2024年3月14日发(作者：徐书雁)
G980N012 學生:楊祝婷
物理化學是理解和掌握這些重要性質的理論基礎。物理化學可
以強有力地提升奈米材料研究的理論性，並引導和豐富奈米材
料的應用性研究。
物理化學中的膠體化學知識已滲透到奈米材料研究的各主要領
域，尤其在奈米粒子的製備、控制研究中，具有指導性的作用。
無機化結構化學主要研究分子結構和晶體結構及其特徵手段。
本節中將介紹相關大型分析儀器在奈米材料晶體結構分析、晶
體形貌觀察中的應用。
X射線粉末繞射（XRD）通常也是奈米材料晶體結構分析的首
選手段。
XRD作為歷史最為悠久的晶體結構儀器分析方法，除了可測定
結晶狀況、晶體類型之外，還可測定晶粒大小，最為常用的數
據處理手段是Scherrer公式的應用。
值得一提的是，在奈米材料研究領域對XRD峰位置的標識，
通常採用繞射指標[ h k l ]，而不是Miller指標[ h* k* l*]（又稱
晶面指標，這3個參數為互質關係）
XRD還可測定結構更為複雜的奈米材料，A. J. Waddon等研究
了如圖2-2所示的矽氧低聚多面體（POSS）的XRD特徵問題
XRD測試結果可用於樣品中各晶相的百分含量分析，這在奈米
材料領域也有一定的應用。
2024年3月14日发(作者：徐书雁)
G980N012 學生:楊祝婷
物理化學是理解和掌握這些重要性質的理論基礎。物理化學可
以強有力地提升奈米材料研究的理論性，並引導和豐富奈米材
料的應用性研究。
物理化學中的膠體化學知識已滲透到奈米材料研究的各主要領
域，尤其在奈米粒子的製備、控制研究中，具有指導性的作用。
無機化結構化學主要研究分子結構和晶體結構及其特徵手段。
本節中將介紹相關大型分析儀器在奈米材料晶體結構分析、晶
體形貌觀察中的應用。
X射線粉末繞射（XRD）通常也是奈米材料晶體結構分析的首
選手段。
XRD作為歷史最為悠久的晶體結構儀器分析方法，除了可測定
結晶狀況、晶體類型之外，還可測定晶粒大小，最為常用的數
據處理手段是Scherrer公式的應用。
值得一提的是，在奈米材料研究領域對XRD峰位置的標識，
通常採用繞射指標[ h k l ]，而不是Miller指標[ h* k* l*]（又稱
晶面指標，這3個參數為互質關係）
XRD還可測定結構更為複雜的奈米材料，A. J. Waddon等研究
了如圖2-2所示的矽氧低聚多面體（POSS）的XRD特徵問題
XRD測試結果可用於樣品中各晶相的百分含量分析，這在奈米
材料領域也有一定的應用。