2024年10月5日发(作者:剧元洲)
美国贝克曼700型全自动化生化分析仪故障检修实例
叶林诚
(广东医学院附属医院资产管理部,广东湛江524001)
[中图分类号]TH773 [文献标识码]B (文章编号]1002—2376(2oo9)04—0061—02
[摘要]本文主要论述美国贝曼700型全自动生化分析仪的测量电路工作原理,探讨测量结果出现异常
时电路故障的排除方法,供参改。
[关键词]生化分析仪;测量;贝克曼700
故障现象:(1)清洗液冲洗多次后,使用同一
标准样品进行多次连续测量,结果重复性差;
(2)用标准样品或待测样品进行测量时,所显示的
结果与正常值偏差大。
数曲线发生器(oP2)、一个高精度的比较器
(CMP )及场效应开关等构成。测量计数电路由计
数控制触发器Ic 、两个双4位二进制计数器
(Ic33、IC34)及两个三态八总线缓冲/驱动器构成。
在测量之前,两个测量计数器均清0,并且C】8充
电至10 V。过1 ins后,将Icl置位,使IC33和I
开始计数,与此同时,l0 V参考电压分压得出的
100 mv电压Vr或Ux接人CMP】同相输入,即FS】2
或Fs13导通, l1截止,c16放电。OP2输出与CMP1
的反向输入端相连,当Ur或Ux大于C 的放电电
分析与检修:无论使用何种类型的生化分析
仪,操作者都会经常遇到上述故障现象。但这类故
障现象所涉及的范围较宽。当光源、石英碘灯老化
或碘灯电源电压波动或管路、流动比色池中有气泡
或沉积物,或电路元件性能变坏时,都将可能产生
上述故障。查找此类故障,一般按光路、管路、电
路的顺序进行查找。检查步骤如图1所示。
光路、管路所引起的上述故较易排除,但电路
上的故障排除是较难的,在此简述测量电路的工作
原理,并给出维修中所遇到的故障及排除方法。
BECKMAN700型生化分析仪型测量原理框图见图2
所示。
压uc16时,CMP1输出翻转,使IcJ复位,IC33及
IC34停止计数,然后将已进行对数转换的计数器计
数通过IC27和IC2s读入CPU中进行处理和显示。
uc18(t)=10e一 (t≥to,to作为计时起点),当Ur
接入CMP 正端时,计数器计数,Nr可由下式得
OP]放大来自紫外增强型光电二极管微弱的光
电转换信号,在CPU控制下,放大倍数可编程以
满足测量中不同波长信号的要求。Vin/Tlog对数转
换由一个高精度的1 0V参考电源(REF )一个对
收稿日期:2OO8—12—02
出:Ur=10e一 ,lgUr=1一 ̄-lge,贝0 tr:NrT(T为
L
计数时钟周期)。Ur:0.1V,则:缝: (1),
同样ux接人CMP 正端时,计数器计数,Nx可由
Ux=10e- 给出,即lgUx:1一艘NxT(2)
将(1)
,
制在8次以内,同时要尽量减少辐射时间。在做妇
产科方面的超声检查时,应优先选择凸阵宽频或变
频的探头,频率范围在(3.5~5.0)MHz之间,检
查时安全性高。
3结束语
严格执法,以及临床医生加强认识、提高技能,才
能把危害降低到最低程度。更好地保障人民的身体
健康。
[参考文献]
[1]范毅明,等.医用B超仪与超声多普勒系统[M].第
1版.第二军医大学出版社,1999.15.
[2]王彦,等.医用超声诊断仪实施强制检定的必要性
61
综上所述,超声诊断仪输出声强过大的危害性
是很明显的,只有通过计量检定机构的认真检测、
医疗装备2OO9第4期
[J].计量与测试技术,1999,26(3):40.
图1检查步骤
图2
代入(2)有lgUx=1一 ,由此可看出,lgUx的
5000P,比标称值6800 P小,且电容量随时间有所
变化,换上一个性能稳定的6800 P电容后,测量
计算与元件参数改变及温度变化无关,这是由于
100 mV电压源在一定程度上补偿了由于这些参数
变化所引起的对数转换误差。
在维修中发现电路故障引起测量结果不稳定,
结果稳定,重现性好。cl】是防自激电容,性能不
好或失效,也将引起测量结果不对。R9、Rl0、RI1
等大阻值电阻由于空气湿度过高,内部产生霉变,
阻值不稳,性能变坏,也常是引起测量结果不稳定
的原因之一,可采用加热器之类的电器在这些元件
上方烘烤,去潮湿,过一段时间,可能将会改善测
量结果。其他电路元器件所引起的测量结果错误,
值偏低,常与测量电路中Cm C Cl6等电容及
R9、R R1 大阻值电阻有关。在维修中,遇到过
测量结果值偏低且重现性差的情况。用数字万用表
检测R9、R1o、R。 均与标称阻值相符,且阻值稳
定,VREFl=10V及分压值V =100 mV,从而怀疑
可根据测量电路原理,进行具体情况分析。
[参考文献]
[1]《美国贝曼700型全自动生化分析仪技术手册》.
