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自己制作的笔记本水冷散热器

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2024年10月10日发(作者:牵欣跃)

自己製作的笔记本水冷散热器

笔记本水冷散热器自己製作的

水冷后360硬体检测大师检测的结果本本是05的东芝

j50

检测结果cpu40硬碟32主机板29

小抽水机3-12v的电压最高可达1.5米

下图是通过极品飞车9测试的结果玩了一个小时

下图是自带风扇散热检测结果

可以模糊的观察cpu温度测试已经变红了

下图是水冷后效能测试的结果比以前高了50多呢

电脑水冷要留意水冷头出汗啊,假如出汗那就麻烦咯同

样高温也是的看看下面吧

: f! v- d+ r6 b$ l' h9 a) l4 `8 d高温对电脑的危

害高温对电脑的危害主要可以分为以下两个部分:) l# s, w/

^( l6 i

1、对半导体电子元器件(cpu、显示卡晶片、主机板晶

片组等)的危害(本次重点)

) p" _" d+ n: l3 n! ]; 8 y1 r 2、对映象管的

危害

1 f8 c5 b/ ]: s: o: } 我们先来看看高温对电脑

最主要的危害,也就是对半导体电子元件的危害。

1

1 i5 ' }" f2 g% t: }( q1 m 依据电子学理论,

频率的提高(在稳定的前提下)对于半导体电子元件寿命不

会有影响,但是频率变高后,却会产生更多的热量,电子元

器件像cpu、记忆体等等,表面积都特殊小,多产生的热量

都聚集在这小小的地方,如散热不好将会产生极高的温度,

从而引发"电子迁移"现象,而且现在的电脑主频越来越高,

再加上还有我们一伙diy为了猎取更多的**能而加电压超频,

如此一来,产生的热会更多。

; r9 m; u- m: n: r( ` y5 a+ i, z- }" ^.

f那么"电子迁移"到底是什么?"电子迁移"属于电子

科学的领域,在1960年月初期才被广泛了解,是指电子的

流淌所导致的金属原子的迁移现象。在电流强度很高的导体

上,最典型的就是积体电路内部的电路,电子的流淌带给上

面的金属原子一个动量(momentum),使得金属原子脱离金属

表面四处流淌,结果就导致金属导线表面上形成坑洞(void)

或土丘(hilllock),造成永久的损害,这是一个缓慢的过程,

一旦发生,状况会越来越严峻,到最终就会造成整个电路的

短路(short),整个积体电路就报销了。

u' ; j7 }) s+ w2 u1 p

"电子迁移"现象受很多因素影响,其中一个是电流的强

度,电流强度越高,"电子迁移"现象就越显着。从积体电路

的进展史,我们可以发觉,为了把积体电路如cpu的核心缩

2

小,必需把线路做的越细越薄,如此,线路的电流强度就变

的很大,所以电子的流淌所带给金属原子的动量就变的很显

着,金属原子就简洁从表面脱离而四处流窜,形成坑洞或土

丘。另外一个因素就是温度,高温有助于"电子迁移"的产生,

这就是为什么我们要把cpu的温度维持在50以下(手摸起来

温温的)。

至于温度是如何影响"电子迁移"

3

2024年10月10日发(作者:牵欣跃)

自己製作的笔记本水冷散热器

笔记本水冷散热器自己製作的

水冷后360硬体检测大师检测的结果本本是05的东芝

j50

检测结果cpu40硬碟32主机板29

小抽水机3-12v的电压最高可达1.5米

下图是通过极品飞车9测试的结果玩了一个小时

下图是自带风扇散热检测结果

可以模糊的观察cpu温度测试已经变红了

下图是水冷后效能测试的结果比以前高了50多呢

电脑水冷要留意水冷头出汗啊,假如出汗那就麻烦咯同

样高温也是的看看下面吧

: f! v- d+ r6 b$ l' h9 a) l4 `8 d高温对电脑的危

害高温对电脑的危害主要可以分为以下两个部分:) l# s, w/

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1、对半导体电子元器件(cpu、显示卡晶片、主机板晶

片组等)的危害(本次重点)

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危害

1 f8 c5 b/ ]: s: o: } 我们先来看看高温对电脑

最主要的危害,也就是对半导体电子元件的危害。

1

1 i5 ' }" f2 g% t: }( q1 m 依据电子学理论,

频率的提高(在稳定的前提下)对于半导体电子元件寿命不

会有影响,但是频率变高后,却会产生更多的热量,电子元

器件像cpu、记忆体等等,表面积都特殊小,多产生的热量

都聚集在这小小的地方,如散热不好将会产生极高的温度,

从而引发"电子迁移"现象,而且现在的电脑主频越来越高,

再加上还有我们一伙diy为了猎取更多的**能而加电压超频,

如此一来,产生的热会更多。

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f那么"电子迁移"到底是什么?"电子迁移"属于电子

科学的领域,在1960年月初期才被广泛了解,是指电子的

流淌所导致的金属原子的迁移现象。在电流强度很高的导体

上,最典型的就是积体电路内部的电路,电子的流淌带给上

面的金属原子一个动量(momentum),使得金属原子脱离金属

表面四处流淌,结果就导致金属导线表面上形成坑洞(void)

或土丘(hilllock),造成永久的损害,这是一个缓慢的过程,

一旦发生,状况会越来越严峻,到最终就会造成整个电路的

短路(short),整个积体电路就报销了。

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"电子迁移"现象受很多因素影响,其中一个是电流的强

度,电流强度越高,"电子迁移"现象就越显着。从积体电路

的进展史,我们可以发觉,为了把积体电路如cpu的核心缩

2

小,必需把线路做的越细越薄,如此,线路的电流强度就变

的很大,所以电子的流淌所带给金属原子的动量就变的很显

着,金属原子就简洁从表面脱离而四处流窜,形成坑洞或土

丘。另外一个因素就是温度,高温有助于"电子迁移"的产生,

这就是为什么我们要把cpu的温度维持在50以下(手摸起来

温温的)。

至于温度是如何影响"电子迁移"

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