2024年5月6日发(作者：布凌晓)
（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN2.4
（22）申请日 2007.05.22
（71）申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司
地址 荷兰艾恩德霍芬
（10）申请公布号
CN101460098A
（43）申请公布日 2009.06.17
（72）发明人 H-I·马克;C·库尔策
（74）专利代理机构 永新专利商标代理有限公司
代理人 王英
（51）
A61B6/00;
G01N23/00;
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法
（57）摘要
描述了一种用于校准X射线成像装置的校
准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元
(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)
的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析
单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益
校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得
到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提
供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。
法律状态
法律状态公告日
2009-06-17
2009-08-12
2011-04-06
2015-07-08
法律状态信息
公开
实质审查的生效
授权
专利权的终止
法律状态
公开
实质审查的生效
授权
专利权的终止
权利要求说明书
X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法的权利要求说明书内容是....请下载后
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说明书
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2024年5月6日发(作者：布凌晓)
（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN2.4
（22）申请日 2007.05.22
（71）申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司
地址 荷兰艾恩德霍芬
（10）申请公布号
CN101460098A
（43）申请公布日 2009.06.17
（72）发明人 H-I·马克;C·库尔策
（74）专利代理机构 永新专利商标代理有限公司
代理人 王英
（51）
A61B6/00;
G01N23/00;
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法
（57）摘要
描述了一种用于校准X射线成像装置的校
准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元
(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)
的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析
单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益
校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得
到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提
供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。
法律状态
法律状态公告日
2009-06-17
2009-08-12
2011-04-06
2015-07-08
法律状态信息
公开
实质审查的生效
授权
专利权的终止
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