2024年9月9日发(作者：睢然)
本文主要分两部分，第一部分为93k简介，内容包括硬件及软件介绍；第二部分为一数字芯
片测试开发过程，对于93K来说是一份非常难得的资料，建议大家研读！
一、簡介
Agilent 93000 SOC Series自動測試設備其外觀如圖1所示，其中testhead內部即為所有
channel board所存放位置，待測試的IC則是透過DUT board與DUT interface與testhead
內部的channel board連接在一起，manipulator內部放置鉛塊來平衡testhead的重量，
support rack內部放置工作站或其他外加儀器。CIC目前所購買的模組其功能概述如下：……
二、Test Development Flow
1. 測試開發流程總覽
使用測試機台進行數位IC測試的流程如圖2所示，共分成test plan、design a DUT board 、
pin configuration、level setup、timing setup、vector setup、testflow setup、testing
the device以及result analysis等九大步驟。在本節中我們將分別先對九個步驟作解釋
說明。
在進行IC測試之前，第一個步驟test plan代表必須事先規劃想要測試的項目有那些：如
functional 的測試、scan pattern的測試、power dissipation量測等……
三、Design a DUT Board
1. CIC提供的DUT Board總覽
CIC提供8種IC包裝，由於機台的digital channel數量高達320，因此提供的DUT board
共有三種，其外觀以及連接至testhead的照片如圖3所示，DIP48、CQFP128與CQFP144三
種package作在同一片DUT board，PLCC68、PLCC84與CQFP160作在同一片DUT board，CQFP100
與CQFP208作在同一片DUT board，……
四、Software Overview
1. Software Overview
機台的控制軟體為SmarTest，其示意圖如圖5所示，所有相關的設定pin configuration、
level setup、timing setup、vector setup、testflow setup、testing the device以及
result analysis等，都是在SmarTest中進行，設定完成後，機台便依照所設定的內容產
生電源與訊號給待測IC，並且量測比較待測IC所產生的response……
……
……
4. Timing and Vector Setup
當level設定完成之後，接著要進行的設定便是timing與vector，圖25顯示了timing與
vector的設定，與機台產生訊號給待測晶片之間的關係。timing setup定義了每個test
cycle的週期時間是多長，不同的vector所對應的波形，以及每個波形中edge的時間點，
以圖25的例子可以看出來，我們定義了4種不同的波形，……
五、Functional Test
1. Functional Test
當所有的設定檔都沒問題，就可以將待測晶片放入DUT board上的socket，然後將DUT board
放上測試機台，將SmarTest重新以online的方式開啟，讀取pin configuration、level
setup、timing setup與vector setup，選擇level與timing specifications。接著便可
以呼叫standard test function來進行functional test，機台便會根據設定檔的內容來
產生訊號與電源給待測晶片，然後使用預期的結果與待測晶片所產生的輸出進行比較，若比
較結果完全相同，就會顯示PASS，……
六、Test Result Analysis
1. Error Map
測試結束後，比較的結果會存放於error memory中，要知道到底是那些cycle比較的結果
是不相同，可以透過Error Map這個工具，它會讀取error memory中的資料，然後以圖形
方式顯示是那些cycle有錯誤。在main toolbar，選擇Results這個tab，然後點選Error
Map icon，就可以開啟Error Map這個工具(圖41)。若沒有任何的錯誤，則會顯示白色的
小方形，有比對錯誤的地方，則會顯示紅色的小方形(圖42)，在Overview的顯示模式下，
每個小方形代表了4096個週期，在Cycles的顯示模式下，則是完整顯示所有的週期……
…………
具体请下载参考：
Agilent 93000 SOC Tester 使用指南
2024年9月9日发(作者：睢然)
本文主要分两部分，第一部分为93k简介，内容包括硬件及软件介绍；第二部分为一数字芯
片测试开发过程，对于93K来说是一份非常难得的资料，建议大家研读！
一、簡介
Agilent 93000 SOC Series自動測試設備其外觀如圖1所示，其中testhead內部即為所有
channel board所存放位置，待測試的IC則是透過DUT board與DUT interface與testhead
內部的channel board連接在一起，manipulator內部放置鉛塊來平衡testhead的重量，
support rack內部放置工作站或其他外加儀器。CIC目前所購買的模組其功能概述如下：……
二、Test Development Flow
1. 測試開發流程總覽
使用測試機台進行數位IC測試的流程如圖2所示，共分成test plan、design a DUT board 、
pin configuration、level setup、timing setup、vector setup、testflow setup、testing
the device以及result analysis等九大步驟。在本節中我們將分別先對九個步驟作解釋
說明。
在進行IC測試之前，第一個步驟test plan代表必須事先規劃想要測試的項目有那些：如
functional 的測試、scan pattern的測試、power dissipation量測等……
三、Design a DUT Board
1. CIC提供的DUT Board總覽
CIC提供8種IC包裝，由於機台的digital channel數量高達320，因此提供的DUT board
共有三種，其外觀以及連接至testhead的照片如圖3所示，DIP48、CQFP128與CQFP144三
種package作在同一片DUT board，PLCC68、PLCC84與CQFP160作在同一片DUT board，CQFP100
與CQFP208作在同一片DUT board，……
四、Software Overview
1. Software Overview
機台的控制軟體為SmarTest，其示意圖如圖5所示，所有相關的設定pin configuration、
level setup、timing setup、vector setup、testflow setup、testing the device以及
result analysis等，都是在SmarTest中進行，設定完成後，機台便依照所設定的內容產
生電源與訊號給待測IC，並且量測比較待測IC所產生的response……
……
……
4. Timing and Vector Setup
當level設定完成之後，接著要進行的設定便是timing與vector，圖25顯示了timing與
vector的設定，與機台產生訊號給待測晶片之間的關係。timing setup定義了每個test
cycle的週期時間是多長，不同的vector所對應的波形，以及每個波形中edge的時間點，
以圖25的例子可以看出來，我們定義了4種不同的波形，……
五、Functional Test
1. Functional Test
當所有的設定檔都沒問題，就可以將待測晶片放入DUT board上的socket，然後將DUT board
放上測試機台，將SmarTest重新以online的方式開啟，讀取pin configuration、level
setup、timing setup與vector setup，選擇level與timing specifications。接著便可
以呼叫standard test function來進行functional test，機台便會根據設定檔的內容來
產生訊號與電源給待測晶片，然後使用預期的結果與待測晶片所產生的輸出進行比較，若比
較結果完全相同，就會顯示PASS，……
六、Test Result Analysis
1. Error Map
測試結束後，比較的結果會存放於error memory中，要知道到底是那些cycle比較的結果
是不相同，可以透過Error Map這個工具，它會讀取error memory中的資料，然後以圖形
方式顯示是那些cycle有錯誤。在main toolbar，選擇Results這個tab，然後點選Error
Map icon，就可以開啟Error Map這個工具(圖41)。若沒有任何的錯誤，則會顯示白色的
小方形，有比對錯誤的地方，則會顯示紅色的小方形(圖42)，在Overview的顯示模式下，
每個小方形代表了4096個週期，在Cycles的顯示模式下，則是完整顯示所有的週期……
…………
具体请下载参考：
Agilent 93000 SOC Tester 使用指南