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2024年8月31日发(作者：但文心)

MC2000超声波检验

MC2100 总则

MC2110 适用范围

MC2120 一般要求

MC2121 检验人员资格

MC2122 超声波检验文件

MC2130 超声波检验设备

MC2131 超声波检验仪器

MC2132 探头

MC2133 耦合介质

MC2134 标定试块和对比试块

MC2134.1 标定试块

MC2134.2 对比试块

MC2140 检验实施要求

MC2141 表面准备

MC2142 探头的校正与时基校准

MC2143 灵敏度调节

MC2143.1 用底面回波进行调节

MC2144 扫查方式

MC2150 缺陷显示表征

MC2151 以底面回波为基准的标定法

MC2151.1 波幅标定

MC2151.2 尺寸标定

MC2151.3 成组缺陷显示

MC2152 以底面回波衰减为基准的标定法

MC2152.1 波幅标定

MC2152.2 尺寸标定

MC2153 以人工反射体为基准的标定法

MC2153.1 幅度标定

MC2153.2 尺寸标定

MC2153.3 成组缺陷显示

MC2160 检验报告

MC2170 自动捡验方法的专门要求

MC2200 铸件超声波检验

MC2210 适用范围

MC2220 一般要求

MC2230 检验条件

MC2231 检验时间

MC2232 检验区域

MC2233 扫查方式

MC2234 对比试块

MC2235 距离一波幅校正曲线

MC2236 缺陷显示表征

MC2236.1 幅度

MC2236.2 尺寸

MC2300 锻件超声波检验

MC2310 总则

MC2311 一般要求

MC2312 检验条件

MC2313 扫查方式

MC2314 超声波检验文件

MC2315 检验报告

MC2316 检验人员的资格(代替AFNOR标准10.1节)

MC2320 横波法检验和(或)斜射纵波法检验

MC232l 对比试块

MC2322 调节和信号显示的表征

MC2400 厚度≥6mm的奥氏体钢和合金钢钢板的超声波检验

MC2410 总则

MC2411 耦合介质

MC2412 阶梯形试块的钢种

MC2413 衰减测量

MC2413.1 原理

MC2413.2 方法

MC2500 管件超声波检验

MC2510 适用范围

MC2520 一般要求

MC2530 检验条件

MC2531 检验时间

MC2532检验区域

MC2533 扫查方式

MC2534.1 无缝钢管

MC2534.2 无填充材料的卷焊管

MC2540 检验设备

MC254 l 手工检验设备

MC2542 自动检验设备

MC2550 功率和增益调节

MC2560 自动装置调节校验

MC2570 缺陷显示表征

MC2580 检验报告

MC2600 全焊透焊缝超声波检验

MC2610 适用范围

MC2620 一般要求

MC2630 检验条件

MC2631 检验时间

MC2632 检验区域

MC2633 表面准备

MC2633.1 对接焊缝

MC2633.2 角焊缝和支管连接

MC2634 扫查方式

MC2634.1 对接焊缝

MC2635 对比试块

MC2635.1 几何形状

MC2635.2 人工反射体

MC2636 功率和增益调节

MC2637 缺陷显示表征

MC2639 焊补区检验

MC2700 隔离焊层、堆焊层及复合层超声波检验

MC27l0 适用范围

MC2720 一般要求

MC2730 检验条件

MC2731 检验时间

MC2732 检验区域

C2733 表面准备

MC2734 扫查方式

MC2734.1 隔离焊层和堆焊层

MC2734.2 复合层

MC2735 对比试块

MC2735.1 型式和几何形状、

MC2735.2 人工反射体

MC2740 缺陷显示表征

MC2741 堆焊层

MC2741.1 幅度评定

MC2741.2 尺寸评定

MC2741.3 成组缺陷显示

MC2741.3.1 体积型缺陷显示

MC2741.3.2 连续未结合型缺陷显示

MC2742 隔离焊层

MC2742.1 幅度评定

MC2742.2 尺寸评定

MC2742.3 成组缺陷信号显示

MC2743 复合层

MC2743.1 幅度评定

MC2743.2 尺寸评定

MC2750 焊补区检验

MC3000射线照相检验

MC3100 总则

MC3110 适用范围

MC3120 一般要求

MC312l 检验人员资格

MC3122 射线照相检验文件

MC3123 基准底片

MC3130 射线照相检验设备

MC3131 射线源

MC3132 胶片系统

MC3133 增感屏

MC3134 滤光板

MC3135 遮挡物质（屏蔽板）

MC3136 透度计

MC3137 标志和定位标记

MC3138 观察设备

MC3138.1 黑度计

MC3138.2 黑度基准胶片和标准样

MC3138.3 观片灯

MC3139 胶片的储存

MC3139.1 胶片封装

MC3139.2 存档柜

MC3139.3 档案室

MC3139.4 环境条件

MC3139.5 胶片的归档

MC3140 检验条件

MC314l 表面准备

MC3142 射线源的选择

MC3143 几何参数

MC3143.1 几何不清晰度

MC3143.2 射线源尺寸

MC3143.3 胶片与零件间的距离

MC3144 射线照相胶片和射线源相对位置

MC3144.1 单壁透照

MC3144.2 双壁透照

MC3144.3 多件全景透照

MC3145 透度计

MC3145.1 透度计选择

MC3145.2 透度计位置

MC3146 暗盒组成

MC3146.1 胶片

MC3146.2 增感屏

MC3147 滤光板

MC3147.1 电压＜400KV的X射线

MC3147.2 γ射线源

MC3147.3 直线加速器和电子感应加速器

MC3148 遮挡物质(屏蔽板)

MC3149 胶片标志

MC3149.1 射线透照件的标志和标记

MC3149.2 射线照相胶片的标志和标记

MC3149.3 曝光次数和胶片重叠

MC3150 射线照相胶片处置和检验

MC315l 射线照相胶片处置

MC3152 灰雾度

MC3153 射线照相底片检验

MC3160 射线照相胶片质量

MC3161 黑度

MC3162 图象质量

MC3162.1 焊接件

MC3162.2 铸件

MC3170 检验报告

MC3200 钢铸件射线照相检验

MC3210 适用范围

MC3220 一般要求

MC3230 检验条件

MC3231 检验时间

MC3232 检验区域

MC3233 表面准备

MC3234 胶片类型

MC3235 特殊检验条件

MC3235.1 滤光板

MC3147.2规定的滤光板是非强制性的。

MC3235.2 透照类型和胶片的评定

MC3235.2.1 厚度不变的零件

MC3235.2.2 厚度变化的零件

MC3235.3 透度计

MC3235.4 毛坯铸件的射线照相

MC3235.4.1 管嘴焊接件

MC3235.4.2 其它区域

MC3235.5 铸件产生边缘效应的区域

MC3235.6 小直径阀门和泵

MC3240 射线照相区域

MC3250 焊补区的检验

MC3300 焊缝射线照相检验

MC3300 适用范围

MC3311 一般要求

MC3312 检验条件

MC3312.1 检验时间

MC3312.2 被检验区

MC3312.3 表面准备

MC3312.4 胶片类型

MC3312.5 射线照相胶片和射线源的相对位置

MC3312.5.1 管子对接焊缝

MC3312.5.1.1 外径φ<90mm

MC3312.5.1.2 90mm<外径φ≤170mm

MC3312.5.1.3 外径>170mm

MC3312.5.2 对接焊缝

MC3312.5.3 全焊透角焊缝

MC3312.6 透度计

MC3312.7 特殊情况

MC3313 被检验区标志

MC3314 焊补区的检验

MC4000液体渗透检验

MC4100 总则

MC4110 适用范围

MC4120 一般要求

MC4121 检验人员资格

MC4122 液体渗透检验文件

MC4200 检验方法

MC5000 磁粉检验

MC5100 总则

MC5110 适用范围

MC5120 一般要求

MC5121 检验人员资格

MC5122 磁粉检验文件

MC5130 磁粉检验设备

MC5131 通电磁化装置

MC5132 通磁磁化装置

MC5133 固定式磁粉检验装置

MC5134 装置的校验或标定

Mc5134.1 磁化装置的校验

MC5134.2 测量装置的标定

MC5135 探测介质

MC5135.1 干磁粉

MC5135.2 磁悬液

MC5135.3 检查探测介质的装置

MC5136 喷粉装置

MC5137 磁化条件的确定

MC5137.1 切向磁场测量仪

MC5137.2 典型试样

MC5137.3 计算

MC5137.4 预定值

MC5140 检验实施要求

MC5141 检验时间

MC5142 检验区域

MC5143 表面准备

MC5144 检验方法的选择

MC5144.1 磁化方法的选择

MC5144.2 探测介质的选择

MC5145 磁化状况的校验

MC5146 注意事项

MC5147 探测介质的施敷

MC5148 磁痕观察

MC5150 磁痕判定

MC5160 清理

MC5170 退磁

MC5180 检验报告

MC5200 便携式触头通电磁化磁粉检验

MC5210 适用范围

MC5220 一般要求

MC5230 检验条件

MC5231 磁化电流强度

MC5232 栅格形图

MC5300 通磁磁化磁粉检验

MC5310 适用范围

MC5320 一般要求

MC5330 检验条件

MC5331 磁化方法

MC5332 专门技术条件

MC5332.1 磁通量法（MC5331.1）

MC5332.2 便携式电磁铁

MC6000 管件涡流检验

MC6100 总则

MC6110 适用范围

MC6120 一般要求

MC6121 检验人员资格

MC6122 涡流检验文件

MC6130 涡流检验设备

MC6131 涡流检验仪器

MC6132 测试线圈

MC6133 自动检测装置

MC6134 对比管

MC6134.1 用于检验一般管件的对比管

MC6134.2 检验不锈钢或高镍合金蒸汽发生器管用的对比管

MC6134.3 热交换器管（蒸汽发生器除外）的对比管

MC6140 检验条件

MC614l 检验时间

MC6142 检验区域

MC6143 表面准备

MC6144 检验仪器的调整

MC6145 仪器调整的验证

MC6150 检验报告

MC7000 其它检验方法

MC7100 目视检验

MC7110 适用范围

MC7120 一般要求

MC7121 检验人员

MC7122 目视检验文件

MC7130 检验设备

MC7131 直接目视检验

MC7132 间接目视检验

MC7133 对比试样

MC7140 检验实施要求

MC7141 检验时间

MC7143 检验条件

MC7150 检验报告

MC7200 表面状况测定

MC7210 适用范围

MC7220 一般要求

MC7230 检验设备

MC7231 说明

MC7231.1 触感和目视粗糙度对比试样

MC7231.2 其它触感和目视粗糙度对比试样

MC7232 表征

MC7232.1 用粗糙度值表征的试样

MC7232.2 不用粗糙度值表征的试样

MC7240 检验实施方式

MC7241 检验时间

MC7242 检验区域

MC7243 检验条件

MC7243.1 清洁度

MC7243.2 照明

MC7243.3 注意事项

MC7244 评定

MC7400 泄漏检验方法

MC7410 适用范围

MC7420 一般要求

MC7421 检验人员资格

MC7422 泄漏检验文件

MC7430 泄漏检验方法

MC7431 方法的选择

MC7432 单位选择

MC7440 检验实施方式

MC744l 初始条件

MC7442 开口处及系统的密封

MC7443 容器及回路的清洗

MC7444 校验标定

MC7445 程序

MC7450 检验报告

MC8000 无损检验人员资格和资格证书

MC8010 无损检验人员资格和资格证书

MC8020 定义

MC9000 名词术语

MC9100 总则

MC9200 名词术语

MC 9210 超声波检验名词术语

MC9220 射线照相检验名词术语

MC9230 体渗透检验名词术语

MC9240 磁粉检验名词术语

MC9250 涡流检验名词术语

MC1000

力学、物理、物理—化学和化学试验

MC1100 总则

本章阐述试验条件和规定试样尺寸。

MC1110 取样方法

MC1111 试验材料

试样在试料中的定位和定向，由第Ⅱ卷中总条款和技术规范规定，并且应该在产品制造

商或供应商提供的文件中予以注明。

MC1112 焊接

试样的定位在第Ⅳ卷附录SI中作了规定。

MC1200 力学性能试验

试验条件和试样尺寸应该遵循下面提到的AFNOR标准（法马通已经为RCC—M标准

将AFNOR标准的题目翻译成英语）和本章中修改和补充的技术条件。

MC1210 拉伸试验

拉伸试验机应按标准NF EN 10002.2中的规定进行校验。所用试验机至少应是1级。

延伸仪应按标准NF EN 10002.4中的规定进行校验（所用延伸仪应是1级或更好），或

按照标准ASTM E.83进行校验（所用延伸仪应是B2级或更好）。

MC1211 室温拉伸试验

应采用标准NF EN 10002-1和NF EN 895，并考虑以下说明：

A 标准NF EN 10002-1“拉伸试验（试验方法）”

附录C

试样直径（拉伸有效段）为10mm。在不能取得这种直径的试样时，只有以获取试

验数据为目的，或在有明确措施使其可行的情况下，才允许采用小试样。

附录D

当管道或管件的厚度允许时，应使用直径10mm的试样。否则，应从管道或管件

上截取条状试样或全截面管段进行试验。

B 标准NF EN 895“金属元件焊缝破坏性试验”；“横向焊缝拉伸试验”

不允许进行本节5.3注中建议的脱气处理。

MC1212 高温拉伸试验

应采用标准NF EN 10002-5并考虑以下说明：

——附录C，第6.2节：

试样直径（拉伸有效段）为10mm。在不能取得这种直径的试样时，只有在有明确

措施使其可行的情况下，才允许采用小试样。

——附录D，第6.2节：

当管道或管件的厚度允许时，应使用直径10mm的试样。否则，应从管道或管件

上截取条状试样或全截面管段进行试验。

——第10.3节：

屈服强度之前的应力增加速率不得超过80MPa/min。

MC1220 冲击试验——从延性到脆性转变曲线的绘制

试验机应按标准NF EN 10045.2中的规定进行校验。 NF 为法国标准（AFNOR） EN

校验间隔应该为12个月，最长不得超过18个月。

MC1221 冲击试验

试样尺寸和试验条件应符合下列通用的AFNOR标准规定：

A NF EN10045.1“夏比冲击试验”

按照第Ⅱ卷和第Ⅳ卷上的技术要求，每一次试验要有2或3个试样。

如果采购技术规范有此要求，对每一个试样均应测定其塑性断口百分率和侧向膨胀值。

这些测量按照以下B、C的要求进行。

B “塑性断口百分率——按照ASTM A370的技术要求”。

C “侧向膨胀值——按照ASTM A370的技术要求”。

测微仪的读数也应得到认可，并应该预先注意以下事项：

—— e

=（e—e

）mm

其中e

=侧向膨胀值；

——试样两个平分段的A和B面，必须处于精确的同一平面（P）中。

——侧向膨胀值应取3次不同测量结果的平均值。

图MC1221

MC1222 从延性到脆性转变曲线的绘制

应按MC1221的要求，根据下列条件，在不少于5种温度的条件下进行试验

——0℃试验；

——在曲线的下平台温度的试验，对应的纤维断口百分率低于10%；

——在纤维断口百分率等于100%的温度下的试验；

——为尽可能精确地确定曲线的形状而选定的其它温度下的试验。

根据NF EN10045.1的规定，试样断裂时的温度，不得偏离规定的试验温度的±2℃。

按照下列要求绘制曲线：

——吸收能值作为试验温度的函数；

——塑性断口百分率作为试验温度的函数。

转变温度TK50%是塑性断口百分率为50%时的温度。

MC1230 Pellini 落锤试验（T

NDT

温度的确定）

试样制备及试验条件应符合ASTM E280标准规定的要求。

在进行每组试验前应确保重锤是从正确的高度（在+10%到—0%的误差范围内）自由坠

落的。所用重锤的重量也是已知的。

采用P3型试样，其尺寸如图MC1230.1所示。

如果技术规范中规定的RT

NDT

≤0℃，则按表MC1230.1所列温度进行试验；

如果技术规范中规定的RT

NDT

≤16℃，则按表MC1230.2所列温度进行试验。

图MC1230.1

P3型试样的尺寸

表MC1230.1

试验温度

2PELLINI

落锤试验

开始试验的温度

两个试样均未冲断

至少有一个试样冲断

表MC1230.2

试验温度

开始试验

的温度

两个试样均未冲断

至少有一个试样冲断

MC1240 基准无延性转变温度的确定

NDT

的温度应通过Pellini落锤试验和KV冲击试验两者确定。

Pellini落锤试验应按MC1230的规定进行。

和KV冲击试验应按MC1221 A的规定进行。

试验温度应根据T

NDT

温度确定（见MC1230）。

试验应按下列方法进行（关于KV试样）：

a）以3个试样为1组，其中每一个试样在给定的温度下同时满足下列要求，则认为试

验有效：

——断裂吸收能量≥68J

——侧向膨胀值≥0.9mm。

b）第一组试样冲击的温度为：

CV1

NDT

+33℃

如果满足上述a）的条件，则：

NDT

如果结果不能满足上述a）的条件，则第二组试验按照下列c）的规定进行试验。

c）如果进行第二组试验，第二组试样的试验温度规定如下：

CV2

= T

CV1

+5℃

如果满足上述a）的条件，则：

NDT

—33℃

d）如果c）条规定温度下的试验，结果不能满足上述a）的条件，则另外一些试验应

在5℃的间隔温度下进行试验。直到求得满足上述a）的条件的温度T

。则认为：

NDT

—33℃

MC1250 焊接热影响区特殊韧性试验

MC1251 Pellini落锤试验

试验条件应按照MC1230的规定。

MC1252 冲击试验

KV冲击试验应按照MC1221 A 进行。

MC1260 弯曲试验

试样尺寸和试验条件应该符合以下AFNOR标准的有关章节和本章的修正或附加的技

术条件。

MC1261 钢制产品的弯曲试验

试验按照AFNOR标准NF A 03-157执行该标准也适合于镍基合金。

MC1262 厚度大于0.5mm并小于3mm的钢板和钢带的单向弯曲试验

试验按照AFNOR标准NF A 03-158执行。

MC1263 焊缝弯曲试验

试验按照以下标准执行：

——NF EN 910 “金属元件焊缝破坏性试验”；“弯曲试验”

对于上述标准已经添加了如下技术要求和修正：

对于取自表面的试样，在进行纵向、横向或侧向弯曲试验时应使焊缝正面表面经受拉

应力。

对于不是取自表面的试样，在进行纵向或侧向弯曲试验时可选任意面受拉。

——将一直径为d的芯棒置于试样焊缝的轴线上，试样支撑在彼此相距为l的两个支撑

辊上，向芯棒施压，使试样弯曲。D和l的数值取决于母材的最小抗拉强度Rm和试样的厚

度a，具体要求由下表给出：

对于异种材料焊缝，取决D和l的最小抗拉强度Rm由母材中最大的抗拉强度值决定。

Rm（MPa）

Rm≤440

440＜Rm≤540

Rm＞540

4.2a

5.2a

4a 6.2a

——试样应弯曲到两端平行为止（α=180°），不再对材料施加任何进一步的压力。

注意：对于弯曲性能不太好的材料，弯曲角度应限制到与其弯曲相适应的数值，这可

在试样拉伸面上进行网络标志予以检验。

MC1264 堆焊层弯曲试验

试验应按照MC1263（标准NF EN 910 “金属元件焊缝破坏性试验”；“横向焊接拉伸

试验”；“弯曲试验”）执行。

试样为厚度10mm，和宽度30mm。

MC1265 杯突试验

试样尺寸和试验条件应符合AFNOR标准NF A 03-652“试样边缘夹紧的杯突试验”规

定的要求。

MC1270 扩口试验和压扁试验

MC1271 钢管的扩口试验

试验应符合标准NF EN 10234规定的要求。

试样为一管段，其两端面垂直于钢管轴线。两端面应该使用机械方法锯下或切下，禁

止使用热切割。

1）奥氏体不锈钢和镍基合金钢管

用一个顶角为60°的锥形芯棒进行阔口试验，直到钢管的内径增量达到如下规定：

热交换器管道

其它用途管道

镍基合金蒸发器管道

2）碳钢钢管

试验条件按照下列表格要求的标准规定：

TU42C—TU48C

TSE2 35A—TSE2 50A

MC1272 钢管的压扁试验

NF A 49-213

NF A 49-142

35%

30%

试验应按照标准NF EN 10233规定的要求进行。

试样为一管段，其两端面垂直于钢管轴线。两端面应该使用机械方法锯下或切下，禁

止使用热切割。管段长度应为壁厚的1.5倍，但不得短于10mm，也不要超过50mm。

1）奥氏体不锈钢钢管

试验分为两阶段：

——第一阶段将钢管压扁到两个平行板之间距离达到一个规定的数值Z为止。Z值按以

下公式计算：

Z=[（1+K）a] / [K+（a / D）]

Z——压板之间距离；mm

a——钢管的名义壁厚；mm

D——钢管的名义外径；mm

K——按照钢管外径D确定的系数，见下表：

用于热交换器管道

其它管道

K=0.15

对于所有“D”和“a”

K=0.13（当D≤114.3）

K=0.11（当D＞114.3）

——第二阶段，继续压扁，直到试样破裂或钢管两内壁相互接触为止。

卷焊钢管压扁时，焊缝应放置在压机上下压板的中间，并平行于上下压板。

2）碳钢钢管

试验条件按照下列表格要求的标准规定：

TU42C—TU48C

TSE2 35A—TSE2 50A

MC1280 硬度试验

试验机和标准试块应按相关AFNOR标准进行校验。

建议试验机每年校验一次，时间间隔不得超过12个月。

——NF EN 10003-2“布氏硬度试验——布氏硬度试验机的校验”；

——NF EN 10109-2“硬度试验——洛氏硬度试验机（A，B，C，D，E，F，G，H，K，

N和T的范围）的校验”；

——NF A 03-504 “钢铁产品——维氏硬度试验机的校验，使用的试验负荷在4.9到

98daN（5到100kgf）之间”；

——NF EN 10003-3 “布氏硬度试验——布氏硬度试验所用对比试块的标定”；

——NF EN 10109-3“硬度试验——洛氏硬度试验机（A，B，C，D，E，F，G，H，K，

N和T的范围）所用对比试块的标定”；

——NF A 03-507“钢铁产品——维氏硬度试验——所用硬度对比试块的标定”。

试验条件按照现行AFNOR标准以及本规范MC1281，MC1282，MC1283和MC1284

的规定执行。

这些标准也适合于镍基合金。

MC1281 钢的布氏硬度试验——试验方法

试验按照NF EN 10003-1标准的规定执行。

MC1282 洛氏硬度试验

试验按照NF EN 10109-1标准“洛氏硬度试验，洛氏试验（A，B，C，D，E，F，G，

H，K范围）和洛氏超级试验（15N，30N，45N，15T，30T，45T范围）”的规定执行。

MC1283 维氏硬度试验（HV5——HV100）

试验按照NF A 03-154标准的规定执行。

MC1284 焊接试料的硬度试验

试验按照NF EN 1043-1标准中以下要求执行：

——硬度试验类型：HV10；

——在任何方向上，相邻两点中心之间的最小距离不得小于最近显示点对角线平均长

度的2.5倍。

MC1290 铁素体含量的测定

当技术规范中要求测定奥氏体——铁素体铸件中铁素体含量时，应按照下列方法之一

NF A 49-213

NF A 49-142

进行：

——根据已知化学成分，使用SCHAEFFLER方法确定铬、镍当量，在图MC1290.1上

标出相应的铁素体含量的代表点。

——从已知化学成分，计算出铬、镍当量：

=%Cr+%Mo+1.5%Si+0.5%Nb

=%Ni+30%C+0.5%Mn

然后，使用下列两个方程式，计算出当量SCHAEFFLER的铁素体含量：

R=（Cr

—4.75） / （Ni

+2.64）

Fe%=（119.11R

—550.34R

+701.94R—297.25）R

注意：此计算法对于铁素体含量在10到25%范围内有效。

MC1300 物理和物理化学试验

MC1310 18—10型铬镍奥氏体不锈钢的加速晶间腐蚀试验

MC1311 总则

本试验的目的是检验产品是否具有良好的抗晶间腐蚀性能，足以承受其在加工和使用

过程中的腐蚀条件。

根据如下加工方式和使用要求确定晶间腐蚀试验条件：

——加工：热成型，焊接（各种方式）；

——使用：温度，环境。

下列方法适合于所有材料的各种严格的试验条件，和确定试验的严格程度。

MC1312 试验说明

将特别制备并经晶间腐蚀敏化处理的试样浸泡在定量的试剂中并经过一段规定的时间。

该试剂为沸腾的硫酸铜硫酸溶液。浸泡后用适当的方式评定试样是否发生了晶间腐蚀。

MC1312.1 取样

按照附录SI中的技术规范和MC1315补充要求取样：

——在收到的产品上取样；

——或在加工的某些中间阶段取样。

——或在炼钢厂，在为取样而特别铸造的并经锻造成合适尺寸的样坯上取样。

注意：厚度过薄的试样（小于3mm），试验结果难以评定。

MC1312.2 试样的制备

试样应从试料上截取。试样的取向，确切位置和尺寸均应按MC1315和如下规定执行：

——从样坯上截取的试样，通常应是厚度3到4mm的，宽度为10mm左右，长度为60

到70mm。试样的轴线应平行于主锻造方向。

——板材或带材的试样应从产品本身上截取，加工到厚度为4mm并保留一个轧制面。

——管材试样可以从实际管道上截取。

当试验的目的是确定厚度小于3mm的不再进行热处理的板材或带材产品的可焊性时，

其晶间腐蚀试验可以在按照MC1312.3的C法处理制备的焊接平板试样上进行。

MC1312.3 试验前试样的处理

※※

实际腐蚀试验前，试样应经下列一种“敏化”处理：

——A法处理

在实验室加热炉中，将试样加热至采购技术规范规定的温度“T”。

温度“T”：对不含钼的18—10型钢为650℃；

对含钼的18—10型钢为675℃。

加热时间不超过5分钟，在温度偏差不超过±10℃下，保持10分钟。

然后，将试样浸入水中冷却。

本处理在试样加工到最终厚度3到4mm之前进行。

——B法处理

在实验室加热炉中，将试样加热至采购技术规范规定的温度“T”。

温度“T”：对不含钼的18—10型钢为700℃；

对含钼的18—10型钢为725℃。

加热时间不超过5分钟，在温度偏差不超过±10℃下，保持30分钟。

试样在炉内以每小时60±5℃的速率缓慢冷却到500℃，然后在空气中冷却。

为确保冷却均匀，加热炉应是恒温控制的并有调定的热循环。

※见MC1315

※※见MC1315

本处理在试样加工到最终厚度3到4mm之前进行。

——C法处理

厚度小于3mm的板材或带材产品A法敏化处理可以用如下焊接件代替：将两块50³

100mm的矩形钢板或钢带，采用焊接件上将采用的同样焊接工艺，取平焊位置焊在一起。

此外，按图MC1312.1所示，横穿试样，熔敷一条焊道。此焊道采用两块试料对焊时所用最

大直径的焊条，并应在第一条焊缝完成后最迟30秒内进行焊接。

※

焊接试样的表面不得有焊渣或氧化物。表面异物可以用磨削或者旋转钢丝刷打磨除去。

所用钢丝刷必须是不锈钢的。如果采用机械清除方法，则必须避免发生过热。

试样轴线应于焊缝轴线重合。试样长度应与无焊缝试样相同：即为60到70mm；宽度

应为45mm。试样边缘应加工光洁。

图MC 1312.1

MC1312.4 腐蚀试验

试样应在沸腾试剂中浸泡72小时

※

，该试剂的成分如下（重量百分比）：

10%结晶硫酸铜（CuSO

，5H

O）；

10%硫酸（CuSO

），比重为1.83；

80%蒸馏水。

每块试块均应完全浸泡在一个单独的装有250cm

试剂的锥形或圆形玻璃烧瓶中对由两

块板材焊接而成的试样，则需要500cm

试剂。

整个试验过程中，试剂必须一直保持沸腾（建议采用电加热砂床温度浴池，为避免试

※如果试剂中加入铜屑，浸泡时间可以缩短到24小时。

剂产生过分旋涡，必要时可在玻璃烧瓶中加入几粒玻璃珠子。如果烧瓶是平底的，应采取措

施，避免试样表面与瓶底的接触）。

整个试验过程中，试剂浓度应保持不变。为此，应在容器顶部安装回流冷凝装置。

新鲜试剂只能用来进行一次试验。

腐蚀处理后，试样应用水彻底冲洗并吹干。表面腐蚀产物应清除掉。

MC1312.5 腐蚀后的检验

腐蚀处理后，试样应经历一系列检验，以确定是否有晶间腐蚀的迹象。

这些检验包括：

a）声响试验：使试样掉落到金属表面上；

b）弯曲试验：围绕芯棒慢慢将试样弯曲到90°角度，芯棒直径不大于试样腐蚀试验

前厚度的两倍。

当试样是由两块板材或带材焊接而成时，芯棒应沿焊缝轴线放置，因此焊缝表面构成

弯曲试样的凸面（见图MC1312.1）。

当试样是整段管材时，将该管段压扁，直到压扁间距等于管壁厚度4倍为止。如管子

有纵向焊缝，则必须沿焊缝轴线弯折。

c）显微镜检验（可选择的补充试验）

MC1313 要求达到的结果

a）经腐蚀试验的试样，在撞击钢表面时，应发出清脆的金属声音。

为了便于鉴别试验结果，可将每个试样与另一个对照试样进行比较，对照试样与被检

试样同时取自产品，并且经过全部同样处理，只是未进行腐蚀试验。

试样越薄，鉴别其声响质量越难。通常不用厚度小于3mm的试样。

b）对弯曲成90°角度或压扁的试样，其张力表面应无裂口或裂纹。如果出现这种现

象，应继续试验到试样断裂。在部分或全部断裂处，断裂面上应无晶间腐蚀迹象。

与声响试验相同，为了鉴别弯曲和压扁试验的结果，也可将被检试样与经历相同处理

的对照试样进行对比。

c）仅在解释上述两种鉴别试验结果产生疑问时，才采用显微镜检验。

MC1314 评述

这些试验的严格程序，主要取决于对试样进行的“敏化”处理的类型。

“B”法处理通常用于检验产品的抗高温晶间腐蚀性能。

对于产品可能受焊接影响的那些区域，在相对低的温度环境中，验证其对晶间腐蚀的

敏感性时：

——产品的厚度不超过3mm：一般采用A法处理，但对于厚度小于3mm的板材、带

材或管材，也可采用C法处理。

——所有其它产品采用B法处理。

对各种类型18—10不锈钢均应进行以下相应的处理：

a）低碳18—10不锈钢（C≤0.06%）

作为一般规则，由这种钢制造的厚度小于3mm的产品，在经过一道或多道焊接后，仍

然能够经受晶间腐蚀。因此试验要求的处理是：

——A法处理，在温度650℃下保温10分钟（在此温度下保温处理过久，不是增加了

这种低碳不锈钢的腐蚀敏感性，而是实际降低了它们的敏感性）。

——或C法处理。

b）超低碳18—10不锈钢（C≤0.03%）

一般说，这种不锈钢在任何环境下均能抗晶间腐蚀。通常采用在700℃下的B法处理。

c）含钛或铌稳定的18—10不锈钢

与超低碳18—10不锈钢的处理方法相同。

d）含钼低碳18—10不锈钢（C≤0.07%）

试验与评述与超低碳18—10不锈钢相同。A法处理，温度“T”为675℃。

e）含钼超低碳18—10不锈钢（C≤0.03%）

试验与评述与超低碳18—10不锈钢相同。B法处理，温度“T”为725℃。

f）钛或铌稳定的含钼18—10不锈钢

试验与评述与含钼超低碳18—10不锈钢相同。

MC1315 备注

1）上述晶间腐蚀试验也适用于奥氏体—铁素体不锈钢。

2）多数情况下，试料和试样应符合以下要求：

试料的尺寸应能提供全部试验和复试的足够数量的试样。

对每一晶间腐蚀试验，至少要加工两个试样，一个用作对比试样。

腐蚀试样的通常尺寸为70³10³4mm。

A 锻件和轧制产品的取样

A1 浇包取样

取自锻造比≥3的锻坯的试棒，在最终产品固溶热处理温度下，保温1小时后进行淬火

完成固溶热处理。试样轴线应与锻造延伸方向平行。

试样表面至少在锻坯表面以下3mm。

A2 半成品取样

应在半成品的形状和厚度足以截取70³10³4mm试样的加工阶段，截取半成品试料。

试料应按成品同样的方式进行固溶热处理。

试样轴线应平行于主锻造延伸方向。试样的表面应是半成品表面。

A3 成品取样

试样就取自交货状态的成品。

——板材、薄板材和带材的试样中心线应平行于主锻造（轧制）延伸方向。

——厚度大于4mm的产品，应仅从一面加工到4mm厚试样。试样必须包含将来与腐

蚀性环境相接触的成品表面。对于厚度小于4mm的产品，试样的厚度应与产品的厚度相同。

——直径≤30mm的管材，可取长度为30mm的完整管段作为试样。对于直径＞30mm

的管子，可按板材或带材同样的方法取试样。

——对于锻件，试样应取自代表一批零件的一个零件，或取自专为取样而提供的延长或

延伸部分。试样的轴线应平行于锻造延伸方向。

若制造零件时表面不进行机械加工，则试样表面应由零件表面本身构成；如果进行机械

加工，考虑到制造中加工的允许平均厚度裕量，试样表面应位于代表成品零件表面的深度。

以上所考虑的表面，是指在使用中与流体接触的表面。

B 铸件的取样

从本身取自有代表性的铸锭或从经固溶热处理的铸件延伸部分切取试料，再由该试料制

取试样。

在任何情况下，试料应与铸件同时进行固溶热处理。

试样表面应制造中机械加工的允许平均厚度裕量，试样表面应位于代表成品零件表面的

深度。以上所考虑的表面，是指在使用中与流体接触的表面。

3）在按MC1312的规定，对试样进行截取和粗加工后，和对试样进行敏化处理之前，

试样的表面和边缘应使用粒度为50到120目的无铁磨料进行抛光。

然后，用丙酮或酒精仔细清除试样表面的油污。

如果试样的一个面代表成品的表面，则不得对该面进行抛光或洗刷，只能用丙酮或酒精

清除试样表面的油污。

4）敏化处理后，实际腐蚀试验之前，试样的每个表面应进行最大深度为0.2mm的精

加工，并用粒度为150到180目的无铁磨料进行抛光。抛光时不得使试样过热。抛光应沿纵

向，不得彼此交叉。

然后，用丙酮或酒精仔细清除试样表面的油污。

MC1320 金相组织检验

金相检验应按MC1321，MC1322和MC1323各节中提到的AFNOR标准进行。

MC1321 金属强无机酸浸蚀宏观组织检验

试验应符合标准NF A 05-152规定的要求。

MC1322 微观检验

试验应符合标准NF A 05-150规定的要求。这种检验的放大倍数之一是200倍。

MC1323 纤维素薄膜复制微观检验

试样表面应使用一种适合于任何钢种的清洁剂仔细清除油污。然后，从逐个方向进行

机械抛光。特别强调，应防止过热和变形硬化。每次抛光后，表面均应清洗。最后应进行电

解抛光。电解抛光后，表面应先用水，后用丙酮仔细清洗并吹干。然后用合适的试剂浸蚀并

最后清洗吹干，以便涂敷纤维素薄膜。

MC1330 晶粒度

晶粒度测定应按照MC1331中提及的通用AFNOR标准的规定要求进行。

MC1331 钢中铁素体和奥氏体晶粒度的测定

镍基合金应使用适当试剂进行浸蚀，并按NF A 04-102标准进行显微照相比较，评定晶

粒度。

MC1340 铁素体含量的测定

MC1341 范围

本节阐述奥氏体—铁素体不锈钢中铁素体含量的测定方法，适用于按第Ⅱ卷“材料”

篇中零件采购技术规范供货的铸件或铸造零件，或按第Ⅳ卷“焊接”篇所评定的焊接工艺进

行焊接的焊接件。这种测定可以使用下列三种方法（MC1342到MC1344）中的一种进行。

在供货商与承包商之间有分歧的时候，在实验室中采用双方同意的程序进行仲裁测量。

MC1342 磁饱和法

这种方法是测量试样的磁饱和矩。这个磁矩M，与磁相的浓度n，这个相的比磁强度S

以及试样的质量m成正比：

M=n³S³m

测量装置用已知铁素体含量的标准块标定。标准块用与试样相同的钢种制造，其铁素

体含量n

与试样预期铁素体含量尽量接近。这个标准块的铁素体含量n

应是已知的，相对

精度为3%。

标准块的磁矩M

用三次连续测量的平均值确定。

试样的磁矩用同样方法确定。

标准块的质量m

和试样的质量m的测量精度为±0.01g。

试样的铁素体含量通过上述测量，可用下式推算出来：

N=n

³（m

/m）³（M/M

）

MC1343 金相法

本法应按AFNOR标准NF A 05—165进行。所用放大倍数在100到800之间。选择的

放大倍数应使在铁素体层中的平均切割段近似等于晶格间距的一半。

相对精度应为10%。在沿垂直平面所切割的两个截面上用草酸浸泡后进行测量。每个

平面上的观察区域数量最少为30个。

对在每个平面上得到的置信区间都应进行计算。如果两个置信区间彼此重叠，则其铁

素体含量的平均值和置信区间应根据两组值进行确定。否则应记录两个方向的铁素体含量和

置信区间。

MC1344 非饱和磁场法

a）装置

所用装置（Perma—显示器、铁素体显示器）的类型和商标，在试验报告中应该予以规

定。

b）标定

测量之前，用铁素体含量分别为5、10、20和25%的标准块对装置进行标定。这一标

定应保证装置的响应是线性的。

标准块在使用之前，应用Sigma计（磁饱和法）或用金相法，确定其铁素体含量。

c）对测量区域的要求

——表面状况

零件或试样测量区域的表面粗糙度Ra＜20μm。

——试样的测量

最小尺寸：

——厚度＞1cm；

——面积＞2.5cm³2.5cm。

当从铸锭切割时，试样应取自表面以下15mm。

——测量点

测量点与试样或零件边缘的距离应大于1cm。

d）铁素体含量的测定

铁素体含量的测定应由零件加工表面或试样所进行的一组若干测量的平均值确定。对

于试样，如果可能，应在两个相互垂直的平面上进行测量。

MC1350 化学分析

在供应商选定的试验室，按照试验室常用的方法，进行化学分析，并用其它方法校验

分析结果。

当制造商和供货商对分析结果产生分歧时，应在双方共同选定的试验室，按照AFNOR

标准进行化学分析。

在试验室中所用分析仪器的标定方法和校验结果应该是经过鉴定并有效的。

MC1360 奥氏体不锈钢热交换器管的残余拉应力的估测

这些试验适合于热交换器管。

MC1361 C型环应力—腐蚀试验

将最小长度为100mm或为其直径3倍的环管段一侧，沿长度方向从顶至底切开。在试

样中心，沿垂直于切开面的轴线方向，测量管段直径的增大量。可以使用下列公式计算管子

的残余拉应力：

δ=[（E³e）/（1—υ

）]³Δφ/（D

³D

）

其中：

δ——残余拉应力

E——弹性模量=2³10

bar

υ——泊松比=0.3

e——管壁厚度，mm

Δφ——管段直径增量，mm

——纵向切开后管段直径，mm

——管段初始直径，mm

残余应力应小于7hbar。

MC1362 沸腾氯化镁试验

1 范围

本节的目的是规定在沸腾的氯化镁溶液中应力腐蚀裂纹实验的方法，以论证在奥氏体

不锈钢零件中存在残余拉应力。

2 一般条件

本试验用于下列各类奥氏体不锈钢：

Z5CN18—10，Z5CND17—12，Z10CNT18—11，Z2CN18—10和Z2CND17—12。

然而，对不含钼的钢种，当其经受的导致相变的变形百分率很小时，该材料对裂纹试

验的敏感性可能消失或减弱。

因此对不含钼的钢种，试验的敏感性应用MC1362.3、MC1362.4和MC1362.5的方法并

用如下组合进行验证：

——按F4450，机械胀接的2个试料，或

——2个倒U型弯管试样。

应遵守下列条件：

——承受管子的管板的选择：应与管子为同一钢种。

——管子的选择：如可能，管子应从试验钢种的生产管子中取样。否则，选择同样制

造工艺生产的奥氏体不锈钢钢管。如果证明不可行，用进行下列处置后的同一尺寸的管子。

——化学成分分析

——加热到1025℃，保温20分钟，空冷。

——氟硝酸酸洗

在制备试验管子时，为了减小在表面上产生的残余应力，可对管子进行消除应力热处

理。

3 试验原理

试样浸泡在氯化镁溶液中。

第2节列出的各类奥氏体不锈钢，在对应于沸点155℃的试剂浓度，浸泡24小时的试

验表明，试样表面上的裂纹一般出现在残余应力超过100±20MPa处。裂纹方向与形成点处

最大拉应力方向垂直。

4 方法

按照ASME G36建议的方法进行试验。

5 试验后的检查

试验后，试样在体积比为50%的商业级盐酸溶液中，在室温下浸泡16小时。在胀入管

板的管子试样的情况下，浸泡前将管板卸下。

试样用蒸馏水仔细漂洗和彻底吹干。

应用红色有机渗透液进行液体渗透检验，以发现裂纹的存在。有疑问时，可进行显微

检验。

在试样切割平面附近处形成的裂纹，应该不于考虑。

6 结果的分析和解释

若在试验区域没有发现裂纹，表面其残余应力水平低于100±20MPa的预计裂纹的阀

值。然而，若在试验区域发现裂纹，可以进行附加试验，以评估引起裂纹的残余应力水平。

为此，可在不同温度和时间条件下进行新的试验，以产生一个更高的裂纹阀值。新的试验条

件应通过按ASME G38用C形环试样进行的标定来证明有效。

如果引起裂纹的残余应力的水平低于150MPa，试验结果应宣布为满意。

MC2000 超声波检验

MC2100 总则

MC2110 适用范围

本章阐述的一般要求适用于本规则规定的超声波检验。

这些要求适用于单探头（具有一个或两个压电晶片）反射法。

超声波检验涉及到的参照技术，除非另有规定，均以手工来完成。在实施之前，也可

向承包商提出给出的总结结果至少是等效的其它技术。提交的技术应附有符合MC2170的

支持性说明。

MC2120 一般要求

MC2121 检验人员资格

超声波检验应由按MC8000规定取得资格证书的人员来实施。

MC2122 超声波检验文件

超声波检验必须按照一系列适当确认的文件（操作规程、工序卡、细则卡）所规定的

要求进行。这些文件应符合适用章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检验物项的类型、尺寸、范围和所用材料的类型；

