2024年3月25日发(作者：顿睿敏)
3.1 时序输入指令22
3.1.1 读LD／读?非LDNOT22
3.1.2 与AND／与?非ANDNOT23
3.1.3 或OR／或?非ORNOT23
3.1.4 块?与ANDLD24
3.1.5 块?或ORLD24
3.1.6 非NOT（520）25
3.1.7 P.F.上升沿微分UP（521）25
3.1.8 P.F.下降沿微分DOWN（522）25
3.1.9 LD型?位测试LDTST（350）／LD型?位测试非LDTSTN（351）26
3.1.1 0AND型?位测试ANDTST（350）／ANDLD型?位测试非ANDTSTN（351）26
3.1.1 1OR型?位测试ORTST（350）／OR型?位测试非ORTSTN（351）27
3.2 时序输出指令27
3.2.1 输出OUT／输出非OUTNOT27
3.2.2 临时存储继电器TR28
3.2.3 保持KEEP（011）28
3.2.4 上升沿微分DIFU（013）29
3.2.5 下降沿微分DIFD（015）29
3.2.6 置位SET／复位RSET29
3.2.7 多位置位SETA（530）30
3.2.8 多位复位RSTA（531）30
3.2.9 1位置位SETB（532）／1位复位RSTB（533）31
3.2.1 01位输出OUTB（535）31
3.3 时序控制指令32
3.3.1 结束END（001）32
3.3.2 无功能NOP（000）32
3.3.3 互锁IL（002）／互锁解除ILC（003）33
3.3.4 多重互锁（微分标志保持型）MILH（517）／多重互锁（微分标志非保持型）
2024年3月25日发(作者：顿睿敏)
3.1 时序输入指令22
3.1.1 读LD／读?非LDNOT22
3.1.2 与AND／与?非ANDNOT23
3.1.3 或OR／或?非ORNOT23
3.1.4 块?与ANDLD24
3.1.5 块?或ORLD24
3.1.6 非NOT（520）25
3.1.7 P.F.上升沿微分UP（521）25
3.1.8 P.F.下降沿微分DOWN（522）25
3.1.9 LD型?位测试LDTST（350）／LD型?位测试非LDTSTN（351）26
3.1.1 0AND型?位测试ANDTST（350）／ANDLD型?位测试非ANDTSTN（351）26
3.1.1 1OR型?位测试ORTST（350）／OR型?位测试非ORTSTN（351）27
3.2 时序输出指令27
3.2.1 输出OUT／输出非OUTNOT27
3.2.2 临时存储继电器TR28
3.2.3 保持KEEP（011）28
3.2.4 上升沿微分DIFU（013）29
3.2.5 下降沿微分DIFD（015）29
3.2.6 置位SET／复位RSET29
3.2.7 多位置位SETA（530）30
3.2.8 多位复位RSTA（531）30
3.2.9 1位置位SETB（532）／1位复位RSTB（533）31
3.2.1 01位输出OUTB（535）31
3.3 时序控制指令32
3.3.1 结束END（001）32
3.3.2 无功能NOP（000）32
3.3.3 互锁IL（002）／互锁解除ILC（003）33
3.3.4 多重互锁（微分标志保持型）MILH（517）／多重互锁（微分标志非保持型）