进行数据查看及输出

可通过X’pert 软件将数据库里的数据以不同的格式输出,以便于其他软件进行处理。其方法如下:

a) 点击Open,打开所需文件;

b) 点击convert,在弹出菜单上选择需要输出的文件格式,一般为*.csv文件

c) 输入文件名,选择转换路径

d) 点击“Convert”

e) 请用格式化后的软盘或U盘拷数据

2024年2月17日发(作者:狄文栋)

X’ Pert Pro 粉末X射线衍射仪操作说明

(培训版)

1D WAXD powder experiments were performed on a Philips X’Pert Pro

diffractometer with a 3 kW ceramic tube as the X-ray source (Cu KR) and an

X’celerator detector. The TTK 450 sample stage was set horizontally. The reflection

peak positions were calibrated with silicon powder (2θ > 15°) and silver behenate

(2θ< 10°). Background scattering was recorded and subtracted from the sample

patterns. A temperature control unit (Paar Physica TCU 100) in conjunction with

the diffractometer was utilized to study the structure evolutions as a function of

temperature. The heating and cooling rates in the WAXD experiments were

1.5 °C/min.

一、开机

1、开启水冷系统,调节水压使流量超过3.8 L/min;如果流量小于3.8 L/min,高压将不能开启。

2、开启主机电源,此时主机控制面板上的“Standby”灯亮,按下“light”按钮可以开启机内照明灯;

3、关好门,将HT钥匙转动90度(水平位置),按下“power on”按钮启动主机。高压显示15KV 5 mA。此时,仪器已经可以正常使用。

二、待机

1、电流降至20mA,电压保持40KV,2θ调整至5o,按下“light”关闭照明灯

2、待机状态下开机只要把电流,电压升至工作值即可。

三、关机

1、将高压降至15KV 5mA(先降电流,后降电压),然后将钥匙转动90度,关闭高压;

2、按下“STANDBY”按钮,关闭主机;

3、关闭水冷系统。

注:一般情况下选择待机,以下情况选择关机:

1、 院里出停电通知,需在停电前,提前停机,以免出现意外

2、 假期,长时间没有人用仪器

3、 仪器出现问题,需要等待工程师维修

4、 其他异常情况

四、X光管老化

对于新的X光管和超过100小时未使用的X光管,需进行正常老化;对于超过24小时但

不超过100小时未使用的X光管,需进行快速老化。其方法如下:在仪器联机的情况下(X’pert Data Collector – Instrument- connect),从左边框里选择“Instrument Setting –

Generator – X-ray – Breeding at normal speed or fast”。

五、样品准备

本机主要用于测试有机聚合物样品的相行为,尤其是样品的变温实验。

样品用量约30 mg,样品量太少会影响到衍射信号的强度。

样品要求:固体粉末或铸膜。

注:测试前需提供样品的热分解温度,测试温度必须低于热分解温度,否则易造成样品腔污染。如果不按要求操作,将按规定停止使用该仪器。

固体粉末样品制备:

将样品台用铝箔包覆,铝箔需紧贴在样品台上,尽量平整。将固体样品硏磨后,放入样品台凹槽内,压实至与样品台边缘高度齐平。确保样品台底部与样品架表面涂有导热胶,并且导热胶没有变质,然后小心地将样品台放置到样品架上,接通控温线。关闭样品架,关闭仪器门,通氮气保护,即可开始测试。

铸膜样品制备:

按样品台的大小,裁出一定形状的铜片或铁片作为基底,厚度在0.5 mm左右,洗净,烘干,先预扫一遍,确定在测试角度范围内没有衍射峰出现,即为合格的基底材料。

将聚合物样品用溶剂溶解后,滴加到基底上,溶剂缓慢挥发,最后聚合物在基底上形成一层均匀的薄膜,厚度在1mm左右即可。待溶剂彻底挥发完后,即可放入样品架,进行测试。后续操作同上。

其他样品及制备:

根据研究要求,如果需要测试其他样品,或是更换样品架,请与陈小芳老师联系,不要擅自行动。

样品制备要求厚度均匀,没有气泡。样品的厚度与样品池边缘齐平,不能高于或低于样品池的边缘,否则因样品制备问题造成的实验数据异常,请自行负责。

五、用户管理

1、双击X’Pert Data Collector 图标

2、输入以下信息:User:eqchen(课题组老师姓名简称)

Password: 123456(初始密码)

3、进入操作界面

a) 选择“customize-users”

b) 选择自己组的用户名

c)点击“modify”, 更改密码

六、使用X’pert Data Collector进行测试

1、双击X’pert Data Collector 图标

2、仪器联机

从“Instrument-connect”选择适当的配置进行联机。联机以后,可以从左边框里选择相应的项目进行以下操作:

a) Instrument Setting 可设定测角仪角度、测角仪分辨率、样品台、高压发生器(电压、电流及老化光管)等;

b) Incident Beam Optics 按照配置,设定发射光路;

c) Diffraction Beam Optics 按照配置,设定衍射光路。

一般情况下,在Instrument Setting里设置电压,电流以及光管老化,测角仪的角度等。仪器的狭缝更换后,要在Incident Beam Optics做相应改动,这些仪器信息会保存到测试数据中。

2、编制测量程序

a)选择“File---New Program”

选择需要编制的程序类型,如absolute scan等;

定义测量程序参数,如配置、扫描轴、扫描方式等;定义扫描程序的硬件配置;

将扫描程序存盘

测量样品

a) 设定电压、电流至需要值。

b) 选择Measure Program 开始执行测量程序。设文件名以及保存路经,测量数据将自动存储。

六、使用X’pert Data Viewer进行数据查看及输出

可通过X’pert 软件将数据库里的数据以不同的格式输出,以便于其他软件进行处理。其方法如下:

a) 点击Open,打开所需文件;

b) 点击convert,在弹出菜单上选择需要输出的文件格式,一般为*.csv文件

c) 输入文件名,选择转换路径

d) 点击“Convert”

e) 请用格式化后的软盘或U盘拷数据

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