——本规则和其它适用文件的相关章节的编号；

——检验设备：脉冲发生器、探头、耦合介质、自动检验仪器（如使用）、标定试块和

对比试块。

——检验实施条件：试验区域和表面条件；

——检验规程：波的传播角度和传播方式（接触法或浸液法）、扫查条件（表面、方位

和检验方向）；

——记录水平；

——验收准则。

MC2130 超声波检验设备

MC2131 超声波检验仪器

脉冲反射型发生器：可配用标称频率为1～6MH

的探头，此频率适应相关技术规范的

要求。

在示波幅度于示波屏全高的至少80%内，垂直线性误差不超过示波幅度的5%。

在整个示波屏有效宽度内的水平线性误差不超过时间基准的2%，测量应该按照NF

A09-320标准中的规定进行。

每台设备在下列情况下均应该进行校验：

——设备验收时；

——修理后；

——至少每年一次。

MC2132 探头

探头的标称频率和压电晶片的尺寸，应根据被检验的材料的类型和尺寸选定，并应符

合有关章节的要求。纵向波和横向波的频率一般在1～6MHz之间。

频率和折射角应在采购技术规范中逐一加以规定。必要时，也可使用其它参数值。

压电晶片可以是圆形或矩形(手工检测探头矩形晶片的长和宽之比应≤1.5)。

压电晶片的最大允许尺寸在10～30mm之间。

在普通探头不适用的特殊情况下，可采用特殊探头(双晶体探头、折射纵波探头、可变

角探头、小型探头等)。

MC2133 耦合介质

可使用的耦合介质有：

——掺润湿剂或不掺润湿剂的水；

——糊剂；

——油；

——油脂；

——掺水的纤维素胶等。

耦合介质的性能，在整个试验中应保持稳定。

试验结束后，如果耦合介质有碍后续的加工或检验工作，则应予以清除。对于完工的奥

氏体钢或镍基合金零件，应将表面上的耦合介质清除掉。

MC2134 标定试块和对比试块

MC2134.1 标定试块

采用的标定试块应按AFNOR标准NF A09—310的规定。

MC2134.2 对比试块

对比试块可用来自下列各项的材料制造：

——被检验件的延长部分；

——材料和热处理状态均与被检验件相同的边角料；

——声学特性接近于被检验材料的产品。

对比试块的扫查面应经过机加工，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。对比试块的几何形状、

反射体的尺寸和位置(需要时)均在本规则的相关章节中予以规定。需要时，反射体的位置和

数量。应使被检零件的整个厚度都能受到检查。

采用底面回波法的对比试块，其厚度应与被检验件厚度相等，其允许误差：

——厚度≤50mm的，为±20％；

——厚度>50mm的，为±10mm。

MC2140 检验实施要求

MC2141 表面准备

扫查面应无油漆、无疏松氧化皮、无干耦合介质、以及无所有其它可能影响超声波在被

检测件中传播、或有碍探头自由移动、或引起判断误差(由于声波转换造成的干扰波)的表面

杂质和不平整。

除非另有规定外，表面粗糙度Ra按MC7200要求测定，不得超过12.5μm。

MC2142 探头的校正与时基校准

斜探头波束入射点的测定，采用MC2134.1规定的标定试块。

时间基准的校准和特别是斜探头折射角的测定(测得角度与检验文件规定值间的偏差不

得超过2°)按下述规定进行：

——铁素体钢零件，采用MC2134.1规定的标定试块；

——奥氏体钢和高镍合金：采用装于试验件上的人工反射体；试验件材料的声学特性接

近于被检验的材料。采用这种方法达到的精度，应与铁素体钢采用标定试块时所达到的精度

为同样范围。

用直探头检测时，可在被检验件上具有两个平行表面的一段上进行时间基准校准。

每次检验之前都应进行上述操作。

MC2143 灵敏度调节

应利用响应脉冲来调节灵敏度，该响应脉冲来自远离探头的那一面(底面回波)，或来自

人工反射体(圆柱形孔的侧面、圆形平底孔和槽)。

这些调节应通过将放大器阈值调到零时同时进行。在调节时，应选取增益和功率(当可

调时)，以获得最佳信号—噪声比。

在每次检测开始之前，应调节灵敏度，并在检测一小时后和此后每两小时进行校验。当

操作人员认为有漂移时，以及每轮检测结束时，也应进行校验。

这些调节不需写专门报告。

如果校验时测得的漂移值不大于土2dB，则可认为该次校验结果正常。如超过士2dB，

则前次校验后所检测的零件须重新检测。

注：因为首次调整是使用对比试块，随后的调整或校正可以使用对比试块的转移试块。

这个转移试块应能记录时间—波幅曲线，或能记录初始得到放大值的证明。

MC2143.1 用底面回波进行调节

探头应置于零件的完好区上，将参考底面回波幅度调节到屏幕高度的75％左右。以此

作为记录缺陷信号的基准高度。

MC2143.2 用对比试块中人工反射体的响应进行调节

可采用下列两种方法：

a) 距离一波幅校正曲线

选择合适的探头位置，使能得到响应最强的反射体最大回波，并且将波幅调到屏幕高

度的75％左右。

然后，测出从其它反射体获得的最大回波幅度。将测点连接，做出的曲线便是距离一波

幅校正曲线。除被检测件的厚度很薄情况外，该曲线至少要由三点连成。

如果从一个反射体获得的回波幅度小于屏幕高度的25％，则可按MC2143.2a图所示，

绘制分段的距离一波幅校正曲线。

然后，应进一步调节，直到这一回波幅度约为屏幕高度的75％。

b) 如果仪器性能允许，距离一波幅校正曲线可代之以测得每一反射体回波幅度调至同

一高度(大约为屏幕高度的75％)时所需的增益值。

图MC2143.2a 分段距离—波幅校正曲线

MC2144 扫查方式

被检验部位的扫查应按本规则相关章节的要求进行。

原则上，在扫查缺陷时，考虑本底噪声后，尽量将灵敏度调到最高。如果本底噪声干扰

缺陷探测，和(或)如果在这一灵敏度下，不能从最接近对比试块扫查面的反射体得到清晰的

回波时，应将灵敏度调到较低进行探测，但不能调到比被检验区参考点灵敏度还低。

按上述方法，应能在单向或多向扫查时不同的信号显示中得出一致的缺陷显示。

当需要时，记下被检验材料厚度范围内的盲区深度（以mm表示）。该深度通常用如图

M2144所示的在标准调节状态下相应于反射体距扫查表面的最远距离L来表示。

图MC2144

MC2150 缺陷显示表征

MC2151 以底面回波为基准的标定法

MC2151.1 波幅标定

任何缺陷显示均以比值K表示其特征

K=10Dn/F

式中：

Dn——第n次缺陷回波幅度；

n——MC2143.1中规定的第n次参考回波幅度。

除在相关章节中另有规定外，一般取n=1。

MC2151.2 尺寸标定

应将探头置于能获得信号显示的最大回波处，然后绕这个位置进行移动，直至所得到的

回波衰减到50％(一6dB)。

探头每移动得到一个新的位置，都要记下波束轴线的位置。

将这些波束轴线位置点连接起来，用其所围的面积来定义缺陷区。以这一区域的最大K

值表示该区域缺陷的严重程度。

MC2151.3 成组缺陷显示

当一组缺陷显示按单一缺陷显示处理时，应按本规则相关章节的规定进行。

MC2152 以底面回波衰减为基准的标定法

MC2152.1 波幅标定

所有能观察到底面回波衰减的区域，均以比值R表示其特征

R=F

n/Fn；n=1

式中：

1——MC2143.1规定的“一次反射”参考底面回波幅度；

F1——所考虑区域的“一次反射”参考底面回波幅度。需进行核对以确保底面回波的

衰减不受被检验件几何形状的影响。

MC2152.2 尺寸标定

将探头放置在能获得R最大值(相应底面回波的最小幅度)的地方。然后围绕这一位置移

动探头，直到所得的底面回波幅度达到要求的R值，即按照采购技术规范要求，回波幅度

增加50％(+6dB)。

探头每找到一个新位置，记下波束轴线位置。

将波束轴线位置的各点连接起来，所围面积即为缺陷区。

MC2153 以人工反射体为基准的标定法

MC2153.1 幅度标定

a) 如果按MC2143.2a的规定，采用距离一波幅校正(DAC)曲线，利用绘制这样的DAC

曲线所用的同样(灵敏度)调节，将缺陷区测得的最大幅度与同样声程的曲线的纵坐标进行比

较。以距离一波幅参考曲线的百分数表示缺陷的严重程度。

b) 如果按MC2143.2b的规定进行调节，一旦确定缺陷深度，就将调节返回到用最类

似的人工反射体验证的水平，也调回到参考幅度。应以参考幅度的百分数表示缺陷的严重程

度。

MC2153.2 尺寸标定

先将探头放在缺陷显示的最大回波处，然后根据推测的缺陷取向，使探头平行于这个方

向来回移动。当探头达到回波衰减的50％(一6dB)时，用探头的初始位置到移动位置之间的

最大距离表示缺陷区的面积。

显示缺陷区的面积，按上述测定的两个相互垂直尺寸的积确定。

MC2153.3 成组缺陷显示

当将一组缺陷显示按单一的缺陷显示处理日寸。按本规则相关章节的规定进行。

MC2160 检验报告

除了本规则其它处另有规定外，检验报告应包括下列内容：

——制造商、订货单和设备的名称和识别号码；

——焊缝、隔离焊层、堆焊层或者被检验件标志，包括被检验件材料类别(铁素体、奥

氏体钢等)及采用的加工方法(锻造、轧制、铸造)；

——所用检验文件的名称；

——检验时间；

一一表面准备(方法、清洗)；

——使用设备的类型、标记及名称；

²试验装置

²探头(尺寸、频率)；

——标定和调节条件(使用的标定试块和对比试块)；

——测出的盲区长度(在适用情况下，否则注明“不适用”)；

——检验规程：

²被检验件所采用的超声波束角度和采用的波型；

²扫查方向；

——等于或高于记录水平的显示特征；

——评定结果；

——由另外单位分包时的负责公司标志；

——检验员姓名和资格；

——检验日期和检验员签名。

自动检验时，检查员是无损检验的检查代理人，他批准装置调整和检验结果。

为了避免不必要的重复，上述一些内容在经适当确认的制造商文件中给出，可将其附在

检验报告中。

MC2170 自动捡验方法的专门要求

要提交承包商预先批准的文件应包括下列内容：

——对检验方法的鉴定大纲，和证明自动检验方法在探测、评价与验收方面等效于基准

检验方法的试验结果；

——控制程序。

应特别说明为防止会使检查的有效性失效的软件和控制顺序两者的偏差所用的规则。

MC2200 铸件超声波检验

MC2210 适用范围

本章阐述了本规则第Ⅱ卷中要求的铁素体钢铸件采用单探头纵波反射法的超声波检验。

MC2220 一般要求

在MC2100中关于此种检验方法规定的一般要求在此均适用。此外，补充以下要求。

MC2230 检验条件

MC2231 检验时间

被检验件在加工过程中哪个阶段进行超声波检验详见本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2232 检验区域

检验区域和检验范围在本规则第Ⅱ卷中作了规定。

MC2233 扫查方式

选择能扫查到整个被检区的扫查方式。

除非采用的技术(扫查方式、浅盲区探头等)能避免盲区，否则应按MC2144规定注明盲

区长度。

MC2234 对比试块

应按MC2134.2的要求制作对比试块。

反射体应是直径为6mm的垂直于扫描面的平底圆孔。反射体的数量和位置，应能使被

检验件的整个厚度得到检验。第一个反射体距扫查面最大距离为25mm。最后一个反射体距

扫查面的距离等于最大的被检厚度，其偏差为土20％。

MC2235 距离一波幅校正曲线

按照MC2143.2的要求，绘制距离一波幅校正曲线。厚度大于40mm时，至少使用3个

在MC2234规定的反射体。厚度≤40mm时，只需2个反射体。

MC2236 缺陷显示表征

MC2236.1 幅度

应按MC2153.1表征缺陷显示幅度。

MC2236.2 尺寸

应按MC2153.2表征缺陷显示尺寸。探头要设置在能观察到的信号回波幅度衰减为6dB

的位置。

MC2300 锻件超声波检验

MC2310 总则

MC2311 一般要求

应采用AFNOR标准NF A04-308所规定的一般要求。就直探头纵波检验法而论，显示

的幅度应用等效直径法表征。对这些技术要求补充如下。

MC2312 检验条件

检验时间

锻件在加工期间的哪个阶段进行超声波检验，按本规则第Ⅱ卷中的有关规定。

检验时，1、2和3型锻件的外形应能使扫查面与其背面平行。

如果热处理质量要求，使得锻件的外形或锻件的被检验区域不能遵照上述要求，则应在

进行这样的热处理前，作一次完整的初步检验。此项初步检验应在锻件上述两表面保待平行

的那个加工阶段进行。热处理后的检验应尽可能全面进行。

被检区域

被检区域和检验程度按本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2313 扫查方式

l型锻件

除在第Ⅲ卷零件采购技术规范中另有规定外，只对最小尺寸≥50mm的锻件进行检验。

在完工状态下需打孔的零件，应在打孔前进行检验。

只应在波束衰减和(或)可能的波型转换不影响缺陷的判定条件下进行圆柱形锻件从两

端开始的轴向扫查，和平行六面体锻件的纵向扫查。

3型锻件

在沿轴向检验此类锻件时，应考虑被检件的几何形状，通过合理选择探头和扫查面，将

诸如边缘效应或壁面效应这样的寄生现象减至最小。这种检验应在波束衰减和(或)可能的波

型转换不影响缺陷的判定的条件下进行。

4型锻件

根据锻件的几何形状、被检验区和扫查面的可探测性，应在打孔前或打孔后，采用直射

纵波法进行检验。只要可能，这种检验应在彼此垂直的方向上进行。

注：当由于材料中声波束的衰减而得不到底面回波时，则从两个表面进行检验到各超过

长度的一半加10％。

MC2314 超声波检验文件

按本规则第Ⅲ卷MC2122节的规定。

MC2315 检验报告

以本规则MC2160节代替AFNOR标准第Ⅱ章的规定。

MC2316 检验人员的资格(代替AFNOR标准10.1节)

从事超声波检验的人员应按MC8000要求取得资格证书。

MC2320 横波法检验和(或)斜射纵波法检验

当第Ⅱ卷零件采购技术规范已经明确指示采用横波法检验或斜射纵波检验时，下述关于

对比试块和标定方法的描述完全适用并且代替AFNOR标准NF A04—308的相应条款。

MC232l 对比试块

对比试块规定如下：

a) 几何形状

一般来讲．对比试块应是一直角平行六面体。检验直径≤250mm圆柱形锻件用的对比

试块是例外。在后者情况下，它应具有与被检验件相同的曲线半径(偏差士25％)。

试块的宽度应约为60mm。当厚度≤100mm时；试块长度可小于60mm，但应能调节增

益而无边缘效应。其长度能制作成待探测的基准反射体。其厚度应为：

——1次反射法检验时：等于锻件厚度±5mm；

——直接扫查时：锻件厚度。

b) 人工反射体

人工反射体应由机加工出的槽或圆柱形孔所组成，其横向平行于对比试块扫查面。

厚度e≤100的锻件，在扫查面的背面设置表MC2321.b）规定的纵向矩形槽。

表MC2321.b）

厚度，mm e≤20

长度，mm

宽度，mm

深度，mm

≥50

≤1

“e”的5%，最小0.1mm

≥50

≤1

≥50

≤1

1．5

厚度e≤100的锻件，至少钻三个直径为2mm的横向贯通试块的孔。

这些孔在厚度方向上的分布，应能在试验下绘制出1覆盖整个检验厚度的基准曲线。

MC2322 调节和信号显示的表征

本规则MC2143.2和MC2153.1在此适用。

MC2400 厚度≥6mm的奥氏体钢和合金钢钢板的超声波检验

MC2410 总则

NF A 04-305标准的要求在这里是适用的，除此之外，补充下列要求。

MC2411 耦合介质

对奥氏体钢或镍基合金被检件的最终表面检验结束后，应清除其耦合介质。

MC2412 阶梯形试块的钢种

阶梯形试块应该使用具有相近超声波穿透性的高合金钢制作。

MC2413 衰减测量

MC2413.1 原理

衰减测量的目的是在不干扰正常的检验操作情况下，探测回波衰减大于—18dB的区域。

MC2413.2 方法

根据探头、质量分级要求、钢板厚度和牌号，一次底面回波相对于基准波幅和屏幕总

高度应具有不同的幅度。

MC2413.2.1

如果在检测状态下，一次底面回波经过—18dB衰减后，在屏幕仍然可见回波顶端，应

记下相应的波幅，并以此顶端作为标出吸收区域的阀值（见图1）。

图1

在吸收区域，任何显示均应在考虑吸收（灵敏度漂移的重新调整）的条件下评价。零

件采购技术规范或订货单可以要求附加检验（衰减起点的探测）。

MC2413.2.2

如果一次底面回波经过—18dB衰减后，其顶端不出现在屏幕上，则应观察第二回波（二

次扫查），并记下此波幅，并以此作为吸收区域的阀值（见图2）。

该吸收区域应按MC2413.2.1处理。

图2

MC2500 管件超声波检验

MC2510 适用范围

本节适用于无缝钢管或无填充材料的卷焊管采用斜射横波接触法或浸液法的超声波检

验，钢种包括：

——碳钢；

——奥氏体不锈钢；

——本规则第Ⅱ卷中规定需作这种检验的高镍合金。

不适用于下列情况：

——直接用棒材锻造和镗孔所成的管件；

——直接借助芯棒锻造所成的管件；

——直接借助芯棒拉拔或挤压成形所成的厚壁管(壁厚≥50mm)；

——铸造管件。

这些管件检验包括在本规则其它章节中。

注：超薄壁管件可采用兰姆波(Lamb wave)检验。

MC2520 一般要求

MC2100的一般要求在此是适用的。此外，补充下列要求。

MC2530 检验条件

MC2531 检验时间

管件加工至哪一阶段进行检验，详见本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2532检验区域

被检区域和检验范围按本规则第Ⅱ卷规定。

当使用自动检验装置时，应确定出经自动和手动(在两端)检验的管的长度。

MC2533 扫查方式

a) 沿两相对的方向进行扫查：从圆柱外表面沿圆周和(或)纵向开始扫查。这些要求在本

规则第Ⅱ卷有规定。

b) 根据被检件厚度，折射角应在35°～70°之间。

MC2534 对比管

对比管应具有与被检验管相同的标称尺寸和相同的表面状况。合金成份超过6％的钢

种，对比管应为与被检验管钢种相同、热处理相同。合金成份低于6％的钢种，对比管可以

选用任意的钢种，条件是：

——其合金成份含量低于6%；

——对比管与该批被检验管的超声波衰减是可比的。

反射体为矩形或V型槽，其数量、尺寸及位置如下列规定。

对比管应有两个纵向槽，一个在管的外表面，另一个在管的内表面。这两个槽必须彼此

错开，以使其回波能清楚地分开。

在纵向扫查时，对比管应有两个圆周槽，一个在管的外表面上，另一个在管的内表面上，

这两个槽必须彼此错开，以使其回波能清楚地分开。

标称厚度≤25mm的管件的矩形槽的最大宽度为1mm；更厚的管件的矩形槽的最大宽

度为1.5mm。V型槽的开口为60°。

纵向槽的最大长度为50mm。圆周槽的最大长度为25mm。槽垂直于管壁。用合适的方

法(如塞规)校核其形状尺寸。

MC2534.1 无缝钢管

碳钢无缝管开槽的深度是管壁厚的5％，最小为0.2mm、最大为1mm。热精整的钢管

之最小槽深可增至0.3mm。

奥氏体不锈钢和高镍合金无缝管的槽的深度应为：

——1级管和任何级别的热交换器管：管壁厚的3％，最小值为0.1mm；最大值为1mm。

——不用于热交换器的2级和3级管：管壁厚的5％，最小值为0.2mm，最大值为1mm。

槽的深度>0.2mm时，深度应精确到±0.5％之内。允差为±0.05mm。

槽的深度≤0.2mm时，其深度允差为±0.03mm。

蒸汽发生器换热管，为矩形槽，其最大宽度为0.1mm。

MC2534.2 无填充材料的卷焊管

槽设置在焊道上。

槽深为管壁厚的5％，最小值为0.2mm，深度应精确到±15％以内．允差为±0.05mm。

MC2540 检验设备

可采用手工方法或自动装置检验。

MC254 l 手工检验设备

MC2100中提及的有关检验设备及其校验规定在此均适用。

MC2542 自动检验设备

使用的装置能容许探头沿管子作螺旋运动。这种运动可以是管子移动而探头夹持器转

动，或是管子转动而探头夹持器移动。

螺旋运动应确保检测区的重叠面积至少20％。探头与管件间的相对位置应精确确定，

并不得有漂移。

装置应订自动选择系统和(或)一台自动记录仪。当采用自动记录仪时，应能随时将缺陷

显示和其在被检管件上的位置联系起来。

MC2550 功率和增益调节

功率和增益调节采用对比管，调节增益使得反射体的回波幅度达到屏幕上的同一高

度 (大约75％)。

自动检验时，应在装置实际运行状态进行调节；在某些情况下(大尺寸钢管)，可在单独

的检验台上按代表性条件进行调节(使用的探头组和电子装置应即为系列检测所用的。且管

与探头的相对速度也相同)。

如果检验装置设有一个能从两个槽上获得相同的幅度的系统，则该幅度作为基准幅度。

在有多道选择器的情况下，应分别调节每个槽的自动触发幅度水平。

当不具备上述条件时，应用产生回波最弱的那个槽获取基准幅度。

MC2560 自动装置调节校验

应在每班次检测的开始和末尾校验功率和增益调定值。使用过程中最少每两小时校验一

次。这些调节不需要写成专门的书面报告。

如果探测到的漂移不大于±2dB，则应认为校验合格。

如果校验期间发现调定值不稳定，上次校验后所检测的管件，应在仪器正确调定后再作

检验。

MC2570 缺陷显示表征

信号显示表征如下：

——如果第Ⅱ卷要求，在建立缺陷一览表时，则以MC2550规定的基准幅度的百分率

表示的幅度表征

——在生产检查期间，以其相对于拒收阈值的显示幅度表征。

如果在第Ⅱ卷中有要求．缺陷信号显示的长度可可按MC2153.2来表征。

MC2580 检验报告

检验报告应包含下列内容：

——制造商和订货单的名称及标识号码；

——钢的牌号；

——标准、技术规范和程序的名称及标识号码；

一一制品的处理状态；

——表面准备方法；

——所用设备的型号、牌号和名称；

——对比管的标识号码；

——波束角，波型和扫查方向；

——检验结果；

——负责检验的分包商的名称或代号(由分包商承担检验时)；

——检验员姓名及资格；

——姓名、证书、日期和检验员签名。

自动检验时只需要有名字、资格和检验员的签名。检验员是无损检验的检查代理人。他

批准检验装置调整和检验结果。

MC2600 全焊透焊缝超声波检验

MC2610 适用范围

本节适用于厚度≥10mm焊件的全焊透对接焊缝和角焊缝的超声波检验(本规则各相关

篇的4000章要求的)。

MC2620 一般要求

MC2100中规定的一般要求在此均适用。此外，补充下列要求。

MC2630 检验条件

MC2631 检验时间

焊件加工到哪个阶段进行超声波检验，详见本规则第1卷(各相关篇的4000章)。

MC2632 检验区域

检验区域及检验范围按本规则第1卷(各相关篇4000章)的规定确定。被检区域应至少

包括熔敷金属和热影响区。

MC2633 表面准备

按MC2141的规定准备扫查面，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。

MC2633.1 对接焊缝

厚度大于50mm的焊缝，应用适当的机加工方法将可接近的内外表面削平。

厚度≤50mm的对接焊缝，由于可达性原因只能从一个表面对焊缝进行直接检验的地

方，则这一表面的焊缝，应削平到此表面。

MC2633.2 角焊缝和支管连接

角焊缝可按图示分为下列三种类型：

a) 非插入式“T”型接头(见图MC2633.2.a)；

b) 非插入式支管连接(见图MC2633.2.b)；

c) 插入式支管连接(见图MC2633.2.c)。

焊缝与被焊件表面应平滑连接，无咬边。对于支管连接，焊道的内表面，如果可以接近

的话，应该使用合适的机械方法弄平。

MC2634 扫查方式

MC2634.1 对接焊缝

如果被检验件的可达性和几何形状允许，扫查方式应保证整个被检区域都能受到检验。

检验如图MC2634.1.a.1所示，沿14个方向(12个方向用横波波束、2个方向用纵波波束)检

验被检件的每个检验点。

用横波波束扫查时，根据焊缝厚度和几何形状选择折射角应在35°～70°之间。当需

要用两个不同折射角的横波检验时，这两个折射角的标称值原则上至少相差15°。应根据

坡口的型式，具体地按使沿连接区的熔敷金属处于尽可能好的检验条件的原则来选取角度。

1) 采用横波，应按MC2634.1.a.1所示，沿符合注1的两个表面用1至12个方向扫查。

当一个表面和(或)焊缝的一侧不可达时，沿此表面或焊缝这一侧的检验，应代之以沿可达表

面和(或)焊缝一侧的一次反射法(底面回波)检验。对此，如可能，在所要求的12 个方向，都

用一次反射法进行检验(见注3)。

对于用不锈钢或高镍合金堆焊的部件，不再要求沿上述12个方向进行检验。在可能的

范围内，检验应包括：

一一从没有堆焊层的表面，沿方向1～4、9～10检验；

属于原先所用探头的盲区的区域的补充检验应采用浅盲区探头沿1、3、9、10方向进行。

折射角至少应等于初次检验时所用的最大折射角。

2) 直射纵波扫查应按图MC2634.1.a.1所示的13和14方向从两个表面进行。当有一个

面不能接近或要检验有整个精加工的不锈钢或高镍合金堆焊层的部件时，不再要求上述两个

方向的扫查。代替的检验有：

——从没有堆焊层的表面或可接近的表面沿13方向检验。

——属于原先所用探头的盲区的区域的补充检验，应采用浅盲区探头从13方向进行。

3) 注1：每一探头应覆盖相同探头沿反面扫查的盲区。于是，当不需采用一次反射法

时，用(斜射横波型)探头A所进行的典型检验，覆盖了探头B的盲区的声程

示于图MC2634.1.a.2。

对厚度≥150mm的焊缝，可用浅盲区探头B’，沿同一平面进行另一次扫查。

覆盖探头B’的折射角应大于或等于探头B的折射角。

注2：使用浅盲区补充探头时，只应在与原探头的盲区一致的声程中探测和表征缺

陷信号显示。

注3：厚度≥100mm的焊缝，不要求用一次反射法探测和表征缺陷显示。在这种情

况下，采用浅盲区探头，以覆盖从可接近的表面进行的检验中产生的探头盲

区。这种扫查应沿与原来相同的方向进行。

MC2634.2 角焊缝和支管连接

如果被检验件的可达性和几何形状允许，扫查方式必须保证整个被检验区域都能受到检

验。扫查应于被检验区的所有检验点用图MC2634.2的a)、b)和c)所示方向进行。

用横波扫查时，采用折射角应在35°～70°之间。要根据焊缝的几何形状选择该角度，

以保证能使波束实际上垂直于焊接坡口。如果采用两个不同的折射角进行横波扫查时，这两

个角度至少应该相差15°。

如果有一个扫查面不能够接近时，应从背面用一次反射波代替该面扫查。背面扫查应

尽可能沿所要求的方向进行（见注）。

一面有不锈钢或好镍合金堆焊的焊接件检验时，不再要求按上述指明的检验。替代的

检验应尽可能包括：

——从没有覆盖层的表面用横波进行扫查；

——无论表面有无覆盖层，均用直射纵波进行扫查。

注：如果探头所探测的焊缝厚度≥100mm，则不要求用一次反射法探测和表征缺陷显

示。

MC2635 对比试块

对比试块应符合MC2134.2的规定和下列专门要求。

MC2635.1 几何形状

对比试块应是直角平行六面体，但下述情况例外。在这些情况下，对比试块应具有与被

检验件相同的曲率半径(偏差±25％)。

——如果被检验件的曲率半径≤100mm，所用探头的最大尺寸≤15mm；

——被检验件的曲率半径≤250mm，所用探头的最大尺寸>1 5mm。

试块宽度应约为60mm。厚度≤l00mm，其宽度可小于60mm，但应使调节增益时无边

缘效应。

试块的长度应能够探测到对比反射体。其厚度为：

——1次反射法检测：等于被检验件厚度(偏差为土5mm)；

——直接扫查：等于或大于被检验厚度。

MC2635.2 人工反射体

人工反射体由钻通试块宽度的圆柱形孔构成，它们平行于其扫查面。

这些孔直径应为2mm。

第一个孔低于扫查面10mm，而后备孔深度差最大为：

——当试块厚度≤50mm时：为10mm；

——试块厚度在50～100mm之问：为20mm；

——当试块厚度>100mm时：为30mm。 ’

所有反射体位置应距对比试块两端至少各20mm。

MC2636 功率和增益调节

应用MC2635.2所述的人工反射体，按MC2143.2的规定，调节功率和增益水平。

MC2637 缺陷显示表征

接下列各项表征缺陷信号显示：

——位置；

——幅度；

——尺寸；

——体积型或非体积型特征。

a) 位置

缺陷显示应在相对明确规定的参考系中判明位置。

b) 幅度

应按MC2153.1评定幅度。在距扫查面的背面10mm厚度的区域内探测到的缺陷显示，

可按照假回波所允许的补充和经充分验证的方法评定幅度。

c) 尺寸

MC2153.2的要求在此均适用。如果按照MC2153.2进行测量的尺寸小于下列的显示，

则应判定为单独的(点状)缺陷：

——深度距扫查面≤100mm处：测量显示为10mm；

——深度距扫查面>100mm处：测量显示为深度的10％。

d) 体积型或非体积型特征

缺陷应根据若干参量按体积型或非体积型分类；即：焊接技术、缺陷的几何位置、回波

的前沿或形状，以及缺陷的定向反射特性。

一般情况下，非体积型反射体(诸如裂纹或未熔合)出现高幅回波和陡峭的前沿。然而，

在某此特殊情况下，例如这些平面中超声波束的入射角角度过大时，这些反射体可导致低幅

回波。

按下述方法可测量定向反射特性：一经探测到一个反射体就进行更详细的扫查，以确定

探得最大回波的探头位置(在表面上的位置和方向)，和回波垂直于表面处的点。探头向前、向

后并绕此点移动。(探头应不绕自身轴线回转)。

原则上，在非体积型反射体的情况下，探头回转总角度约10°时，可观测到最大回波

幅度降低50％(一6dB)以上。

MC2638 成组缺陷信号显示

a) 单独的缺陷信号显示

用两种不同的探测方法(不同的角度和方向)探测到的两种缺陷信号显示，如满足下列两

个条件，则视为来自同一反射体：

——这两种缺陷显示在扫查面上的投影的中心距离，小于最大深度的10％；

——它们在焊缝横截面上的投影中心之间的距离，小于最大深度的10％。

满足这两个条件的显示，应由较小的深度和较高的幅度及较大的尺寸来表征。

b) 分散的缺陷信号显示

如果符合下述两个条件，则可将分散的缺陷信号显示累积在一起：

——如果有一个缺陷信号是点状的，缺陷信号在扫查表面上的投影相隔距离小于或等于

最小的缺陷信号显示长度的6倍，或20mm；

——缺陷信号在焊缝横截面上的投影相隔距离小于或等于20mm。

累积的缺陷信号显示幅度，应是从任何分散的缺陷信号显示中测得的最高的一个幅度。

其尺寸由将相距最远的缺陷两端头连起来确定。

缺陷显示的累积规则只适用于逐个测得的缺陷显示。

MC2639 焊补区检验

焊补区应在与焊补前检验所规定的相同的条件下逆行超声波检验。

MC2700 隔离焊层、堆焊层及复合层超声波检验

MC27l0 适用范围

本节适用于在本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(相关篇4000章)中规定的厚度大于2mm的不

锈钢和高镍合金的隔离焊层、堆焊层及复合层的超声波检验。

MC2720 一般要求

MC2100中规定的一般要求在此均适用。此外，补充下列要求：

MC2730 检验条件

MC2731 检验时间

隔离焊层、堆焊层和复合层加工到哪个阶段进行检验，按本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(相

关篇4000章)的规定实施。

MC2732 检验区域

检验区域及检验范围，按本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(相关篇4000章)的规定。

C2733 表面准备

按MC2141的规定准备表面。

堆焊层和隔离焊层各焊道之间的凹陷是可接受的。如果堆焊层各道次的外形有碍于探头

与层间道纹垂直接触，则须将凸痕和凹痕磨去，确保充分耦合。

如获得下列特征之一，则可认为满足耦合：

——从背面反射回波；

——由超声波穿过母材产生本底噪声。

MC2734 扫查方式

MC2734.1 隔离焊层和堆焊层

被检验区的扫查应确保可达整个隔离焊层或堆焊层表面的有效范围及至少4mm厚的母

材部分。

应采用直探头或双晶体探头以纵波进行检验，以保证探测隔离焊层或堆焊层与母材交界

面和熔敷金属内的缺陷。

从熔敷金属表面扫查。

MC2734.2 复合层

被检验区应在复合层表面用纵波扫查。应采用能保证检验整个交界区的探头进行扫查。

MC2735 对比试块

对比试块应按照MC2134.2的规定和下列要求。

MC2735.1 型式和几何形状、

——隔离焊层和堆焊层所用的对比试块应是在其1个表面有隔离焊层和堆焊层的直角

平行六面体。隔离焊层或堆焊层应在与被检验件类似条件(钢种、焊丝、焊条和焊带尺寸，

焊道数，排列、凝固和热处理)下用手工或自动焊熔敷。

试块的表面状况和厚度应与被检件相同。

——复合层的对比试块应用复合层本身制作。

MC2735.2 人工反射体

a) 堆焊层

人工反射体的构成为：

——从无堆焊层表面开始钻的一些~19mm平底孔。这些孔应垂直于堆焊层表面，并应

钻到母材与堆焊金属交界面。另外一些孔要钻到堆焊金属的各层焊道交界面。

——在母材与填充金属交界面及各层焊道间的交界面处，平行于堆焊表面，钻一些直径

2mm的孔。

b) 隔离焊层

人工反射体为中3.2mm的平底圆孔，它是从无堆焊层面垂直隔离焊层表面钻的。第一

个孔的平底应距扫查面5mm。以后各孔之间深度差应小于5mm，直至距扫查面为15mm为

止；以后这些孔的深度应小于l0mm。最后一个平底圆孔应位于隔离焊层与母材交界上。

注：孔的边缘应离试块边缘至少20mm。

c) 复合层

从扫查面的背面反射超声波束。

MC2740 缺陷显示表征

MC2741 堆焊层

应考虑两种类型的缺陷显示

——体积型缺陷显示：其特性为出现单一的回波；

——连续未结合型缺陷显示，其特性为具有连续的多个回波。

MC2741.1 幅度评定

按MC2153.1的规定评定幅度。

堆焊层中体积型缺陷显示应与直径2mm的侧面钻孔相比较来评定。连续未结合型缺陷

信号显示应以与φ19mm的平底孔比较来评定。

MC2741.2 尺寸评定

MC2153.2在此适用。

MC2741.3 成组缺陷显示

MC2741.3.1 体积型缺陷显示

如果满足下列两个条件，则两个分开的缺陷信号显示可以累积：

——点状缺陷显示，其在扫查而上投影距离≤最小缺陷显示长度的6倍或20mm；

一一在焊缝的横截面上，缺陷显示的投影距离~20mm。

当缺陷显示累积时，由其中最大的缺陷显示的幅度表征，缺陷尺寸为相距最远的缺陷显

示端连接在一起的距离。

累积规则仅适用于逐个测得的缺陷信号显示。

MC2741.3.2 连续未结合型缺陷显示

如果2个缺陷信号显示间的距离小于或等于较小缺陷长度的6倍，则两个缺陷信号显示

应累积。

累积后缺陷显示按下述表征：

——最大幅度；

——累积缺陷显示面积等于两个原缺陷显示面积之和。

累积规则仅适用于逐个测得的缺陷信号显示。

MC2742 隔离焊层

MC2742.1 幅度评定

按MC2153.1表征缺陷信号显示。

MC2742.2 尺寸评定

按C2153.2(除最后一段外)的规定，评定缺陷的尺寸。

MC2742.3 成组缺陷信号显示

MC2638的规定在此适用。

MC2743 复合层

MC2743.1 幅度评定

按MC2152.1表征缺陷信号显示。R>8为熔敷不良。

MC2743.2 尺寸评定

按MC2152.2评定缺陷尺寸．取R=4。

MC2750 焊补区检验

焊补区应在与焊补前相同的条件下进行超声波检验。

支管连接

母管

图MC2633.2

横向缺陷探测

图MC2634.1.a-1

非插入式“T”型接头

非插入式支管连接

插入式支管连接

支管连接

母管

图 MC2634.2

MC3000 射线照相检验

MC3100 总则

MC3110 适用范围

本章阐述本规则规定的射线照相检验的一般要求。

其中的一些要求涉及到参考的习惯作法的确定，即MC3134、MC3135、MC3137、

MC3142、MC3146、MC3147、MC3148、MC3149、MC3150、MC3312.5的要求。可以向承

包商推荐总体上能给出在采用之前适当证明过的至少等效结果的其它一些作法。．

MC3120 一般要求

MC312l 检验人员资格

射线照相检验应由按MC8000的规定取得资格证书的人员实施。

MC3122 射线照相检验文件

所有的射线照相检验，应遵守一系列适当确认的文件(规程、工作流程图和细则卡)规定

的要求。这些文件应满足本规则有关章节的要求，并至少包括下列内容：

——受检验物项的类型(形状、尺寸范围和所用材料的类型)；

——所参照的本规则有关章节和其它适用文件；

——检验设备：射线源(类型和规格)、胶片、增感屏、滤光片、遮挡物质、透度计、位

置标记器、胶片处理和观察设备等；

——检验条件：检验区域和表面状态等；

——检验程序：胶片暗盒组成，透度计的类型、位置和数量，标记符号类型和曝光条件

(射线源或射线照相装置与检验区域的相对位置)；

——胶片处理条件；

——可使用胶片的型号；

——胶片检验细则(双层或单层胶片)；

——胶片质量要求：几何不清晰度、黑度、图象质量等；

——验收准则。

MC3123 基准底片

当首次运用一个检验程序时，射线照相应按照制造商提供的检验文件进行，以核查所采

用方法的运用能使本节所要求的胶片质量得到保证。

凡下列参数的一项或几项发生变化时，则检验文件必须进行修正：

——辐射类型；

——曝光方式；

——胶片型号；

——增感屏和滤光片型号；

——显影处理方法。

如果有重大修改，则必须拍摄一套新的基准底片。

这些底片可单独摄制，也可从一系列验收底片中选取。如系选取，可选生产批量中一个

有代表性的零件或第一个零件的底片。

第一种情况，即底片系单独摄制，由制造商保存，以在给定批量零件制造期间根据要求

使用。

第二种情况，即使用所选验收底片，这些底片也必须由制造商保存，并使需时可用，直

至交付给购方(如有转让定约)。然后用生产批量零件的验收底片建立一套新的基准底片。依

此类推。

在以上两种情况下，基准底片均应按上述不同特点做出标志。

MC3130 射线照相检验设备

MC3131 射线源

可以使用两种射线源：

——X射线发生器、直线加速器和电子感应加速器产生的射线；

——由铱192、钴60、铥170射线源产生的射线。

MC3132 胶片系统

胶片系统应配备金属增感屏使用。胶片按照AFNOR标准NF EN 584-1分C1～C6六类。

MC3200和MC3300规定了各类胶片的适用范围。

供货商应胶片的证书，其中应该包括标准第5条款中规定的所有相关数据，并且含有

Ks和处理类型。

供货商还应提供胶片正确保存和使用以及使用限制(如有必要时)所必要的所有技术资

料。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片处置前，应按制造商建议的温度

和湿度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射。处置后，胶片应按照MC3139的

要求保存。

MC3133 增感屏

金属增感屏应配于MC3132规定的胶片使用。

增感屏应完全干净、抛光和无纹道。

MC3134 滤光板

滤光板由一层铅板组成，它放置在需射线照相的零件和装有胶片和增感屏的暗盒之间。

它也可以装在暗盒内。

滤光板的厚度应为0.5、1、1.5或2mm。0.5～1.5mm厚的滤光板，在其１个角上钻1

个直径为3mm的孔；2mm厚的滤光板钻两个直径为3mm的孔。

建议在滤光板上打上标识，以便在其后发生疑问时作为底片的解释。

MC3135 遮挡物质（屏蔽板）

遮挡物质由一层或多层铅板组成，它紧贴于装有胶片和增感屏的暗盒后部，也可以装在

胶片暗盒内。其厚度至少为2mm。

MC3136 透度计

应用透度计确定底片质量，但决不用于评定缺陷的大小。

透度计应按NF EN462-1或NF EN 462-2规定的那样，为阶梯式与线式两种之一。

MC3137 标志和定位标记

为了辨认底片，应采用铅或密度相适宜的其它材料制成的标志和定位标记；其厚度应根

据被检验件的厚度，和清晰阅读底片、而不模糊的要求。

MC3138 观察设备

MC3138.1 黑度计

黑度计应能通过直接读数或借助于充分确认的校正(永久贴在黑度计上的图表或曲线)，

测量黑度基准底片的黑度到精度±0.1。

在每个底片检查期间进行的例行核检外，应彻底核检黑度计。

首次使用黑度计，和至少每六个月应核检一次。

一经达到热稳定，就用一次或两次黑度标准样进行核检。

这种核检应写进一份报告中，在可能场合包括特征斜率零点调定的校准，和随之记录显

示黑度特征曲线，它是黑度0至4.3内每隔一定间隔的至少8个黑度范围的黑度标定的函数。

如果特征曲线偏离于理想曲线0.1以上的黑度，则应使用校正曲线或修正表修正。

MC3138.2 黑度基准胶片和标准样

——黑度基准标准

其黑度是在物理测量实验室用光学方法测量出的标准样，在0到4.2的范围内不确

定程度等于或小于0.1。

要特别注意胶片的保存和使用条件。标准胶片的有效期限应不超过5年。如果黑度

在物理测量实验室用光学方法测量的结果没有变化，可以重新使用，另一个新有效

期5年。

——黑度基准胶片

其黑度是与黑度基准标准对比测量出的标准样。

基准胶片应每2年标定一次。必须特别注意储存和使用条件。

——标准样和基准胶片的使用应不贴任何透明保护层，不与其它胶片或附加黑度标准样

重叠。

MC3138.3 观片灯

观片灯应使MC3161规定的黑度的底片(单层底片或双层底片检查)能够读出。

MC3139 胶片的储存

胶片储存取决于其冲洗质量和底片归档条件。

在处置后，胶片应按制造商的建议和下列要求储存。

MC3139.1 胶片封装

冲洗过的胶片，应将其放在为封装未曝光胶片用过的纸片夹或折叠纸片夹间。

胶片与其纸片夹一起，应放在纸的或皮的封套内。

封套本身最好放在纸板箱内。

如果使用粘胶，要尽量少用，并决不可以与胶片接触。

放置存放胶片的封套或纸板箱时使胶片竖立，以避免胶片堆积受压。

MC3139.2 存档柜

封套和(或)纸板箱应储藏在存档柜内。

这些存档柜应是防火的，并不发出可能危害储藏胶片的气体。

MC3139.3 档案室

档案室应认真保持清洁。

档案室必须没有被水淹没的危险。特别应不允许有废液管道通过。

仅用水消防设备防火是不够的，还必须采取其它措施。

必须设置防啮齿动物和昆虫的防护措施。

除了射线照相底片以外，该档案室仅可以储存磁带和纸类文件。

MC3139.4 环境条件

——温度

储存温度一般应该不超过21℃，允许温度偶尔上升到24℃，以及在短时间内最高

可达32℃。

——湿度

建议相对湿度应为30％～50％，虽然在短时间内可偶尔上升到60％。

——光照

胶片应避光，因而，要储存在一个封闭的储藏设施内，如存档柜或封闭箱内。

MC3139.5 胶片的归档

胶片要按照避免不需要的胶片做不必要的搬动的原则来归档。

MC3140 检验条件

MC314l 表面准备

零件的表面应无铁锈、异物或任何有碍射线照相底片评定的不规则状态。表面可经机加

工、磨削、喷砂清理或不经处理。MC3200和MC3300规定了适当的表面准备(当适用时)。

MC3142 射线源的选择

射线源应根据零件的壁厚和被检区的厚度来选择(见表MC3142给出的要求)。

表MC3142

根据总的壁厚选择射线源

射线源

400KV以下的X射线

铱192

钴60

直线

加速器

※

焊接件

焊接区

≤70mm

≤100mm

≥70mm

≥80mm

≥90mm

≤70mm

≤100mm

≥70mm

≥60mm

≥70mm

≥80mm

铸件

其它区

≤70mm

≤100mm

≥70mm

≥30mm

≥40mm

≥50mm

≥60mm

≥70mm

1Mev

1.5 Mev

2-3 Mev

4-6 Mev

8-12 Mev

注：用铱192照射时间不超过18小时，用钴60照射时间不超过24小时。

※：对于中间的能量等级，应使用较高的厚度极限。

MC3143 几何参数

MC3143.1 几何不清晰度

a) 定义

应使用以下公式计算几何不清晰度：

U=（d³a）/（F—a）

式中：

U——几何不清晰度(mm)；

d——射线源尺寸(mm)；

a——被检验区入射表面和装有胶片暗盒之间的距离(mm)；

F——射线源与胶片之间的距离(mm)。

对于γ射线源应被看作是一个正圆柱体，其尺寸“d’’应这样确定：

——单向射线源：

² 如果圆柱体的轴线与胶片面平行，则尺寸“d”为圆柱体的高度“h”。

² 如果圆柱体的轴线与胶片面垂直，则尺寸“d”为圆柱体的直径“φ”。

——多向射线源：

尺寸“d”取“h”或“φ”两个值中较大者。

上述情况示于图MC9220.1、图MC9220.2和图MC9220.3。

b) 几何不清晰度值

b.1) 一般情况

按照MC3143.1计算得到的几何不清晰度值，应不超过表MC3143.1.b.1)中所列的数值。

几何不清晰度最大值

射线源

400KV以下X射线或铱192

钴60

直线加速器或电子感应加速器

b.2) 特殊情况

当按MC3144的规定，采用全景曝光或内部偏心照射时，如果满足下列两个条件，则

允许表MC3143.b.2)所列的几何不清晰度值：

——所使用的源，按工业标准，被认为是尺寸最小的。

——用“外源法”代替上述曝光技术，在工业使用中会造成不可接受的操作时间(暗盒

焊接接头

0.30mm

0.60mm

1.0mm

铸件

焊接区

O.40mm

O.60mm

1.0mm

其它区

O.50mm

1.0mm

和射线源的放置，透照时间)过长。因为射线源必须在其第二个半衰期结束前使用。

供货商应采取所有必要行动，通过采用适当的系统或组合装置，使暗盒和射线源的安置

所需的时间缩至最短。

表MC3143.1.b.2) 几何不清晰度允许值

射线源

厚度(e)