Medical Equipment Vo1.22,No.4
电容性能变化所致,焊下C C】4测量,C,3小于
62
2024年10月5日发(作者:剧元洲)
美国贝克曼700型全自动化生化分析仪故障检修实例
叶林诚
(广东医学院附属医院资产管理部,广东湛江524001)
[中图分类号]TH773 [文献标识码]B (文章编号]1002—2376(2oo9)04—0061—02
[摘要]本文主要论述美国贝曼700型全自动生化分析仪的测量电路工作原理,探讨测量结果出现异常
时电路故障的排除方法,供参改。
[关键词]生化分析仪;测量;贝克曼700
故障现象:(1)清洗液冲洗多次后,使用同一
标准样品进行多次连续测量,结果重复性差;
(2)用标准样品或待测样品进行测量时,所显示的
结果与正常值偏差大。
数曲线发生器(oP2)、一个高精度的比较器
(CMP )及场效应开关等构成。测量计数电路由计
数控制触发器Ic 、两个双4位二进制计数器
(Ic33、IC34)及两个三态八总线缓冲/驱动器构成。
在测量之前,两个测量计数器均清0,并且C】8充
电至10 V。过1 ins后,将Icl置位,使IC33和I
开始计数,与此同时,l0 V参考电压分压得出的
100 mv电压Vr或Ux接人CMP】同相输入,即FS】2
或Fs13导通, l1截止,c16放电。OP2输出与CMP1
的反向输入端相连,当Ur或Ux大于C 的放电电
分析与检修:无论使用何种类型的生化分析
仪,操作者都会经常遇到上述故障现象。但这类故
障现象所涉及的范围较宽。当光源、石英碘灯老化
或碘灯电源电压波动或管路、流动比色池中有气泡
或沉积物,或电路元件性能变坏时,都将可能产生
上述故障。查找此类故障,一般按光路、管路、电
路的顺序进行查找。检查步骤如图1所示。
光路、管路所引起的上述故较易排除,但电路
上的故障排除是较难的,在此简述测量电路的工作
原理,并给出维修中所遇到的故障及排除方法。
BECKMAN700型生化分析仪型测量原理框图见图2
所示。
压uc16时,CMP1输出翻转,使IcJ复位,IC33及
IC34停止计数,然后将已进行对数转换的计数器计
数通过IC27和IC2s读入CPU中进行处理和显示。
uc18(t)=10e一 (t≥to,to作为计时起点),当Ur
接入CMP 正端时,计数器计数,Nr可由下式得
OP]放大来自紫外增强型光电二极管微弱的光
电转换信号,在CPU控制下,放大倍数可编程以
满足测量中不同波长信号的要求。Vin/Tlog对数转
换由一个高精度的1 0V参考电源(REF )一个对
收稿日期:2OO8—12—02
出:Ur=10e一 ,lgUr=1一 ̄-lge,贝0 tr:NrT(T为
L
计数时钟周期)。Ur:0.1V,则:缝: (1),
同样ux接人CMP 正端时,计数器计数,Nx可由
Ux=10e- 给出,即lgUx:1一艘NxT(2)
将(1)
,
制在8次以内,同时要尽量减少辐射时间。在做妇
产科方面的超声检查时,应优先选择凸阵宽频或变
频的探头,频率范围在(3.5~5.0)MHz之间,检
查时安全性高。
3结束语
严格执法,以及临床医生加强认识、提高技能,才
能把危害降低到最低程度。更好地保障人民的身体
健康。
[参考文献]
[1]范毅明,等.医用B超仪与超声多普勒系统[M].第
1版.第二军医大学出版社,1999.15.
[2]王彦,等.医用超声诊断仪实施强制检定的必要性
61
综上所述,超声诊断仪输出声强过大的危害性
是很明显的,只有通过计量检定机构的认真检测、
医疗装备2OO9第4期
[J].计量与测试技术,1999,26(3):40.
图1检查步骤
图2
代入(2)有lgUx=1一 ,由此可看出,lgUx的
5000P,比标称值6800 P小,且电容量随时间有所
变化,换上一个性能稳定的6800 P电容后,测量
计算与元件参数改变及温度变化无关,这是由于
100 mV电压源在一定程度上补偿了由于这些参数
变化所引起的对数转换误差。
在维修中发现电路故障引起测量结果不稳定,
结果稳定,重现性好。cl】是防自激电容,性能不
好或失效,也将引起测量结果不对。R9、Rl0、RI1
等大阻值电阻由于空气湿度过高,内部产生霉变,
阻值不稳,性能变坏,也常是引起测量结果不稳定
的原因之一,可采用加热器之类的电器在这些元件
上方烘烤,去潮湿,过一段时间,可能将会改善测
量结果。其他电路元器件所引起的测量结果错误,
值偏低,常与测量电路中Cm C Cl6等电容及
R9、R R1 大阻值电阻有关。在维修中,遇到过
测量结果值偏低且重现性差的情况。用数字万用表
检测R9、R1o、R。 均与标称阻值相符,且阻值稳
定,VREFl=10V及分压值V =100 mV,从而怀疑
可根据测量电路原理,进行具体情况分析。
[参考文献]
[1]《美国贝曼700型全自动生化分析仪技术手册》.
Medical Equipment Vo1.22,No.4
电容性能变化所致,焊下C C】4测量,C,3小于
62