2024年5月6日发(作者：布凌晓)

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN2.4

（22）申请日 2007.05.22

（71）申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司

地址 荷兰艾恩德霍芬

（10）申请公布号

CN101460098A

（43）申请公布日 2009.06.17

（72）发明人 H-I·马克;C·库尔策

（74）专利代理机构 永新专利商标代理有限公司

代理人 王英

（51）

A61B6/00;

G01N23/00;

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法

（57）摘要

描述了一种用于校准X射线成像装置的校

准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元

(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)

的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析

单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益

校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得

到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提

供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。

法律状态

法律状态公告日

2009-06-17

2009-08-12

2011-04-06

2015-07-08

法律状态信息

公开

实质审查的生效

授权

专利权的终止

法律状态

公开

实质审查的生效

授权

专利权的终止

权利要求说明书

X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法的权利要求说明书内容是....请下载后

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说明书

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2024年5月6日发(作者：布凌晓)

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN2.4

（22）申请日 2007.05.22

（71）申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司

地址 荷兰艾恩德霍芬

（10）申请公布号

CN101460098A

（43）申请公布日 2009.06.17

（72）发明人 H-I·马克;C·库尔策

（74）专利代理机构 永新专利商标代理有限公司

代理人 王英

（51）

A61B6/00;

G01N23/00;

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法

（57）摘要

描述了一种用于校准X射线成像装置的校

准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元

(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)

的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析

单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益

校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得

到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提

供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。

法律状态

法律状态公告日

2009-06-17

2009-08-12

2011-04-06

2015-07-08

法律状态信息

公开

实质审查的生效

授权

专利权的终止

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公开

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