焊接件

铸件

焊接区

其它区

0.60mm

1.0mm

铱192

钴60

任意厚度

e≤100mm

e>100mm

0.60mm

O.80mm

O.90mm

0.60mm

0.80mm

O.90mm

b.3) 由奥氏体或奥氏体一铁素体不锈钢制成的插入式焊接支管的特殊情况：

用置于支管轴线上的铱192内源照射曝光，以检验支管与母管连接焊缝的情况下，公称

直径在250mm以下的支管，几何不清晰度最大值为0.6mm。公称直径大于或等于250mm

的支管，几何不清晰度最大值允许达0.90mm。

MC3143.2 射线源尺寸

射线源的高度和直径以及X射线机和加速器焦点尺寸，应由射线源或上述装置的供货

商规定。

MC3143.3 胶片与零件间的距离

除非其它的布置能使被检测区得到更好的胶片图象，曝光期间胶片应紧靠零件。

MC3144 射线照相胶片和射线源相对位置

MC3144.1 单壁透照

用射线照相检验物项的单壁时，可采用下面三种曝光技术：

a) 单个曝光或部分曝光

一个或多个暗盒同时曝光。暗盒和射线源置于被检验件的两边。

b) 单全景曝光

这种技术只适用于圆柱形件或接近圆形表面的零件．所有的暗盒同时曝光。

射线源应置于被检验件的轴线上，射线束轴线应接近垂直于被检验区表面。

c) 偏心射线源曝光

这种技术只适用于圆形或接近于圆形面的零件。一个或多个暗盒同时曝光。射线源

置于被检验件内，在被检件的轴线和距待检面最远的壁面之间。射线束的轴线应接

近垂直于被检件表面。

MC3144.2 双壁透照

这种曝光技术只适用于空心件。射线应穿过被检验件的双壁。暗盒应永远置于离射线源

最远的壁上。一般并根据射线源与胶片问的距离，底片的被评定部分(单壁或双壁观察)主要

由几何不清晰度值来确定。在焊缝的特殊情况下，胶片的被评定部分，根据焊缝走向(椭圆

或在平面上的投影)而定。如果满足几何不清晰度的要求，则获得的局部黑度值将决定胶片

的哪一部分可以评定。如果作整体检验，应进行完整覆盖所需要的多次曝光。

MC3144.3 多件全景透照

将若干零件置于射线源周围同时透照。可以采用单壁或双壁透照技术。

MC3145 透度计

MC3145.1 透度计选择

应按照MC3162规定的图象质量要求来选择透度计。

要求能够看到的孔(或线)，应不是所用的透度计的最小直径孔(或线)，除非这个孔直径

为0.125mm（H1）、线直径为0.10mm（W19）。

MC3145.2 透度计位置

透度计的位置应符合NF EN 462-1和462-2标准中第50.条款规定的要求。

MC3146 暗盒组成

MC3146.1 胶片

a) 单层胶片法

应使用单张胶片。

b) 双层胶片法

应将两张相同的胶片装在一个暗盒内。

c) 多层胶片法

应将一张或几张胶片对照感光速度不同的双层胶片放置于同一暗盒内。

MC3146.2 增感屏

a) 电压＜100KV的X射线

应使用单层胶片技术。不强制使用增感屏。

b) 电压≥100KV和≤400KV的X射线

应使用双层胶片技术。暗盒应包括：

——1个铅制前屏，厚度在0.05～0.15mm之间；

——1个铅制中屏，名义厚度为2³0.05～2³0.10mm之间；在每种情况下每层中

屏厚度都应小于前屏厚度。

——1个铅制后屏，厚度在0.05～0.20mm之间．

注1：当检验的厚度小于30mm，而又采用双层胶片技术时，不强求使用中间铅屏。

注2：当检验的厚度小于30mm时，若保持上述规定的前屏和后屏的厚度，可使用

单层胶片技术。

c) γ射线源

应采用双层胶片技术。暗盒包括：

——铱192和钴60射线源

²1个铅制前屏，名义厚度为0.20～0.25mm；

²1个铅制中屏，名义厚度为2³0.10mm；

²1个铅制后屏，名义厚度为0.20～0.25mm；

——用于焊接接头的钴60射线源

强制使用一个厚度0.25mm的不锈钢增感屏用于焊接接头。

注：若其类型和厚度通过比较试验证实满意，可使用铅以外的其它金属制成的增感

屏。

d) 直线加速器和电子感应加速器

应采用双层胶片技术。胶片暗盒应包括：

——铅制前屏和后屏，其名义厚度在1～1.6mm之间

——1个中间屏(选项)，名义厚度为2³0.10mm．

MC3147 滤光板

MC3147.1 电压＜400KV的X射线

不强制使用滤光板。

MC3147.2 γ射线源

除本规则另有规定外，强制使用滤光板。滤光板厚度在表MC3147.2中给出。

表MC3147.2

透照厚度（mm）

滤光板厚度（铅）（mm）

E≤

40＜e≤60

60＜e≤80

e＞80

MC3147.3 直线加速器和电子感应加速器

不强制使用滤光板。

MC3148 遮挡物质(屏蔽板)

0.5

1.5或2（用于碳钢或低合金钢）、2（用于不锈钢）

应使用遮挡物质。当有大量的射线反方向散射时(例如，当靠近金属或混凝±墙)，应在

遮挡物质的后面放一个1.5～2.5mm厚的铅制字母“B”，以确保遮挡物质工作的有效性。在

同样条件下多次重复性质的透照，则只在第一次透照时需要进行核对。

MC3149 胶片标志

胶片标志系统应能随时使射线照相胶片与相关被检验区对应起来。该标志系统不得有碍

于对胶片上被检验区的评定。

MC3149.1 射线透照件的标志和标记

在大多数场合下，零件上的永久标记应提供参照点，以便在后来能精确地辨别底片的位

置。

如果因材料性质和使用条件而不能打上标记时，应寻求以后能确定底片位置的其它方

法。特殊情况下，也可绘制一些精确的图，这些图可同涂料一块使用。

MC3149.2 射线照相胶片的标志和标记

射线照相胶片应用显现在胶片被检验区以外部分上的数字和字母来标志。如果采用发光

识别标记，通常应在胶片曝光前施加上去。

按MC3137规定的识别标记与打在零件上的印记相匹配，且必须明显可见，以确保胶

片与相关被检验区相联系而没有任何疑问。

焊补后，用于检查此焊补的胶片，除原来的识别标记外，还应包括一个字母“R”。对

第2次或第3次焊补所拍摄的胶片，应标以R2，R3，依此类推。

MC3149.3 曝光次数和胶片重叠

采取的曝光次数和胶片的重叠应能保证透照到被检验区的整个体积。

MC3150 射线照相胶片处置和检验

MC315l 射线照相胶片处置

为了得到胶片系统级别的要求，胶片应按制造商建议的顺序和下列规定进行人工或机器

自动处置，推荐以下附加条件：

建议增加下列附加条件：

a）人工处置

——新定影液在使用前应用曝光的胶片进行时效处理。

——当不使用时，应采取保护措施以防止定影液蒸发和氧化；

——每升显影液处置约0.5m胶片后，或在正常使用和储存条件下，自其初次使用

之日起不超过2个月，显影液就应更换；

——胶片一旦从显影液中取出，就应浸在自来水配制的定影液中，历时约2分钟；

——用于处置胶片的水应是清洁的和没有悬浮的颗粒，并尽可能经过过滤；

——可使用湿润剂以防止胶片在干燥期间形成水珠。

b) 自动处置

为了得到胶片系统级别的要求，温度和显影时间应按照制造商的建议进行。

应特别注意，确保胶片卷筒定期清洁。

注1：人工和自动处置应在曝光8小时之内完成，不得超过24小时。

注2：应采取措施确保显影的胶片没有化学、机械、显影或操作损伤，它们会干

扰零件固有缺陷的判别。如果损伤不严重，并且只影响暗盒中的一张胶片，

则不需要重新拍摄这张胶片对应的部位。

注3：原则上，胶片应用与所用胶片同一个厂家制造的试剂显影。然而，在经比

较试验证明的条件下，也可以使用其它厂家的试剂。

c) 胶片处置质量的检验

这一检验的目的是确保处置过的胶片过后能最佳保存。

胶片的储存寿命直接与硫代硫酸盐离子含量有关。这些离子的浓度低于0.050 g/m，

通常能保证胶片长期储存寿命。

将处置过的未使用胶片用胶片制造商推荐的溶液进行化学浸蚀，侵蚀后所得到的图

象，与代表各种浓度的典型图象，在日光下，进行肉眼对比，据此评定硫代硫酸盐

离子的含量。

检验的频率由使用者决定，在此期间处置条件保持不变。

如果检验发现，硫代硫酸盐离子浓度大于0.050 g／m

，应采取以下行动：

——停止显影，并采取纠正措施；

——重新处置基准胶片(定影+冲洗)；

——重新检验基准胶片；

——重新处置所有含有缺陷的胶片。

MC3152 灰雾度

灰雾度就意义来讲就是未经曝光显影胶片的总黑度(乳胶+片基)。灰雾度应不超过0.3。

灰雾度应至少每六个月测量一次。从一批胶片中抽1样品在与制好底片相同条件下曝光和显

影后测量灰雾度，以核查胶片是否符合MC3132规定使用前储存的要求。在此情况下，批

的定义为同时采购的一批(规格不计)胶片。

MC3153 射线照相底片检验

应在专为检验设计的房间里，用合适的观片灯检验底片。胶片光照面积应缩小到观察所

需的最小范围。观片灯应装备有可调节屏幕亮度的系统，以满足观察底片的要求。

除本规则另有专门规定外，采用双层胶片技术曝光的底片应以双层同时观察来评定。

MC3160 射线照相胶片质量

MC3161 黑度

胶片黑度应用黑度计测量。除非本规则另有规定，双层胶片黑度应高于2.7，并符合工

业用观片灯的亮度水平。但黑度应不超过4.5。双层胶片可评定区域内的黑度，应是逐渐变

化的。

当采用单层胶片检查时，该胶片黑度至少为2。该胶片可评定区域内的黑度应是逐渐变

化的。

最大黑度要求应按以下规定：

除本规则专门规定外，当采用双层胶片检查时，在限定黑度区域内每张胶片上相同点测

量的黑度的差应不超过0.5。

MC3162 图象质量

使用透度计记录的图象质量应能清楚看出孔或线。下表给出各种孔或线的直径。

MC3162.0 焊接件

a) 一般情况

厚度(mm)

e≤3

表MC3162.1 焊接件的一般情况

最后可见孔直径(mm) 最小可见线的直径(mm)

0.25 0.10

3＜e≤6

6＜e≤10

10＜e≤16

1 6＜e≤25

25＜e≤32

32＜e≤40

40＜e≤80

80＜e≤125

125＜e≤160

160＜e≤200

200＜e≤250

250＜e≤320

320＜e≤400

0.32

0.40

0.50

0.63

0.80

1.00

1.25

1.60

2.00

2.50

3.20

4.00

0.125

0.16

0.20

0.25

0.32

0.40

0.50

0.63

0.80

1.00

1060

2.00

2.50 5.00

b) 外径等于或小于120mm的管或支管焊缝以及角焊缝

要求的图象质量根据表MC3162.1的规定向下移动一格。

c) 其它特殊情况

在下列情况下，对于厚度大于80mm对接焊缝的检验，对应于较小的孔径，表

MC3162.1给出的值，应向上移一行：

——蒸汽发生器二回路侧锥体和上部及下部的圆柱段之间的焊缝；

——最大有效工作压力大于20bar的平封头与壳体之间的焊缝

MC3162.2 铸件

表MC3162.2 铸件

厚度(mm)

e≤1 0

10＜e≤16

16＜e≤25

32＜e≤40

40＜e≤63

63＜e≤100

100＜e≤160

160＜e≤200

200＜e≤250

250＜e≤320

320＜e≤400

400＜e≤500

500＜e≤650

最后可见孔直径(mm)

0.50

0.63

0.80

1.00

1.25

1.60

2.00

2.50

3.20

4.00

5.00

6.30

8.00

※

最小可见线的直径(mm)

0.20

0. 25

0.32

0.40

0.50

0.63

0.80

1.00

1.60

2.00

2.50

3.2

4.00

※

10.00 5.00

e>650

※：这些尺寸在NF EN 462标准中并没有标准化，这部分可能是根据ISO1027标准。

MC3170 检验报告

检验报告应包括以下内容：

——制造商、订货单和设备的名称以及标识号码；

——零件、焊缝或被检验区域的标志，包括钢号；

——所用检验文件的名称；

——射线照相区域的厚度；

——射线源的类型和特征(包括规格)；

——RCC—M胶片分类和胶片商标名称

——增感屏和感光板的型号、数量和厚度；

——透度计型号；

——射线源和被检验区的相对位置，以及射线源和胶片间的距离；

——透照时间；

——胶片处置条件；

——最小可见孔(或线)的直径；

——焊接接头胶片结果的评定和探测到的缺陷显示的性质和尺寸；

——操作人员和评片检查员的姓名和资格；

——承担检验任务的分包商的资格认定(适用时)；

——检验日期和检验员签名。

为了避免不必要的重复，在经认可的制造商的文件中给出，可将其附在检验报告中。

MC3200 钢铸件射线照相检验

MC3210 适用范围

本章适用于本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷各篇的4000章规定的需经射线照相检验的钢铸

件的射线照相检验。

MC3220 一般要求

MC3100规定的所有一般要求在此均适用，此外，补充以下要求。

MC3230 检验条件

MC3231 检验时间

铸件在制造期间的哪个阶段进行检验，应按本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(有关篇的4000

章)的规定执行。

MC3232 检验区域

检验区域和检验范围按本规则第Ⅱ卷和第1卷(相关篇的4000章)规定执行。

MC3233 表面准备

MC3141规定的要求是适用的。可通过喷丸、喷砂、磨削或机加工进行表面准备。焊补

区应磨平。

MC3234 胶片类型

铸件射线照相使用的胶片，按表MC3234中的规定。

表MC3234

射线照相区

管嘴的焊接区

和焊补区

其它区

e＜100mm

e≥100mm

e＜100mm

胶片的类型

，（

）

≤C2

（

）

≤C3

（

）

e≥100mm ≤C4

注：（1）当采用铱192射线源时，提供C3型胶片可以符合MC3162.2或MC3162.1.a的

图象质量要求。

（2）厚度大于400mm的焊补区，如能得到MC31 62所要求的图象质量，可以采

用C5型胶片。

（3）当采用400KV以上X射线照相时，若遵守MC4142的条款，可采用4型以

内胶片。

MC3235 特殊检验条件

MC3235.1 滤光板

除焊接区和焊补的较大凹坑和技术规范中规定的区域外，射线源铱192和钻60使用

MC3147.2规定的滤光板是非强制性的。

MC3235.2 透照类型和胶片的评定

MC3235.2.1 厚度不变的零件

用双层胶片进行评定。

MC3235.2.2 厚度变化的零件

a) 双胶片透照

胶片的可评定区的总体黑度在2.7和4.2之间(或4.5，如果胶片观片灯允许)，应采用双

胶片评定。

双胶片黑度大于4.2(或4.5)的部分，按单胶片判定。此胶片黑度在2和4.2(或4.5)之间。

b) 多胶片透照

当零件的厚度差别很大时，可用两张以上胶片。胶片暗盒内应至少放一组具有同样感光

速度的双胶片，以使大部分被检验区能在下述黑度条件下评定：

——具有相同感光速度的胶片．根据MC3235.2.a，采用单或双胶片观察法进行评定。

——补充胶片单独观察，或与另一张感光速度接近的胶片重叠观察，当采用双胶片技术

时，评定区的黑度应在2.0～4.5之间，且反差最小的胶片的最小黑度应为1.0。

MC3235.3 透度计

a) 分块运照

当厚度不向射线照相能够按MC3161第一条所提出的在整个被检验区进行双胶片观察

时，阶梯式透度计要尽可能放置成透入反差最小的区域。

否则，使用两个阶梯式透度计。

这两个透度计要尽可能放置成透入射线照相区域的最大黑度区。

b) 全景透照

分块透照的要求，适用于全景透照区域的至少两个相反部位。

MC3235.4 毛坯铸件的射线照相

MC3235.4.1 管嘴焊接件

铸件分为下列两类：多用途的或特殊用途的零件。

a）特殊用途零件

毛坯轮廓线

最终轮廓线

射线照相长度余量≤5mm

图MC3235.4.1.a

这些零件相应于正式确认的部件，铸造厂知道图MC3235.4.1.a和MC3235.4.1.a’

中h的规定数值。

最终轮廓线

毛坯轮廓线

射线照相长度余量≤5mm

图MC3235.4.1.a’

b）多用途零件

这类零件包括公称直径小于或等于250mm、相当于B，C，D篇3500规定的各种

额定压力等级成批订货的阀门壳体。

检验时，毛坯铸件圆筒体部分的最大厚度（图MC3235.4.1.b），应等于响应阀门设

计压力的最厚管道的壁厚（e），再加MC3235.4.1.c所规定的厚度余量。铸造车间

应按照表B3611.4和C3643确定这个厚度（e）。

最终轮廓线

毛坯轮廓线

射线照相长度余量≤5mm

图MC3235.4.1.b

c) 毛坯铸件的圆筒段长度和厚度余量值

在接管的厚度有变化的场合，毛坯铸件应含有长度为z的圆筒段：

——ND>250mm的多用途的和特殊用途的铸件，l分别等于或大于e或h；

——ND≤250mm的多用途和特殊用途的铸件，l分别等于或大于1.5倍的e或h。

在任何情况下，管子的对接焊缝实施射线照相检验期间，l应包容被检验区域，但

不超过75mm。

毛坯铸件圆筒段的最大允许厚度余量应等于e或h，再加上如下规定的厚度余量：

——ND≤150mm的铸件为8mm；

——150

——250

——ND>450mm的铸件为22mm。

d) 几何不清晰度的计算

几何不清晰度的计算应使用MC3143.1给定的公式。进行单壁观察的射线照相检

验，所考虑的厚度应是检验时毛坯铸件圆筒段的厚度。当进行双壁观察的射线照相

检验时，所考虑的厚度左是毛坯铸件圆筒段的外径。

e) 图象质量

要求的图象质量应如表MC3162.2所示。

当采用单壁观察技术时，所考虑的厚度应为h或e；当采用双壁观察技术时，所考

虑的厚度应为2h或2e。

f) 胶片评定

在毛坯铸件圆柱段的整个长度上应采用双胶片技术(两张同型号胶片)。

MC3235.4.2 其它区域

检验时对于最大壁厚余量没有专门要求。然而射线透射厚度余量适合于所寻找的显示的

类型和尺寸的那些区域为合理。

MC3235.5 铸件产生边缘效应的区域

当铸件长度余量或几何形状不能完全消除边缘效应时，应采用适当的方法，如：补偿材

料和补偿件、屏蔽和滤光板。

MC3235.6 小直径阀门和泵

第一种情况：公称直径小于100mm(ND<100mm)的铸件。整个铸件(壳体、底座、法

兰和接管焊接件)可以用MC3144.2规定的“双壁透照”法透照。

第二种情况：公称直径在100～150mm(100≤ND≤150mm)的铸件。除接管焊件外，整

个铸件可用MC3144.1规定的“单壁透照”法透照。

使用“双壁透照”法时：

——透度计要沿波束的轴线方向，置于最接近放射源的壁上。

——几何不清晰度按MC3143.1给定的公式计算。式中，“厚度”为铸件射线照相段的

外径。

一一根据射线穿透的壁厚确定图象质量。

MC3240 射线照相区域

本节适用于理论上应作100％检验，而实际上又不能那样检验的一类铸件。这类铸件包

括诸如：阀门的阀座——阀体的连接和辅助泵壳的接管一一壳体连接，由于这些铸件的几何

形状、厚度或厚度的变化，使得：

——不能采用通常的检验方法；

——不能满足胶片的质量要求(几何不清晰度、黑度等)，或只能耗费很长的调整时间。

图MC3140.a和b规定了这种情况下的要射线照相的最小区域。由于上述问题，不能进

行射线照相的区域，在相关铸件的注解图中注明。

图MC3240.a

阀类的最小的被检验区域的典型例子

（剖面线区域）

图MC3240.b

泵类最小的被检验区域的典型例子

（剖面线区域）

MC3250 焊补区的检验

所用的胶片类型，应遵照MC3234的规定。

焊补区，包括热影响区，可用适当的定位标记标出。应只评定胶片标出标志区的部分（如

没有标记，则应评定整张胶片)。

下列情况下需作射线照相检验：

——在由于坑的深度而将焊补坑考虑为重要的情况下，应满足表MC3l62.1.a的图象质

量要求。使用该表时，取直接在焊补坑上面的壁厚作为基准。

——其它情况下，表MC3162.2的图象质量要求应适用，而MC3149.2第三节条款不适

用：

——当胶片设置在作为基准的焊补表面上时，应以焊补坑深度作为计算几何不清晰度的

厚度，应考虑的数值在表MC3143.1.b“焊接区”一栏里规定。

MC3300 焊缝射线照相检验

采用单壁和双壁透照法的对接焊缝和全焊透角焊缝的射线照相检验。

MC3300 适用范围

MC3300节适用于各种厚度的均匀或非均的全焊透对接焊缝和角焊缝的射线照相检验。凡本

规则第I卷(有关篇的4000章)规定要对轧制、锻造或铸造产品上焊缝作射线照相检验的，采

用单壁或双壁透照法。

MC3311 一般要求

MC3100规定的所有一般要求，在此均适用。此外，补充下列要求。

MC3312 检验条件

MC3312.1 检验时间

焊缝射线照相检验在制造期间什么阶段进行，按本规则第1卷中(有关篇的4000章)规

定实施。

MC3312.2 被检验区

被检区域和检验范围，按本规则第I卷中(有关篇的4000章)的规定确定。被检区至少包

括填充金属和热影响区。

MC3312.3 表面准备

应按MC3141规定进行表面准备。准备的程度应能满意地评定MC3312.2规定的被检区

的射线照相。

a) 对接焊缝

对厚度大于50mm的焊缝，应合适的机械万法，使焊缝外侧和可接近的内侧表面与母

材齐平。

当第1道全焊透焊道是用TIG工艺进行焊接时，并且该焊道没有妨碍对射线照相进行

评定的不平整情况时．不要求修整其焊缝内表面

对厚度等于或小于50mm的焊缝，焊缝表面与其所焊接的零件表面的连接应外观整齐，

不得有B、C和D篇4000章规定的不允许存在的严重咬边。进而，当用药皮焊条以水平垂

直位置施焊时，应进行打磨，以除去纵向沟槽和表面缺陷。如有必要，其它施焊位置的焊缝

也应打磨，以便胶片的评定。

b) 插入式角焊缝

如果可以接近，则焊缝内表面应打磨光滑。

在外侧，焊道和焊件表面应外观整齐，不得有在B、C和D篇4000章规定的不允许存

在的严重咬边。

MC3312.4 胶片类型

——使用加速器和钴60透照：用1或2型胶片。厚度超过30mm，允许使用3型胶片。

——用铱1 92透照：除1级对接焊缝要求使用1型和2型胶片外，1～3型胶片均能使

用。

——用X射线和铥170透照：1～4型胶片均可使用。

注：特别当进行电渣焊(立焊法)时，可使用1～3型胶片。

MC3312.5 射线照相胶片和射线源的相对位置

MC3312.5.1 管子对接焊缝

MC3312.5.1.1 外径φ<90mm

a) 平面或平面透照和椭圆投影法。双壁透照时．射线源远离管材。

——两次最小90°曝光．可采用下列方法：

²比值中φ／e≤10，采用平面透照法；

²比值φ／e>10，采用平面或椭圆透照法；

采用平面透照法，射线源置于管道外侧的焊缝平面上。

采用椭圆透照法，射线源偏离焊缝平面，形成如图MC3312.5.1.1.b所示的椭圆，

其中0

在厚度不超过5mm的管材窄焊道的特殊情况下，X最大值允许为20mm。

——用MC3143.1规定的公式计算几何不清晰度，公式中采用的厚度值为管的外

径。

——透度计的设置，应使要求的孔(或线)位于射线轴线上(见图MC3312.5.1.1.b一2)。

应采用双胶片法观察。当用双胶片法观察，黑度达4.5时，可按MC3312.5.2.b条的

要求，继续用单胶片法观察。

注：φ——管子外径(mm)；

e——管子壁厚(mm)。

b) 双壁透照，贴近射线源单壁评定

如图MC3312.1.2.a一2所示，将射线源置于管的外侧壁上，胶片置于管子直径对

侧。用MC3143.1规定的公式计算几何不清晰度。图象质量由按照取射线照相厚度

等于被检验件的壁厚来确定。

按照必要性采取多次透照拍摄，以达到MC3161规定的黑度要求。

MC3312.5.1.2 90mm<外径φ≤170mm

a) 比值 φ／e≤5

当能将射线源放入管内时，则按图MC3312.5.1.2.a一1，将其置于胶片的直径上对

面的管子内壁上。

如果射线源不能放入管内，则按图MC3312.5.1.2.a一2，将其置于胶片直径上对面

的管的外壁上。

b) 比值φ／e>5

如能将射线源放入管内，并满足几何不清渐度的要求，则按如下方法透照：

——将射线源置于焊缝平面的中心位置；

——按图MC3312.5.2.a一1，射线源贴在胶片直径上对面的管子内壁上。

按照优先次序采用。

如果不能将射线源放入管内，则应置于下述位置：

——按图MC3312.5.1.2.a一2所示，射线源贴在胶片的直径上正对面管子的外壁上。

至少取4个等间距透照。

——按图MC3312.5.1.2.a一3，射源线放在管的外侧焊缝平面上，应按要求多次透

照进行单壁观察。

MC3312.5.1.3 外径>170mm

当射线源可以直接地或用检查管放入管内时，最好将其置于管子的中心位置。

如果不能放入，则应将射线源放在管外进行透照。

MC3312.5.2 对接焊缝

射线源应放在焊缝的轴线平面上，或放在焊缝的1个坡口平面上。

a) 双片观察

应评定全部胶片。被检验区应用双片观察，胶片的黑度应符合MC3161的要求。

b) 单片观察

如果双片的最低黑度在2.7～3.5之间，而双胶片对应于被检验区的某些部分的黑度

又大于4.5，只要满足MC316l的要求，则可采用单片观察；应评定两种胶片。

MC3312.5.3 全焊透角焊缝

a) 非插入式支管连接

胶片应放在支管内，而且要对着被检验的管壁。如图MC3312.5.3.a所示，射线源

应放在管外侧焊缝坡口的轴线上，偏差在0～+10°以内。

在胶片后面应放置一块厚度至少为6mm的铅板。

b) 插入式支管连接

如图MC3312.5.3.b一1和图MC3312.5.3.b一2所示，胶片应放在主管或设备的内

侧或外侧。

当胶片放在内侧时，射线源放在与支管母线呈20°～30°角的轴线上。

当胶片放在外侧时，为满足几何不清晰度要求，射线源应放在支管轴线上。

注1)：几何不清晰度仅在主平面内计算：

——母管和支管轴线平面的横截面(呈直角)；

——通过支管(边缘)轴线，垂直于上述平面的横截面。

在任何情况下，计算几何不清晰度所考虑的射线源大小，应取直径或高度中的

较大值。

被检验件的入射表面与装胶片的暗盒之问的距离按下列公式确定：

a=（X+Y）/2

式中，X、Y取值，见图MC3312.5.3.b一4。考虑的距离，须是两者(边或直角)

中的较大值。

焊道厚度的差异能使黑度限值保持在2.7～4.5范围之内时，应进行一次透照。

如不可能，可采用下述两种方法中的一种，使黑度保持在上述范围内：

a) 使用装有不同类型胶片的双重双片暗盒，进行一次曝光；

b) 必要时，进行多次透照。

注2)：焊缝的最大透照厚度超过100mm时，见图MC3312.5.3.b一3

用铱进行射线照相检验时，射线源要放在支管轴线上，在图中加阴影线的区域

必须符合图象黑度和质量要求。

制造商应制订定位方法，对此应予以说明并解释选择它的理由。为了保证上述

的区域，考虑到各种可能不精确性，应允许有余量(图中以方格表示)，此区域

可借助于胶片上显示的定位标记确定其在被检验件表面的位置。

MC3312.6 透度计

当使用线透度计时，将其横跨在焊缝上。

当使用阶梯式透度计时，按透照要求放置：

——在溶合金属以外；

——尽可能在被检验区剩余部分以外。

当检验外径小于或等于120mm的管焊缝时，透度计要放在透照区的中间平面上。

a) 分块透照

——对接焊接头

当能够按MC3312.5.2.a规定对整个被检验的区域进行双胶片观察时，将阶梯

式透度计置于胶片可评定部分的那一端。

——不同厚度或不同种类材料之间的对接焊接头。

当除双胶片观察外，还按MC3312.5.2.b进行单胶片观察时，如果接头的几何

形状允许，与被检材料高度或类型适应的阶梯式透度计放置在胶片可评定部分

的一端必须同时跨构成接头组件的每一分件。

——管子对接焊缝的双壁射线照相

²如果作双壁透照评定，胶片图象质量可按考虑射线照相厚度等于壁厚两倍来

确定，且透度计置于朝向射线源的被检验件外表面上

²如果只作单壁透照评定，胶片质量可按考虑射线照相厚度等于透照壁厚来确

定，表MC3162.1.a的值朝孔径较大方向移动一格。透度计按MC3145.2的

规定放置。

——角焊缝，可使用线透度计。按其能投射进被检验区而放置。如果这个区域宽阔，

透度计尽可能置于反差最小的区域。

b) 全景曝光

分块透照的要求适用于全景曝光区域的至少两个相对位置。

MC3312.7 特殊情况

a) 焊道之间的射线照相检验

应根据焊缝厚度，并考虑下列特殊要求规定检验条件：

——可保留焊接毛面；

——被检验送应限定在焊道的中心部分。

b) 隔离焊层与母材交界面处的射线照相检验。

由于各种金属对射线照相吸收有很大差异，应满足下列要求：

1) 奥氏体不锈钢隔离焊层

射线源应放在隔离焊层与母材交界面的延伸面上。

2) 高镍合金隔离焊层

这些交界面的射线照相检验应在检验报告内规定主要参数(照相角度、特殊的

底片图象、黑度等)。这个报告应在开始检验之前，提交给承包商。

c) 用立焊法施焊的电渣焊的焊缝图象质量

图象质量应符合表MC3162.1.a的规定。

d) 插套焊缝的射线照相检验

应用双胶片法。

1) 胶片和射线源的相对位置

各种焊件(简单焊件和套管焊件)的射线源都放在焊缝与套管相连接的平面上，

射线源与胶片的距离至少应为套管外径的10倍。

2）透照次数

——1、2级焊缝：相互呈90°角透照两次。

——3级焊缝：仅透照一次。

3) 图象质量

单胶片透照情况下，在直接贴近焊缝的支管轴线上测得黑度应大于3。为了显

示缺陷，应以一线透度计作为基准。此透度计应放在与穿透焊缝的射线源同一

侧面。应采用单胶片和(或)双胶片技术评定。

管焊接套

射线源放置平面

焊接评定区域

线型透度计

插入管子

图MC3312.7 d

MC3313 被检验区标志

当被检验区不能直接在胶片上测定时，例如在打磨的对接焊缝的情况下，应标出被检验

区的边界。应采用铅制定位标记(最好是一窄条)，置于距原始坡口距离至少10mm处。

这些定位标记的放置应不妨碍底片可评定部分的评定。

然而，如果规定的基准点在胶片上看上去是规则的(例如还没有打磨平的根部焊道的痕

迹)，制造商在考虑关于射线源的制备和放置等所有可能的不确定因素下，可以提出检验区

的标准宽度，以便保证图示(按照加工图和技术规格书)各种情况下所规定区域的检验。在这

种情况下，被检验区域可以免除铅制标记。

MC3314 焊补区的检验

填充金属的焊补区接受与焊补前规定的检验条件相同的射线照相检验。

胶片应按MC3149.2标志。

可见孔

AFNOR 透度计（阶梯型）

可见孔

ISO 透度计（线型）

图MC3312.5.1.1.b—2

宽焊道

窄焊道

图MC3312.5.1.1.b—1

图MC3312.5.1.2.a—1 图MC3312.5.1.2.a—2 图MC MC3312.5.1.2.a—3

胶

片

源

图MC3312.5.3.a

图MC3312.5.3.b—1 图MC3312.5.3.b—2

定位标记支管

实际轮廓

理论轮廓

定位标记

支管轴线

母管

确定定位标记的位置

——源的理论位置

图MC3312.5.3.b—3

支

管

支管轴线

母管

图MC3312.5.3.b—4

MC4000 液体渗透检验

MC4100 总则

MC4110 适用范围

本章阐述了本规则中规定的液体渗透检验的一般要求。

MC4120 一般要求

MC4121 检验人员资格

液体渗透检验，应由具有符合MC8000规定的合格证书的人员实施。

MC4122 液体渗透检验文件

应按一系列经过适当确认的文件（规程、操作卡、细则卡）规定的条件进行所有的液

体渗透检验；这些文件应满足RCC—M相关章节给出的要求，并应至少包括以下内容：

——被检安的类型和所使用的材料的类型；

——涉及的RCC—M相关章节和其它适用的文件；

——检验设备；清洗和液体渗透检验用的设备以及试剂；

——检验条件：被检验区和表面状况；

——检验规程：渗透方法、检验参数（零件温度，停留时间等）；

——验收准则。

MC4200 检验方法

AFNOR标准NF A09-120规定的检验程序是适用的，但应作如下修正：

——其4.5节，由以下内容代替：

“用敏化试验法（遵循NF A09-521），在标准NF A09-520附录A中规定的Ni—Cr标

准裂纹试样上，进行液体渗透试剂适用范围分类。抗过冲刷试验也应按照NF A09-521标准

进行。”

“试剂的适用范围至少应达到以下性能水平：

试样

着色剂

荧光剂

敏感指数（NF A09-521）

A50

100

／

A30

＞75

／

A20

／

100

A10

／

＞75

注：混合试剂应作为着色剂处理。”

——其5.1节，补充如下：

“必须遵守RCC—M第V卷的F6423节的‘一般规则’包含的要求（用于奥氏体钢或

镍基合金检验用的试剂的卤素和（或）硫含量的限制）。”

——其5.2节仅适用于使用再循环试剂的情况。

——其5.3节，补充如下：

“最终或中间阶段的焊缝表面（根部焊道或填充焊道）可以保持焊后状态。在堆焊情

况下，焊道之间的沟痕可以保留。”

“在液体渗透检验前进行喷砂或喷丸处理，只适用于原铸造状态的零件。”

“经磨削或表面机加工的表面粗糙度（Ra）最大值为6.3μm，经喷丸处理的原铸造状

态的零件的粗糙度（Ra）最大值为12.5μm。应按MC7200评定粗糙度。”

——其6.1.1节，由下列内容代替：

“除非另有规定，否则在整个渗透检验过程中，被检零件和使用的渗透液的温度应保

持在10℃到50℃之间。”

“在低温下的液体渗透检验”

“在达不到上述温度的场合（在室外或现场检验时），只要遵守以下特殊要求，最低温

度可以下降到5℃。”

“在检验温度低于10℃的特殊情况下，施加显示剂时应使用一种气雾剂，在使用时，

温度可达到大约20℃。此外，要使用风扇吹风，加速干燥；如果可能，则吹热风，被检件

表面温度不得超过50℃。”

“在高温下的液体渗透检验”

“在采用一定的程序和适合于这个温度的和证明了性能的试剂（按4.5节）条件下，温

度可在50℃到220℃之间。”

“需事先取得承包商的同意。”

——其6.1.3节，补充下列内容：

“停留时间至少应该为20分钟。”

“某些要求较高敏感性的补充检验，可能需要更长的停留时间。”

“在整个停留时间内，渗透膜应保持湿润。”

——其6.1.2节，补充下列内容：

“溶剂禁止喷洒，并使用的溶剂必须是由液体渗透剂制造商推荐的渗透剂中的一种。”

——其6.2.2节，补充下列内容：

“小零件的过量的渗透剂可用立即水浸的方法去除。”

——其第8节，补充下列内容：

“缺陷显示由缺陷尺寸表征。缺陷分为‘线性’和‘圆形’两类。”

“其最大尺寸比其最小尺寸大3倍时，定义为线性缺陷显示。”

“所有其它缺陷显示定义为圆形缺陷显示。”

——由于其应用方面没有足够的经验，标准NF A09-120中第11节不适用。

——其第12节，由以下内容代替：

“检验报告”

“检验报告必须包含下列内容：”

“——制造商、订货单和设备的名称以及识别号码；”

“——零件或焊缝的标志，包括类别（铁素体或奥氏体钢）和制造工艺（锻造、轧制、

铸造、隔离焊或堆焊等）；”

“——使用的检验文件名称；”

“——检验时间；”

“——表面准备（方法，清洗）；”

“——使用试剂的类型（商标、型号和标准）；”

“——检验规程（施加渗透剂的方法、停留时间、温度和亮度要求符合程度）；”

“——评定结果，包括说明不合格缺陷显示位置和尺寸示意图。对于铸件，只提供主

要的凹坑图；”

“——检验员的姓名和资格；”

“——承担检验任务的承包商的名称（如果适用的话）；”

“——检验日期和检验员签名。”

“——为了避免不必要的重复，以上所列的一些内容，已在适当认可的制造商的文件

中给出，可将其附在检验报告中。”

MC5000 磁粉检验

MC5100 总则

MC5110 适用范围

本章阐述用本规则中规定的称为“连续法”的技术进行磁粉检验的一般要求。

注：“连续法”是指在通以电流或感应磁场的同时，将探测介质施加于被检件上进行检

验的方法。

MC5120 一般要求

MC5121 检验人员资格

磁粉检验应由按MC8000的规定取得资格证书的人员进行。

MC5122 磁粉检验文件

所有的磁粉检验应遵守一系列经适当认可的文件（程序、操作卡、细则卡）的规定。这

些文件应满足本规则相关章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检物项类型：如焊缝坡口、封底焊缝、完工焊缝、角焊缝等；

一一涉及的本规则相关章节和其它适用文件；

——检验设备：电流发生器、磁化装置（电极触头、电磁铁、磁化线圈等）、所用的探

测介质、磁场指示器和退磁装置（如果需要）的特性；

——检验条件：被检表面状况、经受热加工的被检件的温度；

——检验技术规程：磁化法、探测介质类型（干法或湿法）、对比物（如采用），检验面、

检验参数（表面栅格图、顺序、电流类型、磁化电流、电极触头或磁极间距、线圈

匝数）及退磁方法（如需要）；

——验收准则。

MC5130 磁粉检验设备

MC5131 通电磁化装置

应使用能在低压下输出高磁化电流的电流发生器。

发生器输出的电流有：

——全波（交流）；

——半波整流；

——全波整流；

电流发生器应配有测量磁化电流的电流表。电流表应能清晰地显示测量数值[峰值、平

均值和真实（均方根）值]。两台电流发生器应配有两个电流表。

应在操作人员伸手可及范围内配备开关，以能接通和断开磁化电流。

给被检验件施加磁化电流的电极，应用导电和导热性良好的材料制成，且截面较大。

电极可以带接触垫，也可以不带接触垫（在此情况下端头与被检件为点接触），并应符

合MC5146的要求。

MC5132 通磁磁化装置

被检件的一部分或一段的磁化，可采用由通常配置有挠性磁极臂的手提式电磁轭、固定

式电磁轭，或采用绕在零件的一部分或一段上的线圈进行。

这些装置可由交流电、整流电或直流电供电。

MC5133 固定式磁粉检验装置

有些装置能将上述两种方法结合起来，被检验件可同时进行通磁磁化和通电磁化。

MC5134 装置的校验或标定

Mc5134.1 磁化装置的校验

磁化装置，尤其是电流表，应按书面文件规定的要求，每6个月校验一次。

MC5134.2 测量装置的标定

测量装置（照度计、辐射计、磁场指示器）应按书面文件规定的要求，每12个月标定

一次。

MC5135 探测介质

MC5135.1 干磁粉

所用的干磁粉应是磁性氧化铁。磁粉可不经专门处理直接使用，也可经着色增强对比度。

有些磁粉含有荧光色素，可在黑光灯下进行检验。

MC5135.2 磁悬液

磁悬液含有的磁粉颗粒度比MC5135.1中的干粉颗粒度更细，这些粉粒悬浮于煤油或水

中。用水悬浮时水中应加湿润剂（使磁粉在水中均匀分布）和缓蚀剂。

磁粉浓度（可见的白亮度）应保持在制造商推荐的范围内，并且在任何情况下，新试剂

中磁粉浓度都要高于2g／L，用ASTM试样测量的待用探测介质浓度，应在12至24ml/L

之间。

由于荧光探测介质在黑光下变得可见，荧光探测是可用的。在此情况下，磁粉浓度可能

较低，新试剂的最低浓度为0.5g／L，用ASTM试样测量的探测介质的浓度在1至5ml／L

之间。

MC5135.3 检查探测介质的装置

对探测介质所达到的性能及其随时间变化的检查，是用预先磁化的磁粉磁场指示器（带

磁场梯度型）进行的，指示器保证选择性与设备所加任何磁化条件无关。

MC5136 喷粉装置

无论是手动的或自动的喷粉装置，都应能将磁粉均匀地喷洒于零件的整个被检验表面。

为不影响磁痕的形成，必须避免将磁粉强烈喷撒。

MC5137 磁化条件的确定

MC5137.1 切向磁场测量仪

该仪器能按磁场计摆针所指方向确定被检件实际表面的磁场强度。在某些情况下，由于

被检件几何形状变化或若磁力线从材料以外发主，磁场强度可能难于测量。测量应在被检件

紧靠检验区的适当一段上进行。

MC5137.2 典型试样

重复的小型被检件可使用含有天然或人工缺陷的典型试件。

MC5137.3 计算

电流通过整个被检件的磁化方法的切向磁场强度值可用简单计算确定。

MC5137.4 预定值

在使用便携式触头通电磁化测量的情况下，表MC5231所列推荐值给出满意的结果。

在使用便携式电磁铁通磁磁化测量的情况下，电极间推荐距离（MC5332.2.b）给出满

意的结果。

MC5140 检验实施要求

MC5141 检验时间

零件在制造期间的哪个阶段进行检验，按本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷各篇的4000章

的规定执行。

MC5142 检验区域

被检区域和检验范围，按本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷各篇的4000章的要求确定。

MC5143 表面准备

被检件表面应干净，没有任何影响探测介质均匀分布和对磁痕做出正确评定的不规则的

现象。

在正常光照下检验情况下和磁化前，施用极细的亮光颜色涂料或涂层可以增加对比度。

检验完成后应清除涂色层。

MC5144 检验方法的选择

MC5144.1 磁化方法的选择

根据被检件的几何形状、质量、状态和钢种及假设的不连续缺陷的取向和深度等，选择

磁化方法。

当检验材料裂纹的情况下，只能采用通磁磁化法。

MC5144.2 探测介质的选择

除了被检件的表面状态的要求外，还要按照表MC5144.2的规定根据零件的温度选择探

测介质。

表MC5144.2

允许的探测介质

θ≤50℃

磁悬液

带有机色料的干粉

无色料或带无机色料的干粉

温度

50℃<θ≤100℃

100℃<θ≤300℃

MC5145 磁化状况的校验

这项检验是用适合的装置测量切向磁场强度来进行的。

在被检验区，测量结果应在2400至4000A／m间。

对磁化方法应用的全部校验，可用下列磁粉场指示器中的一种进行：

——ANFOR

——BERTHOLD

——ASME

使用磁粉磁场指示器是对磁化状况进行快速校验的一种方法，并且是适用方法的总的校

验。除在在MC5137.4规定的情况外，不能单独依靠它们来校验磁化状况。

MC5146 注意事项

——电缆应尽可能短，并要特别小心避免其盘绕；

——触头和磁轭磁极端应具有合适的几何形状并满足清洁要求；

——触头与被检件接触部分的材料，应与被检件在限制污染方面相一致，还需有足够大

的尺寸，以避免零件表面局部过热。

——在可能的范围内，电极应与被检验件表面垂直。

——只有当被检验件与电极触头接触良好时，才能接通和断开磁化电流。

——通电磁化磁粉检验后，零件的电极端接触处必须打磨，打磨后要进行目检。1级部

件和有疑问的其它部件应进行液体渗透检验或用通磁磁化法进行磁粉检验。如果在

焊接期间作了磁粉检验，就无需再作。

MC5147 探测介质的施敷

一经出现磁化就立刻施加探测介质。这种磁化应至少保持3秒钟，并且只有在整个被检

验区施加和布满探测介质后，才能停止磁化。

MC5148 磁痕观察

使用干粉时，在磁化过程中和随磁化立即观察磁痕。

使用磁悬液时，可以在磁化过程中，或磁化已结束后观察磁痕。

使用在正常光照状态下是可见的探测介质时，被检验区的照明亮度应不低于300Lux（勒

克斯）。

使用荧光探测介质时：检验应在暗处进行。但被检表面必须在黑光灯下进行检验。检验

开始前，黑光灯应加热到其亮度达到最大。开始检验前，检验人员应先在暗处停留至少5

分钟，以使眼睛适应黑暗。观察表面上的黑光亮度至少应为10W／m，光源距被检件保持

正常距离（不小于30cm）。

MC5150 磁痕判定

缺陷是通过铁磁性微粒出现不均匀的堆积来显示的。然而，并不是所有的磁痕显示都表

示缺陷。

以下原因可能造成假显示：

——产品几何形状不规则；

——表面过于粗糙；

——磁导率变化太大；

——磁场强度过大；

——剩磁等。

有疑问时，如有可能，在消除上述原因后，应重作检验。（在改善表面状态和改变磁化

特征后）还应作进一步研究。

缺陷显示用磁痕尺寸来表征。磁痕可分为线性和非线性两类。

磁痕的最大尺寸大于其最小尺寸3倍时称为线性磁痕。

其它磁痕称为非线性磁痕。

MC5160 清理

检验一经结束就用合适的试剂将残余的磁粉清除干净。

MC5170 退磁

如果本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷各篇的4000章有退磁要求，则应在检验结束后进行

退磁。

MC5180 检验报告

检验报告必须包括以下内否：

——制造商、订货单和设备的名称及识别号码；

——被检件名称．并注明加工方式（锻造、轧制、铸造），或被检焊缝的焊接方式；

——使用的检验文件的名称；

——检验时间；

——表面准备（方法，清洗）；

——所用设备的类型、商标和名称；

——采用的磁化方法；

——检验顺序；

——探测介质的类型、颜色和牌号；

——磁化参数（电流种类、电流强度、磁场指示器）．

——在加温条件下检验时的零件温度；

——照明类型（日光、灯光、黑光）；

——任何不可接受的显示均应记录，包括那些开始认为是不可接受的显示，随后因不具

有不可接受缺陷的特征而结果不与考虑的显示。

评定结果，包括标出不可接受的磁痕位置及其尺寸的示意图。对于铸件，只提供主

要的凹坑图；

——检验员的姓名及资格；

——承担检验的分包商的名称；

——检验日期及检验员签名。

为了避免不必要的重复，以上所列的一些内容，已在经适当认可的制造商的文件中给出，

可将其附在检验报告中。

MC5200 便携式触头通电磁化磁粉检验

MC5210 适用范围

本章列出了按本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（各有关篇的4000章）规定的磁粉检验的

具体要求。此要求适用于两个便携式电极触头之间产生电流磁化法。这里不包括对整个零件

通电的磁化法。

这种方法要求零件表面状态和加工精度必须按照规定。

MC5220 一般要求

MC5l00规定的一般要求，在此均适用。此外，还补充下列要求。

MC5230 检验条件

MC5231 磁化电流强度

表MC5231列出了各类型磁化电流强度值。

MC5232 栅格形图

被检件表面应划出栅格，以保证电极间距均匀，并使被检验重点区正确搭接。栅格形图

应划在零件的检测表面。焊接坡口、不打磨的焊缝和挖补区，栅格可任意划分。

触头在栅格上的位置，应使被检件能在两个相互垂直方同上磁化，偏差不超过30°；

并使接触垫间距离保持在75～250mm之间。

图MC5232.1和MC5232.2是两个电极与划定的栅格相对位置实例示意图。

划有剖面线的区域，表示磁化符合MC5137.4节规定的要求。这些区域的边缘至电极的

距离应大于等于25mm。这些区域的宽度应约等于电极之间距离的一半。

表MC5231

第一道设置第二道设置第一道设置第二道设置

图MC5232.1 图MC5232.2

MC5300 通磁磁化磁粉检验

MC5310 适用范围

本章阐述了使用本规则第Ⅱ卷和（或）第I卷（各有关篇第4000章）规定的通磁磁化

法磁粉检验的具体要求。

MC5320 一般要求

MC5000的一般要求在此均适用。此外，还补充以下要求。

MC5330 检验条件

MC5331 磁化方法

零件可通过以下方法磁化：

1）由下述方法产生磁通量

a）线圈磁化法——电流通过绕在被检件的部分或一段外侧的线圈（图

MC5331.a）；

b）电缆法——电流通过穿过空心件或空心件1段上的孔的盘绕线圈（图

MC5331.b）；

c）穿棒法——电流通过穿过被检件中心线的导体（图MC5331.c）；

2）通过便携式或固定式电磁轭感应磁化（图MC5331.d）。

MC5332 专门技术条件

MC5332.1 磁通量法（MC5331.1）

a）根据被检部件的尺寸（长度和直径）及达到MC5145规定的磁化条件所需的线圈

匝数确定电流强度。

b）线圈须以均匀的间隔分布，匝间距尽可能小。它们可以边缘靠边缘地设置。

c）每一区域至少应进行两次检验。第二次检验产生的磁力线应垂直于第一次检验时

产生的磁力线。两次检验可采用不同的磁化方法。

d）如采用外绕线圈（MC5331.1.a），在每次磁化期间，被检验区的磁化范围应延伸到

线圈或螺线管两端的最长100mm处。

MC5332.2 便携式电磁铁

a）电磁铁提升力

电磁铁应能提升铁磁体重虽：

——通交流电时，至少为4.5kg；

——通直流电、且磁极间距为最大使用间距时，为18kg。

b）栅格形图

被检件表面须划出栅格，以保证电极间距均匀，和保证被检验区域合适地检验到。

栅格形图应划在零件表面上。焊接坡口、不打磨的焊缝和挖补区，栅格可任意划分。

电极在栅格上的位置应使被检件能在相互垂直的两个方向上磁化，且两极之间距离

保持在75～250mm。

图MC5332.2.b.1）和MC5332.2.b.2）为电极与表面栅格形图相对位置的两个实例

示意。划有剖面线的区域，表示磁场指示器读数满足MC5137.4节的要求。

当使用活络磁极组合式电磁轭时，则检验区边缘至磁极的距离应不小于25mm。该

区域的宽度大约为两磁极间距的一半。

MC6000 管件涡流检验

MC6100 总则

MC6110 适用范围

本章规定了在RCC—M第Ⅱ卷中的规定的，对外径<65mm、0.75mm≤壁厚<3ram。的

管件进行涡流检验要遵照的一般要求。

MC6120 一般要求

MC6121 检验人员资格

应由具有符合MC8000规定资格证书的人员实施涡流检验。

MC6122 涡流检验文件

管件涡流检验，应按照经适当认可的一系列文件（规程、操作卡和细则卡）的规定实施；

这些文件应满足RCC—M有关章节的要求，并至少应包括以下内容：

——被检验件类型、尺寸及所用材料类型；

——参照的RCC—M的相关章节和其它适用的文件；

——检验设备：

²涡流检验仪器；

²检测线圈；

²自动检验装置；

²记录仪；

²对比管件等。

——检验条件：被检验区和表面状态；

——检验规程：

²感应电流频率；

²鉴相器的相位调整；

——验收准则。

MC6130 涡流检验设备

MC6131 涡流检验仪器

涡流检验仪器应能在测试线圈（内侧线圈或环绕线圈）中产生正弦电流，频率范围至少

为1～100kHz。

测量电桥应按差动模式工作。仪器应配有灵敏度调整器和可在0°～360°之间调整相

位的鉴相器。

检测仪器应能连接记录仪（纸带或磁带）；还可配备一个磁饱和装置。

MC6132 测试线圈

测试线圈（内部检验用内侧线圈，外部检验用环绕式线圈）应配有一个或几个差动线圈

装置。

MC6133 自动检测装置

所用装置应能使测试线圈与被检管件作恒速（+10%）相对运动。

装置应带有自动分选系统和（或）记录仪。

使用记录仪时，在任何时刻都应能使记录的信号显示与它在管件上的位置相一致。

MC6134 对比管

对比管的直径、标称壁厚、冶金和表面状态应与被检验件相一致。

对比缺陷应由径向的圆柱形孔构成。

一般情况下，这些孔的数量、位置和尺寸按MC6134.1中规定，而不锈钢或高镍合金蒸

汽发生器管，则按MC6134.2中规定。

这些孔的直径和深度允差应为士5％。

孔的形状和尺寸可通过合适的方法（如作复制样品）进行检查。

MC6134.1 用于检验一般管件的对比管

对比管上有三个各透一侧管壁的径向孔，它们分别位于相互呈120°的三个纵向平面

上。两相邻孔的垂直高度间距或孔和管端头的最小距离为300mm。

孔最大直径根据管的厚度而变化，见表MC6134.1。

表MC6134.1 对比管孔的最大直径

壁厚（mm）钻孔直径（mm）

0.75≤e

1≤e<2

2≤e<3

0.8

1.2

MC6134.2 检验不锈钢或高镍合金蒸汽发生器管用的对比管

对比管有一个从外表面起钻的平底孔，该孔距管端头至少为300mm，且其直径等于其

深度。

孔最大直径根据管的厚度而变化，见表MC6134.2。

MC6134.2 对比管孔的最大直径

壁厚（mm）

0.75≤e

1≤e<1.5

钻孔直径（mm）

0.6

0.75

MC6134.3 热交换器管（蒸汽发生器除外）的对比管

对比管上有在管的单壁上钻的三个孔，各孔在相互呈120°角的三个轴线上，且各相邻

孔的垂直高度间距及孔与管端头的最小距离为300mm。

孔的最大直径随管壁厚度而变化，见表MC6134.3。

管壁厚度（mm）

0.75≤e

e≥1

MC6140 检验条件

MC614l 检验时间

管件在加工过程中哪个阶段进行涡流检验，按RCC—M第Ⅱ卷的规定。

MC6142 检验区域

检验区域及检验范围按RCC—M第Ⅱ卷的规定。

在使用自动检验装置时，管子两端按本章不作检测的材料长度必须加以规定。

MC6143 表面准备

管件表面必须无涂层，无疏松氧化皮，没有任何干扰涡流环流或影响测试线圈与管件相

对移动的沉积物和表面不平整现象。

最大粗糙度Ra为6.3μm，并应按MC7200确定。在第Ⅱ卷采购技术规范中，对某些应

用场合可能要求的粗糙度更低。

MC6144 检验仪器的调整

频率应按使涡流的渗透深度至少等于管件的厚度来选取。

相位鉴别的选择，应以得到最佳的信噪比为准。

应使用具有最低幅度信号的对比孔调整灵敏度。

管件的标定状况和实际检验状况应相同。

MC6145 仪器调整的验证

在每班的开始和结尾及每两小时至少都要对仪器的灵敏度校验一次。

如果测得幅度漂移不大于±10％，则认为调整是合格的。

在验证过程中，如果发现仪器不稳定，则在上一次验证后所检验的管件，应在仪器重新

调整合格后进行进一步检验。

管的标称直径（mm）

φ≤20

φ＞20

φ≤20

φ＞20

钻孔直径（mm）

0.6

0.7

0.8

MC6150 检验报告

检验报告应包括下列内容：

——制造商、订货单和设备的名称及识别号码；

——被检验管件的标志，包括种类、尺寸和制造工艺；

——所用检验文件的名称；

——检验时间；

——所用设备的类型、商标及牌号；

——仪器标定和调整状况；

——管件两端头不作检验的材料长度；

——检验结果评定；

——检验人员的姓名和资格；

——承担检验任务的分包商的名称；

——检验日期和检验员签字。

为了避免重复，上述的一些内容，已在经适当认可的制造商的文件中给出，可将其附在

检验报告中。

MC7000 其它检验方法

MC7100 目视检验

MC7110 适用范围

本节阐述了本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（有关篇第4000章）规定的目视检验方法检

验表面缺陷的一般要求。

注：MC7200规定了确定无损检验前表面状况是否已满足MC2100、MC3100、MC4100

和MC5100中的要求的方法。

MC7120 一般要求

MC7121 检验人员

负责目视检验的人员应从从事无损检验的人员中挑选，或从熟悉被检验物件的制造和加

工工艺的人员中挑选。

MC7122 目视检验文件

所有目视检验均应按照一系列适当确认的文件（规程、说明书）的规定进行，这些文件

应满足相关章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检件的类型、形状及尺寸；

——参考的本规则相关章节及其它适用文件；

——检验设备：放大镜、内窥镜等；

——检验条件：被检验区域，表面状态，直接或间接的检验方法等。

——验收准则。

MC7130 检验设备

MC7131 直接目视检验

直接目视检验应用肉眼进行观察，必要时，使用最大放大倍数为6的放大镜。

MC7132 间接目视检验

无法直接观察的区域，可采用间接方法进行检验，如使用反射镜、内窥镜、复膜或其它

合适的方法或仪器。这些仪器的分辨能力至少应与直接目视检验相当。

MC7133 对比试样

制造商可以提出将被检制件与（表面状态试样或基准标准以外的）对比试样进行目视比

较的建议。

MC7140 检验实施要求

MC7141 检验时间

本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇的4000章）规定了在哪个制造阶段进行目视检

验。MC7142 检验区域

检验区域及检验范围按照本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇第4000章）的规定。

MC7143 检验条件

被检区域应没有任何影响检验观察和评定的杂物。当检验表面能以正常方式接近时，则

应采用与表面大于30°的视角，于最大距离600mm处，进行检验。

被检验表面的照明亮度应不低于350 lux（勒克司）。

MC7150 检验报告

检验报告应包含下述内容：

——制造商、订货单及设备的标志；

——被检件、焊缝及被检区域的标志，应注明其钢号的简化符号；

——所采用的目视检验技术规范的名称；

——检验时间；

——采用的方法；

——使用的设备；

——评定结果；

——检验员姓名；

——当检验由其它公司分包时，注明该分包商的名称；

——检验日期及检验员签名。

为了避免不必要的重复，上述某些内容已在经适当认可的制造商文件中给出，可将其附

在检验报告中。

MC7200 表面状况测定

MC7210 适用范围

表面状况可以通过与触感和目视粗糙度对比试样进行比较，或用电子探测仪器及光学仪

器进行测定。

本节阐述用于与触感和目视对比试样比较测定被检件表面状况的一般要求。

使用电子探测仪器测定表面粗糙度，应按照AFNOR参考文件NF E05-017的规定。

MC7220 一般要求

应根据本节的要求评定表面状况。

MC7230 检验设备

MC7231 说明

MC7231.1 触感和目视粗糙度对比试样

触感和目视粗糙度对比试样应是按各种制造和加工工艺制做出的真实外形的复制件。根

据具体情况，这些试样可以包括，也可以不包括适合于每一种制造工艺的各种等级的粗糙度。

MC7231.2 其它触感和目视粗糙度对比试样

这些试样由制造商按被检验件应达到的表面状况制作。

MC7232 表征

MC7232.1 用粗糙度值表征的试样

代表机加工、磨制或喷丸零件的试样，其表面粗糙度用Ra值表征。

MC7232.2 不用粗糙度值表征的试样

对每种加工工艺，这些试样可具有某一等级表面粗糙度，或具有被检件的表面粗糙度。

MC7240 检验实施方式

MC7241 检验时间

本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇的4000章）规定了在加工过程中的哪一阶段进

行表面状况测定。

MC7242 检验区域

被检区域及检验范围按照本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇4000章）的规定。

MC7243 检验条件

MC7243.1 清洁度

所有被检表面应干燥、清洁，无油污、油脂和涂层。总的要求是：把可能影响被检表面

和对比试样作比较的所有异物清除掉。

MC7243.2 照明

被检表面的照明亮度应不低于350 lux（勒克司）。

MC7243.3 注意事项

用某一指定加工方法制作的零件，应与按相当于同类加工工艺做出的几个粗糙度对比试

样中的一个进行对比。

粗糙度值应采用目视进行评定，在可能条件下采用触感方法。

MC7244 评定

零件表面状况应用下述方法进行评定：

——与粗糙度等级进行比较，或与粗糙度对比试样的表面状况进行比较；

——当采用单一粗糙度对比试样时，与要求的粗糙度或表面状况进行比较。

MC7400 泄漏检验方法

MC7410 适用范围

本节阐述适用于本规则规定的泄漏检验的一般要求。

MC7420 一般要求

MC7421 检验人员资格

应由按MC8000的规定取得资格证书的人员进行泄漏检验。

MC7422 泄漏检验文件

所有泄漏检验应按照经适当认可的一系列文件的规定进行，这些文件应满足适用章节的

要求，并至少包括以下内容：

——被检验件的名称、形状、尺寸、范围、体积和所用材料；

——参考的本规则相应章节，及其它适用文件；

——检验设备及试剂：检测仪、泵、压力计、真空计、其它装置，泄漏标定系统，示踪

气体及所用制剂等；

——检验规程：检验时间，被检验件表面清洁度，所用每项技术的检验方法；

——验收准则；

——清洁方法（必要时）；

——检验人员资格。

注：使用上述任1方法之前，制造商应确保泄漏检验所使用的流体（气体、液体）对涉

及的表面无任何损害（参见第V卷F6000章）。

MC7430 泄漏检验方法

MC7431 方法的选择

选择所用泄漏检验方法应根据：

——所要求的灵敏度；所谓灵敏度即在规定检验条件下可探测出的最小泄漏。

——是否有必要对泄漏值进行计算；

——被捡件的几何形状、体积及材料；

——能否保持压力或真空；

——操作的难易程度。

检验方法应达到所得到的最小灵敏度符合表MC7432“现有检漏方法一览表”中的规定；

此表根据特定标准所包括的方法的AFNOR标准NF A09—490。

MC7432 单位选择

测量泄漏的法定单位是Pa m

／s。作为信息，表MC7432列出了现仍在使用的单位间

的换算关系。

MC7440 检验实施方式

MC744l 初始条件

容器或系统在要求的水压试验或气压试验合格后，仅能进行充气试验。只有当设计规定

时，容器才能抽真空。

MC7442 开口处及系统的密封

披检验容器的开口处的密封或盲板及相连的系统和测量装置，应满足和容器本身同样的

密封要求。

MC7443 容器及回路的清洗

被检验容器及回路系统应经内外清洗，内外表面应除油并干燥。

承受高真空的容器应用经过滤的无油热风吹干，或表面热烘。

泄漏检验前，应去氧化皮和经酸洗钝化处理。

泄漏检验前的清洗要求应根据本规则其它章节中规定的最大允许泄漏率确定。

MC7444 校验标定

要求使用标定泄漏的所有检漏方法，应确知检验时的相关泄漏率。这个泄漏率至少两年

校验一次。

MC7445 程序

在NF A标准中所选的和在表MC7431中列举的某种方法的操作程序，与下述附加技术

规范一起使用。

A．整体真空检漏法（HOOD—TEST）——NF A09—492

在充氦时间至少为装置响应时问（等待NFA09—492的4.3节所规定的信号出现所

花费的时间）的3倍以后进行沉量，这个时间至少为10分钟。

B．局部真空检漏法（PARTIAL HOOD TEST）——NF A09—492

测量要求同A。

D．吸盘法（SUCTION CUP METHOD）——NF A09—492

在重复核验的情况下，氦可以通过贴在壁上的一个盒子施加。

可以通过让1标准参考泄漏量进入吸盘来进行标定，测量参考信号和等待时间。

在充氦时间至少为响应时间的3倍后（最短为10分钟），开始测量泄漏。

F．吸气探头加压捡漏（SNIFFING PROBE PRESSURE TEST）——NF A09—491

这是方法E的一种演变。围绕可疑区移动吸气探头来定位泄漏。

L．累计真空罩法 NF A09—49l

这是方法E的一种演变。除了压力容器要抽真空和它本身作为蓄气箱外，检验程

序与该方法相同。氦气是施加在其外边的。

M．加压隔离法

在时间t后，测量压力的变化。泄漏率可以通过下列公式计算：

L=（P*V）/ t

式中：V——容器体积；

L——泄漏率

必须考虑温度的变化，并进行必要的修正。

N．真空隔离法

与方法M相同。

MC7450 检验报告

检验报告应包括以下内容：

——制造商、订货单及设备的名称和标识；

——被检零件、焊缝及区域的标识；

——检验文件的名称；

——检验时间；

一一检验设备；

一一表面准备（表面状况和清洁度）；

一一检验要求，尤其是标定和调整要求；

——评定结果；

——检验员姓名和资格；

——负责检验的分包商名称（必要时）；

——检验日期和检验员签名。

为了避免不必要的重复，上述部分内容已经在适当认可的一系列制造商文件中给出，可

将其附在检验报告中。

序

号

整体真空

检漏法

NF A09—

492

名称

表MC7431 现有捡漏方法一览表

示踪方法设备不适用

气体

氦

（He

）

被检件与

氦检测仪

连接，抽真

空。然后将

其放入充

满氦气的

塑料袋中。

被检件抽

真空，与

He检测仪

场合

灵敏度

（氦泄漏

量）

—

Pam

氦检测

仪、真空

泵、氦注

入器

不能承

受真空

的零件

定量精确，

但不能用于

定位。

评注

局部真空

检漏法

NF A09—

He检测

仪、

真空

—

Pam

同上

如表面未正

确地标划栅

格，有漏查

4 92 相连。将有

疑问的区

域用充满

He的塑料

袋封包起

来。

泵。某区的风

险。定量精

确，可以定

位

喷氦真空

捡漏法

NF A09—

4 92

被检件抽

真空，与

He检测仪

相连。确定

缺陷区位

置后，在有

He检测

仪，真空

泵。

不能承

受真空

的零

件。

仅用于确定

泄漏位置

D He

疑问喷丸。

用示踪气

体给被检

件加压。将

He检测

仪、真空

泵、气

阱、专

用吸

盘。

不能承

压的零

件。

—

Pam

/s 精确测量泄

漏量并能确

定泄漏位

置。设备安

装较困难。

吸盘要小心

操作，只适

用于表面比

较规则的被

检件。

吸盘法

NF A09—

492

内部形成

真空的吸

盘放置在

被检件上，

并与检测

仪相连。

序

号

累积／吸

气探

头法加压

检漏

NF A09—

491

名称

表MC7431 现有捡漏方法一览表（续）

示踪方法设备不适用灵敏度

气体

被检件加

压，有疑问

处用乙烯

塑料袋封

装起来。如

被检件有

泄漏，则在

袋中累积。

封装一定

时间后，用

场合（氦泄漏

量）

评注

He，H 不能承

或SF。压的零

检测件

仪、真

空泵、

气阱、

记录

仪。

根据累计时

间

5³

和袋中示踪

—

Pam

气

体浓度的连

续

记录测定泄

漏

率。定位精

度

吸气探头

法

加压化学

反应法

NF A09—

106

吸气探头

检测。

He、H

或SF

检测

仪、吸气

探头、真

空泵、气

阱、记录

仪

不能承

压的零

什

在20％以

内。

泄漏定位

—

10Pam/s

定位准确，

定性测量。

—

Pam

是否需抽真

空取决于所

要求的灵敏

度、湿度和

决定最低浓

度的压力。

的

体积比15～

28％时有爆

炸危险。

用示踪气

体给被检

件加压，有

疑问处用

吸气探头

扫查

空，然后充

气。被

检

区用与NH

接触起反

应的

涂料或试

带覆盖

被检件抽

真真空

泵，涂

料喷枪

铜及其

合金。

不能承

受压力

的零

件。

表MC7431 现有捡漏方法一览表（续）

序

号

名称示踪

气体

方法设备不适用

场合

灵敏度

（氦泄漏

量）

评注

吸盘化

学反应

法

NF A09

—108

将NH

引入固

定于被检件

一个壁面上

的吸盘内，通吸盘

过壁面另一

侧渗出的NH

用适当的试

剂显示出来，

以此检测泄

铜及

其

合金。

—

Pam

定性法、精

定位。用于

检查开放

零件壁的

泄漏。可检

验大容量

的小区

域。

漏。

钟罩法

NFA09-

108

空气

被检件涂以

低粘度、低表

面张力的液

体，然后放入

带有观察简

的钟罩中。当

有泄漏时，所

涂液体的会

形成气泡。

真空

罩及

其配

套真

空

泵。

10Pam/s

—

定性法、精

定位

渗出检

漏法

NFA09—

493

被检件置于

充有加压He

的容器中。当

He渗入后再

将其放入与

He检测仪相

连的真空室

中。

检测

仪，

真

空

泵，

专用

真空

泵

不能

承受

压力

的

零

件。

适用于批

量生产的

—

Pam

零件。不能

泄漏似然

精定位。

量

泄漏量

—

Pam

—

Pam

难测量。He

的滞留取

决于表面

粗糙度。

被检件充

内压空气压，然后在有

冒泡法 N

疑问处涂上

NFA09- 肥皂水或将

110 其浸入加润

湿剂的水中。

无

专用

设

备

不

能承

压

的零

件

—

Pam

精定位，

定性。

表MC7431 现有捡漏方法一览表（续）

序

号

名称示踪

气体

方法设备不适用

场合

灵敏度

（氦泄漏

量）

评注

累积真

空罩法

被检件抽

He 真空，与

He检测仪

相连，以

标定检测

仪。然后

与检测仪

密封隔

He检

测仪，

真空

泵，He

注入

器，He

记录

—

～用于特殊

—

Pam

零

取决于累

计时间。

件。定位

难。清洁要

求严格。要

使用记录

仪。表面解

吸限制使

加压隔

离法

真空隔

离法

开。将被

检件放入

He中，经

1预定的

累计时间

后，再与

He检测仪

相连

被检件加

空气压并密

封。经1

预定时间

后，根据

测得的压

降评定总

泄漏率。

被检件抽

真空，并

空气

封闭。经

1预定的

时间后，

根据测得

的压力升

高评定总

泄漏率

仪。

用。检测

慢。限于体

积小的零

件。在多孔

壁上有He

滞留的可

能。

压缩空

气，记

录式压

力计、

温度

计。

不能承

压的零

件。

适用于大

容积被检

—

10Pam/s

件，相当不

准确的定

量测量。试

验时温度

变化应作

修正。

真空

泵、真

空计、

记录

器、记

录式温

度计

不能承

压的零

件

—

Pam

适用于体

积不大于

数个

的零件

表MC7432 泄漏测量单位的换算

1Pa²m

相当于

1 Pa²cm

相当于

1 Torr l/s

相当于

1 Lusec 或

—

Torr l/s

Pa²m

—

0.133

1.33

³10

—

Pa²cm

1.33³10

133

Torr l/s

7.5

7.5³10

—

Lusec 或

—

10 Torr l/s

7.5³10

—

Atm²cm

9.87

0.987

³10

—

1.32

1.32³10

—

相当于

1 Atm²cm/s

0.1013

相当于

MC8000 无损检验人员资格和资格证书

MC8010 无损检验人员资格和资格证书

无损检验人员资格和资格证书按照标准NF EN 473的规定。在欧洲以外，由一个独立

的机构，按照一度经过承包商认可的相应标准颁发证书。

一般来讲，制造商并不要求3级资格的无损检验人员的工作由他支配。

MC8020 定义

定义由标准NF EN 473给出。标准NF EN 473中规定的检验过程与本规范中的“检验

方法”相同。

MC9000 名词术语

MC9100 总则

本章提供MC2000～MC6000章中所用术语的实际定义。

——术语表中第1栏为MC2000～MC6000章中所用术语（按字母顺序排列）；

——第2栏为这些术语的定义。

MC9200 名词术语

MC9200～MC9250各节与MC2000～MC6000各章的对应关系，见表MC9200

表MC9200

超声波检验术语

射线照相检验术语

液体渗透检验术语

磁粉检验术语

涡流检验术语

MC 9210

表MC9210 超声波检验名词术语

术语

斜探头

入射角

反射角

1.013³10

0.76 760 1

MC9210

MC9220

MC9230

MC9240

MC9250

定义

发射出与被检验表面的法线呈斜向的超声波束的探头

图MC9210--1中的角1

图MC9210--1中的角2

折射角

本底噪声

底面回波

声束轴线

声束入射点

标准试块

续表

术语

接触法(检测)

耦合介质

分贝(dB)

液浸法

图MC9210--I中的角3

在阴极射线管荧光屏上出现的一系列半连续的小回波，这些

小回波主要是由散射造成的。

纵波在与扫查表面相反的底面反射得到的回波。

超声波束远场中最大强度点及其几何延伸向近场区的轨迹。

声束轴线与接触块之间的交点

具有规定形状和尺寸的专用试块，用以校验和标定超声波检

验仪器。

定义

探测装置直接与施加耦合膜耦合的被检材料接触的检测方

法。

施于探头与被检验件之间的、能使超声波从一种材料穿入另

一种材料的液态或柔软的固态介质。

等于两个幅度之比值的常用对数的20倍的值。

将探头和零件都浸泡在水中进行耦合的检验方法

兰姆波

在板件或薄壁管中传播的一种波型，粒子的位移波及被检验

件的整个厚度。

图MC9210-3所示回波的一部分。

(回波)上升前沿

纵波

介质每点粒子振动方向平行于波的传播方向的波型

波型转换

标称频率

通过折射或反射将某种传播波型，转换成另一种传播波型的

过程

由探测装置制造商标定的名义频率

压电晶片

能将电能转换成机械能，也能将机械能转换成电能的晶体材

料。本术语含义己扩大，并且也适用于铁一电陶瓷。

功率(调节)

探头

能使压电晶片中的电脉冲功率改变的调节

包含一个内有一些压电晶片的装置

脉冲发生器

超声波检验装置的一部分，产生一系列定常波幅的电脉冲并

稳定跟踪的重复频率(脉冲循环频率)。

对比试块

用与被检验材料声频特性接近或相同的材料制成的试块。它

可带有或不带有人工缺陷。通常用以调整检验装置的灵敏

度。

灵敏度(调节)

横波

放大器增益控制的调节。

介质各点粒子振动方向垂直于波的传播方面的波型

跨距

(图MC9210—2)

直射波束

直波探头

时基标定

一个横波探头传送的超声波束与厚度为e的零件的法线呈X

角时，该跨距是该横波探头在零件表面上的入射点和波束经

一次反射后在该面上的入射点之间的距离，计算公式为：一

次反射波=2e tan X

垂直于接触表面传播的一种纵波波束

发射直射超声波束的探头

获得超声波声程与时间基准之比值的这种调节

注释：超声波检验由MC2000论及。

MC9220

表9220 射线照相检验名词术语

术语定义

电子感应加速器一种能将电子沿圆形轨道加速，然后轰击靶子的X射线发生器。

(电子回旋加速器) 它能产生能量很高的射线。

遮挡(屏蔽)物质

暗盒

黑度计

显影(手动或自动)

为吸收背面散射的射线，在暗盒后设置的铅箔。

一种硬的或软的不透光容器，其前端面对穿透射线相对透明。暗

盒设计成放置带或不带增感屏的一张或多张射线照相胶片。

测量射线照相底片黑度的一种仪器

主要由用显影液处理曝光的射线照相胶片，将潜在图象转换为可

见图象，和用定影液定影构成的操作。

在透照期间，只采用1小部分波束进行准直或非准直曝光。可采

用单个暗盒(个别曝光)或采用多个暗盒置于射线源周围进行曝光

(全景曝光)。见图MC9220—1和MC9220—2

从源于几乎平行于射线波束的照相表面散射的射线产生的寄生效

应。

由基质材料构成，通常在其两面涂有感光乳剂的胶片。

一种能检验射线照相底片的带有照亮装置的仪器

靶(热焦点)或在垂直于辐射波束平面中射线源的正投影的面积。

定向辐射

边缘效应

(射线照相)胶片

观片灯

(Negatoscope)

(X光机和加速器)

焦点

几何不清晰度

检验导管

增感屏

黑度

直线加速器

由于曝光的几何条件(射线源或焦点尺寸、源与胶片之间的距离

等)造成的射线照相胶片图象沿边缘呈半阴影。

当被检验件从两端无法接近时，通过被检件侧面引入射线源，从

而能进行管件的焊缝内部检验的装置。

贴附在射线照相胶片上的金属箔，用以增强通过电子发射原始辐

射的效应。

射线照相底片黑度等级。

一种能将电子沿直线轨道加速，然后轰击靶子的X射线发生器。

它能产生能量很高的射线。

进行部分或全景曝光时，暗盒围绕射线源几乎是均匀距离排列。

这种曝光可使用射线源的大部分或全部有效体积(图MC9220一1

和MC9220—2)。

用以确定射线照相底片常规图象质量的一种装置。

测量曝光量的单位(新单位：库伦／kg) 1mR=O.258C kg

-1

能发射电离辐射的任何装置或物质。

多向辐射

透度计(象质计)

伦琴

(射线)源

注释：射线照相检验包括在MC 3000内。

MC9230

表MC9230 液体渗透检验名词术语

术语

清洗剂

显示剂

定义

在渗透检验前，用以清洗被检验件表面的一种溶剂。

能吸出渗入表而缺陷的渗透剂，并提供背景反差的

白色物贸。显示剂有：——干式(粉末)

——湿式(细颗粒在液体中的悬浮液)

液态渗透剂与被检表面相接触(一次或多次渗透操

作)的持续时间。

1种液体，当它与油性渗透剂结合后，能将这种渗

透剂用水冲洗掉。乳化剂有水基与油基两种。

一种与渗透剂混合后而使其易于被水洗掉的乳化

剂。

一种能渗入表面裂纹缺陷，然后能被一薄层显示剂

吸出的液体。渗透剂可以是着色的(一般为红色)或

荧光的(所含的色素在紫外线照射下发出可见光)

用水冲洗掉过量的渗透剂之前需要另加乳化剂的渗

透剂。

用以清除过量的某种类型渗透剂的液体。

用以使渗透剂激发荧光．波长在3500～4000A的辐

射。

渗透时问

乳化剂

油基乳化剂

渗透剂

后乳化型渗透剂

溶剂

紫外线辐射（检验)

水基乳化剂

水洗型渗透剂

不能与渗透剂混合，但通过湿润其表面而后容易被

水冲洗掉的乳化剂。

不需要用乳化剂就能直接用水冲洗掉的渗透剂

注释：液体渗透检验包括在MC4000内

MC9240

表MC9240 磁粉检验名词术语

术语

反差增强剂

缓蚀剂

退磁

干探测介质

荧光色素

感应磁场

液体探测介质

(磁悬液)

磁场

磁粉磁场指示器

(MPFI)

磁导率

磁粉

通电磁化

剩磁

黑光(紫外线光)

定义

施于被检件表面，用以提高反差的一种薄涂层膜(一般为白

色)．反差增强剂在磁化前施加。

加在磁粉检验液中避免被检件表面发生腐蚀的试剂。

减少铁磁性零件中剩磁的操作。

由铁磁粉微粒制成的粉末。

荧光磁粉检验用的产品中所含的色素(见荧光探测介质)。

电流通过导体(可能是被检件)产生的磁场。

悬浮在载液中的铁磁微粒。对荧光介质而言，这些微粒涂有

一层颜色，它在紫外线下射出可见射线。

有磁力作用的空间。

用于评定磁化状态并含有若干已知的人工缺陷的装置

材料或零件的磁化能力

见干探测介质

对整个零件或零件局部通以交流电、整流电或直流电产生磁

场。

磁化后，在零件中仍保留的磁性。

波长在：350～400 nm范围内，用以激发荧光探测介质发光

的辐射。

湿润剂一种用来减小液体探测介质表面张力的试剂。

注释：磁粉检验包括在MC5000内

MC9250

表MC9250 涡流检验名词术语

术语定义

产生寄生信号的因素如下：

本底噪声

——非相应于重要缺陷的管件的冶金或尺寸偏差。

——诸如探头相对于管子的速度或位置那样的检

验参数的偏差。

差动式能够比较被检验管件两个邻近区域的测量电桥装置。

涡流置于交流电磁场内的导体感生的电流。

当磁导率等于1时．承受铁磁场作用的铁磁性管件中所

磁饱和达到的状态。磁导率等于感生磁通量密度与感应磁场强

度之比。

测量电桥

与交变电流发生器相接的电路，用以比较未知测量阻抗

与已知阻抗。

穿透(深度)

当涡流强度降低到其表面值的0.37倍时．从与探头接

触的管材表面测得的深度。

鉴相器

一种从测量电桥已知相位值与基准交变信号相位比较

中测定信号不平衡幅度的仪器。

注释：管件涡流检验包括在MC6000内

图MC9210.3

图MC9220.3

2024年8月31日发(作者：但文心)

MC2000超声波检验

MC2100 总则

MC2110 适用范围

MC2120 一般要求

MC2121 检验人员资格

MC2122 超声波检验文件

MC2130 超声波检验设备

MC2131 超声波检验仪器

MC2132 探头

MC2133 耦合介质

MC2134 标定试块和对比试块

MC2134.1 标定试块

MC2134.2 对比试块

MC2140 检验实施要求

MC2141 表面准备

MC2142 探头的校正与时基校准

MC2143 灵敏度调节

MC2143.1 用底面回波进行调节

MC2144 扫查方式

MC2150 缺陷显示表征

MC2151 以底面回波为基准的标定法

MC2151.1 波幅标定

MC2151.2 尺寸标定

MC2151.3 成组缺陷显示

MC2152 以底面回波衰减为基准的标定法

MC2152.1 波幅标定

MC2152.2 尺寸标定

MC2153 以人工反射体为基准的标定法

MC2153.1 幅度标定

MC2153.2 尺寸标定

MC2153.3 成组缺陷显示

MC2160 检验报告

MC2170 自动捡验方法的专门要求

MC2200 铸件超声波检验

MC2210 适用范围

MC2220 一般要求

MC2230 检验条件

MC2231 检验时间

MC2232 检验区域

MC2233 扫查方式

MC2234 对比试块

MC2235 距离一波幅校正曲线

MC2236 缺陷显示表征

MC2236.1 幅度

MC2236.2 尺寸

MC2300 锻件超声波检验

MC2310 总则

MC2311 一般要求

MC2312 检验条件

MC2313 扫查方式

MC2314 超声波检验文件

MC2315 检验报告

MC2316 检验人员的资格(代替AFNOR标准10.1节)

MC2320 横波法检验和(或)斜射纵波法检验

MC232l 对比试块

MC2322 调节和信号显示的表征

MC2400 厚度≥6mm的奥氏体钢和合金钢钢板的超声波检验

MC2410 总则

MC2411 耦合介质

MC2412 阶梯形试块的钢种

MC2413 衰减测量

MC2413.1 原理

MC2413.2 方法

MC2500 管件超声波检验

MC2510 适用范围

MC2520 一般要求

MC2530 检验条件

MC2531 检验时间

MC2532检验区域

MC2533 扫查方式

MC2534.1 无缝钢管

MC2534.2 无填充材料的卷焊管

MC2540 检验设备

MC254 l 手工检验设备

MC2542 自动检验设备

MC2550 功率和增益调节

MC2560 自动装置调节校验

MC2570 缺陷显示表征

MC2580 检验报告

MC2600 全焊透焊缝超声波检验

MC2610 适用范围

MC2620 一般要求

MC2630 检验条件

MC2631 检验时间

MC2632 检验区域

MC2633 表面准备

MC2633.1 对接焊缝

MC2633.2 角焊缝和支管连接

MC2634 扫查方式

MC2634.1 对接焊缝

MC2635 对比试块

MC2635.1 几何形状

MC2635.2 人工反射体

MC2636 功率和增益调节

MC2637 缺陷显示表征

MC2639 焊补区检验

MC2700 隔离焊层、堆焊层及复合层超声波检验

MC27l0 适用范围

MC2720 一般要求

MC2730 检验条件

MC2731 检验时间

MC2732 检验区域

C2733 表面准备

MC2734 扫查方式

MC2734.1 隔离焊层和堆焊层

MC2734.2 复合层

MC2735 对比试块

MC2735.1 型式和几何形状、

MC2735.2 人工反射体

MC2740 缺陷显示表征

MC2741 堆焊层

MC2741.1 幅度评定

MC2741.2 尺寸评定

MC2741.3 成组缺陷显示

MC2741.3.1 体积型缺陷显示

MC2741.3.2 连续未结合型缺陷显示

MC2742 隔离焊层

MC2742.1 幅度评定

MC2742.2 尺寸评定

MC2742.3 成组缺陷信号显示

MC2743 复合层

MC2743.1 幅度评定

MC2743.2 尺寸评定

MC2750 焊补区检验

MC3000射线照相检验

MC3100 总则

MC3110 适用范围

MC3120 一般要求

MC312l 检验人员资格

MC3122 射线照相检验文件

MC3123 基准底片

MC3130 射线照相检验设备

MC3131 射线源

MC3132 胶片系统

MC3133 增感屏

MC3134 滤光板

MC3135 遮挡物质（屏蔽板）

MC3136 透度计

MC3137 标志和定位标记

MC3138 观察设备

MC3138.1 黑度计

MC3138.2 黑度基准胶片和标准样

MC3138.3 观片灯

MC3139 胶片的储存

MC3139.1 胶片封装

MC3139.2 存档柜

MC3139.3 档案室

MC3139.4 环境条件

MC3139.5 胶片的归档

MC3140 检验条件

MC314l 表面准备

MC3142 射线源的选择

MC3143 几何参数

MC3143.1 几何不清晰度

MC3143.2 射线源尺寸

MC3143.3 胶片与零件间的距离

MC3144 射线照相胶片和射线源相对位置

MC3144.1 单壁透照

MC3144.2 双壁透照

MC3144.3 多件全景透照

MC3145 透度计

MC3145.1 透度计选择

MC3145.2 透度计位置

MC3146 暗盒组成

MC3146.1 胶片

MC3146.2 增感屏

MC3147 滤光板

MC3147.1 电压＜400KV的X射线

MC3147.2 γ射线源

MC3147.3 直线加速器和电子感应加速器

MC3148 遮挡物质(屏蔽板)

MC3149 胶片标志

MC3149.1 射线透照件的标志和标记

MC3149.2 射线照相胶片的标志和标记

MC3149.3 曝光次数和胶片重叠

MC3150 射线照相胶片处置和检验

MC315l 射线照相胶片处置

MC3152 灰雾度

MC3153 射线照相底片检验

MC3160 射线照相胶片质量

MC3161 黑度

MC3162 图象质量

MC3162.1 焊接件

MC3162.2 铸件

MC3170 检验报告

MC3200 钢铸件射线照相检验

MC3210 适用范围

MC3220 一般要求

MC3230 检验条件

MC3231 检验时间

MC3232 检验区域

MC3233 表面准备

MC3234 胶片类型

MC3235 特殊检验条件

MC3235.1 滤光板

MC3147.2规定的滤光板是非强制性的。

MC3235.2 透照类型和胶片的评定

MC3235.2.1 厚度不变的零件

MC3235.2.2 厚度变化的零件

MC3235.3 透度计

MC3235.4 毛坯铸件的射线照相

MC3235.4.1 管嘴焊接件

MC3235.4.2 其它区域

MC3235.5 铸件产生边缘效应的区域

MC3235.6 小直径阀门和泵

MC3240 射线照相区域

MC3250 焊补区的检验

MC3300 焊缝射线照相检验

MC3300 适用范围

MC3311 一般要求

MC3312 检验条件

MC3312.1 检验时间

MC3312.2 被检验区

MC3312.3 表面准备

MC3312.4 胶片类型

MC3312.5 射线照相胶片和射线源的相对位置

MC3312.5.1 管子对接焊缝

MC3312.5.1.1 外径φ<90mm

MC3312.5.1.2 90mm<外径φ≤170mm

MC3312.5.1.3 外径>170mm

MC3312.5.2 对接焊缝

MC3312.5.3 全焊透角焊缝

MC3312.6 透度计

MC3312.7 特殊情况

MC3313 被检验区标志

MC3314 焊补区的检验

MC4000液体渗透检验

MC4100 总则

MC4110 适用范围

MC4120 一般要求

MC4121 检验人员资格

MC4122 液体渗透检验文件

MC4200 检验方法

MC5000 磁粉检验

MC5100 总则

MC5110 适用范围

MC5120 一般要求

MC5121 检验人员资格

MC5122 磁粉检验文件

MC5130 磁粉检验设备

MC5131 通电磁化装置

MC5132 通磁磁化装置

MC5133 固定式磁粉检验装置

MC5134 装置的校验或标定

Mc5134.1 磁化装置的校验

MC5134.2 测量装置的标定

MC5135 探测介质

MC5135.1 干磁粉

MC5135.2 磁悬液

MC5135.3 检查探测介质的装置

MC5136 喷粉装置

MC5137 磁化条件的确定

MC5137.1 切向磁场测量仪

MC5137.2 典型试样

MC5137.3 计算

MC5137.4 预定值

MC5140 检验实施要求

MC5141 检验时间

MC5142 检验区域

MC5143 表面准备

MC5144 检验方法的选择

MC5144.1 磁化方法的选择

MC5144.2 探测介质的选择

MC5145 磁化状况的校验

MC5146 注意事项

MC5147 探测介质的施敷

MC5148 磁痕观察

MC5150 磁痕判定

MC5160 清理

MC5170 退磁

MC5180 检验报告

MC5200 便携式触头通电磁化磁粉检验

MC5210 适用范围

MC5220 一般要求

MC5230 检验条件

MC5231 磁化电流强度

MC5232 栅格形图

MC5300 通磁磁化磁粉检验

MC5310 适用范围

MC5320 一般要求

MC5330 检验条件

MC5331 磁化方法

MC5332 专门技术条件

MC5332.1 磁通量法（MC5331.1）

MC5332.2 便携式电磁铁

MC6000 管件涡流检验

MC6100 总则

MC6110 适用范围

MC6120 一般要求

MC6121 检验人员资格

MC6122 涡流检验文件

MC6130 涡流检验设备

MC6131 涡流检验仪器

MC6132 测试线圈

MC6133 自动检测装置

MC6134 对比管

MC6134.1 用于检验一般管件的对比管

MC6134.2 检验不锈钢或高镍合金蒸汽发生器管用的对比管

MC6134.3 热交换器管（蒸汽发生器除外）的对比管

MC6140 检验条件

MC614l 检验时间

MC6142 检验区域

MC6143 表面准备

MC6144 检验仪器的调整

MC6145 仪器调整的验证

MC6150 检验报告

MC7000 其它检验方法

MC7100 目视检验

MC7110 适用范围

MC7120 一般要求

MC7121 检验人员

MC7122 目视检验文件

MC7130 检验设备

MC7131 直接目视检验

MC7132 间接目视检验

MC7133 对比试样

MC7140 检验实施要求

MC7141 检验时间

MC7143 检验条件

MC7150 检验报告

MC7200 表面状况测定

MC7210 适用范围

MC7220 一般要求

MC7230 检验设备

MC7231 说明

MC7231.1 触感和目视粗糙度对比试样

MC7231.2 其它触感和目视粗糙度对比试样

MC7232 表征

MC7232.1 用粗糙度值表征的试样

MC7232.2 不用粗糙度值表征的试样

MC7240 检验实施方式

MC7241 检验时间

MC7242 检验区域

MC7243 检验条件

MC7243.1 清洁度

MC7243.2 照明

MC7243.3 注意事项

MC7244 评定

MC7400 泄漏检验方法

MC7410 适用范围

MC7420 一般要求

MC7421 检验人员资格

MC7422 泄漏检验文件

MC7430 泄漏检验方法

MC7431 方法的选择

MC7432 单位选择

MC7440 检验实施方式

MC744l 初始条件

MC7442 开口处及系统的密封

MC7443 容器及回路的清洗

MC7444 校验标定

MC7445 程序

MC7450 检验报告

MC8000 无损检验人员资格和资格证书

MC8010 无损检验人员资格和资格证书

MC8020 定义

MC9000 名词术语

MC9100 总则

MC9200 名词术语

MC 9210 超声波检验名词术语

MC9220 射线照相检验名词术语

MC9230 体渗透检验名词术语

MC9240 磁粉检验名词术语

MC9250 涡流检验名词术语

MC1000

力学、物理、物理—化学和化学试验

MC1100 总则

本章阐述试验条件和规定试样尺寸。

MC1110 取样方法

MC1111 试验材料

试样在试料中的定位和定向，由第Ⅱ卷中总条款和技术规范规定，并且应该在产品制造

商或供应商提供的文件中予以注明。

MC1112 焊接

试样的定位在第Ⅳ卷附录SI中作了规定。

MC1200 力学性能试验

试验条件和试样尺寸应该遵循下面提到的AFNOR标准（法马通已经为RCC—M标准

将AFNOR标准的题目翻译成英语）和本章中修改和补充的技术条件。

MC1210 拉伸试验

拉伸试验机应按标准NF EN 10002.2中的规定进行校验。所用试验机至少应是1级。

延伸仪应按标准NF EN 10002.4中的规定进行校验（所用延伸仪应是1级或更好），或

按照标准ASTM E.83进行校验（所用延伸仪应是B2级或更好）。

MC1211 室温拉伸试验

应采用标准NF EN 10002-1和NF EN 895，并考虑以下说明：

A 标准NF EN 10002-1“拉伸试验（试验方法）”

附录C

试样直径（拉伸有效段）为10mm。在不能取得这种直径的试样时，只有以获取试

验数据为目的，或在有明确措施使其可行的情况下，才允许采用小试样。

附录D

当管道或管件的厚度允许时，应使用直径10mm的试样。否则，应从管道或管件

上截取条状试样或全截面管段进行试验。

B 标准NF EN 895“金属元件焊缝破坏性试验”；“横向焊缝拉伸试验”

不允许进行本节5.3注中建议的脱气处理。

MC1212 高温拉伸试验

应采用标准NF EN 10002-5并考虑以下说明：

——附录C，第6.2节：

试样直径（拉伸有效段）为10mm。在不能取得这种直径的试样时，只有在有明确

措施使其可行的情况下，才允许采用小试样。

——附录D，第6.2节：

当管道或管件的厚度允许时，应使用直径10mm的试样。否则，应从管道或管件

上截取条状试样或全截面管段进行试验。

——第10.3节：

屈服强度之前的应力增加速率不得超过80MPa/min。

MC1220 冲击试验——从延性到脆性转变曲线的绘制

试验机应按标准NF EN 10045.2中的规定进行校验。 NF 为法国标准（AFNOR） EN

校验间隔应该为12个月，最长不得超过18个月。

MC1221 冲击试验

试样尺寸和试验条件应符合下列通用的AFNOR标准规定：

A NF EN10045.1“夏比冲击试验”

按照第Ⅱ卷和第Ⅳ卷上的技术要求，每一次试验要有2或3个试样。

如果采购技术规范有此要求，对每一个试样均应测定其塑性断口百分率和侧向膨胀值。

这些测量按照以下B、C的要求进行。

B “塑性断口百分率——按照ASTM A370的技术要求”。

C “侧向膨胀值——按照ASTM A370的技术要求”。

测微仪的读数也应得到认可，并应该预先注意以下事项：

—— e

=（e—e

）mm

其中e

=侧向膨胀值；

——试样两个平分段的A和B面，必须处于精确的同一平面（P）中。

——侧向膨胀值应取3次不同测量结果的平均值。

图MC1221

MC1222 从延性到脆性转变曲线的绘制

应按MC1221的要求，根据下列条件，在不少于5种温度的条件下进行试验

——0℃试验；

——在曲线的下平台温度的试验，对应的纤维断口百分率低于10%；

——在纤维断口百分率等于100%的温度下的试验；

——为尽可能精确地确定曲线的形状而选定的其它温度下的试验。

根据NF EN10045.1的规定，试样断裂时的温度，不得偏离规定的试验温度的±2℃。

按照下列要求绘制曲线：

——吸收能值作为试验温度的函数；

——塑性断口百分率作为试验温度的函数。

转变温度TK50%是塑性断口百分率为50%时的温度。

MC1230 Pellini 落锤试验（T

NDT

温度的确定）

试样制备及试验条件应符合ASTM E280标准规定的要求。

在进行每组试验前应确保重锤是从正确的高度（在+10%到—0%的误差范围内）自由坠

落的。所用重锤的重量也是已知的。

采用P3型试样，其尺寸如图MC1230.1所示。

如果技术规范中规定的RT

NDT

≤0℃，则按表MC1230.1所列温度进行试验；

如果技术规范中规定的RT

NDT

≤16℃，则按表MC1230.2所列温度进行试验。

图MC1230.1

P3型试样的尺寸

表MC1230.1

试验温度

2PELLINI

落锤试验

开始试验的温度

两个试样均未冲断

至少有一个试样冲断

表MC1230.2

试验温度

开始试验

的温度

两个试样均未冲断

至少有一个试样冲断

MC1240 基准无延性转变温度的确定

NDT

的温度应通过Pellini落锤试验和KV冲击试验两者确定。

Pellini落锤试验应按MC1230的规定进行。

和KV冲击试验应按MC1221 A的规定进行。

试验温度应根据T

NDT

温度确定（见MC1230）。

试验应按下列方法进行（关于KV试样）：

a）以3个试样为1组，其中每一个试样在给定的温度下同时满足下列要求，则认为试

验有效：

——断裂吸收能量≥68J

——侧向膨胀值≥0.9mm。

b）第一组试样冲击的温度为：

CV1

NDT

+33℃

如果满足上述a）的条件，则：

NDT

如果结果不能满足上述a）的条件，则第二组试验按照下列c）的规定进行试验。

c）如果进行第二组试验，第二组试样的试验温度规定如下：

CV2

= T

CV1

+5℃

如果满足上述a）的条件，则：

NDT

—33℃

d）如果c）条规定温度下的试验，结果不能满足上述a）的条件，则另外一些试验应

在5℃的间隔温度下进行试验。直到求得满足上述a）的条件的温度T

。则认为：

NDT

—33℃

MC1250 焊接热影响区特殊韧性试验

MC1251 Pellini落锤试验

试验条件应按照MC1230的规定。

MC1252 冲击试验

KV冲击试验应按照MC1221 A 进行。

MC1260 弯曲试验

试样尺寸和试验条件应该符合以下AFNOR标准的有关章节和本章的修正或附加的技

术条件。

MC1261 钢制产品的弯曲试验

试验按照AFNOR标准NF A 03-157执行该标准也适合于镍基合金。

MC1262 厚度大于0.5mm并小于3mm的钢板和钢带的单向弯曲试验

试验按照AFNOR标准NF A 03-158执行。

MC1263 焊缝弯曲试验

试验按照以下标准执行：

——NF EN 910 “金属元件焊缝破坏性试验”；“弯曲试验”

对于上述标准已经添加了如下技术要求和修正：

对于取自表面的试样，在进行纵向、横向或侧向弯曲试验时应使焊缝正面表面经受拉

应力。

对于不是取自表面的试样，在进行纵向或侧向弯曲试验时可选任意面受拉。

——将一直径为d的芯棒置于试样焊缝的轴线上，试样支撑在彼此相距为l的两个支撑

辊上，向芯棒施压，使试样弯曲。D和l的数值取决于母材的最小抗拉强度Rm和试样的厚

度a，具体要求由下表给出：

对于异种材料焊缝，取决D和l的最小抗拉强度Rm由母材中最大的抗拉强度值决定。

Rm（MPa）

Rm≤440

440＜Rm≤540

Rm＞540

4.2a

5.2a

4a 6.2a

——试样应弯曲到两端平行为止（α=180°），不再对材料施加任何进一步的压力。

注意：对于弯曲性能不太好的材料，弯曲角度应限制到与其弯曲相适应的数值，这可

在试样拉伸面上进行网络标志予以检验。

MC1264 堆焊层弯曲试验

试验应按照MC1263（标准NF EN 910 “金属元件焊缝破坏性试验”；“横向焊接拉伸

试验”；“弯曲试验”）执行。

试样为厚度10mm，和宽度30mm。

MC1265 杯突试验

试样尺寸和试验条件应符合AFNOR标准NF A 03-652“试样边缘夹紧的杯突试验”规

定的要求。

MC1270 扩口试验和压扁试验

MC1271 钢管的扩口试验

试验应符合标准NF EN 10234规定的要求。

试样为一管段，其两端面垂直于钢管轴线。两端面应该使用机械方法锯下或切下，禁

止使用热切割。

1）奥氏体不锈钢和镍基合金钢管

用一个顶角为60°的锥形芯棒进行阔口试验，直到钢管的内径增量达到如下规定：

热交换器管道

其它用途管道

镍基合金蒸发器管道

2）碳钢钢管

试验条件按照下列表格要求的标准规定：

TU42C—TU48C

TSE2 35A—TSE2 50A

MC1272 钢管的压扁试验

NF A 49-213

NF A 49-142

35%

30%

试验应按照标准NF EN 10233规定的要求进行。

试样为一管段，其两端面垂直于钢管轴线。两端面应该使用机械方法锯下或切下，禁

止使用热切割。管段长度应为壁厚的1.5倍，但不得短于10mm，也不要超过50mm。

1）奥氏体不锈钢钢管

试验分为两阶段：

——第一阶段将钢管压扁到两个平行板之间距离达到一个规定的数值Z为止。Z值按以

下公式计算：

Z=[（1+K）a] / [K+（a / D）]

Z——压板之间距离；mm

a——钢管的名义壁厚；mm

D——钢管的名义外径；mm

K——按照钢管外径D确定的系数，见下表：

用于热交换器管道

其它管道

K=0.15

对于所有“D”和“a”

K=0.13（当D≤114.3）

K=0.11（当D＞114.3）

——第二阶段，继续压扁，直到试样破裂或钢管两内壁相互接触为止。

卷焊钢管压扁时，焊缝应放置在压机上下压板的中间，并平行于上下压板。

2）碳钢钢管

试验条件按照下列表格要求的标准规定：

TU42C—TU48C

TSE2 35A—TSE2 50A

MC1280 硬度试验

试验机和标准试块应按相关AFNOR标准进行校验。

建议试验机每年校验一次，时间间隔不得超过12个月。

——NF EN 10003-2“布氏硬度试验——布氏硬度试验机的校验”；

——NF EN 10109-2“硬度试验——洛氏硬度试验机（A，B，C，D，E，F，G，H，K，

N和T的范围）的校验”；

——NF A 03-504 “钢铁产品——维氏硬度试验机的校验，使用的试验负荷在4.9到

98daN（5到100kgf）之间”；

——NF EN 10003-3 “布氏硬度试验——布氏硬度试验所用对比试块的标定”；

——NF EN 10109-3“硬度试验——洛氏硬度试验机（A，B，C，D，E，F，G，H，K，

N和T的范围）所用对比试块的标定”；

——NF A 03-507“钢铁产品——维氏硬度试验——所用硬度对比试块的标定”。

试验条件按照现行AFNOR标准以及本规范MC1281，MC1282，MC1283和MC1284

的规定执行。

这些标准也适合于镍基合金。

MC1281 钢的布氏硬度试验——试验方法

试验按照NF EN 10003-1标准的规定执行。

MC1282 洛氏硬度试验

试验按照NF EN 10109-1标准“洛氏硬度试验，洛氏试验（A，B，C，D，E，F，G，

H，K范围）和洛氏超级试验（15N，30N，45N，15T，30T，45T范围）”的规定执行。

MC1283 维氏硬度试验（HV5——HV100）

试验按照NF A 03-154标准的规定执行。

MC1284 焊接试料的硬度试验

试验按照NF EN 1043-1标准中以下要求执行：

——硬度试验类型：HV10；

——在任何方向上，相邻两点中心之间的最小距离不得小于最近显示点对角线平均长

度的2.5倍。

MC1290 铁素体含量的测定

当技术规范中要求测定奥氏体——铁素体铸件中铁素体含量时，应按照下列方法之一

NF A 49-213

NF A 49-142

进行：

——根据已知化学成分，使用SCHAEFFLER方法确定铬、镍当量，在图MC1290.1上

标出相应的铁素体含量的代表点。

——从已知化学成分，计算出铬、镍当量：

=%Cr+%Mo+1.5%Si+0.5%Nb

=%Ni+30%C+0.5%Mn

然后，使用下列两个方程式，计算出当量SCHAEFFLER的铁素体含量：

R=（Cr

—4.75） / （Ni

+2.64）

Fe%=（119.11R

—550.34R

+701.94R—297.25）R

注意：此计算法对于铁素体含量在10到25%范围内有效。

MC1300 物理和物理化学试验

MC1310 18—10型铬镍奥氏体不锈钢的加速晶间腐蚀试验

MC1311 总则

本试验的目的是检验产品是否具有良好的抗晶间腐蚀性能，足以承受其在加工和使用

过程中的腐蚀条件。

根据如下加工方式和使用要求确定晶间腐蚀试验条件：

——加工：热成型，焊接（各种方式）；

——使用：温度，环境。

下列方法适合于所有材料的各种严格的试验条件，和确定试验的严格程度。

MC1312 试验说明

将特别制备并经晶间腐蚀敏化处理的试样浸泡在定量的试剂中并经过一段规定的时间。

该试剂为沸腾的硫酸铜硫酸溶液。浸泡后用适当的方式评定试样是否发生了晶间腐蚀。

MC1312.1 取样

按照附录SI中的技术规范和MC1315补充要求取样：

——在收到的产品上取样；

——或在加工的某些中间阶段取样。

——或在炼钢厂，在为取样而特别铸造的并经锻造成合适尺寸的样坯上取样。

注意：厚度过薄的试样（小于3mm），试验结果难以评定。

MC1312.2 试样的制备

试样应从试料上截取。试样的取向，确切位置和尺寸均应按MC1315和如下规定执行：

——从样坯上截取的试样，通常应是厚度3到4mm的，宽度为10mm左右，长度为60

到70mm。试样的轴线应平行于主锻造方向。

——板材或带材的试样应从产品本身上截取，加工到厚度为4mm并保留一个轧制面。

——管材试样可以从实际管道上截取。

当试验的目的是确定厚度小于3mm的不再进行热处理的板材或带材产品的可焊性时，

其晶间腐蚀试验可以在按照MC1312.3的C法处理制备的焊接平板试样上进行。

MC1312.3 试验前试样的处理

※※

实际腐蚀试验前，试样应经下列一种“敏化”处理：

——A法处理

在实验室加热炉中，将试样加热至采购技术规范规定的温度“T”。

温度“T”：对不含钼的18—10型钢为650℃；

对含钼的18—10型钢为675℃。

加热时间不超过5分钟，在温度偏差不超过±10℃下，保持10分钟。

然后，将试样浸入水中冷却。

本处理在试样加工到最终厚度3到4mm之前进行。

——B法处理

在实验室加热炉中，将试样加热至采购技术规范规定的温度“T”。

温度“T”：对不含钼的18—10型钢为700℃；

对含钼的18—10型钢为725℃。

加热时间不超过5分钟，在温度偏差不超过±10℃下，保持30分钟。

试样在炉内以每小时60±5℃的速率缓慢冷却到500℃，然后在空气中冷却。

为确保冷却均匀，加热炉应是恒温控制的并有调定的热循环。

※见MC1315

※※见MC1315

本处理在试样加工到最终厚度3到4mm之前进行。

——C法处理

厚度小于3mm的板材或带材产品A法敏化处理可以用如下焊接件代替：将两块50³

100mm的矩形钢板或钢带，采用焊接件上将采用的同样焊接工艺，取平焊位置焊在一起。

此外，按图MC1312.1所示，横穿试样，熔敷一条焊道。此焊道采用两块试料对焊时所用最

大直径的焊条，并应在第一条焊缝完成后最迟30秒内进行焊接。

※

焊接试样的表面不得有焊渣或氧化物。表面异物可以用磨削或者旋转钢丝刷打磨除去。

所用钢丝刷必须是不锈钢的。如果采用机械清除方法，则必须避免发生过热。

试样轴线应于焊缝轴线重合。试样长度应与无焊缝试样相同：即为60到70mm；宽度

应为45mm。试样边缘应加工光洁。

图MC 1312.1

MC1312.4 腐蚀试验

试样应在沸腾试剂中浸泡72小时

※

，该试剂的成分如下（重量百分比）：

10%结晶硫酸铜（CuSO

，5H

O）；

10%硫酸（CuSO

），比重为1.83；

80%蒸馏水。

每块试块均应完全浸泡在一个单独的装有250cm

试剂的锥形或圆形玻璃烧瓶中对由两

块板材焊接而成的试样，则需要500cm

试剂。

整个试验过程中，试剂必须一直保持沸腾（建议采用电加热砂床温度浴池，为避免试

※如果试剂中加入铜屑，浸泡时间可以缩短到24小时。

剂产生过分旋涡，必要时可在玻璃烧瓶中加入几粒玻璃珠子。如果烧瓶是平底的，应采取措

施，避免试样表面与瓶底的接触）。

整个试验过程中，试剂浓度应保持不变。为此，应在容器顶部安装回流冷凝装置。

新鲜试剂只能用来进行一次试验。

腐蚀处理后，试样应用水彻底冲洗并吹干。表面腐蚀产物应清除掉。

MC1312.5 腐蚀后的检验

腐蚀处理后，试样应经历一系列检验，以确定是否有晶间腐蚀的迹象。

这些检验包括：

a）声响试验：使试样掉落到金属表面上；

b）弯曲试验：围绕芯棒慢慢将试样弯曲到90°角度，芯棒直径不大于试样腐蚀试验

前厚度的两倍。

当试样是由两块板材或带材焊接而成时，芯棒应沿焊缝轴线放置，因此焊缝表面构成

弯曲试样的凸面（见图MC1312.1）。

当试样是整段管材时，将该管段压扁，直到压扁间距等于管壁厚度4倍为止。如管子

有纵向焊缝，则必须沿焊缝轴线弯折。

c）显微镜检验（可选择的补充试验）

MC1313 要求达到的结果

a）经腐蚀试验的试样，在撞击钢表面时，应发出清脆的金属声音。

为了便于鉴别试验结果，可将每个试样与另一个对照试样进行比较，对照试样与被检

试样同时取自产品，并且经过全部同样处理，只是未进行腐蚀试验。

试样越薄，鉴别其声响质量越难。通常不用厚度小于3mm的试样。

b）对弯曲成90°角度或压扁的试样，其张力表面应无裂口或裂纹。如果出现这种现

象，应继续试验到试样断裂。在部分或全部断裂处，断裂面上应无晶间腐蚀迹象。

与声响试验相同，为了鉴别弯曲和压扁试验的结果，也可将被检试样与经历相同处理

的对照试样进行对比。

c）仅在解释上述两种鉴别试验结果产生疑问时，才采用显微镜检验。

MC1314 评述

这些试验的严格程序，主要取决于对试样进行的“敏化”处理的类型。

“B”法处理通常用于检验产品的抗高温晶间腐蚀性能。

对于产品可能受焊接影响的那些区域，在相对低的温度环境中，验证其对晶间腐蚀的

敏感性时：

——产品的厚度不超过3mm：一般采用A法处理，但对于厚度小于3mm的板材、带

材或管材，也可采用C法处理。

——所有其它产品采用B法处理。

对各种类型18—10不锈钢均应进行以下相应的处理：

a）低碳18—10不锈钢（C≤0.06%）

作为一般规则，由这种钢制造的厚度小于3mm的产品，在经过一道或多道焊接后，仍

然能够经受晶间腐蚀。因此试验要求的处理是：

——A法处理，在温度650℃下保温10分钟（在此温度下保温处理过久，不是增加了

这种低碳不锈钢的腐蚀敏感性，而是实际降低了它们的敏感性）。

——或C法处理。

b）超低碳18—10不锈钢（C≤0.03%）

一般说，这种不锈钢在任何环境下均能抗晶间腐蚀。通常采用在700℃下的B法处理。

c）含钛或铌稳定的18—10不锈钢

与超低碳18—10不锈钢的处理方法相同。

d）含钼低碳18—10不锈钢（C≤0.07%）

试验与评述与超低碳18—10不锈钢相同。A法处理，温度“T”为675℃。

e）含钼超低碳18—10不锈钢（C≤0.03%）

试验与评述与超低碳18—10不锈钢相同。B法处理，温度“T”为725℃。

f）钛或铌稳定的含钼18—10不锈钢

试验与评述与含钼超低碳18—10不锈钢相同。

MC1315 备注

1）上述晶间腐蚀试验也适用于奥氏体—铁素体不锈钢。

2）多数情况下，试料和试样应符合以下要求：

试料的尺寸应能提供全部试验和复试的足够数量的试样。

对每一晶间腐蚀试验，至少要加工两个试样，一个用作对比试样。

腐蚀试样的通常尺寸为70³10³4mm。

A 锻件和轧制产品的取样

A1 浇包取样

取自锻造比≥3的锻坯的试棒，在最终产品固溶热处理温度下，保温1小时后进行淬火

完成固溶热处理。试样轴线应与锻造延伸方向平行。

试样表面至少在锻坯表面以下3mm。

A2 半成品取样

应在半成品的形状和厚度足以截取70³10³4mm试样的加工阶段，截取半成品试料。

试料应按成品同样的方式进行固溶热处理。

试样轴线应平行于主锻造延伸方向。试样的表面应是半成品表面。

A3 成品取样

试样就取自交货状态的成品。

——板材、薄板材和带材的试样中心线应平行于主锻造（轧制）延伸方向。

——厚度大于4mm的产品，应仅从一面加工到4mm厚试样。试样必须包含将来与腐

蚀性环境相接触的成品表面。对于厚度小于4mm的产品，试样的厚度应与产品的厚度相同。

——直径≤30mm的管材，可取长度为30mm的完整管段作为试样。对于直径＞30mm

的管子，可按板材或带材同样的方法取试样。

——对于锻件，试样应取自代表一批零件的一个零件，或取自专为取样而提供的延长或

延伸部分。试样的轴线应平行于锻造延伸方向。

若制造零件时表面不进行机械加工，则试样表面应由零件表面本身构成；如果进行机械

加工，考虑到制造中加工的允许平均厚度裕量，试样表面应位于代表成品零件表面的深度。

以上所考虑的表面，是指在使用中与流体接触的表面。

B 铸件的取样

从本身取自有代表性的铸锭或从经固溶热处理的铸件延伸部分切取试料，再由该试料制

取试样。

在任何情况下，试料应与铸件同时进行固溶热处理。

试样表面应制造中机械加工的允许平均厚度裕量，试样表面应位于代表成品零件表面的

深度。以上所考虑的表面，是指在使用中与流体接触的表面。

3）在按MC1312的规定，对试样进行截取和粗加工后，和对试样进行敏化处理之前，

试样的表面和边缘应使用粒度为50到120目的无铁磨料进行抛光。

然后，用丙酮或酒精仔细清除试样表面的油污。

如果试样的一个面代表成品的表面，则不得对该面进行抛光或洗刷，只能用丙酮或酒精

清除试样表面的油污。

4）敏化处理后，实际腐蚀试验之前，试样的每个表面应进行最大深度为0.2mm的精

加工，并用粒度为150到180目的无铁磨料进行抛光。抛光时不得使试样过热。抛光应沿纵

向，不得彼此交叉。

然后，用丙酮或酒精仔细清除试样表面的油污。

MC1320 金相组织检验

金相检验应按MC1321，MC1322和MC1323各节中提到的AFNOR标准进行。

MC1321 金属强无机酸浸蚀宏观组织检验

试验应符合标准NF A 05-152规定的要求。

MC1322 微观检验

试验应符合标准NF A 05-150规定的要求。这种检验的放大倍数之一是200倍。

MC1323 纤维素薄膜复制微观检验

试样表面应使用一种适合于任何钢种的清洁剂仔细清除油污。然后，从逐个方向进行

机械抛光。特别强调，应防止过热和变形硬化。每次抛光后，表面均应清洗。最后应进行电

解抛光。电解抛光后，表面应先用水，后用丙酮仔细清洗并吹干。然后用合适的试剂浸蚀并

最后清洗吹干，以便涂敷纤维素薄膜。

MC1330 晶粒度

晶粒度测定应按照MC1331中提及的通用AFNOR标准的规定要求进行。

MC1331 钢中铁素体和奥氏体晶粒度的测定

镍基合金应使用适当试剂进行浸蚀，并按NF A 04-102标准进行显微照相比较，评定晶

粒度。

MC1340 铁素体含量的测定

MC1341 范围

本节阐述奥氏体—铁素体不锈钢中铁素体含量的测定方法，适用于按第Ⅱ卷“材料”

篇中零件采购技术规范供货的铸件或铸造零件，或按第Ⅳ卷“焊接”篇所评定的焊接工艺进

行焊接的焊接件。这种测定可以使用下列三种方法（MC1342到MC1344）中的一种进行。

在供货商与承包商之间有分歧的时候，在实验室中采用双方同意的程序进行仲裁测量。

MC1342 磁饱和法

这种方法是测量试样的磁饱和矩。这个磁矩M，与磁相的浓度n，这个相的比磁强度S

以及试样的质量m成正比：

M=n³S³m

测量装置用已知铁素体含量的标准块标定。标准块用与试样相同的钢种制造，其铁素

体含量n

与试样预期铁素体含量尽量接近。这个标准块的铁素体含量n

应是已知的，相对

精度为3%。

标准块的磁矩M

用三次连续测量的平均值确定。

试样的磁矩用同样方法确定。

标准块的质量m

和试样的质量m的测量精度为±0.01g。

试样的铁素体含量通过上述测量，可用下式推算出来：

N=n

³（m

/m）³（M/M

）

MC1343 金相法

本法应按AFNOR标准NF A 05—165进行。所用放大倍数在100到800之间。选择的

放大倍数应使在铁素体层中的平均切割段近似等于晶格间距的一半。

相对精度应为10%。在沿垂直平面所切割的两个截面上用草酸浸泡后进行测量。每个

平面上的观察区域数量最少为30个。

对在每个平面上得到的置信区间都应进行计算。如果两个置信区间彼此重叠，则其铁

素体含量的平均值和置信区间应根据两组值进行确定。否则应记录两个方向的铁素体含量和

置信区间。

MC1344 非饱和磁场法

a）装置

所用装置（Perma—显示器、铁素体显示器）的类型和商标，在试验报告中应该予以规

定。

b）标定

测量之前，用铁素体含量分别为5、10、20和25%的标准块对装置进行标定。这一标

定应保证装置的响应是线性的。

标准块在使用之前，应用Sigma计（磁饱和法）或用金相法，确定其铁素体含量。

c）对测量区域的要求

——表面状况

零件或试样测量区域的表面粗糙度Ra＜20μm。

——试样的测量

最小尺寸：

——厚度＞1cm；

——面积＞2.5cm³2.5cm。

当从铸锭切割时，试样应取自表面以下15mm。

——测量点

测量点与试样或零件边缘的距离应大于1cm。

d）铁素体含量的测定

铁素体含量的测定应由零件加工表面或试样所进行的一组若干测量的平均值确定。对

于试样，如果可能，应在两个相互垂直的平面上进行测量。

MC1350 化学分析

在供应商选定的试验室，按照试验室常用的方法，进行化学分析，并用其它方法校验

分析结果。

当制造商和供货商对分析结果产生分歧时，应在双方共同选定的试验室，按照AFNOR

标准进行化学分析。

在试验室中所用分析仪器的标定方法和校验结果应该是经过鉴定并有效的。

MC1360 奥氏体不锈钢热交换器管的残余拉应力的估测

这些试验适合于热交换器管。

MC1361 C型环应力—腐蚀试验

将最小长度为100mm或为其直径3倍的环管段一侧，沿长度方向从顶至底切开。在试

样中心，沿垂直于切开面的轴线方向，测量管段直径的增大量。可以使用下列公式计算管子

的残余拉应力：

δ=[（E³e）/（1—υ

）]³Δφ/（D

³D

）

其中：

δ——残余拉应力

E——弹性模量=2³10

bar

υ——泊松比=0.3

e——管壁厚度，mm

Δφ——管段直径增量，mm

——纵向切开后管段直径，mm

——管段初始直径，mm

残余应力应小于7hbar。

MC1362 沸腾氯化镁试验

1 范围

本节的目的是规定在沸腾的氯化镁溶液中应力腐蚀裂纹实验的方法，以论证在奥氏体

不锈钢零件中存在残余拉应力。

2 一般条件

本试验用于下列各类奥氏体不锈钢：

Z5CN18—10，Z5CND17—12，Z10CNT18—11，Z2CN18—10和Z2CND17—12。

然而，对不含钼的钢种，当其经受的导致相变的变形百分率很小时，该材料对裂纹试

验的敏感性可能消失或减弱。

因此对不含钼的钢种，试验的敏感性应用MC1362.3、MC1362.4和MC1362.5的方法并

用如下组合进行验证：

——按F4450，机械胀接的2个试料，或

——2个倒U型弯管试样。

应遵守下列条件：

——承受管子的管板的选择：应与管子为同一钢种。

——管子的选择：如可能，管子应从试验钢种的生产管子中取样。否则，选择同样制

造工艺生产的奥氏体不锈钢钢管。如果证明不可行，用进行下列处置后的同一尺寸的管子。

——化学成分分析

——加热到1025℃，保温20分钟，空冷。

——氟硝酸酸洗

在制备试验管子时，为了减小在表面上产生的残余应力，可对管子进行消除应力热处

理。

3 试验原理

试样浸泡在氯化镁溶液中。

第2节列出的各类奥氏体不锈钢，在对应于沸点155℃的试剂浓度，浸泡24小时的试

验表明，试样表面上的裂纹一般出现在残余应力超过100±20MPa处。裂纹方向与形成点处

最大拉应力方向垂直。

4 方法

按照ASME G36建议的方法进行试验。

5 试验后的检查

试验后，试样在体积比为50%的商业级盐酸溶液中，在室温下浸泡16小时。在胀入管

板的管子试样的情况下，浸泡前将管板卸下。

试样用蒸馏水仔细漂洗和彻底吹干。

应用红色有机渗透液进行液体渗透检验，以发现裂纹的存在。有疑问时，可进行显微

检验。

在试样切割平面附近处形成的裂纹，应该不于考虑。

6 结果的分析和解释

若在试验区域没有发现裂纹，表面其残余应力水平低于100±20MPa的预计裂纹的阀

值。然而，若在试验区域发现裂纹，可以进行附加试验，以评估引起裂纹的残余应力水平。

为此，可在不同温度和时间条件下进行新的试验，以产生一个更高的裂纹阀值。新的试验条

件应通过按ASME G38用C形环试样进行的标定来证明有效。

如果引起裂纹的残余应力的水平低于150MPa，试验结果应宣布为满意。

MC2000 超声波检验

MC2100 总则

MC2110 适用范围

本章阐述的一般要求适用于本规则规定的超声波检验。

这些要求适用于单探头（具有一个或两个压电晶片）反射法。

超声波检验涉及到的参照技术，除非另有规定，均以手工来完成。在实施之前，也可

向承包商提出给出的总结结果至少是等效的其它技术。提交的技术应附有符合MC2170的

支持性说明。

MC2120 一般要求

MC2121 检验人员资格

超声波检验应由按MC8000规定取得资格证书的人员来实施。

MC2122 超声波检验文件

超声波检验必须按照一系列适当确认的文件（操作规程、工序卡、细则卡）所规定的

要求进行。这些文件应符合适用章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检验物项的类型、尺寸、范围和所用材料的类型；

——本规则和其它适用文件的相关章节的编号；

——检验设备：脉冲发生器、探头、耦合介质、自动检验仪器（如使用）、标定试块和

对比试块。

——检验实施条件：试验区域和表面条件；

——检验规程：波的传播角度和传播方式（接触法或浸液法）、扫查条件（表面、方位

和检验方向）；

——记录水平；

——验收准则。

MC2130 超声波检验设备

MC2131 超声波检验仪器

脉冲反射型发生器：可配用标称频率为1～6MH

的探头，此频率适应相关技术规范的

要求。

在示波幅度于示波屏全高的至少80%内，垂直线性误差不超过示波幅度的5%。

在整个示波屏有效宽度内的水平线性误差不超过时间基准的2%，测量应该按照NF

A09-320标准中的规定进行。

每台设备在下列情况下均应该进行校验：

——设备验收时；

——修理后；

——至少每年一次。

MC2132 探头

探头的标称频率和压电晶片的尺寸，应根据被检验的材料的类型和尺寸选定，并应符

合有关章节的要求。纵向波和横向波的频率一般在1～6MHz之间。

频率和折射角应在采购技术规范中逐一加以规定。必要时，也可使用其它参数值。

压电晶片可以是圆形或矩形(手工检测探头矩形晶片的长和宽之比应≤1.5)。

压电晶片的最大允许尺寸在10～30mm之间。

在普通探头不适用的特殊情况下，可采用特殊探头(双晶体探头、折射纵波探头、可变

角探头、小型探头等)。

MC2133 耦合介质

可使用的耦合介质有：

——掺润湿剂或不掺润湿剂的水；

——糊剂；

——油；

——油脂；

——掺水的纤维素胶等。

耦合介质的性能，在整个试验中应保持稳定。

试验结束后，如果耦合介质有碍后续的加工或检验工作，则应予以清除。对于完工的奥

氏体钢或镍基合金零件，应将表面上的耦合介质清除掉。

MC2134 标定试块和对比试块

MC2134.1 标定试块

采用的标定试块应按AFNOR标准NF A09—310的规定。

MC2134.2 对比试块

对比试块可用来自下列各项的材料制造：

——被检验件的延长部分；

——材料和热处理状态均与被检验件相同的边角料；

——声学特性接近于被检验材料的产品。

对比试块的扫查面应经过机加工，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。对比试块的几何形状、

反射体的尺寸和位置(需要时)均在本规则的相关章节中予以规定。需要时，反射体的位置和

数量。应使被检零件的整个厚度都能受到检查。

采用底面回波法的对比试块，其厚度应与被检验件厚度相等，其允许误差：

——厚度≤50mm的，为±20％；

——厚度>50mm的，为±10mm。

MC2140 检验实施要求

MC2141 表面准备

扫查面应无油漆、无疏松氧化皮、无干耦合介质、以及无所有其它可能影响超声波在被

检测件中传播、或有碍探头自由移动、或引起判断误差(由于声波转换造成的干扰波)的表面

杂质和不平整。

除非另有规定外，表面粗糙度Ra按MC7200要求测定，不得超过12.5μm。

MC2142 探头的校正与时基校准

斜探头波束入射点的测定，采用MC2134.1规定的标定试块。

时间基准的校准和特别是斜探头折射角的测定(测得角度与检验文件规定值间的偏差不

得超过2°)按下述规定进行：

——铁素体钢零件，采用MC2134.1规定的标定试块；

——奥氏体钢和高镍合金：采用装于试验件上的人工反射体；试验件材料的声学特性接

近于被检验的材料。采用这种方法达到的精度，应与铁素体钢采用标定试块时所达到的精度

为同样范围。

用直探头检测时，可在被检验件上具有两个平行表面的一段上进行时间基准校准。

每次检验之前都应进行上述操作。

MC2143 灵敏度调节

应利用响应脉冲来调节灵敏度，该响应脉冲来自远离探头的那一面(底面回波)，或来自

人工反射体(圆柱形孔的侧面、圆形平底孔和槽)。

这些调节应通过将放大器阈值调到零时同时进行。在调节时，应选取增益和功率(当可

调时)，以获得最佳信号—噪声比。

在每次检测开始之前，应调节灵敏度，并在检测一小时后和此后每两小时进行校验。当

操作人员认为有漂移时，以及每轮检测结束时，也应进行校验。

这些调节不需写专门报告。

如果校验时测得的漂移值不大于土2dB，则可认为该次校验结果正常。如超过士2dB，

则前次校验后所检测的零件须重新检测。

注：因为首次调整是使用对比试块，随后的调整或校正可以使用对比试块的转移试块。

这个转移试块应能记录时间—波幅曲线，或能记录初始得到放大值的证明。

MC2143.1 用底面回波进行调节

探头应置于零件的完好区上，将参考底面回波幅度调节到屏幕高度的75％左右。以此

作为记录缺陷信号的基准高度。

MC2143.2 用对比试块中人工反射体的响应进行调节

可采用下列两种方法：

a) 距离一波幅校正曲线

选择合适的探头位置，使能得到响应最强的反射体最大回波，并且将波幅调到屏幕高

度的75％左右。

然后，测出从其它反射体获得的最大回波幅度。将测点连接，做出的曲线便是距离一波

幅校正曲线。除被检测件的厚度很薄情况外，该曲线至少要由三点连成。

如果从一个反射体获得的回波幅度小于屏幕高度的25％，则可按MC2143.2a图所示，

绘制分段的距离一波幅校正曲线。

然后，应进一步调节，直到这一回波幅度约为屏幕高度的75％。

b) 如果仪器性能允许，距离一波幅校正曲线可代之以测得每一反射体回波幅度调至同

一高度(大约为屏幕高度的75％)时所需的增益值。

图MC2143.2a 分段距离—波幅校正曲线

MC2144 扫查方式

被检验部位的扫查应按本规则相关章节的要求进行。

原则上，在扫查缺陷时，考虑本底噪声后，尽量将灵敏度调到最高。如果本底噪声干扰

缺陷探测，和(或)如果在这一灵敏度下，不能从最接近对比试块扫查面的反射体得到清晰的

回波时，应将灵敏度调到较低进行探测，但不能调到比被检验区参考点灵敏度还低。

按上述方法，应能在单向或多向扫查时不同的信号显示中得出一致的缺陷显示。

当需要时，记下被检验材料厚度范围内的盲区深度（以mm表示）。该深度通常用如图

M2144所示的在标准调节状态下相应于反射体距扫查表面的最远距离L来表示。

图MC2144

MC2150 缺陷显示表征

MC2151 以底面回波为基准的标定法

MC2151.1 波幅标定

任何缺陷显示均以比值K表示其特征

K=10Dn/F

式中：

Dn——第n次缺陷回波幅度；

n——MC2143.1中规定的第n次参考回波幅度。

除在相关章节中另有规定外，一般取n=1。

MC2151.2 尺寸标定

应将探头置于能获得信号显示的最大回波处，然后绕这个位置进行移动，直至所得到的

回波衰减到50％(一6dB)。

探头每移动得到一个新的位置，都要记下波束轴线的位置。

将这些波束轴线位置点连接起来，用其所围的面积来定义缺陷区。以这一区域的最大K

值表示该区域缺陷的严重程度。

MC2151.3 成组缺陷显示

当一组缺陷显示按单一缺陷显示处理时，应按本规则相关章节的规定进行。

MC2152 以底面回波衰减为基准的标定法

MC2152.1 波幅标定

所有能观察到底面回波衰减的区域，均以比值R表示其特征

R=F

n/Fn；n=1

式中：

1——MC2143.1规定的“一次反射”参考底面回波幅度；

F1——所考虑区域的“一次反射”参考底面回波幅度。需进行核对以确保底面回波的

衰减不受被检验件几何形状的影响。

MC2152.2 尺寸标定

将探头放置在能获得R最大值(相应底面回波的最小幅度)的地方。然后围绕这一位置移

动探头，直到所得的底面回波幅度达到要求的R值，即按照采购技术规范要求，回波幅度

增加50％(+6dB)。

探头每找到一个新位置，记下波束轴线位置。

将波束轴线位置的各点连接起来，所围面积即为缺陷区。

MC2153 以人工反射体为基准的标定法

MC2153.1 幅度标定

a) 如果按MC2143.2a的规定，采用距离一波幅校正(DAC)曲线，利用绘制这样的DAC

曲线所用的同样(灵敏度)调节，将缺陷区测得的最大幅度与同样声程的曲线的纵坐标进行比

较。以距离一波幅参考曲线的百分数表示缺陷的严重程度。

b) 如果按MC2143.2b的规定进行调节，一旦确定缺陷深度，就将调节返回到用最类

似的人工反射体验证的水平，也调回到参考幅度。应以参考幅度的百分数表示缺陷的严重程

度。

MC2153.2 尺寸标定

先将探头放在缺陷显示的最大回波处，然后根据推测的缺陷取向，使探头平行于这个方

向来回移动。当探头达到回波衰减的50％(一6dB)时，用探头的初始位置到移动位置之间的

最大距离表示缺陷区的面积。

显示缺陷区的面积，按上述测定的两个相互垂直尺寸的积确定。

MC2153.3 成组缺陷显示

当将一组缺陷显示按单一的缺陷显示处理日寸。按本规则相关章节的规定进行。

MC2160 检验报告

除了本规则其它处另有规定外，检验报告应包括下列内容：

——制造商、订货单和设备的名称和识别号码；

——焊缝、隔离焊层、堆焊层或者被检验件标志，包括被检验件材料类别(铁素体、奥

氏体钢等)及采用的加工方法(锻造、轧制、铸造)；

——所用检验文件的名称；

——检验时间；

一一表面准备(方法、清洗)；

——使用设备的类型、标记及名称；

²试验装置

²探头(尺寸、频率)；

——标定和调节条件(使用的标定试块和对比试块)；

——测出的盲区长度(在适用情况下，否则注明“不适用”)；

——检验规程：

²被检验件所采用的超声波束角度和采用的波型；

²扫查方向；

——等于或高于记录水平的显示特征；

——评定结果；

——由另外单位分包时的负责公司标志；

——检验员姓名和资格；

——检验日期和检验员签名。

自动检验时，检查员是无损检验的检查代理人，他批准装置调整和检验结果。

为了避免不必要的重复，上述一些内容在经适当确认的制造商文件中给出，可将其附在

检验报告中。

MC2170 自动捡验方法的专门要求

要提交承包商预先批准的文件应包括下列内容：

——对检验方法的鉴定大纲，和证明自动检验方法在探测、评价与验收方面等效于基准

检验方法的试验结果；

——控制程序。

应特别说明为防止会使检查的有效性失效的软件和控制顺序两者的偏差所用的规则。

MC2200 铸件超声波检验

MC2210 适用范围

本章阐述了本规则第Ⅱ卷中要求的铁素体钢铸件采用单探头纵波反射法的超声波检验。

MC2220 一般要求

在MC2100中关于此种检验方法规定的一般要求在此均适用。此外，补充以下要求。

MC2230 检验条件

MC2231 检验时间

被检验件在加工过程中哪个阶段进行超声波检验详见本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2232 检验区域

检验区域和检验范围在本规则第Ⅱ卷中作了规定。

MC2233 扫查方式

选择能扫查到整个被检区的扫查方式。

除非采用的技术(扫查方式、浅盲区探头等)能避免盲区，否则应按MC2144规定注明盲

区长度。

MC2234 对比试块

应按MC2134.2的要求制作对比试块。

反射体应是直径为6mm的垂直于扫描面的平底圆孔。反射体的数量和位置，应能使被

检验件的整个厚度得到检验。第一个反射体距扫查面最大距离为25mm。最后一个反射体距

扫查面的距离等于最大的被检厚度，其偏差为土20％。

MC2235 距离一波幅校正曲线

按照MC2143.2的要求，绘制距离一波幅校正曲线。厚度大于40mm时，至少使用3个

在MC2234规定的反射体。厚度≤40mm时，只需2个反射体。

MC2236 缺陷显示表征

MC2236.1 幅度

应按MC2153.1表征缺陷显示幅度。

MC2236.2 尺寸

应按MC2153.2表征缺陷显示尺寸。探头要设置在能观察到的信号回波幅度衰减为6dB

的位置。

MC2300 锻件超声波检验

MC2310 总则

MC2311 一般要求

应采用AFNOR标准NF A04-308所规定的一般要求。就直探头纵波检验法而论，显示

的幅度应用等效直径法表征。对这些技术要求补充如下。

MC2312 检验条件

检验时间

锻件在加工期间的哪个阶段进行超声波检验，按本规则第Ⅱ卷中的有关规定。

检验时，1、2和3型锻件的外形应能使扫查面与其背面平行。

如果热处理质量要求，使得锻件的外形或锻件的被检验区域不能遵照上述要求，则应在

进行这样的热处理前，作一次完整的初步检验。此项初步检验应在锻件上述两表面保待平行

的那个加工阶段进行。热处理后的检验应尽可能全面进行。

被检区域

被检区域和检验程度按本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2313 扫查方式

l型锻件

除在第Ⅲ卷零件采购技术规范中另有规定外，只对最小尺寸≥50mm的锻件进行检验。

在完工状态下需打孔的零件，应在打孔前进行检验。

只应在波束衰减和(或)可能的波型转换不影响缺陷的判定条件下进行圆柱形锻件从两

端开始的轴向扫查，和平行六面体锻件的纵向扫查。

3型锻件

在沿轴向检验此类锻件时，应考虑被检件的几何形状，通过合理选择探头和扫查面，将

诸如边缘效应或壁面效应这样的寄生现象减至最小。这种检验应在波束衰减和(或)可能的波

型转换不影响缺陷的判定的条件下进行。

4型锻件

根据锻件的几何形状、被检验区和扫查面的可探测性，应在打孔前或打孔后，采用直射

纵波法进行检验。只要可能，这种检验应在彼此垂直的方向上进行。

注：当由于材料中声波束的衰减而得不到底面回波时，则从两个表面进行检验到各超过

长度的一半加10％。

MC2314 超声波检验文件

按本规则第Ⅲ卷MC2122节的规定。

MC2315 检验报告

以本规则MC2160节代替AFNOR标准第Ⅱ章的规定。

MC2316 检验人员的资格(代替AFNOR标准10.1节)

从事超声波检验的人员应按MC8000要求取得资格证书。

MC2320 横波法检验和(或)斜射纵波法检验

当第Ⅱ卷零件采购技术规范已经明确指示采用横波法检验或斜射纵波检验时，下述关于

对比试块和标定方法的描述完全适用并且代替AFNOR标准NF A04—308的相应条款。

MC232l 对比试块

对比试块规定如下：

a) 几何形状

一般来讲．对比试块应是一直角平行六面体。检验直径≤250mm圆柱形锻件用的对比

试块是例外。在后者情况下，它应具有与被检验件相同的曲线半径(偏差士25％)。

试块的宽度应约为60mm。当厚度≤100mm时；试块长度可小于60mm，但应能调节增

益而无边缘效应。其长度能制作成待探测的基准反射体。其厚度应为：

——1次反射法检验时：等于锻件厚度±5mm；

——直接扫查时：锻件厚度。

b) 人工反射体

人工反射体应由机加工出的槽或圆柱形孔所组成，其横向平行于对比试块扫查面。

厚度e≤100的锻件，在扫查面的背面设置表MC2321.b）规定的纵向矩形槽。

表MC2321.b）

厚度，mm e≤20

长度，mm

宽度，mm

深度，mm

≥50

≤1

“e”的5%，最小0.1mm

≥50

≤1

≥50

≤1

1．5

厚度e≤100的锻件，至少钻三个直径为2mm的横向贯通试块的孔。

这些孔在厚度方向上的分布，应能在试验下绘制出1覆盖整个检验厚度的基准曲线。

MC2322 调节和信号显示的表征

本规则MC2143.2和MC2153.1在此适用。

MC2400 厚度≥6mm的奥氏体钢和合金钢钢板的超声波检验

MC2410 总则

NF A 04-305标准的要求在这里是适用的，除此之外，补充下列要求。

MC2411 耦合介质

对奥氏体钢或镍基合金被检件的最终表面检验结束后，应清除其耦合介质。

MC2412 阶梯形试块的钢种

阶梯形试块应该使用具有相近超声波穿透性的高合金钢制作。

MC2413 衰减测量

MC2413.1 原理

衰减测量的目的是在不干扰正常的检验操作情况下，探测回波衰减大于—18dB的区域。

MC2413.2 方法

根据探头、质量分级要求、钢板厚度和牌号，一次底面回波相对于基准波幅和屏幕总

高度应具有不同的幅度。

MC2413.2.1

如果在检测状态下，一次底面回波经过—18dB衰减后，在屏幕仍然可见回波顶端，应

记下相应的波幅，并以此顶端作为标出吸收区域的阀值（见图1）。

图1

在吸收区域，任何显示均应在考虑吸收（灵敏度漂移的重新调整）的条件下评价。零

件采购技术规范或订货单可以要求附加检验（衰减起点的探测）。

MC2413.2.2

如果一次底面回波经过—18dB衰减后，其顶端不出现在屏幕上，则应观察第二回波（二

次扫查），并记下此波幅，并以此作为吸收区域的阀值（见图2）。

该吸收区域应按MC2413.2.1处理。

图2

MC2500 管件超声波检验

MC2510 适用范围

本节适用于无缝钢管或无填充材料的卷焊管采用斜射横波接触法或浸液法的超声波检

验，钢种包括：

——碳钢；

——奥氏体不锈钢；

——本规则第Ⅱ卷中规定需作这种检验的高镍合金。

不适用于下列情况：

——直接用棒材锻造和镗孔所成的管件；

——直接借助芯棒锻造所成的管件；

——直接借助芯棒拉拔或挤压成形所成的厚壁管(壁厚≥50mm)；

——铸造管件。

这些管件检验包括在本规则其它章节中。

注：超薄壁管件可采用兰姆波(Lamb wave)检验。

MC2520 一般要求

MC2100的一般要求在此是适用的。此外，补充下列要求。

MC2530 检验条件

MC2531 检验时间

管件加工至哪一阶段进行检验，详见本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2532检验区域

被检区域和检验范围按本规则第Ⅱ卷规定。

当使用自动检验装置时，应确定出经自动和手动(在两端)检验的管的长度。

MC2533 扫查方式

a) 沿两相对的方向进行扫查：从圆柱外表面沿圆周和(或)纵向开始扫查。这些要求在本

规则第Ⅱ卷有规定。

b) 根据被检件厚度，折射角应在35°～70°之间。

MC2534 对比管

对比管应具有与被检验管相同的标称尺寸和相同的表面状况。合金成份超过6％的钢

种，对比管应为与被检验管钢种相同、热处理相同。合金成份低于6％的钢种，对比管可以

选用任意的钢种，条件是：

——其合金成份含量低于6%；

——对比管与该批被检验管的超声波衰减是可比的。

反射体为矩形或V型槽，其数量、尺寸及位置如下列规定。

对比管应有两个纵向槽，一个在管的外表面，另一个在管的内表面。这两个槽必须彼此

错开，以使其回波能清楚地分开。

在纵向扫查时，对比管应有两个圆周槽，一个在管的外表面上，另一个在管的内表面上，

这两个槽必须彼此错开，以使其回波能清楚地分开。

标称厚度≤25mm的管件的矩形槽的最大宽度为1mm；更厚的管件的矩形槽的最大宽

度为1.5mm。V型槽的开口为60°。

纵向槽的最大长度为50mm。圆周槽的最大长度为25mm。槽垂直于管壁。用合适的方

法(如塞规)校核其形状尺寸。

MC2534.1 无缝钢管

碳钢无缝管开槽的深度是管壁厚的5％，最小为0.2mm、最大为1mm。热精整的钢管

之最小槽深可增至0.3mm。

奥氏体不锈钢和高镍合金无缝管的槽的深度应为：

——1级管和任何级别的热交换器管：管壁厚的3％，最小值为0.1mm；最大值为1mm。

——不用于热交换器的2级和3级管：管壁厚的5％，最小值为0.2mm，最大值为1mm。

槽的深度>0.2mm时，深度应精确到±0.5％之内。允差为±0.05mm。

槽的深度≤0.2mm时，其深度允差为±0.03mm。

蒸汽发生器换热管，为矩形槽，其最大宽度为0.1mm。

MC2534.2 无填充材料的卷焊管

槽设置在焊道上。

槽深为管壁厚的5％，最小值为0.2mm，深度应精确到±15％以内．允差为±0.05mm。

MC2540 检验设备

可采用手工方法或自动装置检验。

MC254 l 手工检验设备

MC2100中提及的有关检验设备及其校验规定在此均适用。

MC2542 自动检验设备

使用的装置能容许探头沿管子作螺旋运动。这种运动可以是管子移动而探头夹持器转

动，或是管子转动而探头夹持器移动。

螺旋运动应确保检测区的重叠面积至少20％。探头与管件间的相对位置应精确确定，

并不得有漂移。

装置应订自动选择系统和(或)一台自动记录仪。当采用自动记录仪时，应能随时将缺陷

显示和其在被检管件上的位置联系起来。

MC2550 功率和增益调节

功率和增益调节采用对比管，调节增益使得反射体的回波幅度达到屏幕上的同一高

度 (大约75％)。

自动检验时，应在装置实际运行状态进行调节；在某些情况下(大尺寸钢管)，可在单独

的检验台上按代表性条件进行调节(使用的探头组和电子装置应即为系列检测所用的。且管

与探头的相对速度也相同)。

如果检验装置设有一个能从两个槽上获得相同的幅度的系统，则该幅度作为基准幅度。

在有多道选择器的情况下，应分别调节每个槽的自动触发幅度水平。

当不具备上述条件时，应用产生回波最弱的那个槽获取基准幅度。

MC2560 自动装置调节校验

应在每班次检测的开始和末尾校验功率和增益调定值。使用过程中最少每两小时校验一

次。这些调节不需要写成专门的书面报告。

如果探测到的漂移不大于±2dB，则应认为校验合格。

如果校验期间发现调定值不稳定，上次校验后所检测的管件，应在仪器正确调定后再作

检验。

MC2570 缺陷显示表征

信号显示表征如下：

——如果第Ⅱ卷要求，在建立缺陷一览表时，则以MC2550规定的基准幅度的百分率

表示的幅度表征

——在生产检查期间，以其相对于拒收阈值的显示幅度表征。

如果在第Ⅱ卷中有要求．缺陷信号显示的长度可可按MC2153.2来表征。

MC2580 检验报告

检验报告应包含下列内容：

——制造商和订货单的名称及标识号码；

——钢的牌号；

——标准、技术规范和程序的名称及标识号码；

一一制品的处理状态；

——表面准备方法；

——所用设备的型号、牌号和名称；

——对比管的标识号码；

——波束角，波型和扫查方向；

——检验结果；

——负责检验的分包商的名称或代号(由分包商承担检验时)；

——检验员姓名及资格；

——姓名、证书、日期和检验员签名。

自动检验时只需要有名字、资格和检验员的签名。检验员是无损检验的检查代理人。他

批准检验装置调整和检验结果。

MC2600 全焊透焊缝超声波检验

MC2610 适用范围

本节适用于厚度≥10mm焊件的全焊透对接焊缝和角焊缝的超声波检验(本规则各相关

篇的4000章要求的)。

MC2620 一般要求

MC2100中规定的一般要求在此均适用。此外，补充下列要求。

MC2630 检验条件

MC2631 检验时间

焊件加工到哪个阶段进行超声波检验，详见本规则第1卷(各相关篇的4000章)。

MC2632 检验区域

检验区域及检验范围按本规则第1卷(各相关篇4000章)的规定确定。被检区域应至少

包括熔敷金属和热影响区。

MC2633 表面准备

按MC2141的规定准备扫查面，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。

MC2633.1 对接焊缝

厚度大于50mm的焊缝，应用适当的机加工方法将可接近的内外表面削平。

厚度≤50mm的对接焊缝，由于可达性原因只能从一个表面对焊缝进行直接检验的地

方，则这一表面的焊缝，应削平到此表面。

MC2633.2 角焊缝和支管连接

角焊缝可按图示分为下列三种类型：

a) 非插入式“T”型接头(见图MC2633.2.a)；

b) 非插入式支管连接(见图MC2633.2.b)；

c) 插入式支管连接(见图MC2633.2.c)。

焊缝与被焊件表面应平滑连接，无咬边。对于支管连接，焊道的内表面，如果可以接近

的话，应该使用合适的机械方法弄平。

MC2634 扫查方式

MC2634.1 对接焊缝

如果被检验件的可达性和几何形状允许，扫查方式应保证整个被检区域都能受到检验。

检验如图MC2634.1.a.1所示，沿14个方向(12个方向用横波波束、2个方向用纵波波束)检

验被检件的每个检验点。

用横波波束扫查时，根据焊缝厚度和几何形状选择折射角应在35°～70°之间。当需

要用两个不同折射角的横波检验时，这两个折射角的标称值原则上至少相差15°。应根据

坡口的型式，具体地按使沿连接区的熔敷金属处于尽可能好的检验条件的原则来选取角度。

1) 采用横波，应按MC2634.1.a.1所示，沿符合注1的两个表面用1至12个方向扫查。

当一个表面和(或)焊缝的一侧不可达时，沿此表面或焊缝这一侧的检验，应代之以沿可达表

面和(或)焊缝一侧的一次反射法(底面回波)检验。对此，如可能，在所要求的12 个方向，都

用一次反射法进行检验(见注3)。

对于用不锈钢或高镍合金堆焊的部件，不再要求沿上述12个方向进行检验。在可能的

范围内，检验应包括：

一一从没有堆焊层的表面，沿方向1～4、9～10检验；

属于原先所用探头的盲区的区域的补充检验应采用浅盲区探头沿1、3、9、10方向进行。

折射角至少应等于初次检验时所用的最大折射角。

2) 直射纵波扫查应按图MC2634.1.a.1所示的13和14方向从两个表面进行。当有一个

面不能接近或要检验有整个精加工的不锈钢或高镍合金堆焊层的部件时，不再要求上述两个

方向的扫查。代替的检验有：

——从没有堆焊层的表面或可接近的表面沿13方向检验。

——属于原先所用探头的盲区的区域的补充检验，应采用浅盲区探头从13方向进行。

3) 注1：每一探头应覆盖相同探头沿反面扫查的盲区。于是，当不需采用一次反射法

时，用(斜射横波型)探头A所进行的典型检验，覆盖了探头B的盲区的声程

示于图MC2634.1.a.2。

对厚度≥150mm的焊缝，可用浅盲区探头B’，沿同一平面进行另一次扫查。

覆盖探头B’的折射角应大于或等于探头B的折射角。

注2：使用浅盲区补充探头时，只应在与原探头的盲区一致的声程中探测和表征缺

陷信号显示。

注3：厚度≥100mm的焊缝，不要求用一次反射法探测和表征缺陷显示。在这种情

况下，采用浅盲区探头，以覆盖从可接近的表面进行的检验中产生的探头盲

区。这种扫查应沿与原来相同的方向进行。

MC2634.2 角焊缝和支管连接

如果被检验件的可达性和几何形状允许，扫查方式必须保证整个被检验区域都能受到检

验。扫查应于被检验区的所有检验点用图MC2634.2的a)、b)和c)所示方向进行。

用横波扫查时，采用折射角应在35°～70°之间。要根据焊缝的几何形状选择该角度，

以保证能使波束实际上垂直于焊接坡口。如果采用两个不同的折射角进行横波扫查时，这两

个角度至少应该相差15°。

如果有一个扫查面不能够接近时，应从背面用一次反射波代替该面扫查。背面扫查应

尽可能沿所要求的方向进行（见注）。

一面有不锈钢或好镍合金堆焊的焊接件检验时，不再要求按上述指明的检验。替代的

检验应尽可能包括：

——从没有覆盖层的表面用横波进行扫查；

——无论表面有无覆盖层，均用直射纵波进行扫查。

注：如果探头所探测的焊缝厚度≥100mm，则不要求用一次反射法探测和表征缺陷显

示。

MC2635 对比试块

对比试块应符合MC2134.2的规定和下列专门要求。

MC2635.1 几何形状

对比试块应是直角平行六面体，但下述情况例外。在这些情况下，对比试块应具有与被

检验件相同的曲率半径(偏差±25％)。

——如果被检验件的曲率半径≤100mm，所用探头的最大尺寸≤15mm；

——被检验件的曲率半径≤250mm，所用探头的最大尺寸>1 5mm。

试块宽度应约为60mm。厚度≤l00mm，其宽度可小于60mm，但应使调节增益时无边

缘效应。

试块的长度应能够探测到对比反射体。其厚度为：

——1次反射法检测：等于被检验件厚度(偏差为土5mm)；

——直接扫查：等于或大于被检验厚度。

MC2635.2 人工反射体

人工反射体由钻通试块宽度的圆柱形孔构成，它们平行于其扫查面。

这些孔直径应为2mm。

第一个孔低于扫查面10mm，而后备孔深度差最大为：

——当试块厚度≤50mm时：为10mm；

——试块厚度在50～100mm之问：为20mm；

——当试块厚度>100mm时：为30mm。 ’

所有反射体位置应距对比试块两端至少各20mm。

MC2636 功率和增益调节

应用MC2635.2所述的人工反射体，按MC2143.2的规定，调节功率和增益水平。

MC2637 缺陷显示表征

接下列各项表征缺陷信号显示：

——位置；

——幅度；

——尺寸；

——体积型或非体积型特征。

a) 位置

缺陷显示应在相对明确规定的参考系中判明位置。

b) 幅度

应按MC2153.1评定幅度。在距扫查面的背面10mm厚度的区域内探测到的缺陷显示，

可按照假回波所允许的补充和经充分验证的方法评定幅度。

c) 尺寸

MC2153.2的要求在此均适用。如果按照MC2153.2进行测量的尺寸小于下列的显示，

则应判定为单独的(点状)缺陷：

——深度距扫查面≤100mm处：测量显示为10mm；

——深度距扫查面>100mm处：测量显示为深度的10％。

d) 体积型或非体积型特征

缺陷应根据若干参量按体积型或非体积型分类；即：焊接技术、缺陷的几何位置、回波

的前沿或形状，以及缺陷的定向反射特性。

一般情况下，非体积型反射体(诸如裂纹或未熔合)出现高幅回波和陡峭的前沿。然而，

在某此特殊情况下，例如这些平面中超声波束的入射角角度过大时，这些反射体可导致低幅

回波。

按下述方法可测量定向反射特性：一经探测到一个反射体就进行更详细的扫查，以确定

探得最大回波的探头位置(在表面上的位置和方向)，和回波垂直于表面处的点。探头向前、向

后并绕此点移动。(探头应不绕自身轴线回转)。

原则上，在非体积型反射体的情况下，探头回转总角度约10°时，可观测到最大回波

幅度降低50％(一6dB)以上。

MC2638 成组缺陷信号显示

a) 单独的缺陷信号显示

用两种不同的探测方法(不同的角度和方向)探测到的两种缺陷信号显示，如满足下列两

个条件，则视为来自同一反射体：

——这两种缺陷显示在扫查面上的投影的中心距离，小于最大深度的10％；

——它们在焊缝横截面上的投影中心之间的距离，小于最大深度的10％。

满足这两个条件的显示，应由较小的深度和较高的幅度及较大的尺寸来表征。

b) 分散的缺陷信号显示

如果符合下述两个条件，则可将分散的缺陷信号显示累积在一起：

——如果有一个缺陷信号是点状的，缺陷信号在扫查表面上的投影相隔距离小于或等于

最小的缺陷信号显示长度的6倍，或20mm；

——缺陷信号在焊缝横截面上的投影相隔距离小于或等于20mm。

累积的缺陷信号显示幅度，应是从任何分散的缺陷信号显示中测得的最高的一个幅度。

其尺寸由将相距最远的缺陷两端头连起来确定。

缺陷显示的累积规则只适用于逐个测得的缺陷显示。

MC2639 焊补区检验

焊补区应在与焊补前检验所规定的相同的条件下逆行超声波检验。

MC2700 隔离焊层、堆焊层及复合层超声波检验

MC27l0 适用范围

本节适用于在本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(相关篇4000章)中规定的厚度大于2mm的不

锈钢和高镍合金的隔离焊层、堆焊层及复合层的超声波检验。

MC2720 一般要求

MC2100中规定的一般要求在此均适用。此外，补充下列要求：

MC2730 检验条件

MC2731 检验时间

隔离焊层、堆焊层和复合层加工到哪个阶段进行检验，按本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(相

关篇4000章)的规定实施。

MC2732 检验区域

检验区域及检验范围，按本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(相关篇4000章)的规定。

C2733 表面准备

按MC2141的规定准备表面。

堆焊层和隔离焊层各焊道之间的凹陷是可接受的。如果堆焊层各道次的外形有碍于探头

与层间道纹垂直接触，则须将凸痕和凹痕磨去，确保充分耦合。

如获得下列特征之一，则可认为满足耦合：

——从背面反射回波；

——由超声波穿过母材产生本底噪声。

MC2734 扫查方式

MC2734.1 隔离焊层和堆焊层

被检验区的扫查应确保可达整个隔离焊层或堆焊层表面的有效范围及至少4mm厚的母

材部分。

应采用直探头或双晶体探头以纵波进行检验，以保证探测隔离焊层或堆焊层与母材交界

面和熔敷金属内的缺陷。

从熔敷金属表面扫查。

MC2734.2 复合层

被检验区应在复合层表面用纵波扫查。应采用能保证检验整个交界区的探头进行扫查。

MC2735 对比试块

对比试块应按照MC2134.2的规定和下列要求。

MC2735.1 型式和几何形状、

——隔离焊层和堆焊层所用的对比试块应是在其1个表面有隔离焊层和堆焊层的直角

平行六面体。隔离焊层或堆焊层应在与被检验件类似条件(钢种、焊丝、焊条和焊带尺寸，

焊道数，排列、凝固和热处理)下用手工或自动焊熔敷。

试块的表面状况和厚度应与被检件相同。

——复合层的对比试块应用复合层本身制作。

MC2735.2 人工反射体

a) 堆焊层

人工反射体的构成为：

——从无堆焊层表面开始钻的一些~19mm平底孔。这些孔应垂直于堆焊层表面，并应

钻到母材与堆焊金属交界面。另外一些孔要钻到堆焊金属的各层焊道交界面。

——在母材与填充金属交界面及各层焊道间的交界面处，平行于堆焊表面，钻一些直径

2mm的孔。

b) 隔离焊层

人工反射体为中3.2mm的平底圆孔，它是从无堆焊层面垂直隔离焊层表面钻的。第一

个孔的平底应距扫查面5mm。以后各孔之间深度差应小于5mm，直至距扫查面为15mm为

止；以后这些孔的深度应小于l0mm。最后一个平底圆孔应位于隔离焊层与母材交界上。

注：孔的边缘应离试块边缘至少20mm。

c) 复合层

从扫查面的背面反射超声波束。

MC2740 缺陷显示表征

MC2741 堆焊层

应考虑两种类型的缺陷显示

——体积型缺陷显示：其特性为出现单一的回波；

——连续未结合型缺陷显示，其特性为具有连续的多个回波。

MC2741.1 幅度评定

按MC2153.1的规定评定幅度。

堆焊层中体积型缺陷显示应与直径2mm的侧面钻孔相比较来评定。连续未结合型缺陷

信号显示应以与φ19mm的平底孔比较来评定。

MC2741.2 尺寸评定

MC2153.2在此适用。

MC2741.3 成组缺陷显示

MC2741.3.1 体积型缺陷显示

如果满足下列两个条件，则两个分开的缺陷信号显示可以累积：

——点状缺陷显示，其在扫查而上投影距离≤最小缺陷显示长度的6倍或20mm；

一一在焊缝的横截面上，缺陷显示的投影距离~20mm。

当缺陷显示累积时，由其中最大的缺陷显示的幅度表征，缺陷尺寸为相距最远的缺陷显

示端连接在一起的距离。

累积规则仅适用于逐个测得的缺陷信号显示。

MC2741.3.2 连续未结合型缺陷显示

如果2个缺陷信号显示间的距离小于或等于较小缺陷长度的6倍，则两个缺陷信号显示

应累积。

累积后缺陷显示按下述表征：

——最大幅度；

——累积缺陷显示面积等于两个原缺陷显示面积之和。

累积规则仅适用于逐个测得的缺陷信号显示。

MC2742 隔离焊层

MC2742.1 幅度评定

按MC2153.1表征缺陷信号显示。

MC2742.2 尺寸评定

按C2153.2(除最后一段外)的规定，评定缺陷的尺寸。

MC2742.3 成组缺陷信号显示

MC2638的规定在此适用。

MC2743 复合层

MC2743.1 幅度评定

按MC2152.1表征缺陷信号显示。R>8为熔敷不良。

MC2743.2 尺寸评定

按MC2152.2评定缺陷尺寸．取R=4。

MC2750 焊补区检验

焊补区应在与焊补前相同的条件下进行超声波检验。

支管连接

母管

图MC2633.2

横向缺陷探测

图MC2634.1.a-1

非插入式“T”型接头

非插入式支管连接

插入式支管连接

支管连接

母管

图 MC2634.2

MC3000 射线照相检验

MC3100 总则

MC3110 适用范围

本章阐述本规则规定的射线照相检验的一般要求。

其中的一些要求涉及到参考的习惯作法的确定，即MC3134、MC3135、MC3137、

MC3142、MC3146、MC3147、MC3148、MC3149、MC3150、MC3312.5的要求。可以向承

包商推荐总体上能给出在采用之前适当证明过的至少等效结果的其它一些作法。．

MC3120 一般要求

MC312l 检验人员资格

射线照相检验应由按MC8000的规定取得资格证书的人员实施。

MC3122 射线照相检验文件

所有的射线照相检验，应遵守一系列适当确认的文件(规程、工作流程图和细则卡)规定

的要求。这些文件应满足本规则有关章节的要求，并至少包括下列内容：

——受检验物项的类型(形状、尺寸范围和所用材料的类型)；

——所参照的本规则有关章节和其它适用文件；

——检验设备：射线源(类型和规格)、胶片、增感屏、滤光片、遮挡物质、透度计、位

置标记器、胶片处理和观察设备等；

——检验条件：检验区域和表面状态等；

——检验程序：胶片暗盒组成，透度计的类型、位置和数量，标记符号类型和曝光条件

(射线源或射线照相装置与检验区域的相对位置)；

——胶片处理条件；

——可使用胶片的型号；

——胶片检验细则(双层或单层胶片)；

——胶片质量要求：几何不清晰度、黑度、图象质量等；

——验收准则。

MC3123 基准底片

当首次运用一个检验程序时，射线照相应按照制造商提供的检验文件进行，以核查所采

用方法的运用能使本节所要求的胶片质量得到保证。

凡下列参数的一项或几项发生变化时，则检验文件必须进行修正：

——辐射类型；

——曝光方式；

——胶片型号；

——增感屏和滤光片型号；

——显影处理方法。

如果有重大修改，则必须拍摄一套新的基准底片。

这些底片可单独摄制，也可从一系列验收底片中选取。如系选取，可选生产批量中一个

有代表性的零件或第一个零件的底片。

第一种情况，即底片系单独摄制，由制造商保存，以在给定批量零件制造期间根据要求

使用。

第二种情况，即使用所选验收底片，这些底片也必须由制造商保存，并使需时可用，直

至交付给购方(如有转让定约)。然后用生产批量零件的验收底片建立一套新的基准底片。依

此类推。

在以上两种情况下，基准底片均应按上述不同特点做出标志。

MC3130 射线照相检验设备

MC3131 射线源

可以使用两种射线源：

——X射线发生器、直线加速器和电子感应加速器产生的射线；

——由铱192、钴60、铥170射线源产生的射线。

MC3132 胶片系统

胶片系统应配备金属增感屏使用。胶片按照AFNOR标准NF EN 584-1分C1～C6六类。

MC3200和MC3300规定了各类胶片的适用范围。

供货商应胶片的证书，其中应该包括标准第5条款中规定的所有相关数据，并且含有

Ks和处理类型。

供货商还应提供胶片正确保存和使用以及使用限制(如有必要时)所必要的所有技术资

料。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片处置前，应按制造商建议的温度

和湿度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射。处置后，胶片应按照MC3139的

要求保存。

MC3133 增感屏

金属增感屏应配于MC3132规定的胶片使用。

增感屏应完全干净、抛光和无纹道。

MC3134 滤光板

滤光板由一层铅板组成，它放置在需射线照相的零件和装有胶片和增感屏的暗盒之间。

它也可以装在暗盒内。

滤光板的厚度应为0.5、1、1.5或2mm。0.5～1.5mm厚的滤光板，在其１个角上钻1

个直径为3mm的孔；2mm厚的滤光板钻两个直径为3mm的孔。

建议在滤光板上打上标识，以便在其后发生疑问时作为底片的解释。

MC3135 遮挡物质（屏蔽板）

遮挡物质由一层或多层铅板组成，它紧贴于装有胶片和增感屏的暗盒后部，也可以装在

胶片暗盒内。其厚度至少为2mm。

MC3136 透度计

应用透度计确定底片质量，但决不用于评定缺陷的大小。

透度计应按NF EN462-1或NF EN 462-2规定的那样，为阶梯式与线式两种之一。

MC3137 标志和定位标记

为了辨认底片，应采用铅或密度相适宜的其它材料制成的标志和定位标记；其厚度应根

据被检验件的厚度，和清晰阅读底片、而不模糊的要求。

MC3138 观察设备

MC3138.1 黑度计

黑度计应能通过直接读数或借助于充分确认的校正(永久贴在黑度计上的图表或曲线)，

测量黑度基准底片的黑度到精度±0.1。

在每个底片检查期间进行的例行核检外，应彻底核检黑度计。

首次使用黑度计，和至少每六个月应核检一次。

一经达到热稳定，就用一次或两次黑度标准样进行核检。

这种核检应写进一份报告中，在可能场合包括特征斜率零点调定的校准，和随之记录显

示黑度特征曲线，它是黑度0至4.3内每隔一定间隔的至少8个黑度范围的黑度标定的函数。

如果特征曲线偏离于理想曲线0.1以上的黑度，则应使用校正曲线或修正表修正。

MC3138.2 黑度基准胶片和标准样

——黑度基准标准

其黑度是在物理测量实验室用光学方法测量出的标准样，在0到4.2的范围内不确

定程度等于或小于0.1。

要特别注意胶片的保存和使用条件。标准胶片的有效期限应不超过5年。如果黑度

在物理测量实验室用光学方法测量的结果没有变化，可以重新使用，另一个新有效

期5年。

——黑度基准胶片

其黑度是与黑度基准标准对比测量出的标准样。

基准胶片应每2年标定一次。必须特别注意储存和使用条件。

——标准样和基准胶片的使用应不贴任何透明保护层，不与其它胶片或附加黑度标准样

重叠。

MC3138.3 观片灯

观片灯应使MC3161规定的黑度的底片(单层底片或双层底片检查)能够读出。

MC3139 胶片的储存

胶片储存取决于其冲洗质量和底片归档条件。

在处置后，胶片应按制造商的建议和下列要求储存。

MC3139.1 胶片封装

冲洗过的胶片，应将其放在为封装未曝光胶片用过的纸片夹或折叠纸片夹间。

胶片与其纸片夹一起，应放在纸的或皮的封套内。

封套本身最好放在纸板箱内。

如果使用粘胶，要尽量少用，并决不可以与胶片接触。

放置存放胶片的封套或纸板箱时使胶片竖立，以避免胶片堆积受压。

MC3139.2 存档柜

封套和(或)纸板箱应储藏在存档柜内。

这些存档柜应是防火的，并不发出可能危害储藏胶片的气体。

MC3139.3 档案室

档案室应认真保持清洁。

档案室必须没有被水淹没的危险。特别应不允许有废液管道通过。

仅用水消防设备防火是不够的，还必须采取其它措施。

必须设置防啮齿动物和昆虫的防护措施。

除了射线照相底片以外，该档案室仅可以储存磁带和纸类文件。

MC3139.4 环境条件

——温度

储存温度一般应该不超过21℃，允许温度偶尔上升到24℃，以及在短时间内最高

可达32℃。

——湿度

建议相对湿度应为30％～50％，虽然在短时间内可偶尔上升到60％。

——光照

胶片应避光，因而，要储存在一个封闭的储藏设施内，如存档柜或封闭箱内。

MC3139.5 胶片的归档

胶片要按照避免不需要的胶片做不必要的搬动的原则来归档。

MC3140 检验条件

MC314l 表面准备

零件的表面应无铁锈、异物或任何有碍射线照相底片评定的不规则状态。表面可经机加

工、磨削、喷砂清理或不经处理。MC3200和MC3300规定了适当的表面准备(当适用时)。

MC3142 射线源的选择

射线源应根据零件的壁厚和被检区的厚度来选择(见表MC3142给出的要求)。

表MC3142

根据总的壁厚选择射线源

射线源

400KV以下的X射线

铱192

钴60

直线

加速器

※

焊接件

焊接区

≤70mm

≤100mm

≥70mm

≥80mm

≥90mm

≤70mm

≤100mm

≥70mm

≥60mm

≥70mm

≥80mm

铸件

其它区

≤70mm

≤100mm

≥70mm

≥30mm

≥40mm

≥50mm

≥60mm

≥70mm

1Mev

1.5 Mev

2-3 Mev

4-6 Mev

8-12 Mev

注：用铱192照射时间不超过18小时，用钴60照射时间不超过24小时。

※：对于中间的能量等级，应使用较高的厚度极限。

MC3143 几何参数

MC3143.1 几何不清晰度

a) 定义

应使用以下公式计算几何不清晰度：

U=（d³a）/（F—a）

式中：

U——几何不清晰度(mm)；

d——射线源尺寸(mm)；

a——被检验区入射表面和装有胶片暗盒之间的距离(mm)；

F——射线源与胶片之间的距离(mm)。

对于γ射线源应被看作是一个正圆柱体，其尺寸“d’’应这样确定：

——单向射线源：

² 如果圆柱体的轴线与胶片面平行，则尺寸“d”为圆柱体的高度“h”。

² 如果圆柱体的轴线与胶片面垂直，则尺寸“d”为圆柱体的直径“φ”。

——多向射线源：

尺寸“d”取“h”或“φ”两个值中较大者。

上述情况示于图MC9220.1、图MC9220.2和图MC9220.3。

b) 几何不清晰度值

b.1) 一般情况

按照MC3143.1计算得到的几何不清晰度值，应不超过表MC3143.1.b.1)中所列的数值。

几何不清晰度最大值

射线源

400KV以下X射线或铱192

钴60

直线加速器或电子感应加速器

b.2) 特殊情况

当按MC3144的规定，采用全景曝光或内部偏心照射时，如果满足下列两个条件，则

允许表MC3143.b.2)所列的几何不清晰度值：

——所使用的源，按工业标准，被认为是尺寸最小的。

——用“外源法”代替上述曝光技术，在工业使用中会造成不可接受的操作时间(暗盒

焊接接头

0.30mm

0.60mm

1.0mm

铸件

焊接区

O.40mm

O.60mm

1.0mm

其它区

O.50mm

1.0mm

和射线源的放置，透照时间)过长。因为射线源必须在其第二个半衰期结束前使用。

供货商应采取所有必要行动，通过采用适当的系统或组合装置，使暗盒和射线源的安置

所需的时间缩至最短。

表MC3143.1.b.2) 几何不清晰度允许值

射线源

厚度(e)

焊接件

铸件

焊接区

其它区

0.60mm

1.0mm

铱192

钴60

任意厚度

e≤100mm

e>100mm

0.60mm

O.80mm

O.90mm

0.60mm

0.80mm

O.90mm

b.3) 由奥氏体或奥氏体一铁素体不锈钢制成的插入式焊接支管的特殊情况：

用置于支管轴线上的铱192内源照射曝光，以检验支管与母管连接焊缝的情况下，公称

直径在250mm以下的支管，几何不清晰度最大值为0.6mm。公称直径大于或等于250mm

的支管，几何不清晰度最大值允许达0.90mm。

MC3143.2 射线源尺寸

射线源的高度和直径以及X射线机和加速器焦点尺寸，应由射线源或上述装置的供货

商规定。

MC3143.3 胶片与零件间的距离

除非其它的布置能使被检测区得到更好的胶片图象，曝光期间胶片应紧靠零件。

MC3144 射线照相胶片和射线源相对位置

MC3144.1 单壁透照

用射线照相检验物项的单壁时，可采用下面三种曝光技术：

a) 单个曝光或部分曝光

一个或多个暗盒同时曝光。暗盒和射线源置于被检验件的两边。

b) 单全景曝光

这种技术只适用于圆柱形件或接近圆形表面的零件．所有的暗盒同时曝光。

射线源应置于被检验件的轴线上，射线束轴线应接近垂直于被检验区表面。

c) 偏心射线源曝光

这种技术只适用于圆形或接近于圆形面的零件。一个或多个暗盒同时曝光。射线源

置于被检验件内，在被检件的轴线和距待检面最远的壁面之间。射线束的轴线应接

近垂直于被检件表面。

MC3144.2 双壁透照

这种曝光技术只适用于空心件。射线应穿过被检验件的双壁。暗盒应永远置于离射线源

最远的壁上。一般并根据射线源与胶片问的距离，底片的被评定部分(单壁或双壁观察)主要

由几何不清晰度值来确定。在焊缝的特殊情况下，胶片的被评定部分，根据焊缝走向(椭圆

或在平面上的投影)而定。如果满足几何不清晰度的要求，则获得的局部黑度值将决定胶片

的哪一部分可以评定。如果作整体检验，应进行完整覆盖所需要的多次曝光。

MC3144.3 多件全景透照

将若干零件置于射线源周围同时透照。可以采用单壁或双壁透照技术。

MC3145 透度计

MC3145.1 透度计选择

应按照MC3162规定的图象质量要求来选择透度计。

要求能够看到的孔(或线)，应不是所用的透度计的最小直径孔(或线)，除非这个孔直径

为0.125mm（H1）、线直径为0.10mm（W19）。

MC3145.2 透度计位置

透度计的位置应符合NF EN 462-1和462-2标准中第50.条款规定的要求。

MC3146 暗盒组成

MC3146.1 胶片

a) 单层胶片法

应使用单张胶片。

b) 双层胶片法

应将两张相同的胶片装在一个暗盒内。

c) 多层胶片法

应将一张或几张胶片对照感光速度不同的双层胶片放置于同一暗盒内。

MC3146.2 增感屏

a) 电压＜100KV的X射线

应使用单层胶片技术。不强制使用增感屏。

b) 电压≥100KV和≤400KV的X射线

应使用双层胶片技术。暗盒应包括：

——1个铅制前屏，厚度在0.05～0.15mm之间；

——1个铅制中屏，名义厚度为2³0.05～2³0.10mm之间；在每种情况下每层中

屏厚度都应小于前屏厚度。

——1个铅制后屏，厚度在0.05～0.20mm之间．

注1：当检验的厚度小于30mm，而又采用双层胶片技术时，不强求使用中间铅屏。

注2：当检验的厚度小于30mm时，若保持上述规定的前屏和后屏的厚度，可使用

单层胶片技术。

c) γ射线源

应采用双层胶片技术。暗盒包括：

——铱192和钴60射线源

²1个铅制前屏，名义厚度为0.20～0.25mm；

²1个铅制中屏，名义厚度为2³0.10mm；

²1个铅制后屏，名义厚度为0.20～0.25mm；

——用于焊接接头的钴60射线源

强制使用一个厚度0.25mm的不锈钢增感屏用于焊接接头。

注：若其类型和厚度通过比较试验证实满意，可使用铅以外的其它金属制成的增感

屏。

d) 直线加速器和电子感应加速器

应采用双层胶片技术。胶片暗盒应包括：

——铅制前屏和后屏，其名义厚度在1～1.6mm之间

——1个中间屏(选项)，名义厚度为2³0.10mm．

MC3147 滤光板

MC3147.1 电压＜400KV的X射线

不强制使用滤光板。

MC3147.2 γ射线源

除本规则另有规定外，强制使用滤光板。滤光板厚度在表MC3147.2中给出。

表MC3147.2

透照厚度（mm）

滤光板厚度（铅）（mm）

E≤

40＜e≤60

60＜e≤80

e＞80

MC3147.3 直线加速器和电子感应加速器

不强制使用滤光板。

MC3148 遮挡物质(屏蔽板)

0.5

1.5或2（用于碳钢或低合金钢）、2（用于不锈钢）

应使用遮挡物质。当有大量的射线反方向散射时(例如，当靠近金属或混凝±墙)，应在

遮挡物质的后面放一个1.5～2.5mm厚的铅制字母“B”，以确保遮挡物质工作的有效性。在

同样条件下多次重复性质的透照，则只在第一次透照时需要进行核对。

MC3149 胶片标志

胶片标志系统应能随时使射线照相胶片与相关被检验区对应起来。该标志系统不得有碍

于对胶片上被检验区的评定。

MC3149.1 射线透照件的标志和标记

在大多数场合下，零件上的永久标记应提供参照点，以便在后来能精确地辨别底片的位

置。

如果因材料性质和使用条件而不能打上标记时，应寻求以后能确定底片位置的其它方

法。特殊情况下，也可绘制一些精确的图，这些图可同涂料一块使用。

MC3149.2 射线照相胶片的标志和标记

射线照相胶片应用显现在胶片被检验区以外部分上的数字和字母来标志。如果采用发光

识别标记，通常应在胶片曝光前施加上去。

按MC3137规定的识别标记与打在零件上的印记相匹配，且必须明显可见，以确保胶

片与相关被检验区相联系而没有任何疑问。

焊补后，用于检查此焊补的胶片，除原来的识别标记外，还应包括一个字母“R”。对

第2次或第3次焊补所拍摄的胶片，应标以R2，R3，依此类推。

MC3149.3 曝光次数和胶片重叠

采取的曝光次数和胶片的重叠应能保证透照到被检验区的整个体积。

MC3150 射线照相胶片处置和检验

MC315l 射线照相胶片处置

为了得到胶片系统级别的要求，胶片应按制造商建议的顺序和下列规定进行人工或机器

自动处置，推荐以下附加条件：

建议增加下列附加条件：

a）人工处置

——新定影液在使用前应用曝光的胶片进行时效处理。

——当不使用时，应采取保护措施以防止定影液蒸发和氧化；

——每升显影液处置约0.5m胶片后，或在正常使用和储存条件下，自其初次使用

之日起不超过2个月，显影液就应更换；

——胶片一旦从显影液中取出，就应浸在自来水配制的定影液中，历时约2分钟；

——用于处置胶片的水应是清洁的和没有悬浮的颗粒，并尽可能经过过滤；

——可使用湿润剂以防止胶片在干燥期间形成水珠。

b) 自动处置

为了得到胶片系统级别的要求，温度和显影时间应按照制造商的建议进行。

应特别注意，确保胶片卷筒定期清洁。

注1：人工和自动处置应在曝光8小时之内完成，不得超过24小时。

注2：应采取措施确保显影的胶片没有化学、机械、显影或操作损伤，它们会干

扰零件固有缺陷的判别。如果损伤不严重，并且只影响暗盒中的一张胶片，

则不需要重新拍摄这张胶片对应的部位。

注3：原则上，胶片应用与所用胶片同一个厂家制造的试剂显影。然而，在经比

较试验证明的条件下，也可以使用其它厂家的试剂。

c) 胶片处置质量的检验

这一检验的目的是确保处置过的胶片过后能最佳保存。

胶片的储存寿命直接与硫代硫酸盐离子含量有关。这些离子的浓度低于0.050 g/m，

通常能保证胶片长期储存寿命。

将处置过的未使用胶片用胶片制造商推荐的溶液进行化学浸蚀，侵蚀后所得到的图

象，与代表各种浓度的典型图象，在日光下，进行肉眼对比，据此评定硫代硫酸盐

离子的含量。

检验的频率由使用者决定，在此期间处置条件保持不变。

如果检验发现，硫代硫酸盐离子浓度大于0.050 g／m

，应采取以下行动：

——停止显影，并采取纠正措施；

——重新处置基准胶片(定影+冲洗)；

——重新检验基准胶片；

——重新处置所有含有缺陷的胶片。

MC3152 灰雾度

灰雾度就意义来讲就是未经曝光显影胶片的总黑度(乳胶+片基)。灰雾度应不超过0.3。

灰雾度应至少每六个月测量一次。从一批胶片中抽1样品在与制好底片相同条件下曝光和显

影后测量灰雾度，以核查胶片是否符合MC3132规定使用前储存的要求。在此情况下，批

的定义为同时采购的一批(规格不计)胶片。

MC3153 射线照相底片检验

应在专为检验设计的房间里，用合适的观片灯检验底片。胶片光照面积应缩小到观察所

需的最小范围。观片灯应装备有可调节屏幕亮度的系统，以满足观察底片的要求。

除本规则另有专门规定外，采用双层胶片技术曝光的底片应以双层同时观察来评定。

MC3160 射线照相胶片质量

MC3161 黑度

胶片黑度应用黑度计测量。除非本规则另有规定，双层胶片黑度应高于2.7，并符合工

业用观片灯的亮度水平。但黑度应不超过4.5。双层胶片可评定区域内的黑度，应是逐渐变

化的。

当采用单层胶片检查时，该胶片黑度至少为2。该胶片可评定区域内的黑度应是逐渐变

化的。

最大黑度要求应按以下规定：

除本规则专门规定外，当采用双层胶片检查时，在限定黑度区域内每张胶片上相同点测

量的黑度的差应不超过0.5。

MC3162 图象质量

使用透度计记录的图象质量应能清楚看出孔或线。下表给出各种孔或线的直径。

MC3162.0 焊接件

a) 一般情况

厚度(mm)

e≤3

表MC3162.1 焊接件的一般情况

最后可见孔直径(mm) 最小可见线的直径(mm)

0.25 0.10

3＜e≤6

6＜e≤10

10＜e≤16

1 6＜e≤25

25＜e≤32

32＜e≤40

40＜e≤80

80＜e≤125

125＜e≤160

160＜e≤200

200＜e≤250

250＜e≤320

320＜e≤400

0.32

0.40

0.50

0.63

0.80

1.00

1.25

1.60

2.00

2.50

3.20

4.00

0.125

0.16

0.20

0.25

0.32

0.40

0.50

0.63

0.80

1.00

1060

2.00

2.50 5.00

b) 外径等于或小于120mm的管或支管焊缝以及角焊缝

要求的图象质量根据表MC3162.1的规定向下移动一格。

c) 其它特殊情况

在下列情况下，对于厚度大于80mm对接焊缝的检验，对应于较小的孔径，表

MC3162.1给出的值，应向上移一行：

——蒸汽发生器二回路侧锥体和上部及下部的圆柱段之间的焊缝；

——最大有效工作压力大于20bar的平封头与壳体之间的焊缝

MC3162.2 铸件

表MC3162.2 铸件

厚度(mm)

e≤1 0

10＜e≤16

16＜e≤25

32＜e≤40

40＜e≤63

63＜e≤100

100＜e≤160

160＜e≤200

200＜e≤250

250＜e≤320

320＜e≤400

400＜e≤500

500＜e≤650

最后可见孔直径(mm)

0.50

0.63

0.80

1.00

1.25

1.60

2.00

2.50

3.20

4.00

5.00

6.30

8.00

※

最小可见线的直径(mm)

0.20

0. 25

0.32

0.40

0.50

0.63

0.80

1.00

1.60

2.00

2.50

3.2

4.00

※

10.00 5.00

e>650

※：这些尺寸在NF EN 462标准中并没有标准化，这部分可能是根据ISO1027标准。

MC3170 检验报告

检验报告应包括以下内容：

——制造商、订货单和设备的名称以及标识号码；

——零件、焊缝或被检验区域的标志，包括钢号；

——所用检验文件的名称；

——射线照相区域的厚度；

——射线源的类型和特征(包括规格)；

——RCC—M胶片分类和胶片商标名称

——增感屏和感光板的型号、数量和厚度；

——透度计型号；

——射线源和被检验区的相对位置，以及射线源和胶片间的距离；

——透照时间；

——胶片处置条件；

——最小可见孔(或线)的直径；

——焊接接头胶片结果的评定和探测到的缺陷显示的性质和尺寸；

——操作人员和评片检查员的姓名和资格；

——承担检验任务的分包商的资格认定(适用时)；

——检验日期和检验员签名。

为了避免不必要的重复，在经认可的制造商的文件中给出，可将其附在检验报告中。

MC3200 钢铸件射线照相检验

MC3210 适用范围

本章适用于本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷各篇的4000章规定的需经射线照相检验的钢铸

件的射线照相检验。

MC3220 一般要求

MC3100规定的所有一般要求在此均适用，此外，补充以下要求。

MC3230 检验条件

MC3231 检验时间

铸件在制造期间的哪个阶段进行检验，应按本规则第Ⅱ卷和(或)第1卷(有关篇的4000

章)的规定执行。

MC3232 检验区域

检验区域和检验范围按本规则第Ⅱ卷和第1卷(相关篇的4000章)规定执行。

MC3233 表面准备

MC3141规定的要求是适用的。可通过喷丸、喷砂、磨削或机加工进行表面准备。焊补

区应磨平。

MC3234 胶片类型

铸件射线照相使用的胶片，按表MC3234中的规定。

表MC3234

射线照相区

管嘴的焊接区

和焊补区

其它区

e＜100mm

e≥100mm

e＜100mm

胶片的类型

，（

）

≤C2

（

）

≤C3

（

）

e≥100mm ≤C4

注：（1）当采用铱192射线源时，提供C3型胶片可以符合MC3162.2或MC3162.1.a的

图象质量要求。

（2）厚度大于400mm的焊补区，如能得到MC31 62所要求的图象质量，可以采

用C5型胶片。

（3）当采用400KV以上X射线照相时，若遵守MC4142的条款，可采用4型以

内胶片。

MC3235 特殊检验条件

MC3235.1 滤光板

除焊接区和焊补的较大凹坑和技术规范中规定的区域外，射线源铱192和钻60使用

MC3147.2规定的滤光板是非强制性的。

MC3235.2 透照类型和胶片的评定

MC3235.2.1 厚度不变的零件

用双层胶片进行评定。

MC3235.2.2 厚度变化的零件

a) 双胶片透照

胶片的可评定区的总体黑度在2.7和4.2之间(或4.5，如果胶片观片灯允许)，应采用双

胶片评定。

双胶片黑度大于4.2(或4.5)的部分，按单胶片判定。此胶片黑度在2和4.2(或4.5)之间。

b) 多胶片透照

当零件的厚度差别很大时，可用两张以上胶片。胶片暗盒内应至少放一组具有同样感光

速度的双胶片，以使大部分被检验区能在下述黑度条件下评定：

——具有相同感光速度的胶片．根据MC3235.2.a，采用单或双胶片观察法进行评定。

——补充胶片单独观察，或与另一张感光速度接近的胶片重叠观察，当采用双胶片技术

时，评定区的黑度应在2.0～4.5之间，且反差最小的胶片的最小黑度应为1.0。

MC3235.3 透度计

a) 分块运照

当厚度不向射线照相能够按MC3161第一条所提出的在整个被检验区进行双胶片观察

时，阶梯式透度计要尽可能放置成透入反差最小的区域。

否则，使用两个阶梯式透度计。

这两个透度计要尽可能放置成透入射线照相区域的最大黑度区。

b) 全景透照

分块透照的要求，适用于全景透照区域的至少两个相反部位。

MC3235.4 毛坯铸件的射线照相

MC3235.4.1 管嘴焊接件

铸件分为下列两类：多用途的或特殊用途的零件。

a）特殊用途零件

毛坯轮廓线

最终轮廓线

射线照相长度余量≤5mm

图MC3235.4.1.a

这些零件相应于正式确认的部件，铸造厂知道图MC3235.4.1.a和MC3235.4.1.a’

中h的规定数值。

最终轮廓线

毛坯轮廓线

射线照相长度余量≤5mm

图MC3235.4.1.a’

b）多用途零件

这类零件包括公称直径小于或等于250mm、相当于B，C，D篇3500规定的各种

额定压力等级成批订货的阀门壳体。

检验时，毛坯铸件圆筒体部分的最大厚度（图MC3235.4.1.b），应等于响应阀门设

计压力的最厚管道的壁厚（e），再加MC3235.4.1.c所规定的厚度余量。铸造车间

应按照表B3611.4和C3643确定这个厚度（e）。

最终轮廓线

毛坯轮廓线

射线照相长度余量≤5mm

图MC3235.4.1.b

c) 毛坯铸件的圆筒段长度和厚度余量值

在接管的厚度有变化的场合，毛坯铸件应含有长度为z的圆筒段：

——ND>250mm的多用途的和特殊用途的铸件，l分别等于或大于e或h；

——ND≤250mm的多用途和特殊用途的铸件，l分别等于或大于1.5倍的e或h。

在任何情况下，管子的对接焊缝实施射线照相检验期间，l应包容被检验区域，但

不超过75mm。

毛坯铸件圆筒段的最大允许厚度余量应等于e或h，再加上如下规定的厚度余量：

——ND≤150mm的铸件为8mm；

——150

——250

——ND>450mm的铸件为22mm。

d) 几何不清晰度的计算

几何不清晰度的计算应使用MC3143.1给定的公式。进行单壁观察的射线照相检

验，所考虑的厚度应是检验时毛坯铸件圆筒段的厚度。当进行双壁观察的射线照相

检验时，所考虑的厚度左是毛坯铸件圆筒段的外径。

e) 图象质量

要求的图象质量应如表MC3162.2所示。

当采用单壁观察技术时，所考虑的厚度应为h或e；当采用双壁观察技术时，所考

虑的厚度应为2h或2e。

f) 胶片评定

在毛坯铸件圆柱段的整个长度上应采用双胶片技术(两张同型号胶片)。

MC3235.4.2 其它区域

检验时对于最大壁厚余量没有专门要求。然而射线透射厚度余量适合于所寻找的显示的

类型和尺寸的那些区域为合理。

MC3235.5 铸件产生边缘效应的区域

当铸件长度余量或几何形状不能完全消除边缘效应时，应采用适当的方法，如：补偿材

料和补偿件、屏蔽和滤光板。

MC3235.6 小直径阀门和泵

第一种情况：公称直径小于100mm(ND<100mm)的铸件。整个铸件(壳体、底座、法

兰和接管焊接件)可以用MC3144.2规定的“双壁透照”法透照。

第二种情况：公称直径在100～150mm(100≤ND≤150mm)的铸件。除接管焊件外，整

个铸件可用MC3144.1规定的“单壁透照”法透照。

使用“双壁透照”法时：

——透度计要沿波束的轴线方向，置于最接近放射源的壁上。

——几何不清晰度按MC3143.1给定的公式计算。式中，“厚度”为铸件射线照相段的

外径。

一一根据射线穿透的壁厚确定图象质量。

MC3240 射线照相区域

本节适用于理论上应作100％检验，而实际上又不能那样检验的一类铸件。这类铸件包

括诸如：阀门的阀座——阀体的连接和辅助泵壳的接管一一壳体连接，由于这些铸件的几何

形状、厚度或厚度的变化，使得：

——不能采用通常的检验方法；

——不能满足胶片的质量要求(几何不清晰度、黑度等)，或只能耗费很长的调整时间。

图MC3140.a和b规定了这种情况下的要射线照相的最小区域。由于上述问题，不能进

行射线照相的区域，在相关铸件的注解图中注明。

图MC3240.a

阀类的最小的被检验区域的典型例子

（剖面线区域）

图MC3240.b

泵类最小的被检验区域的典型例子

（剖面线区域）

MC3250 焊补区的检验

所用的胶片类型，应遵照MC3234的规定。

焊补区，包括热影响区，可用适当的定位标记标出。应只评定胶片标出标志区的部分（如

没有标记，则应评定整张胶片)。

下列情况下需作射线照相检验：

——在由于坑的深度而将焊补坑考虑为重要的情况下，应满足表MC3l62.1.a的图象质

量要求。使用该表时，取直接在焊补坑上面的壁厚作为基准。

——其它情况下，表MC3162.2的图象质量要求应适用，而MC3149.2第三节条款不适

用：

——当胶片设置在作为基准的焊补表面上时，应以焊补坑深度作为计算几何不清晰度的

厚度，应考虑的数值在表MC3143.1.b“焊接区”一栏里规定。

MC3300 焊缝射线照相检验

采用单壁和双壁透照法的对接焊缝和全焊透角焊缝的射线照相检验。

MC3300 适用范围

MC3300节适用于各种厚度的均匀或非均的全焊透对接焊缝和角焊缝的射线照相检验。凡本

规则第I卷(有关篇的4000章)规定要对轧制、锻造或铸造产品上焊缝作射线照相检验的，采

用单壁或双壁透照法。

MC3311 一般要求

MC3100规定的所有一般要求，在此均适用。此外，补充下列要求。

MC3312 检验条件

MC3312.1 检验时间

焊缝射线照相检验在制造期间什么阶段进行，按本规则第1卷中(有关篇的4000章)规

定实施。

MC3312.2 被检验区

被检区域和检验范围，按本规则第I卷中(有关篇的4000章)的规定确定。被检区至少包

括填充金属和热影响区。

MC3312.3 表面准备

应按MC3141规定进行表面准备。准备的程度应能满意地评定MC3312.2规定的被检区

的射线照相。

a) 对接焊缝

对厚度大于50mm的焊缝，应合适的机械万法，使焊缝外侧和可接近的内侧表面与母

材齐平。

当第1道全焊透焊道是用TIG工艺进行焊接时，并且该焊道没有妨碍对射线照相进行

评定的不平整情况时．不要求修整其焊缝内表面

对厚度等于或小于50mm的焊缝，焊缝表面与其所焊接的零件表面的连接应外观整齐，

不得有B、C和D篇4000章规定的不允许存在的严重咬边。进而，当用药皮焊条以水平垂

直位置施焊时，应进行打磨，以除去纵向沟槽和表面缺陷。如有必要，其它施焊位置的焊缝

也应打磨，以便胶片的评定。

b) 插入式角焊缝

如果可以接近，则焊缝内表面应打磨光滑。

在外侧，焊道和焊件表面应外观整齐，不得有在B、C和D篇4000章规定的不允许存

在的严重咬边。

MC3312.4 胶片类型

——使用加速器和钴60透照：用1或2型胶片。厚度超过30mm，允许使用3型胶片。

——用铱1 92透照：除1级对接焊缝要求使用1型和2型胶片外，1～3型胶片均能使

用。

——用X射线和铥170透照：1～4型胶片均可使用。

注：特别当进行电渣焊(立焊法)时，可使用1～3型胶片。

MC3312.5 射线照相胶片和射线源的相对位置

MC3312.5.1 管子对接焊缝

MC3312.5.1.1 外径φ<90mm

a) 平面或平面透照和椭圆投影法。双壁透照时．射线源远离管材。

——两次最小90°曝光．可采用下列方法：

²比值中φ／e≤10，采用平面透照法；

²比值φ／e>10，采用平面或椭圆透照法；

采用平面透照法，射线源置于管道外侧的焊缝平面上。

采用椭圆透照法，射线源偏离焊缝平面，形成如图MC3312.5.1.1.b所示的椭圆，

其中0

在厚度不超过5mm的管材窄焊道的特殊情况下，X最大值允许为20mm。

——用MC3143.1规定的公式计算几何不清晰度，公式中采用的厚度值为管的外

径。

——透度计的设置，应使要求的孔(或线)位于射线轴线上(见图MC3312.5.1.1.b一2)。

应采用双胶片法观察。当用双胶片法观察，黑度达4.5时，可按MC3312.5.2.b条的

要求，继续用单胶片法观察。

注：φ——管子外径(mm)；

e——管子壁厚(mm)。

b) 双壁透照，贴近射线源单壁评定

如图MC3312.1.2.a一2所示，将射线源置于管的外侧壁上，胶片置于管子直径对

侧。用MC3143.1规定的公式计算几何不清晰度。图象质量由按照取射线照相厚度

等于被检验件的壁厚来确定。

按照必要性采取多次透照拍摄，以达到MC3161规定的黑度要求。

MC3312.5.1.2 90mm<外径φ≤170mm

a) 比值 φ／e≤5

当能将射线源放入管内时，则按图MC3312.5.1.2.a一1，将其置于胶片的直径上对

面的管子内壁上。

如果射线源不能放入管内，则按图MC3312.5.1.2.a一2，将其置于胶片直径上对面

的管的外壁上。

b) 比值φ／e>5

如能将射线源放入管内，并满足几何不清渐度的要求，则按如下方法透照：

——将射线源置于焊缝平面的中心位置；

——按图MC3312.5.2.a一1，射线源贴在胶片直径上对面的管子内壁上。

按照优先次序采用。

如果不能将射线源放入管内，则应置于下述位置：

——按图MC3312.5.1.2.a一2所示，射线源贴在胶片的直径上正对面管子的外壁上。

至少取4个等间距透照。

——按图MC3312.5.1.2.a一3，射源线放在管的外侧焊缝平面上，应按要求多次透

照进行单壁观察。

MC3312.5.1.3 外径>170mm

当射线源可以直接地或用检查管放入管内时，最好将其置于管子的中心位置。

如果不能放入，则应将射线源放在管外进行透照。

MC3312.5.2 对接焊缝

射线源应放在焊缝的轴线平面上，或放在焊缝的1个坡口平面上。

a) 双片观察

应评定全部胶片。被检验区应用双片观察，胶片的黑度应符合MC3161的要求。

b) 单片观察

如果双片的最低黑度在2.7～3.5之间，而双胶片对应于被检验区的某些部分的黑度

又大于4.5，只要满足MC316l的要求，则可采用单片观察；应评定两种胶片。

MC3312.5.3 全焊透角焊缝

a) 非插入式支管连接

胶片应放在支管内，而且要对着被检验的管壁。如图MC3312.5.3.a所示，射线源

应放在管外侧焊缝坡口的轴线上，偏差在0～+10°以内。

在胶片后面应放置一块厚度至少为6mm的铅板。

b) 插入式支管连接

如图MC3312.5.3.b一1和图MC3312.5.3.b一2所示，胶片应放在主管或设备的内

侧或外侧。

当胶片放在内侧时，射线源放在与支管母线呈20°～30°角的轴线上。

当胶片放在外侧时，为满足几何不清晰度要求，射线源应放在支管轴线上。

注1)：几何不清晰度仅在主平面内计算：

——母管和支管轴线平面的横截面(呈直角)；

——通过支管(边缘)轴线，垂直于上述平面的横截面。

在任何情况下，计算几何不清晰度所考虑的射线源大小，应取直径或高度中的

较大值。

被检验件的入射表面与装胶片的暗盒之问的距离按下列公式确定：

a=（X+Y）/2

式中，X、Y取值，见图MC3312.5.3.b一4。考虑的距离，须是两者(边或直角)

中的较大值。

焊道厚度的差异能使黑度限值保持在2.7～4.5范围之内时，应进行一次透照。

如不可能，可采用下述两种方法中的一种，使黑度保持在上述范围内：

a) 使用装有不同类型胶片的双重双片暗盒，进行一次曝光；

b) 必要时，进行多次透照。

注2)：焊缝的最大透照厚度超过100mm时，见图MC3312.5.3.b一3

用铱进行射线照相检验时，射线源要放在支管轴线上，在图中加阴影线的区域

必须符合图象黑度和质量要求。

制造商应制订定位方法，对此应予以说明并解释选择它的理由。为了保证上述

的区域，考虑到各种可能不精确性，应允许有余量(图中以方格表示)，此区域

可借助于胶片上显示的定位标记确定其在被检验件表面的位置。

MC3312.6 透度计

当使用线透度计时，将其横跨在焊缝上。

当使用阶梯式透度计时，按透照要求放置：

——在溶合金属以外；

——尽可能在被检验区剩余部分以外。

当检验外径小于或等于120mm的管焊缝时，透度计要放在透照区的中间平面上。

a) 分块透照

——对接焊接头

当能够按MC3312.5.2.a规定对整个被检验的区域进行双胶片观察时，将阶梯

式透度计置于胶片可评定部分的那一端。

——不同厚度或不同种类材料之间的对接焊接头。

当除双胶片观察外，还按MC3312.5.2.b进行单胶片观察时，如果接头的几何

形状允许，与被检材料高度或类型适应的阶梯式透度计放置在胶片可评定部分

的一端必须同时跨构成接头组件的每一分件。

——管子对接焊缝的双壁射线照相

²如果作双壁透照评定，胶片图象质量可按考虑射线照相厚度等于壁厚两倍来

确定，且透度计置于朝向射线源的被检验件外表面上

²如果只作单壁透照评定，胶片质量可按考虑射线照相厚度等于透照壁厚来确

定，表MC3162.1.a的值朝孔径较大方向移动一格。透度计按MC3145.2的

规定放置。

——角焊缝，可使用线透度计。按其能投射进被检验区而放置。如果这个区域宽阔，

透度计尽可能置于反差最小的区域。

b) 全景曝光

分块透照的要求适用于全景曝光区域的至少两个相对位置。

MC3312.7 特殊情况

a) 焊道之间的射线照相检验

应根据焊缝厚度，并考虑下列特殊要求规定检验条件：

——可保留焊接毛面；

——被检验送应限定在焊道的中心部分。

b) 隔离焊层与母材交界面处的射线照相检验。

由于各种金属对射线照相吸收有很大差异，应满足下列要求：

1) 奥氏体不锈钢隔离焊层

射线源应放在隔离焊层与母材交界面的延伸面上。

2) 高镍合金隔离焊层

这些交界面的射线照相检验应在检验报告内规定主要参数(照相角度、特殊的

底片图象、黑度等)。这个报告应在开始检验之前，提交给承包商。

c) 用立焊法施焊的电渣焊的焊缝图象质量

图象质量应符合表MC3162.1.a的规定。

d) 插套焊缝的射线照相检验

应用双胶片法。

1) 胶片和射线源的相对位置

各种焊件(简单焊件和套管焊件)的射线源都放在焊缝与套管相连接的平面上，

射线源与胶片的距离至少应为套管外径的10倍。

2）透照次数

——1、2级焊缝：相互呈90°角透照两次。

——3级焊缝：仅透照一次。

3) 图象质量

单胶片透照情况下，在直接贴近焊缝的支管轴线上测得黑度应大于3。为了显

示缺陷，应以一线透度计作为基准。此透度计应放在与穿透焊缝的射线源同一

侧面。应采用单胶片和(或)双胶片技术评定。

管焊接套

射线源放置平面

焊接评定区域

线型透度计

插入管子

图MC3312.7 d

MC3313 被检验区标志

当被检验区不能直接在胶片上测定时，例如在打磨的对接焊缝的情况下，应标出被检验

区的边界。应采用铅制定位标记(最好是一窄条)，置于距原始坡口距离至少10mm处。

这些定位标记的放置应不妨碍底片可评定部分的评定。

然而，如果规定的基准点在胶片上看上去是规则的(例如还没有打磨平的根部焊道的痕

迹)，制造商在考虑关于射线源的制备和放置等所有可能的不确定因素下，可以提出检验区

的标准宽度，以便保证图示(按照加工图和技术规格书)各种情况下所规定区域的检验。在这

种情况下，被检验区域可以免除铅制标记。

MC3314 焊补区的检验

填充金属的焊补区接受与焊补前规定的检验条件相同的射线照相检验。

胶片应按MC3149.2标志。

可见孔

AFNOR 透度计（阶梯型）

可见孔

ISO 透度计（线型）

图MC3312.5.1.1.b—2

宽焊道

窄焊道

图MC3312.5.1.1.b—1

图MC3312.5.1.2.a—1 图MC3312.5.1.2.a—2 图MC MC3312.5.1.2.a—3

胶

片

源

图MC3312.5.3.a

图MC3312.5.3.b—1 图MC3312.5.3.b—2

定位标记支管

实际轮廓

理论轮廓

定位标记

支管轴线

母管

确定定位标记的位置

——源的理论位置

图MC3312.5.3.b—3

支

管

支管轴线

母管

图MC3312.5.3.b—4

MC4000 液体渗透检验

MC4100 总则

MC4110 适用范围

本章阐述了本规则中规定的液体渗透检验的一般要求。

MC4120 一般要求

MC4121 检验人员资格

液体渗透检验，应由具有符合MC8000规定的合格证书的人员实施。

MC4122 液体渗透检验文件

应按一系列经过适当确认的文件（规程、操作卡、细则卡）规定的条件进行所有的液

体渗透检验；这些文件应满足RCC—M相关章节给出的要求，并应至少包括以下内容：

——被检安的类型和所使用的材料的类型；

——涉及的RCC—M相关章节和其它适用的文件；

——检验设备；清洗和液体渗透检验用的设备以及试剂；

——检验条件：被检验区和表面状况；

——检验规程：渗透方法、检验参数（零件温度，停留时间等）；

——验收准则。

MC4200 检验方法

AFNOR标准NF A09-120规定的检验程序是适用的，但应作如下修正：

——其4.5节，由以下内容代替：

“用敏化试验法（遵循NF A09-521），在标准NF A09-520附录A中规定的Ni—Cr标

准裂纹试样上，进行液体渗透试剂适用范围分类。抗过冲刷试验也应按照NF A09-521标准

进行。”

“试剂的适用范围至少应达到以下性能水平：

试样

着色剂

荧光剂

敏感指数（NF A09-521）

A50

100

／

A30

＞75

／

A20

／

100

A10

／

＞75

注：混合试剂应作为着色剂处理。”

——其5.1节，补充如下：

“必须遵守RCC—M第V卷的F6423节的‘一般规则’包含的要求（用于奥氏体钢或

镍基合金检验用的试剂的卤素和（或）硫含量的限制）。”

——其5.2节仅适用于使用再循环试剂的情况。

——其5.3节，补充如下：

“最终或中间阶段的焊缝表面（根部焊道或填充焊道）可以保持焊后状态。在堆焊情

况下，焊道之间的沟痕可以保留。”

“在液体渗透检验前进行喷砂或喷丸处理，只适用于原铸造状态的零件。”

“经磨削或表面机加工的表面粗糙度（Ra）最大值为6.3μm，经喷丸处理的原铸造状

态的零件的粗糙度（Ra）最大值为12.5μm。应按MC7200评定粗糙度。”

——其6.1.1节，由下列内容代替：

“除非另有规定，否则在整个渗透检验过程中，被检零件和使用的渗透液的温度应保

持在10℃到50℃之间。”

“在低温下的液体渗透检验”

“在达不到上述温度的场合（在室外或现场检验时），只要遵守以下特殊要求，最低温

度可以下降到5℃。”

“在检验温度低于10℃的特殊情况下，施加显示剂时应使用一种气雾剂，在使用时，

温度可达到大约20℃。此外，要使用风扇吹风，加速干燥；如果可能，则吹热风，被检件

表面温度不得超过50℃。”

“在高温下的液体渗透检验”

“在采用一定的程序和适合于这个温度的和证明了性能的试剂（按4.5节）条件下，温

度可在50℃到220℃之间。”

“需事先取得承包商的同意。”

——其6.1.3节，补充下列内容：

“停留时间至少应该为20分钟。”

“某些要求较高敏感性的补充检验，可能需要更长的停留时间。”

“在整个停留时间内，渗透膜应保持湿润。”

——其6.1.2节，补充下列内容：

“溶剂禁止喷洒，并使用的溶剂必须是由液体渗透剂制造商推荐的渗透剂中的一种。”

——其6.2.2节，补充下列内容：

“小零件的过量的渗透剂可用立即水浸的方法去除。”

——其第8节，补充下列内容：

“缺陷显示由缺陷尺寸表征。缺陷分为‘线性’和‘圆形’两类。”

“其最大尺寸比其最小尺寸大3倍时，定义为线性缺陷显示。”

“所有其它缺陷显示定义为圆形缺陷显示。”

——由于其应用方面没有足够的经验，标准NF A09-120中第11节不适用。

——其第12节，由以下内容代替：

“检验报告”

“检验报告必须包含下列内容：”

“——制造商、订货单和设备的名称以及识别号码；”

“——零件或焊缝的标志，包括类别（铁素体或奥氏体钢）和制造工艺（锻造、轧制、

铸造、隔离焊或堆焊等）；”

“——使用的检验文件名称；”

“——检验时间；”

“——表面准备（方法，清洗）；”

“——使用试剂的类型（商标、型号和标准）；”

“——检验规程（施加渗透剂的方法、停留时间、温度和亮度要求符合程度）；”

“——评定结果，包括说明不合格缺陷显示位置和尺寸示意图。对于铸件，只提供主

要的凹坑图；”

“——检验员的姓名和资格；”

“——承担检验任务的承包商的名称（如果适用的话）；”

“——检验日期和检验员签名。”

“——为了避免不必要的重复，以上所列的一些内容，已在适当认可的制造商的文件

中给出，可将其附在检验报告中。”

MC5000 磁粉检验

MC5100 总则

MC5110 适用范围

本章阐述用本规则中规定的称为“连续法”的技术进行磁粉检验的一般要求。

注：“连续法”是指在通以电流或感应磁场的同时，将探测介质施加于被检件上进行检

验的方法。

MC5120 一般要求

MC5121 检验人员资格

磁粉检验应由按MC8000的规定取得资格证书的人员进行。

MC5122 磁粉检验文件

所有的磁粉检验应遵守一系列经适当认可的文件（程序、操作卡、细则卡）的规定。这

些文件应满足本规则相关章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检物项类型：如焊缝坡口、封底焊缝、完工焊缝、角焊缝等；

一一涉及的本规则相关章节和其它适用文件；

——检验设备：电流发生器、磁化装置（电极触头、电磁铁、磁化线圈等）、所用的探

测介质、磁场指示器和退磁装置（如果需要）的特性；

——检验条件：被检表面状况、经受热加工的被检件的温度；

——检验技术规程：磁化法、探测介质类型（干法或湿法）、对比物（如采用），检验面、

检验参数（表面栅格图、顺序、电流类型、磁化电流、电极触头或磁极间距、线圈

匝数）及退磁方法（如需要）；

——验收准则。

MC5130 磁粉检验设备

MC5131 通电磁化装置

应使用能在低压下输出高磁化电流的电流发生器。

发生器输出的电流有：

——全波（交流）；

——半波整流；

——全波整流；

电流发生器应配有测量磁化电流的电流表。电流表应能清晰地显示测量数值[峰值、平

均值和真实（均方根）值]。两台电流发生器应配有两个电流表。

应在操作人员伸手可及范围内配备开关，以能接通和断开磁化电流。

给被检验件施加磁化电流的电极，应用导电和导热性良好的材料制成，且截面较大。

电极可以带接触垫，也可以不带接触垫（在此情况下端头与被检件为点接触），并应符

合MC5146的要求。

MC5132 通磁磁化装置

被检件的一部分或一段的磁化，可采用由通常配置有挠性磁极臂的手提式电磁轭、固定

式电磁轭，或采用绕在零件的一部分或一段上的线圈进行。

这些装置可由交流电、整流电或直流电供电。

MC5133 固定式磁粉检验装置

有些装置能将上述两种方法结合起来，被检验件可同时进行通磁磁化和通电磁化。

MC5134 装置的校验或标定

Mc5134.1 磁化装置的校验

磁化装置，尤其是电流表，应按书面文件规定的要求，每6个月校验一次。

MC5134.2 测量装置的标定

测量装置（照度计、辐射计、磁场指示器）应按书面文件规定的要求，每12个月标定

一次。

MC5135 探测介质

MC5135.1 干磁粉

所用的干磁粉应是磁性氧化铁。磁粉可不经专门处理直接使用，也可经着色增强对比度。

有些磁粉含有荧光色素，可在黑光灯下进行检验。

MC5135.2 磁悬液

磁悬液含有的磁粉颗粒度比MC5135.1中的干粉颗粒度更细，这些粉粒悬浮于煤油或水

中。用水悬浮时水中应加湿润剂（使磁粉在水中均匀分布）和缓蚀剂。

磁粉浓度（可见的白亮度）应保持在制造商推荐的范围内，并且在任何情况下，新试剂

中磁粉浓度都要高于2g／L，用ASTM试样测量的待用探测介质浓度，应在12至24ml/L

之间。

由于荧光探测介质在黑光下变得可见，荧光探测是可用的。在此情况下，磁粉浓度可能

较低，新试剂的最低浓度为0.5g／L，用ASTM试样测量的探测介质的浓度在1至5ml／L

之间。

MC5135.3 检查探测介质的装置

对探测介质所达到的性能及其随时间变化的检查，是用预先磁化的磁粉磁场指示器（带

磁场梯度型）进行的，指示器保证选择性与设备所加任何磁化条件无关。

MC5136 喷粉装置

无论是手动的或自动的喷粉装置，都应能将磁粉均匀地喷洒于零件的整个被检验表面。

为不影响磁痕的形成，必须避免将磁粉强烈喷撒。

MC5137 磁化条件的确定

MC5137.1 切向磁场测量仪

该仪器能按磁场计摆针所指方向确定被检件实际表面的磁场强度。在某些情况下，由于

被检件几何形状变化或若磁力线从材料以外发主，磁场强度可能难于测量。测量应在被检件

紧靠检验区的适当一段上进行。

MC5137.2 典型试样

重复的小型被检件可使用含有天然或人工缺陷的典型试件。

MC5137.3 计算

电流通过整个被检件的磁化方法的切向磁场强度值可用简单计算确定。

MC5137.4 预定值

在使用便携式触头通电磁化测量的情况下，表MC5231所列推荐值给出满意的结果。

在使用便携式电磁铁通磁磁化测量的情况下，电极间推荐距离（MC5332.2.b）给出满

意的结果。

MC5140 检验实施要求

MC5141 检验时间

零件在制造期间的哪个阶段进行检验，按本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷各篇的4000章

的规定执行。

MC5142 检验区域

被检区域和检验范围，按本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷各篇的4000章的要求确定。

MC5143 表面准备

被检件表面应干净，没有任何影响探测介质均匀分布和对磁痕做出正确评定的不规则的

现象。

在正常光照下检验情况下和磁化前，施用极细的亮光颜色涂料或涂层可以增加对比度。

检验完成后应清除涂色层。

MC5144 检验方法的选择

MC5144.1 磁化方法的选择

根据被检件的几何形状、质量、状态和钢种及假设的不连续缺陷的取向和深度等，选择

磁化方法。

当检验材料裂纹的情况下，只能采用通磁磁化法。

MC5144.2 探测介质的选择

除了被检件的表面状态的要求外，还要按照表MC5144.2的规定根据零件的温度选择探

测介质。

表MC5144.2

允许的探测介质

θ≤50℃

磁悬液

带有机色料的干粉

无色料或带无机色料的干粉

温度

50℃<θ≤100℃

100℃<θ≤300℃

MC5145 磁化状况的校验

这项检验是用适合的装置测量切向磁场强度来进行的。

在被检验区，测量结果应在2400至4000A／m间。

对磁化方法应用的全部校验，可用下列磁粉场指示器中的一种进行：

——ANFOR

——BERTHOLD

——ASME

使用磁粉磁场指示器是对磁化状况进行快速校验的一种方法，并且是适用方法的总的校

验。除在在MC5137.4规定的情况外，不能单独依靠它们来校验磁化状况。

MC5146 注意事项

——电缆应尽可能短，并要特别小心避免其盘绕；

——触头和磁轭磁极端应具有合适的几何形状并满足清洁要求；

——触头与被检件接触部分的材料，应与被检件在限制污染方面相一致，还需有足够大

的尺寸，以避免零件表面局部过热。

——在可能的范围内，电极应与被检验件表面垂直。

——只有当被检验件与电极触头接触良好时，才能接通和断开磁化电流。

——通电磁化磁粉检验后，零件的电极端接触处必须打磨，打磨后要进行目检。1级部

件和有疑问的其它部件应进行液体渗透检验或用通磁磁化法进行磁粉检验。如果在

焊接期间作了磁粉检验，就无需再作。

MC5147 探测介质的施敷

一经出现磁化就立刻施加探测介质。这种磁化应至少保持3秒钟，并且只有在整个被检

验区施加和布满探测介质后，才能停止磁化。

MC5148 磁痕观察

使用干粉时，在磁化过程中和随磁化立即观察磁痕。

使用磁悬液时，可以在磁化过程中，或磁化已结束后观察磁痕。

使用在正常光照状态下是可见的探测介质时，被检验区的照明亮度应不低于300Lux（勒

克斯）。

使用荧光探测介质时：检验应在暗处进行。但被检表面必须在黑光灯下进行检验。检验

开始前，黑光灯应加热到其亮度达到最大。开始检验前，检验人员应先在暗处停留至少5

分钟，以使眼睛适应黑暗。观察表面上的黑光亮度至少应为10W／m，光源距被检件保持

正常距离（不小于30cm）。

MC5150 磁痕判定

缺陷是通过铁磁性微粒出现不均匀的堆积来显示的。然而，并不是所有的磁痕显示都表

示缺陷。

以下原因可能造成假显示：

——产品几何形状不规则；

——表面过于粗糙；

——磁导率变化太大；

——磁场强度过大；

——剩磁等。

有疑问时，如有可能，在消除上述原因后，应重作检验。（在改善表面状态和改变磁化

特征后）还应作进一步研究。

缺陷显示用磁痕尺寸来表征。磁痕可分为线性和非线性两类。

磁痕的最大尺寸大于其最小尺寸3倍时称为线性磁痕。

其它磁痕称为非线性磁痕。

MC5160 清理

检验一经结束就用合适的试剂将残余的磁粉清除干净。

MC5170 退磁

如果本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷各篇的4000章有退磁要求，则应在检验结束后进行

退磁。

MC5180 检验报告

检验报告必须包括以下内否：

——制造商、订货单和设备的名称及识别号码；

——被检件名称．并注明加工方式（锻造、轧制、铸造），或被检焊缝的焊接方式；

——使用的检验文件的名称；

——检验时间；

——表面准备（方法，清洗）；

——所用设备的类型、商标和名称；

——采用的磁化方法；

——检验顺序；

——探测介质的类型、颜色和牌号；

——磁化参数（电流种类、电流强度、磁场指示器）．

——在加温条件下检验时的零件温度；

——照明类型（日光、灯光、黑光）；

——任何不可接受的显示均应记录，包括那些开始认为是不可接受的显示，随后因不具

有不可接受缺陷的特征而结果不与考虑的显示。

评定结果，包括标出不可接受的磁痕位置及其尺寸的示意图。对于铸件，只提供主

要的凹坑图；

——检验员的姓名及资格；

——承担检验的分包商的名称；

——检验日期及检验员签名。

为了避免不必要的重复，以上所列的一些内容，已在经适当认可的制造商的文件中给出，

可将其附在检验报告中。

MC5200 便携式触头通电磁化磁粉检验

MC5210 适用范围

本章列出了按本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（各有关篇的4000章）规定的磁粉检验的

具体要求。此要求适用于两个便携式电极触头之间产生电流磁化法。这里不包括对整个零件

通电的磁化法。

这种方法要求零件表面状态和加工精度必须按照规定。

MC5220 一般要求

MC5l00规定的一般要求，在此均适用。此外，还补充下列要求。

MC5230 检验条件

MC5231 磁化电流强度

表MC5231列出了各类型磁化电流强度值。

MC5232 栅格形图

被检件表面应划出栅格，以保证电极间距均匀，并使被检验重点区正确搭接。栅格形图

应划在零件的检测表面。焊接坡口、不打磨的焊缝和挖补区，栅格可任意划分。

触头在栅格上的位置，应使被检件能在两个相互垂直方同上磁化，偏差不超过30°；

并使接触垫间距离保持在75～250mm之间。

图MC5232.1和MC5232.2是两个电极与划定的栅格相对位置实例示意图。

划有剖面线的区域，表示磁化符合MC5137.4节规定的要求。这些区域的边缘至电极的

距离应大于等于25mm。这些区域的宽度应约等于电极之间距离的一半。

表MC5231

第一道设置第二道设置第一道设置第二道设置

图MC5232.1 图MC5232.2

MC5300 通磁磁化磁粉检验

MC5310 适用范围

本章阐述了使用本规则第Ⅱ卷和（或）第I卷（各有关篇第4000章）规定的通磁磁化

法磁粉检验的具体要求。

MC5320 一般要求

MC5000的一般要求在此均适用。此外，还补充以下要求。

MC5330 检验条件

MC5331 磁化方法

零件可通过以下方法磁化：

1）由下述方法产生磁通量

a）线圈磁化法——电流通过绕在被检件的部分或一段外侧的线圈（图

MC5331.a）；

b）电缆法——电流通过穿过空心件或空心件1段上的孔的盘绕线圈（图

MC5331.b）；

c）穿棒法——电流通过穿过被检件中心线的导体（图MC5331.c）；

2）通过便携式或固定式电磁轭感应磁化（图MC5331.d）。

MC5332 专门技术条件

MC5332.1 磁通量法（MC5331.1）

a）根据被检部件的尺寸（长度和直径）及达到MC5145规定的磁化条件所需的线圈

匝数确定电流强度。

b）线圈须以均匀的间隔分布，匝间距尽可能小。它们可以边缘靠边缘地设置。

c）每一区域至少应进行两次检验。第二次检验产生的磁力线应垂直于第一次检验时

产生的磁力线。两次检验可采用不同的磁化方法。

d）如采用外绕线圈（MC5331.1.a），在每次磁化期间，被检验区的磁化范围应延伸到

线圈或螺线管两端的最长100mm处。

MC5332.2 便携式电磁铁

a）电磁铁提升力

电磁铁应能提升铁磁体重虽：

——通交流电时，至少为4.5kg；

——通直流电、且磁极间距为最大使用间距时，为18kg。

b）栅格形图

被检件表面须划出栅格，以保证电极间距均匀，和保证被检验区域合适地检验到。

栅格形图应划在零件表面上。焊接坡口、不打磨的焊缝和挖补区，栅格可任意划分。

电极在栅格上的位置应使被检件能在相互垂直的两个方向上磁化，且两极之间距离

保持在75～250mm。

图MC5332.2.b.1）和MC5332.2.b.2）为电极与表面栅格形图相对位置的两个实例

示意。划有剖面线的区域，表示磁场指示器读数满足MC5137.4节的要求。

当使用活络磁极组合式电磁轭时，则检验区边缘至磁极的距离应不小于25mm。该

区域的宽度大约为两磁极间距的一半。

MC6000 管件涡流检验

MC6100 总则

MC6110 适用范围

本章规定了在RCC—M第Ⅱ卷中的规定的，对外径<65mm、0.75mm≤壁厚<3ram。的

管件进行涡流检验要遵照的一般要求。

MC6120 一般要求

MC6121 检验人员资格

应由具有符合MC8000规定资格证书的人员实施涡流检验。

MC6122 涡流检验文件

管件涡流检验，应按照经适当认可的一系列文件（规程、操作卡和细则卡）的规定实施；

这些文件应满足RCC—M有关章节的要求，并至少应包括以下内容：

——被检验件类型、尺寸及所用材料类型；

——参照的RCC—M的相关章节和其它适用的文件；

——检验设备：

²涡流检验仪器；

²检测线圈；

²自动检验装置；

²记录仪；

²对比管件等。

——检验条件：被检验区和表面状态；

——检验规程：

²感应电流频率；

²鉴相器的相位调整；

——验收准则。

MC6130 涡流检验设备

MC6131 涡流检验仪器

涡流检验仪器应能在测试线圈（内侧线圈或环绕线圈）中产生正弦电流，频率范围至少

为1～100kHz。

测量电桥应按差动模式工作。仪器应配有灵敏度调整器和可在0°～360°之间调整相

位的鉴相器。

检测仪器应能连接记录仪（纸带或磁带）；还可配备一个磁饱和装置。

MC6132 测试线圈

测试线圈（内部检验用内侧线圈，外部检验用环绕式线圈）应配有一个或几个差动线圈

装置。

MC6133 自动检测装置

所用装置应能使测试线圈与被检管件作恒速（+10%）相对运动。

装置应带有自动分选系统和（或）记录仪。

使用记录仪时，在任何时刻都应能使记录的信号显示与它在管件上的位置相一致。

MC6134 对比管

对比管的直径、标称壁厚、冶金和表面状态应与被检验件相一致。

对比缺陷应由径向的圆柱形孔构成。

一般情况下，这些孔的数量、位置和尺寸按MC6134.1中规定，而不锈钢或高镍合金蒸

汽发生器管，则按MC6134.2中规定。

这些孔的直径和深度允差应为士5％。

孔的形状和尺寸可通过合适的方法（如作复制样品）进行检查。

MC6134.1 用于检验一般管件的对比管

对比管上有三个各透一侧管壁的径向孔，它们分别位于相互呈120°的三个纵向平面

上。两相邻孔的垂直高度间距或孔和管端头的最小距离为300mm。

孔最大直径根据管的厚度而变化，见表MC6134.1。

表MC6134.1 对比管孔的最大直径

壁厚（mm）钻孔直径（mm）

0.75≤e

1≤e<2

2≤e<3

0.8

1.2

MC6134.2 检验不锈钢或高镍合金蒸汽发生器管用的对比管

对比管有一个从外表面起钻的平底孔，该孔距管端头至少为300mm，且其直径等于其

深度。

孔最大直径根据管的厚度而变化，见表MC6134.2。

MC6134.2 对比管孔的最大直径

壁厚（mm）

0.75≤e

1≤e<1.5

钻孔直径（mm）

0.6

0.75

MC6134.3 热交换器管（蒸汽发生器除外）的对比管

对比管上有在管的单壁上钻的三个孔，各孔在相互呈120°角的三个轴线上，且各相邻

孔的垂直高度间距及孔与管端头的最小距离为300mm。

孔的最大直径随管壁厚度而变化，见表MC6134.3。

管壁厚度（mm）

0.75≤e

e≥1

MC6140 检验条件

MC614l 检验时间

管件在加工过程中哪个阶段进行涡流检验，按RCC—M第Ⅱ卷的规定。

MC6142 检验区域

检验区域及检验范围按RCC—M第Ⅱ卷的规定。

在使用自动检验装置时，管子两端按本章不作检测的材料长度必须加以规定。

MC6143 表面准备

管件表面必须无涂层，无疏松氧化皮，没有任何干扰涡流环流或影响测试线圈与管件相

对移动的沉积物和表面不平整现象。

最大粗糙度Ra为6.3μm，并应按MC7200确定。在第Ⅱ卷采购技术规范中，对某些应

用场合可能要求的粗糙度更低。

MC6144 检验仪器的调整

频率应按使涡流的渗透深度至少等于管件的厚度来选取。

相位鉴别的选择，应以得到最佳的信噪比为准。

应使用具有最低幅度信号的对比孔调整灵敏度。

管件的标定状况和实际检验状况应相同。

MC6145 仪器调整的验证

在每班的开始和结尾及每两小时至少都要对仪器的灵敏度校验一次。

如果测得幅度漂移不大于±10％，则认为调整是合格的。

在验证过程中，如果发现仪器不稳定，则在上一次验证后所检验的管件，应在仪器重新

调整合格后进行进一步检验。

管的标称直径（mm）

φ≤20

φ＞20

φ≤20

φ＞20

钻孔直径（mm）

0.6

0.7

0.8

MC6150 检验报告

检验报告应包括下列内容：

——制造商、订货单和设备的名称及识别号码；

——被检验管件的标志，包括种类、尺寸和制造工艺；

——所用检验文件的名称；

——检验时间；

——所用设备的类型、商标及牌号；

——仪器标定和调整状况；

——管件两端头不作检验的材料长度；

——检验结果评定；

——检验人员的姓名和资格；

——承担检验任务的分包商的名称；

——检验日期和检验员签字。

为了避免重复，上述的一些内容，已在经适当认可的制造商的文件中给出，可将其附在

检验报告中。

MC7000 其它检验方法

MC7100 目视检验

MC7110 适用范围

本节阐述了本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（有关篇第4000章）规定的目视检验方法检

验表面缺陷的一般要求。

注：MC7200规定了确定无损检验前表面状况是否已满足MC2100、MC3100、MC4100

和MC5100中的要求的方法。

MC7120 一般要求

MC7121 检验人员

负责目视检验的人员应从从事无损检验的人员中挑选，或从熟悉被检验物件的制造和加

工工艺的人员中挑选。

MC7122 目视检验文件

所有目视检验均应按照一系列适当确认的文件（规程、说明书）的规定进行，这些文件

应满足相关章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检件的类型、形状及尺寸；

——参考的本规则相关章节及其它适用文件；

——检验设备：放大镜、内窥镜等；

——检验条件：被检验区域，表面状态，直接或间接的检验方法等。

——验收准则。

MC7130 检验设备

MC7131 直接目视检验

直接目视检验应用肉眼进行观察，必要时，使用最大放大倍数为6的放大镜。

MC7132 间接目视检验

无法直接观察的区域，可采用间接方法进行检验，如使用反射镜、内窥镜、复膜或其它

合适的方法或仪器。这些仪器的分辨能力至少应与直接目视检验相当。

MC7133 对比试样

制造商可以提出将被检制件与（表面状态试样或基准标准以外的）对比试样进行目视比

较的建议。

MC7140 检验实施要求

MC7141 检验时间

本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇的4000章）规定了在哪个制造阶段进行目视检

验。MC7142 检验区域

检验区域及检验范围按照本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇第4000章）的规定。

MC7143 检验条件

被检区域应没有任何影响检验观察和评定的杂物。当检验表面能以正常方式接近时，则

应采用与表面大于30°的视角，于最大距离600mm处，进行检验。

被检验表面的照明亮度应不低于350 lux（勒克司）。

MC7150 检验报告

检验报告应包含下述内容：

——制造商、订货单及设备的标志；

——被检件、焊缝及被检区域的标志，应注明其钢号的简化符号；

——所采用的目视检验技术规范的名称；

——检验时间；

——采用的方法；

——使用的设备；

——评定结果；

——检验员姓名；

——当检验由其它公司分包时，注明该分包商的名称；

——检验日期及检验员签名。

为了避免不必要的重复，上述某些内容已在经适当认可的制造商文件中给出，可将其附

在检验报告中。

MC7200 表面状况测定

MC7210 适用范围

表面状况可以通过与触感和目视粗糙度对比试样进行比较，或用电子探测仪器及光学仪

器进行测定。

本节阐述用于与触感和目视对比试样比较测定被检件表面状况的一般要求。

使用电子探测仪器测定表面粗糙度，应按照AFNOR参考文件NF E05-017的规定。

MC7220 一般要求

应根据本节的要求评定表面状况。

MC7230 检验设备

MC7231 说明

MC7231.1 触感和目视粗糙度对比试样

触感和目视粗糙度对比试样应是按各种制造和加工工艺制做出的真实外形的复制件。根

据具体情况，这些试样可以包括，也可以不包括适合于每一种制造工艺的各种等级的粗糙度。

MC7231.2 其它触感和目视粗糙度对比试样

这些试样由制造商按被检验件应达到的表面状况制作。

MC7232 表征

MC7232.1 用粗糙度值表征的试样

代表机加工、磨制或喷丸零件的试样，其表面粗糙度用Ra值表征。

MC7232.2 不用粗糙度值表征的试样

对每种加工工艺，这些试样可具有某一等级表面粗糙度，或具有被检件的表面粗糙度。

MC7240 检验实施方式

MC7241 检验时间

本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇的4000章）规定了在加工过程中的哪一阶段进

行表面状况测定。

MC7242 检验区域

被检区域及检验范围按照本规则第Ⅱ卷和（或）第1卷（相关篇4000章）的规定。

MC7243 检验条件

MC7243.1 清洁度

所有被检表面应干燥、清洁，无油污、油脂和涂层。总的要求是：把可能影响被检表面

和对比试样作比较的所有异物清除掉。

MC7243.2 照明

被检表面的照明亮度应不低于350 lux（勒克司）。

MC7243.3 注意事项

用某一指定加工方法制作的零件，应与按相当于同类加工工艺做出的几个粗糙度对比试

样中的一个进行对比。

粗糙度值应采用目视进行评定，在可能条件下采用触感方法。

MC7244 评定

零件表面状况应用下述方法进行评定：

——与粗糙度等级进行比较，或与粗糙度对比试样的表面状况进行比较；

——当采用单一粗糙度对比试样时，与要求的粗糙度或表面状况进行比较。

MC7400 泄漏检验方法

MC7410 适用范围

本节阐述适用于本规则规定的泄漏检验的一般要求。

MC7420 一般要求

MC7421 检验人员资格

应由按MC8000的规定取得资格证书的人员进行泄漏检验。

MC7422 泄漏检验文件

所有泄漏检验应按照经适当认可的一系列文件的规定进行，这些文件应满足适用章节的

要求，并至少包括以下内容：

——被检验件的名称、形状、尺寸、范围、体积和所用材料；

——参考的本规则相应章节，及其它适用文件；

——检验设备及试剂：检测仪、泵、压力计、真空计、其它装置，泄漏标定系统，示踪

气体及所用制剂等；

——检验规程：检验时间，被检验件表面清洁度，所用每项技术的检验方法；

——验收准则；

——清洁方法（必要时）；

——检验人员资格。

注：使用上述任1方法之前，制造商应确保泄漏检验所使用的流体（气体、液体）对涉

及的表面无任何损害（参见第V卷F6000章）。

MC7430 泄漏检验方法

MC7431 方法的选择

选择所用泄漏检验方法应根据：

——所要求的灵敏度；所谓灵敏度即在规定检验条件下可探测出的最小泄漏。

——是否有必要对泄漏值进行计算；

——被捡件的几何形状、体积及材料；

——能否保持压力或真空；

——操作的难易程度。

检验方法应达到所得到的最小灵敏度符合表MC7432“现有检漏方法一览表”中的规定；

此表根据特定标准所包括的方法的AFNOR标准NF A09—490。

MC7432 单位选择

测量泄漏的法定单位是Pa m

／s。作为信息，表MC7432列出了现仍在使用的单位间

的换算关系。

MC7440 检验实施方式

MC744l 初始条件

容器或系统在要求的水压试验或气压试验合格后，仅能进行充气试验。只有当设计规定

时，容器才能抽真空。

MC7442 开口处及系统的密封

披检验容器的开口处的密封或盲板及相连的系统和测量装置，应满足和容器本身同样的

密封要求。

MC7443 容器及回路的清洗

被检验容器及回路系统应经内外清洗，内外表面应除油并干燥。

承受高真空的容器应用经过滤的无油热风吹干，或表面热烘。

泄漏检验前，应去氧化皮和经酸洗钝化处理。

泄漏检验前的清洗要求应根据本规则其它章节中规定的最大允许泄漏率确定。

MC7444 校验标定

要求使用标定泄漏的所有检漏方法，应确知检验时的相关泄漏率。这个泄漏率至少两年

校验一次。

MC7445 程序

在NF A标准中所选的和在表MC7431中列举的某种方法的操作程序，与下述附加技术

规范一起使用。

A．整体真空检漏法（HOOD—TEST）——NF A09—492

在充氦时间至少为装置响应时问（等待NFA09—492的4.3节所规定的信号出现所

花费的时间）的3倍以后进行沉量，这个时间至少为10分钟。

B．局部真空检漏法（PARTIAL HOOD TEST）——NF A09—492

测量要求同A。

D．吸盘法（SUCTION CUP METHOD）——NF A09—492

在重复核验的情况下，氦可以通过贴在壁上的一个盒子施加。

可以通过让1标准参考泄漏量进入吸盘来进行标定，测量参考信号和等待时间。

在充氦时间至少为响应时间的3倍后（最短为10分钟），开始测量泄漏。

F．吸气探头加压捡漏（SNIFFING PROBE PRESSURE TEST）——NF A09—491

这是方法E的一种演变。围绕可疑区移动吸气探头来定位泄漏。

L．累计真空罩法 NF A09—49l

这是方法E的一种演变。除了压力容器要抽真空和它本身作为蓄气箱外，检验程

序与该方法相同。氦气是施加在其外边的。

M．加压隔离法

在时间t后，测量压力的变化。泄漏率可以通过下列公式计算：

L=（P*V）/ t

式中：V——容器体积；

L——泄漏率

必须考虑温度的变化，并进行必要的修正。

N．真空隔离法

与方法M相同。

MC7450 检验报告

检验报告应包括以下内容：

——制造商、订货单及设备的名称和标识；

——被检零件、焊缝及区域的标识；

——检验文件的名称；

——检验时间；

一一检验设备；

一一表面准备（表面状况和清洁度）；

一一检验要求，尤其是标定和调整要求；

——评定结果；

——检验员姓名和资格；

——负责检验的分包商名称（必要时）；

——检验日期和检验员签名。

为了避免不必要的重复，上述部分内容已经在适当认可的一系列制造商文件中给出，可

将其附在检验报告中。

序

号

整体真空

检漏法

NF A09—

492

名称

表MC7431 现有捡漏方法一览表

示踪方法设备不适用

气体

氦

（He

）

被检件与

氦检测仪

连接，抽真

空。然后将

其放入充

满氦气的

塑料袋中。

被检件抽

真空，与

He检测仪

场合

灵敏度

（氦泄漏

量）

—

Pam

氦检测

仪、真空

泵、氦注

入器

不能承

受真空

的零件

定量精确，

但不能用于

定位。

评注

局部真空

检漏法

NF A09—

He检测

仪、

真空

—

Pam

同上

如表面未正

确地标划栅

格，有漏查

4 92 相连。将有

疑问的区

域用充满

He的塑料

袋封包起

来。

泵。某区的风

险。定量精

确，可以定

位

喷氦真空

捡漏法

NF A09—

4 92

被检件抽

真空，与

He检测仪

相连。确定

缺陷区位

置后，在有

He检测

仪，真空

泵。

不能承

受真空

的零

件。

仅用于确定

泄漏位置

D He

疑问喷丸。

用示踪气

体给被检

件加压。将

He检测

仪、真空

泵、气

阱、专

用吸

盘。

不能承

压的零

件。

—

Pam

/s 精确测量泄

漏量并能确

定泄漏位

置。设备安

装较困难。

吸盘要小心

操作，只适

用于表面比

较规则的被

检件。

吸盘法

NF A09—

492

内部形成

真空的吸

盘放置在

被检件上，

并与检测

仪相连。

序

号

累积／吸

气探

头法加压

检漏

NF A09—

491

名称

表MC7431 现有捡漏方法一览表（续）

示踪方法设备不适用灵敏度

气体

被检件加

压，有疑问

处用乙烯

塑料袋封

装起来。如

被检件有

泄漏，则在

袋中累积。

封装一定

时间后，用

场合（氦泄漏

量）

评注

He，H 不能承

或SF。压的零

检测件

仪、真

空泵、

气阱、

记录

仪。

根据累计时

间

5³

和袋中示踪

—

Pam

气

体浓度的连

续

记录测定泄

漏

率。定位精

度

吸气探头

法

加压化学

反应法

NF A09—

106

吸气探头

检测。

He、H

或SF

检测

仪、吸气

探头、真

空泵、气

阱、记录

仪

不能承

压的零

什

在20％以

内。

泄漏定位

—

10Pam/s

定位准确，

定性测量。

—

Pam

是否需抽真

空取决于所

要求的灵敏

度、湿度和

决定最低浓

度的压力。

的

体积比15～

28％时有爆

炸危险。

用示踪气

体给被检

件加压，有

疑问处用

吸气探头

扫查

空，然后充

气。被

检

区用与NH

接触起反

应的

涂料或试

带覆盖

被检件抽

真真空

泵，涂

料喷枪

铜及其

合金。

不能承

受压力

的零

件。

表MC7431 现有捡漏方法一览表（续）

序

号

名称示踪

气体

方法设备不适用

场合

灵敏度

（氦泄漏

量）

评注

吸盘化

学反应

法

NF A09

—108

将NH

引入固

定于被检件

一个壁面上

的吸盘内，通吸盘

过壁面另一

侧渗出的NH

用适当的试

剂显示出来，

以此检测泄

铜及

其

合金。

—

Pam

定性法、精

定位。用于

检查开放

零件壁的

泄漏。可检

验大容量

的小区

域。

漏。

钟罩法

NFA09-

108

空气

被检件涂以

低粘度、低表

面张力的液

体，然后放入

带有观察简

的钟罩中。当

有泄漏时，所

涂液体的会

形成气泡。

真空

罩及

其配

套真

空

泵。

10Pam/s

—

定性法、精

定位

渗出检

漏法

NFA09—

493

被检件置于

充有加压He

的容器中。当

He渗入后再

将其放入与

He检测仪相

连的真空室

中。

检测

仪，

真

空

泵，

专用

真空

泵

不能

承受

压力

的

零

件。

适用于批

量生产的

—

Pam

零件。不能

泄漏似然

精定位。

量

泄漏量

—

Pam

—

Pam

难测量。He

的滞留取

决于表面

粗糙度。

被检件充

内压空气压，然后在有

冒泡法 N

疑问处涂上

NFA09- 肥皂水或将

110 其浸入加润

湿剂的水中。

无

专用

设

备

不

能承

压

的零

件

—

Pam

精定位，

定性。

表MC7431 现有捡漏方法一览表（续）

序

号

名称示踪

气体

方法设备不适用

场合

灵敏度

（氦泄漏

量）

评注

累积真

空罩法

被检件抽

He 真空，与

He检测仪

相连，以

标定检测

仪。然后

与检测仪

密封隔

He检

测仪，

真空

泵，He

注入

器，He

记录

—

～用于特殊

—

Pam

零

取决于累

计时间。

件。定位

难。清洁要

求严格。要

使用记录

仪。表面解

吸限制使

加压隔

离法

真空隔

离法

开。将被

检件放入

He中，经

1预定的

累计时间

后，再与

He检测仪

相连

被检件加

空气压并密

封。经1

预定时间

后，根据

测得的压

降评定总

泄漏率。

被检件抽

真空，并

空气

封闭。经

1预定的

时间后，

根据测得

的压力升

高评定总

泄漏率

仪。

用。检测

慢。限于体

积小的零

件。在多孔

壁上有He

滞留的可

能。

压缩空

气，记

录式压

力计、

温度

计。

不能承

压的零

件。

适用于大

容积被检

—

10Pam/s

件，相当不

准确的定

量测量。试

验时温度

变化应作

修正。

真空

泵、真

空计、

记录

器、记

录式温

度计

不能承

压的零

件

—

Pam

适用于体

积不大于

数个

的零件

表MC7432 泄漏测量单位的换算

1Pa²m

相当于

1 Pa²cm

相当于

1 Torr l/s

相当于

1 Lusec 或

—

Torr l/s

Pa²m

—

0.133

1.33

³10

—

Pa²cm

1.33³10

133

Torr l/s

7.5

7.5³10

—

Lusec 或

—

10 Torr l/s

7.5³10

—

Atm²cm

9.87

0.987

³10

—

1.32

1.32³10

—

相当于

1 Atm²cm/s

0.1013

相当于

MC8000 无损检验人员资格和资格证书

MC8010 无损检验人员资格和资格证书

无损检验人员资格和资格证书按照标准NF EN 473的规定。在欧洲以外，由一个独立

的机构，按照一度经过承包商认可的相应标准颁发证书。

一般来讲，制造商并不要求3级资格的无损检验人员的工作由他支配。

MC8020 定义

定义由标准NF EN 473给出。标准NF EN 473中规定的检验过程与本规范中的“检验

方法”相同。

MC9000 名词术语

MC9100 总则

本章提供MC2000～MC6000章中所用术语的实际定义。

——术语表中第1栏为MC2000～MC6000章中所用术语（按字母顺序排列）；

——第2栏为这些术语的定义。

MC9200 名词术语

MC9200～MC9250各节与MC2000～MC6000各章的对应关系，见表MC9200

表MC9200

超声波检验术语

射线照相检验术语

液体渗透检验术语

磁粉检验术语

涡流检验术语

MC 9210

表MC9210 超声波检验名词术语

术语

斜探头

入射角

反射角

1.013³10

0.76 760 1

MC9210

MC9220

MC9230

MC9240

MC9250

定义

发射出与被检验表面的法线呈斜向的超声波束的探头

图MC9210--1中的角1

图MC9210--1中的角2

折射角

本底噪声

底面回波

声束轴线

声束入射点

标准试块

续表

术语

接触法(检测)

耦合介质

分贝(dB)

液浸法

图MC9210--I中的角3

在阴极射线管荧光屏上出现的一系列半连续的小回波，这些

小回波主要是由散射造成的。

纵波在与扫查表面相反的底面反射得到的回波。

超声波束远场中最大强度点及其几何延伸向近场区的轨迹。

声束轴线与接触块之间的交点

具有规定形状和尺寸的专用试块，用以校验和标定超声波检

验仪器。

定义

探测装置直接与施加耦合膜耦合的被检材料接触的检测方

法。

施于探头与被检验件之间的、能使超声波从一种材料穿入另

一种材料的液态或柔软的固态介质。

等于两个幅度之比值的常用对数的20倍的值。

将探头和零件都浸泡在水中进行耦合的检验方法

兰姆波

在板件或薄壁管中传播的一种波型，粒子的位移波及被检验

件的整个厚度。

图MC9210-3所示回波的一部分。

(回波)上升前沿

纵波

介质每点粒子振动方向平行于波的传播方向的波型

波型转换

标称频率

通过折射或反射将某种传播波型，转换成另一种传播波型的

过程

由探测装置制造商标定的名义频率

压电晶片

能将电能转换成机械能，也能将机械能转换成电能的晶体材

料。本术语含义己扩大，并且也适用于铁一电陶瓷。

功率(调节)

探头

能使压电晶片中的电脉冲功率改变的调节

包含一个内有一些压电晶片的装置

脉冲发生器

超声波检验装置的一部分，产生一系列定常波幅的电脉冲并

稳定跟踪的重复频率(脉冲循环频率)。

对比试块

用与被检验材料声频特性接近或相同的材料制成的试块。它

可带有或不带有人工缺陷。通常用以调整检验装置的灵敏

度。

灵敏度(调节)

横波

放大器增益控制的调节。

介质各点粒子振动方向垂直于波的传播方面的波型

跨距

(图MC9210—2)

直射波束

直波探头

时基标定

一个横波探头传送的超声波束与厚度为e的零件的法线呈X

角时，该跨距是该横波探头在零件表面上的入射点和波束经

一次反射后在该面上的入射点之间的距离，计算公式为：一

次反射波=2e tan X

垂直于接触表面传播的一种纵波波束

发射直射超声波束的探头

获得超声波声程与时间基准之比值的这种调节

注释：超声波检验由MC2000论及。

MC9220

表9220 射线照相检验名词术语

术语定义

电子感应加速器一种能将电子沿圆形轨道加速，然后轰击靶子的X射线发生器。

(电子回旋加速器) 它能产生能量很高的射线。

遮挡(屏蔽)物质

暗盒

黑度计

显影(手动或自动)

为吸收背面散射的射线，在暗盒后设置的铅箔。

一种硬的或软的不透光容器，其前端面对穿透射线相对透明。暗

盒设计成放置带或不带增感屏的一张或多张射线照相胶片。

测量射线照相底片黑度的一种仪器

主要由用显影液处理曝光的射线照相胶片，将潜在图象转换为可

见图象，和用定影液定影构成的操作。

在透照期间，只采用1小部分波束进行准直或非准直曝光。可采

用单个暗盒(个别曝光)或采用多个暗盒置于射线源周围进行曝光

(全景曝光)。见图MC9220—1和MC9220—2

从源于几乎平行于射线波束的照相表面散射的射线产生的寄生效

应。

由基质材料构成，通常在其两面涂有感光乳剂的胶片。

一种能检验射线照相底片的带有照亮装置的仪器

靶(热焦点)或在垂直于辐射波束平面中射线源的正投影的面积。

定向辐射

边缘效应

(射线照相)胶片

观片灯

(Negatoscope)

(X光机和加速器)

焦点

几何不清晰度

检验导管

增感屏

黑度

直线加速器

由于曝光的几何条件(射线源或焦点尺寸、源与胶片之间的距离

等)造成的射线照相胶片图象沿边缘呈半阴影。

当被检验件从两端无法接近时，通过被检件侧面引入射线源，从

而能进行管件的焊缝内部检验的装置。

贴附在射线照相胶片上的金属箔，用以增强通过电子发射原始辐

射的效应。

射线照相底片黑度等级。

一种能将电子沿直线轨道加速，然后轰击靶子的X射线发生器。

它能产生能量很高的射线。

进行部分或全景曝光时，暗盒围绕射线源几乎是均匀距离排列。

这种曝光可使用射线源的大部分或全部有效体积(图MC9220一1

和MC9220—2)。

用以确定射线照相底片常规图象质量的一种装置。

测量曝光量的单位(新单位：库伦／kg) 1mR=O.258C kg

-1

能发射电离辐射的任何装置或物质。

多向辐射

透度计(象质计)

伦琴

(射线)源

注释：射线照相检验包括在MC 3000内。

MC9230

表MC9230 液体渗透检验名词术语

术语

清洗剂

显示剂

定义

在渗透检验前，用以清洗被检验件表面的一种溶剂。

能吸出渗入表而缺陷的渗透剂，并提供背景反差的

白色物贸。显示剂有：——干式(粉末)

——湿式(细颗粒在液体中的悬浮液)

液态渗透剂与被检表面相接触(一次或多次渗透操

作)的持续时间。

1种液体，当它与油性渗透剂结合后，能将这种渗

透剂用水冲洗掉。乳化剂有水基与油基两种。

一种与渗透剂混合后而使其易于被水洗掉的乳化

剂。

一种能渗入表面裂纹缺陷，然后能被一薄层显示剂

吸出的液体。渗透剂可以是着色的(一般为红色)或

荧光的(所含的色素在紫外线照射下发出可见光)

用水冲洗掉过量的渗透剂之前需要另加乳化剂的渗

透剂。

用以清除过量的某种类型渗透剂的液体。

用以使渗透剂激发荧光．波长在3500～4000A的辐

射。

渗透时问

乳化剂

油基乳化剂

渗透剂

后乳化型渗透剂

溶剂

紫外线辐射（检验)

水基乳化剂

水洗型渗透剂

不能与渗透剂混合，但通过湿润其表面而后容易被

水冲洗掉的乳化剂。

不需要用乳化剂就能直接用水冲洗掉的渗透剂

注释：液体渗透检验包括在MC4000内

MC9240

表MC9240 磁粉检验名词术语

术语

反差增强剂

缓蚀剂

退磁

干探测介质

荧光色素

感应磁场

液体探测介质

(磁悬液)

磁场

磁粉磁场指示器

(MPFI)

磁导率

磁粉

通电磁化

剩磁

黑光(紫外线光)

定义

施于被检件表面，用以提高反差的一种薄涂层膜(一般为白

色)．反差增强剂在磁化前施加。

加在磁粉检验液中避免被检件表面发生腐蚀的试剂。

减少铁磁性零件中剩磁的操作。

由铁磁粉微粒制成的粉末。

荧光磁粉检验用的产品中所含的色素(见荧光探测介质)。

电流通过导体(可能是被检件)产生的磁场。

悬浮在载液中的铁磁微粒。对荧光介质而言，这些微粒涂有

一层颜色，它在紫外线下射出可见射线。

有磁力作用的空间。

用于评定磁化状态并含有若干已知的人工缺陷的装置

材料或零件的磁化能力

见干探测介质

对整个零件或零件局部通以交流电、整流电或直流电产生磁

场。

磁化后，在零件中仍保留的磁性。

波长在：350～400 nm范围内，用以激发荧光探测介质发光

的辐射。

湿润剂一种用来减小液体探测介质表面张力的试剂。

注释：磁粉检验包括在MC5000内

MC9250

表MC9250 涡流检验名词术语

术语定义

产生寄生信号的因素如下：

本底噪声

——非相应于重要缺陷的管件的冶金或尺寸偏差。

——诸如探头相对于管子的速度或位置那样的检

验参数的偏差。

差动式能够比较被检验管件两个邻近区域的测量电桥装置。

涡流置于交流电磁场内的导体感生的电流。

当磁导率等于1时．承受铁磁场作用的铁磁性管件中所

磁饱和达到的状态。磁导率等于感生磁通量密度与感应磁场强

度之比。

测量电桥

与交变电流发生器相接的电路，用以比较未知测量阻抗

与已知阻抗。

穿透(深度)

当涡流强度降低到其表面值的0.37倍时．从与探头接

触的管材表面测得的深度。

鉴相器

一种从测量电桥已知相位值与基准交变信号相位比较

中测定信号不平衡幅度的仪器。

注释：管件涡流检验包括在MC6000内

图MC9210.3

图MC9220.3

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